CN214427676U - 一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜 - Google Patents

一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及检测设备的技术领域,特别是涉及一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其避免使用者手动调节芯片的检测位置,省时省力,提高装置的使用便捷性,同时便于根据使用者的身高调节镜筒的高度,降低装置的使用局限性;包括两组空心支撑块、多组定位块、两组固定板、两组螺管、两组螺杆、移动板、两组第一锥齿轮、两组第二锥齿轮、转动轴、第一转动把手、调节装置检测平台、直角镜臂、阻尼转轴和镜筒,空心支撑块放置在地面上,多组定位块均匀固定在两组空心支撑块顶端的左右两侧,空心支撑块顶端中部设置有开口,并且两组固定板分别固定在两组空心支撑块内,螺管与固定板转动连接,并且螺杆与螺管螺装连接。

Description

一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜
技术领域
本实用新型涉及检测设备的技术领域,特别是涉及一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜。
背景技术
众所周知,一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜是用于检测芯片的辅助装置,其在检测设备的领域中得到了广泛的使用;芯片制作完成后,往往需要利用显微镜对芯片的完整性进行检测,检测过程中需要不断手动调整芯片的检测位置,费时费力,此外,现有的显微镜无法根据工作人员的身高调节镜筒的高度,导致装置的使用局限性较大。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种避免使用者手动调节芯片的检测位置,省时省力,提高装置的使用便捷性,同时便于根据使用者的身高调节镜筒的高度,降低其使用局限性的芯片检测用带有夹持结构的显微镜。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,包括两组空心支撑块、多组定位块、两组固定板、两组螺管、两组螺杆、移动板、两组第一锥齿轮、两组第二锥齿轮、转动轴、第一转动把手、调节装置检测平台、直角镜臂、阻尼转轴和镜筒,空心支撑块放置在地面上,多组定位块均匀固定在两组空心支撑块顶端的左右两侧,空心支撑块顶端中部设置有开口,并且两组固定板分别固定在两组空心支撑块内,螺管与固定板转动连接,并且螺杆与螺管螺装连接,螺杆的顶端可穿过空心支撑块顶端中部的开口,并与移动板的底端连接,移动板底端设置有多组插槽,并与多组定位块一一对应,并且两组第一锥齿轮分别固定在两组螺管的底部,第一锥齿轮与第二锥齿轮啮合传动连接,两组第二锥齿轮均固定在转动轴上,并且转动轴与两组空心支撑块转动连接,第一转动把手固定在转动轴的左端,并且检测平台通过调节装置与移动板的顶端连接,直角镜臂固定在移动板顶端左侧,并且镜筒与直角镜臂通过阻尼转轴转动连接。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,调节装置包括固定座、电机、丝杆轴、两组第一固定块、滑块、多组C型滑块和两组滑轨,电机通过固定座固定在移动板顶端右侧,电机的输出端与丝杆轴的右端连接,并且丝杆轴与两组第一固定块转动连接,两组第一固定块对称固定在移动板顶端的左右两侧,并且滑块与丝杆轴转动连接,滑块固定在检测平台的底端,多组C型滑块均匀固定在检测平台底端的前后两侧,并且多组C型滑块分别与两组滑轨滑动卡装,两组滑轨对称固定在移动板顶端的前后两侧。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括两组第二固定块、两组小型电动推杆、两组连接杆、两组移动杆、两组连接块、两组转动螺杆、两组第二转动把手、两组压块和两组橡胶垫,两组第二固定块对称固定在检测平台顶端的左右两侧,小型电动推杆固定在第二固定块的外侧端上部,并且小型电动推杆的输出端与连接杆连接,连接杆固定在移动杆上,并且移动杆与第二固定块滑动连接,连接块固定在移动杆的内侧端,并且转动螺杆与连接块螺装连接,第二转动把手固定在转动螺杆的顶端,压块固定在转动螺杆的底端,并且橡胶垫固定在压块的底端。