CN221100802U - 一种多角度半导体检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多角度半导体检测设备，涉及半导体检测技术领域。包括底座，所述底座底部对称设置有升缩杆，所述升缩杆底部固定连接有支撑块，所述底座表面开设有凹槽，所述底座上表面对称设置有定位板，所述定位板上转动连接有转动轴，所述转动轴上固定连接有固定座，所述固定座上设置有夹紧组件，该半导体检测设备，通过设置了角度调节组件，通过步进电机带动连接杆旋转，从而使固定座沿着转动轴匀速转动，可以根据需要将半导体移动到特定的角度，便于半导体的多角度，全方位检测，通过第二电机带动第二丝杆旋转，从而使固定板沿着固定座移动，对半导体进行夹紧固定，避免旋转时掉落，提高实用性。

Description

一种多角度半导体检测设备

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体为一种多角度半导体检测设备。

背景技术

半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用；如二极管就是采用半导体制作的器件；半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料；无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。

专利号CN202221358987.0公开了一种多角度半导体检测设备，包括工作台、观测仪器、支撑箱和支撑机构；所述工作台顶部对称设置有两个立柱；两个所述立柱之间设置有横杆；所述观测仪器固接在横杆底部；所述支撑箱固接在工作台顶部；所述支撑机构设置在支撑箱内部；所述支撑机构包括滑杆、滑块、支撑连杆、置物板、第一弹簧和调节杆；所述滑杆两端均固接在支撑箱内壁；所述滑块滑动连接在滑杆外壁；所述支撑连杆一端铰接在滑块侧壁，另一端铰接在置物板底部；所述支撑连杆以滑块为轴对称设置有两个；所述置物板设置在滑块顶部上方；通过设置支撑机构，方便对半导体的检测角度进行调节，从而有助于提高对半导体的检测效率。然而上述装置需要手动调节半导体的角度，手动调节调节杆时，由于力道的不均，很难均匀的调节半导体的角度，一些角度无法调整到，不利于半导体的检测。

实用新型内容

本实用新型提供了一种多角度半导体检测设备，旨在解决现有技术中由于力道的不均，很难均匀的调节半导体的角度，一些角度无法调整到，不利于半导体的检测的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种多角度半导体检测设备，包括：底座，所述底座底部对称设置有升缩杆，所述升缩杆底部固定连接有支撑块，所述底座表面开设有凹槽，所述底座上表面对称设置有定位板，所述定位板上转动连接有转动轴，所述转动轴上固定连接有固定座，所述固定座上设置有夹紧组件，所述底座上设置有角度调节组件，所述底座上表面固定连接有固定架，所述固定架一侧开设有滑槽，所述滑槽内转动连接有第一丝杆，所述固定架上表面固定安装有第一电机，所述滑槽内滑动连接有第一滑块，所述第一滑块一侧固定连接有滑动杆，所述滑动杆上滑动连接有滑动座，所述滑动座上固定安装有SQUID探头。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述角度调节组件包括步进电机、主动轮、皮带、从动轮和连接杆，所述底座上表面固定安装有步进电机，所述步进电机输出轴端固定连接有主动轮，所述转动轴一端固定连接有连接杆，所述连接杆一端固定连接有从动轮，所述从动轮与主动轮之间通过皮带传动连接。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述主动轮与从动轮直径相同，所述从动轮与固定座互不接触。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述夹紧组件包括第二电机、第二丝杆和第二滑块，所述固定座一侧固定安装有第二电机，所述固定座内部转动连接有第二丝杆，所述固定座上滑动连接有第二滑块。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述夹紧组件还包括连接板、固定板和限位卡槽，所述第二滑块上固定连接有连接板，所述连接板一侧固定连接有固定板，所述固定板上开设有限位卡槽。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述第二滑块设置有两组，两组所述第二滑块对称设置于固定座上。

作为本实用新型一种多角度半导体检测设备，所述固定座与固定架互不接触，所述滑动杆与固定座匹配设置。

本实用新型提供了一种多角度半导体检测设备。具备以下有益效果：

该半导体检测设备，通过设置了角度调节组件，通过步进电机带动连接杆旋转，从而使固定座沿着转动轴匀速转动，可以根据需要将半导体移动到特定的角度，便于半导体的多角度，全方位检测，通过第二电机带动第二丝杆旋转，从而使固定板沿着固定座移动，对半导体进行夹紧固定，避免旋转时掉落，提高实用性。

附图说明

图1为本实用新型的角度调节组件立体图；

图2为本实用新型的夹紧组件立体图；

图3为本实用新型的立体图；

图4为本实用新型的A结构放大图。

图中：1、底座；2、升缩杆；3、支撑块；4、凹槽；5、固定架；6、滑槽；7、第一滑块；8、第一丝杆；9、第一电机；10、滑动杆；11、滑动座；12、SQUID探头；13、定位板；14、转动轴；15、固定座；16、角度调节组件；1601、步进电机；1602、主动轮；1603、皮带；1604、从动轮；1605、连接杆；17、夹紧组件；1701、第二电机；1702、第二丝杆；1703、第二滑块；1705、连接板；1706、固定板；1707、限位卡槽。

具体实施方式

下面将结合本实用实施例中的附图，对本实用实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种多角度半导体检测设备，包括底座1，底座1底部对称设置有升缩杆2，升缩杆2底部固定连接有支撑块3，底座1表面开设有凹槽4，底座1上表面对称设置有定位板13，定位板13上转动连接有转动轴14，转动轴14上固定连接有固定座15，固定座15上设置有夹紧组件17，底座1上设置有角度调节组件16，底座1上表面固定连接有固定架5，固定架5一侧开设有滑槽6，滑槽6内转动连接有第一丝杆8，固定架5上表面固定安装有第一电机9，滑槽6内滑动连接有第一滑块7，第一滑块7一侧固定连接有滑动杆10，滑动杆10上滑动连接有滑动座11，滑动座11上固定安装有SQUID探头12。

