CN217820683U - 一种半导体测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种半导体测试台。所述半导体测试台包括底座；支撑轴，所述支撑轴转动安装在所述底座的顶部；中板，所述中板固定安装在所述支撑轴的顶端；两个竖板，两个所述竖板均固定安装在所述中板的顶部，一个所述竖板的一侧固定安装有限位块；转轴，所述转轴转动安装在两个所述竖板相互靠近的一侧；转动板，所述转动板固定套设在所述转轴上；测试台，所述测试台固定安装在所述转动板的顶部，所述测试台的顶部开设有限位槽；定位机构，所述定位机构设置在所述测试台的顶部。本实用新型提供的半导体测试台具有能够调节半导体的角度和方向、操作较为方便，固定较为方便的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种半导体测试台。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。在半导体侧视的过程中需要使用测试台对半导体进行支撑固定。
但是，现有的半导体测试台在对半导体进行支撑固定后往往无法对对半导体的角度及方向进行调节，因此不便于测试仪器对半导体进行测试。
因此，有必要提供一种半导体测试台解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是提供一种能够调节半导体的角度和方向、操作较为方便，固定较为方便的半导体测试台。
为解决上述技术问题，本实用新型提供的半导体测试台包括：底座；支撑轴，所述支撑轴转动安装在所述底座的顶部；中板，所述中板固定安装在所述支撑轴的顶端；两个竖板，两个所述竖板均固定安装在所述中板的顶部，一个所述竖板的一侧固定安装有限位块；转轴，所述转轴转动安装在两个所述竖板相互靠近的一侧；转动板，所述转动板固定套设在所述转轴上；测试台，所述测试台固定安装在所述转动板的顶部，所述测试台的顶部开设有限位槽；定位机构，所述定位机构设置在所述测试台的顶部；方向调节机构，所述方向调节机构设置在所述底座的顶部；角度调节机构，所述角度调节机构设置在所述中板的顶部。
优选的，所述定位机构包括双向螺杆、两个滑块、两个移动板、多个滑动杆、多个弹簧和两个定位板，所述双向螺杆转动安装在所述限位槽的内壁上，两个所述滑块均螺纹套设在所述双向螺杆上，所述滑块与所述限位槽的两侧内壁滑动连接，两个所述移动板分别固定安装在两个所述滑块的顶部，多个所述滑动杆分别滑动安装在两个所述移动板上，多个所述弹簧分别滑动套设在多个所述滑动杆上，两个所述定位板分别固定安装在多个所述滑动杆相互靠近的一侧。
优选的，所述方向调节机构包括第一步进电机、主动齿轮和从动齿轮，所述第一步进电机固定安装在所述底座的顶部，所述主动齿轮固定套设在所述第一步进电机的输出轴上，所述从动齿轮固定套设在所述支撑轴上，所述主动齿轮和所述从动齿轮相啮合。
优选的，所述角度调节机构包括第二步进电机、蜗杆和蜗轮，所述第二步进电机固定安装在所述中板的顶部，所述蜗杆固定安装在所述第二步进电机的输出轴上，所述蜗杆与所述限位块转动连接，所述蜗轮固定套设在所述转轴上，所述蜗杆与所述蜗轮相啮合。
优选的，所述双向螺杆的一端固定安装有手轮，多个所述滑动杆相互远离的一端固定安装有两个连接板，两个所述连接板相互远离的一端均固定安装有拉环。
优选的，两个所述定位板相互靠近的一侧均开设有容纳槽。
与相关技术相比较，本实用新型提供的半导体测试台具有如下有益效果：
本实用新型提供一种半导体测试台，通过支撑轴可以对中板进行支撑，通过测试台可以对半导体进行支撑，通过定位机构可以对不同尺寸的半导体进行夹持固定，通过方向调节机构可以对半导体的方向进行调节，通过角度调节机构可以对半导体的角度进行调节，通过双向螺杆转动可以带动两个滑块相互靠近或远离，通过多个弹簧回弹可以使两个定位板能够对半导体进行定位，通过第一步进电机、主动齿轮和从动齿轮可以带动支撑轴转动，通过第二步进电机、蜗杆和蜗轮可以带动转轴转动，通过手轮可以带动双向螺杆转动，通过两个容纳槽可以使半导体被定位时较为牢固。
附图说明
图1为本实用新型提供的半导体测试台的一种较佳实施例的结构示意图；
图2为图1中所示的A部分放大示意图；
图3为图1中所示的B部分放大示意图。
