CN2449236Y - 石英晶片自动定位测频分选装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型为石英晶片定位测频装置,包括控制器、定位器、测频分选器,特点是测频分选器中水平送料平台之导料槽设有间隙调整机构,出料端设有谐振腔及感应器。谐振腔上电极固定在水平送料平台上的间隙微调支架上,该支架接有一可旋转且其伸缩杆可与支架形成可分离连接的微调分度仪;其下电极固定在水平送料平台上。导料槽出料口下方设接料装置,包括一个带可旋转的接料小斗的分类平台及相应的接料漏斗和存料盒。其优点是测频准确、精度高、分选快、成品率高。可是于晶片测频。

Description

石英晶片自动定位测频分选装置

本实用新型涉及一种石英晶片测频装置，尤指定位测频分选装置。

石英晶片由于其固有的物理特性在世界上得到了广泛的应用，它是制作石英晶体元件的基体，用其制作的石英晶体谐振器、滤波器等晶体元件具有很高的频率稳定性。因此，在生产加工过程中对石英晶体的谐振频率进行测定是十分重要的。目前，对石英晶体的谐振频率进行测定的方法主要是在石英晶片的厚度方向二个面上各加上铜电极，利用晶片的压电效应，使之与振荡电路产生谐振，并通过频率计数器进行测量。依据该方法所生产的晶体测频装置已得到了应用，其中以日本HUMO公司生产的A-QB-120型测频机最为典型。但该机型还存在着不少缺陷。如分选速度慢，晶片破损率高，结构复杂、价格昂贵、维护保养费用高等。为解决上述缺陷，专利号为ZL97235567.7名称为“石英晶片动态测频分选装置”的中国专利公开了一种动态测频分选装置，但该装置还存在如下缺陷：首先是其测试方式为动态测试，晶片在测试过程中是运行的，对其测试为取点采样测试，其测试的误差较大，精度不高。第二，其振荡槽上的间隙微调支架对间隙的调节要靠手工微调，由于石英晶片的厚度很薄，手工调节难以控制其间隙调整精度，不能进行定量调节。第三，其出料分选装置采用由继电器控制的闸片结构，机械磨损大，且继电器误动作易导致成品和废品难以分离，可靠性差。第四是在工作过程中其成品料盒是旋转的，成品进入成品料盒的行程较大，且成品在料盒中积聚后受转动惯性的影响，成品晶片的破损率大。本实用新型的目的是提供一种调整精度高，测量精度高、测量过程无晶片破损的石英晶片自动定位测频分选装置。

本实用新型的目的是通过以下技术解决方案实现的：

本实用新型所述的石英晶片自动定位测频分选装置，包括控制器、定位器、测频分选器，定位器由感应器及控制器中的信号放大器所组成，测频分选器由螺旋送料器、水平送料平台、振荡器、谐振腔及接料装置组成，螺旋送料器的出料口与水平送料平台上的导料槽相接，导料槽的出料端设谐振腔，出料端下方设有接料装置，其特征在于谐振腔上设有对应的上、下二电极，上电极装在一固定在水平送料平台上的间隙微调支架上，下电极装于水平送料平台上，二电极间设有间隙，并与振荡器相连接；一通过固定支架固定的且可绕该支架旋转的微调分度仪，其微调伸缩杆可与间隙微调支架之间形成可分离的连接；谐振腔靠近导料槽出料口的端部设有感应器，感应器的输出端与信号放大器相接；导料槽上还设有一个导料间隙调整机构，导料槽的出料口与位于其下方的接料装置中的接料漏斗相对应；接料装置还包括一个受控制器控制的可旋转的分类平台及与之相对应的固定存料盒，分类平台上设有若干与接料漏斗出料口相对应的沿分类平台周向分布的接料小斗，且可在控制器控制下翻转，固定存料盒置于该若干接料小斗的下方。

本实用新型的优点是：(1)采用自动定位方式对石英晶片进行定位检测，其定位迅速、准确，测试精度高。(2)分选速度大大提高，较之于同类进口设备，其分选速度提高近30％。(3)大大提高了分选的成品率，使石英晶片在分选过程中的破损率降低到几乎接近于零。(4)分选准确，整机工作可靠性高。(5)节约原材料，能使原材料消耗降低2/3以上，噪声小，价格性能比好，维护、保养方便。