在本实用新型的具体实施例中，通过角度调节组件16来调节半导体的角度，便于对半导体进行多角度检测，通过夹紧组件17对半导体进行固定，避免检测时掉落。

具体的，角度调节组件16包括步进电机1601、主动轮1602、皮带1603、从动轮1604和连接杆1605，底座1上表面固定安装有步进电机1601，步进电机1601输出轴端固定连接有主动轮1602，转动轴14一端固定连接有连接杆1605，连接杆1605一端固定连接有从动轮1604，从动轮1604与主动轮1602之间通过皮带1603传动连接。

在本实用新型的具体实施例中，步进电机1601带动主动轮1602旋转，通过皮带1603带动从动轮1604旋转，从而使连接杆1605带动转动轴14旋转，便于对半导体的角度进行调节，方便对半导体进行多角度的检测。

具体的，主动轮1602与从动轮1604直径相同，从动轮1604与固定座15互不接触。

在本实用新型的具体实施例中，通过主动轮1602带动从动轮1604旋转，从而对半导体的角度进行调节。

具体的，夹紧组件17包括第二电机1701、第二丝杆1702和第二滑块1703，固定座15一侧固定安装有第二电机1701，固定座15内部转动连接有第二丝杆1702，固定座15上滑动连接有第二滑块1703。

在本实用新型的具体实施例中，第二电机1701带动第二丝杆1702旋转，从而使第二滑块1703沿着固定座15移动，对半导体进行夹紧固定。

具体的，夹紧组件17还包括连接板1705、固定板1706和限位卡槽1707，第二滑块1703上固定连接有连接板1705，连接板1705一侧固定连接有固定板1706，固定板1706上开设有限位卡槽1707。

在本实用新型的具体实施例中，通过固定板1706的移动对半导体进行固定，通过限位卡槽1707对半导体进行限位，进一步对其进行固定。

具体的，第二滑块1703设置有两组，两组第二滑块1703对称设置于固定座15上。

在本实用新型的具体实施例中，通过第二电机1701的旋转来带动第二丝杆1702转动，从而使两组第二滑块1703移动，带动固定板1706移动。

具体的，固定座15与固定架5互不接触，滑动杆10与固定座15匹配设置。

在本实用新型的具体实施例中，固定座15旋转时与固定架5不接触，避免损坏，SQUID探头12可以沿着滑动杆10移动至固定座15的边缘，便于根据需要调整SQUID探头12的位置。

工作原理：将所需检测的半导体放置在限位卡槽1707上，启动第二电机1701带动第二丝杆1702旋转，从而使第二电机1701移动，带动固定板1706相对移动，通过固定板1706带动限位卡槽1707移动，对半导体进行限位固定，启动步进电机1601，带动连接杆1605旋转，从而使半导体沿着从动轮1604旋转，通过SQUID探头12对半导体进行多角度均匀的检测。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种多角度半导体检测设备，其特征在于，包括：底座(1)，所述底座(1)底部对称设置有升缩杆(2)，所述升缩杆(2)底部固定连接有支撑块(3)，所述底座(1)表面开设有凹槽(4)，所述底座(1)上表面对称设置有定位板(13)，所述定位板(13)上转动连接有转动轴(14)，所述转动轴(14)上固定连接有固定座(15)，所述固定座(15)上设置有夹紧组件(17)，所述底座(1)上设置有角度调节组件(16)，所述底座(1)上表面固定连接有固定架(5)，所述固定架(5)一侧开设有滑槽(6)，所述滑槽(6)内转动连接有第一丝杆(8)，所述固定架(5)上表面固定安装有第一电机(9)，所述滑槽(6)内滑动连接有第一滑块(7)，所述第一滑块(7)一侧固定连接有滑动杆(10)，所述滑动杆(10)上滑动连接有滑动座(11)，所述滑动座(11)上固定安装有SQUID探头(12)。

2.根据权利要求1所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述角度调节组件(16)包括步进电机(1601)、主动轮(1602)、皮带(1603)、从动轮(1604)和连接杆(1605)，所述底座(1)上表面固定安装有步进电机(1601)，所述步进电机(1601)输出轴端固定连接有主动轮(1602)，所述转动轴(14)一端固定连接有连接杆(1605)，所述连接杆(1605)一端固定连接有从动轮(1604)，所述从动轮(1604)与主动轮(1602)之间通过皮带(1603)传动连接。

3.根据权利要求2所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述主动轮(1602)与从动轮(1604)直径相同，所述从动轮(1604)与固定座(15)互不接触。

4.根据权利要求1所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述夹紧组件(17)包括第二电机(1701)、第二丝杆(1702)和第二滑块(1703)，所述固定座(15)一侧固定安装有第二电机(1701)，所述固定座(15)内部转动连接有第二丝杆(1702)，所述固定座(15)上滑动连接有第二滑块(1703)。

5.根据权利要求4所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述夹紧组件(17)还包括连接板(1705)、固定板(1706)和限位卡槽(1707)，所述第二滑块(1703)上固定连接有连接板(1705)，所述连接板(1705)一侧固定连接有固定板(1706)，所述固定板(1706)上开设有限位卡槽(1707)。

6.根据权利要求5所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述第二滑块(1703)设置有两组，两组所述第二滑块(1703)对称设置于固定座(15)上。

7.根据权利要求1所述的一种多角度半导体检测设备，其特征在于：所述固定座(15)与固定架(5)互不接触，所述滑动杆(10)与固定座(15)匹配设置。