图中标号：1、底座；2、支撑轴；3、中板；4、竖板；5、转轴；6、转动板；7、测试台；8、双向螺杆；9、滑块；10、移动板；11、滑动杆；12、弹簧；13、定位板；14、第一步进电机；15、主动齿轮；16、从动齿轮；17、第二步进电机；18、蜗杆；19、蜗轮。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
请结合参阅图1-3，其中，图1为本实用新型提供的半导体测试台的一种较佳实施例的结构示意图；图2为图1中所示的A部分放大示意图；图3为图1中所示的B部分放大示意图。半导体测试台包括：底座1；支撑轴2，所述支撑轴2转动安装在所述底座1的顶部；中板3，所述中板3固定安装在所述支撑轴2的顶端；两个竖板4，两个所述竖板4均固定安装在所述中板3的顶部，一个所述竖板4的一侧固定安装有限位块；转轴5，所述转轴5转动安装在两个所述竖板4相互靠近的一侧；转动板6，所述转动板6固定套设在所述转轴5上；测试台7，所述测试台7固定安装在所述转动板6的顶部，所述测试台7的顶部开设有限位槽；定位机构，所述定位机构设置在所述测试台7的顶部；方向调节机构，所述方向调节机构设置在所述底座1的顶部；角度调节机构，所述角度调节机构设置在所述中板3的顶部，通过支撑轴2可以对中板3进行支撑，通过测试台7可以对半导体进行支撑，通过定位机构可以对不同尺寸的半导体进行夹持固定，通过方向调节机构可以对半导体的方向进行调节，通过角度调节机构可以对半导体的角度进行调节。
所述定位机构包括双向螺杆8、两个滑块9、两个移动板10、多个滑动杆11、多个弹簧12和两个定位板13，所述双向螺杆8转动安装在所述限位槽的内壁上，两个所述滑块9均螺纹套设在所述双向螺杆8上，所述滑块9与所述限位槽的两侧内壁滑动连接，两个所述移动板10分别固定安装在两个所述滑块9的顶部，多个所述滑动杆11分别滑动安装在两个所述移动板10上，多个所述弹簧12分别滑动套设在多个所述滑动杆11上，两个所述定位板13分别固定安装在多个所述滑动杆11相互靠近的一侧，通过双向螺杆8转动可以带动两个滑块9相互靠近或远离，通过多个弹簧12回弹可以使两个定位板13能够对半导体进行定位。
所述方向调节机构包括第一步进电机14、主动齿轮15和从动齿轮16，所述第一步进电机14固定安装在所述底座1的顶部，所述主动齿轮15固定套设在所述第一步进电机14的输出轴上，所述从动齿轮16固定套设在所述支撑轴2上，所述主动齿轮15和所述从动齿轮16相啮合，通过第一步进电机14、主动齿轮15和从动齿轮16可以带动支撑轴2转动。
所述角度调节机构包括第二步进电机17、蜗杆18和蜗轮19，所述第二步进电机17固定安装在所述中板3的顶部，所述蜗杆18固定安装在所述第二步进电机17的输出轴上，所述蜗杆18与所述限位块转动连接，所述蜗轮19固定套设在所述转轴5上，所述蜗杆18与所述蜗轮19相啮合，通过第二步进电机17、蜗杆18和蜗轮19可以带动转轴5转动。
所述双向螺杆8的一端固定安装有手轮，多个所述滑动杆11相互远离的一端固定安装有两个连接板，两个所述连接板相互远离的一端均固定安装有拉环，通过手轮可以带动双向螺杆8转动。
两个所述定位板13相互靠近的一侧均开设有容纳槽，通过两个容纳槽可以使半导体被定位时较为牢固。
本实用新型提供的半导体测试台的工作原理如下：
使用时，根据半导体的宽度调节两个定位板13之间的距离，转动手轮，手轮带动双向螺杆8转动，双向螺杆8转动带动两个滑块9相互靠近或远离，通过两个滑块9带动两个定位板13相互靠近或远离，进而对半导体的固定宽度进行调节，然后拉动两个拉环，两个拉环带动两个定位板13相互远离，然后将半导体置于两个容纳槽内，通过多个弹簧12回弹使两个定位板13能够对半导体进行夹持固定，然后可以使用半导体测试装置对半导体进行测试，在测试的过程中如果需要调节半导体的方向则可以启动第一步进电机14，第一步进电机14带动主动齿轮15转动，主动齿轮15带动从动齿轮16转动，从动齿轮16带动支撑轴2转动，通过支撑轴2转动可以间接带动测试台7转动，从而对半导体的方向进行调节，如果需要调节半导体的角度，可以启动第二步进电机17，第二步进电机17带动蜗杆18转动，蜗杆18带动蜗轮19转动，蜗轮19带动转轴5转动，转轴5带动转动板6转动，通过转动板6可以带动测试台7转动，从而对半导体的角度进行调节。