下面结合一个实施例对本实用新型的技术方案作进一步说明：

图1给出了本实用新型的总体结构示意图。

图2是图1中的测频部分结构示意图。

在图1、图2中，本实用新型所述的控制器12由计算机、显示器、计数接口、输入/输出接口、电磁振动器、同步电机及其驱动器、磁翻转控制器、声光报警器等组成，其功能是完成对石英晶片的位置判断，并由计算机产生相应的测试和控制信号。定位器由感应器4和控制器中的信号放大器所组成，该感应器为一光纤传感器，通过光束检测石英晶片的位置，当石英晶片进入谐振腔16时，光纤发出的光束被阻断而产生定位控制信号给控制器12，从而通过计算机发出的控制信号使石英晶片在谐振腔中定位，接受检测；测频分选器由晶体振荡器10、螺旋送料器7、水平送料平台1、谐振腔16及接料装置所组成，其中螺旋送料器7的出料口与水平送料平台1上的导料槽13相接，导料槽13的出料端设谐振腔16；该谐振腔上设有上、下对应的二电极，其中上电极2固定在装于水平送料平台1上的间隙微调支架11上，下电极3装在水平送料平台1上，二电极之间有间隙，并且与振荡器10相接；微调分度仪15通过活动连接销18固定在固定架17上，且可拆卸并可绕其旋转，其微调伸缩杆可与间隙微调支架11之间形成可分离的连接，当其与间隙微调支架11结合时，调整分度仪上的分度盘，可微调上电极2和下电极3之间的间隙，即可调整被测石英晶片与电极之间的间隙；导料槽13上还装有一个导料间隙调整机构14，以调整导料槽的宽度，使石英晶片能从导料槽中顺利前进；其出料口的端部装有感应器4，出料口下方设接料装置。接料装置由接料漏斗5、由控制器12控制的可旋转的分类平台6、固定存料盒9等组成，其中分类平台6上设有若干个沿分类平台6周向分布的且与接料漏斗5出料口相对应的接料小斗8，该接料小斗可在控制器12控制下翻转，接料漏斗5的接料口与水平送料平台1上的导料槽出料口相对应；与该若干个接料小斗8相对应的固定存料盒9置于其下方，且可抽出或插入。

本实用新型的工作原理如下：本机工作时，螺旋送料器7将石英晶片20送入水平送料平台1上的导料槽13中，由其导入谐振腔16。当石英晶片进入谐振腔后，感应器4的光纤发出的光束被晶片所阻断产生信号输入给控制器12，由其发出定位控制信号使石英晶片定位；与此同时，谐振腔上的二电极2和3、位于二电极间的石英晶片20、振荡器10构成谐振电路，振荡电路调谐后，石英晶片起振，计算机打开测试闸门，在测试软件控制下进行晶片频率测试，其测试结果进行计数、显示、存贮和打印输出；此时，受感应器4定位信号和计算机控制信号的控制，水平送料平台暂停送料，当测试完毕后，石英晶片在运动惯性作用下，自动从出料口滑出，经接料漏斗5进入与接料漏斗出料口对应的接料小斗8中；在计算机控制下当装有晶片的接料小斗8转至与之对应的固定存料盒9时，产生翻转，将晶片倒入固定存料盒9中；此即完成一个成品晶片的测试。如果晶片进入谐振腔后，由振荡器10、晶片20和电极2、3构成的谐振电路不起振，则说明该被测晶片为次品，此时由感应器4产生定位信号给计算机后，该晶片直接经接料漏斗5进入接料小斗8中，在计算机控制下，倒入固定存料盒9中的次品存料盒中。当被测晶片离开谐振腔后，感应器4的光纤使其由阻断变为导通，提示计算机发出控制信号，进入下一晶片的测试，再重复上述测试分选过程。当固定存料盒9中积累的成品晶片达到一定量后，即可取出，备后用。从上述测试原理可知，被测的成品晶片中，每一固定存料盒9都对应着被测晶片的特定频率。

Claims (2)

1、石英晶片自动定位测频分选装置，包括控制器、定位器、测频分选器，定位器由感应器(4)及控制器中的放大器所组成，测频分选器由螺旋送料器(7)、水平送料平台(1)、振荡器(10)、谐振腔(16)及接料装置组成，螺旋送料器(7)的出料口与水平送料平台(1)上的导料槽(13)相接，导料槽(13)的出料端设谐振腔(16)，出料端下方设有接料装置，其特征在于谐振腔(16)上设有对应的上、下二电极(2和3)，上电极装在一固定在水平送料平台上的间隙微调支架(11)上，下电极装于水平送料平台(1)上，二电极间设有间隙，并与振荡器(10)相连接；一个通过固定支架(17)固定的且可绕该支架旋转的微调分度仪(15)的微调伸缩杆可与微调支架(11)之间形成可分离的连接；谐振腔(16)靠近导料槽(13)出料口的端部设有感应器(4)，感应器的输出端与放大器相接；导料槽(13)上还设有一个导料间隙调整机构(14)，导料槽(13)的出料口与位于其下方的接料装置中的接料漏斗(5)相对应；接料装置还包括一个受控制器控制的可旋转的分类平台(6)及与之相对应的固定存料盒(9)，分类平台上设有若干与接料漏斗出料口相对应的沿分类平台(6)周向分布的接料小斗(8)，且可在控制器(12)控制下翻转，固定存料盒(9)置于该若干接料小斗的下方。

2、根据权利要求1所述的石英晶片自动定位测频分选装置，其特征在于所述的固定存料盒(9)的每一盒分别对应于被测晶片的特定频率。

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