与相关技术相比较，本实用新型提供的半导体测试台具有如下有益效果：
本实用新型提供一种半导体测试台，通过支撑轴2可以对中板3进行支撑，通过测试台7可以对半导体进行支撑，通过定位机构可以对不同尺寸的半导体进行夹持固定，通过方向调节机构可以对半导体的方向进行调节，通过角度调节机构可以对半导体的角度进行调节，通过双向螺杆8转动可以带动两个滑块9相互靠近或远离，通过多个弹簧12回弹可以使两个定位板13能够对半导体进行定位，通过第一步进电机14、主动齿轮15和从动齿轮16可以带动支撑轴2转动，通过第二步进电机17、蜗杆18和蜗轮19可以带动转轴5转动，通过手轮可以带动双向螺杆8转动，通过两个容纳槽可以使半导体被定位时较为牢固。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种半导体测试台，其特征在于，包括：
底座；
支撑轴，所述支撑轴转动安装在所述底座的顶部；
中板，所述中板固定安装在所述支撑轴的顶端；
两个竖板，两个所述竖板均固定安装在所述中板的顶部，一个所述竖板的一侧固定安装有限位块；
转轴，所述转轴转动安装在两个所述竖板相互靠近的一侧；
转动板，所述转动板固定套设在所述转轴上；
测试台，所述测试台固定安装在所述转动板的顶部，所述测试台的顶部开设有限位槽；
定位机构，所述定位机构设置在所述测试台的顶部；
方向调节机构，所述方向调节机构设置在所述底座的顶部；
角度调节机构，所述角度调节机构设置在所述中板的顶部。
2.根据权利要求1所述的半导体测试台，其特征在于，所述定位机构包括双向螺杆、两个滑块、两个移动板、多个滑动杆、多个弹簧和两个定位板，所述双向螺杆转动安装在所述限位槽的内壁上，两个所述滑块均螺纹套设在所述双向螺杆上，所述滑块与所述限位槽的两侧内壁滑动连接，两个所述移动板分别固定安装在两个所述滑块的顶部，多个所述滑动杆分别滑动安装在两个所述移动板上，多个所述弹簧分别滑动套设在多个所述滑动杆上，两个所述定位板分别固定安装在多个所述滑动杆相互靠近的一侧。
3.根据权利要求1所述的半导体测试台，其特征在于，所述方向调节机构包括第一步进电机、主动齿轮和从动齿轮，所述第一步进电机固定安装在所述底座的顶部，所述主动齿轮固定套设在所述第一步进电机的输出轴上，所述从动齿轮固定套设在所述支撑轴上，所述主动齿轮和所述从动齿轮相啮合。
4.根据权利要求1所述的半导体测试台，其特征在于，所述角度调节机构包括第二步进电机、蜗杆和蜗轮，所述第二步进电机固定安装在所述中板的顶部，所述蜗杆固定安装在所述第二步进电机的输出轴上，所述蜗杆与所述限位块转动连接，所述蜗轮固定套设在所述转轴上，所述蜗杆与所述蜗轮相啮合。
5.根据权利要求2所述的半导体测试台，其特征在于，所述双向螺杆的一端固定安装有手轮，多个所述滑动杆相互远离的一端固定安装有两个连接板，两个所述连接板相互远离的一端均固定安装有拉环。
6.根据权利要求2所述的半导体测试台，其特征在于，两个所述定位板相互靠近的一侧均开设有容纳槽。
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Address after: 629000 No. 2 Suharitao Science and Technology Park, 73 Chunxiao Road, East of Rose Avenue, Chuanshan Logistics Port, Suining City, Sichuan Province Patentee after: Sichuan Xinhe Microelectronics Co.,Ltd. Address before: 629000 No. 2 Suharitao Science and Technology Park, 73 Chunxiao Road, East of Rose Avenue, Chuanshan Logistics Port, Suining City, Sichuan Province Patentee before: Suining Hexin Semiconductor Co.,Ltd. |