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括多组直角连接杆、多组垫块和多组防滑垫,多组直角连接杆均匀固定在两组空心支撑块左右两端的底部,垫块固定在直角连接杆的底端,并且防滑垫固定在垫块的底端。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括防护罩和防尘网,防护罩固定在空心支撑块的顶端右侧,并将固定座和电机罩住,并且防护罩的顶端设置有多组散热孔,防尘网将散热孔覆盖住,并且防尘网固定在防护罩顶端内侧壁上。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括隔震垫,隔震垫固定在固定座与电机之间。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括多组加强板,多组加强板均匀固定在螺杆的左右两端,并与移动板的底端连接。
与现有技术相比本实用新型的有益效果为:将芯片固定在检测平台上,通过镜筒对芯片进行检测,并可通过转动第一转动把手,带动转动轴和第二锥齿轮转动,第二锥齿轮与第一锥齿轮啮合传动连接,使得第一锥齿轮带动螺管转动,从而使得螺杆带动移动板上下移动,便于根据使用者的身高调节镜筒的高度,降低装置的使用局限性。
附图说明
图1是本实用新型的正视及其部分剖视结构示意图;
图2是本实用新型A处的放大结构示意图;
图3是本实用新型B处的放大结构示意图;
图4是本实用新型C处的放大结构示意图;
图5是本实用新型D处的放大结构示意图;
附图中标记:1、空心支撑块;2、定位块;3、固定板;4、螺管; 5、螺杆;6、移动板;7、第一锥齿轮;8、第二锥齿轮;9、转动轴; 10、第一转动把手;11、检测平台;12、直角镜臂;13、阻尼转轴; 14、镜筒;15、固定座;16、电机;17、丝杆轴;18、第一固定块; 19、滑块;20、C型滑块;21、滑轨;22、第二固定块;23、小型电动推杆;24、连接杆;25、移动杆;26、连接块;27、转动螺杆;28、第二转动把手;29、压块;30、橡胶垫;31、直角连接杆;32、垫块;33、防滑垫;34、防护罩;35、散热孔;36、防尘网;37、隔震垫; 38、加强板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。
如图1至图5所示,本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,包括两组空心支撑块1、多组定位块2、两组固定板3、两组螺管4、两组螺杆5、移动板6、两组第一锥齿轮7、两组第二锥齿轮8、转动轴9、第一转动把手10、调节装置检测平台11、直角镜臂12、阻尼转轴13和镜筒14,空心支撑块1放置在地面上,多组定位块2均匀固定在两组空心支撑块1顶端的左右两侧,空心支撑块1顶端中部设置有开口,并且两组固定板3分别固定在两组空心支撑块1内,螺管4与固定板3转动连接,并且螺杆5与螺管4螺装连接,螺杆5的顶端可穿过空心支撑块1顶端中部的开口,并与移动板6的底端连接,移动板6底端设置有多组插槽,并与多组定位块2一一对应,并且两组第一锥齿轮7 分别固定在两组螺管4的底部,第一锥齿轮7与第二锥齿轮8啮合传动连接,两组第二锥齿轮8均固定在转动轴9上,并且转动轴9与两组空心支撑块1转动连接,第一转动把手10固定在转动轴9的左端,并且检测平台11通过调节装置与移动板6的顶端连接,直角镜臂12固定在移动板6顶端左侧,并且镜筒14与直角镜臂12通过阻尼转轴13转动连接;将芯片固定在检测平台11上,通过镜筒14对芯片进行检测,并可通过转动第一转动把手10,带动转动轴9和第二锥齿轮8转动,第二锥齿轮 8与第一锥齿轮7啮合传动连接,使得第一锥齿轮7带动螺管4转动,从而使得螺杆5带动移动板6上下移动,便于根据使用者的身高调节镜筒 14的高度,降低装置的使用局限性。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,调节装置包括固定座15、电机16、丝杆轴17、两组第一固定块18、滑块19、多组C型滑块20和两组滑轨21,电机16通过固定座15固定在移动板6顶端右侧,电机16的输出端与丝杆轴17的右端连接,并且丝杆轴17与两组第一固定块18转动连接,两组第一固定块18对称固定在移动板6顶端的左右两侧,并且滑块19与丝杆轴17转动连接,滑块19固定在检测平台11的底端,多组C型滑块20均匀固定在检测平台11底端的前后两侧,并且多组C型滑块20分别与两组滑轨21滑动卡装,两组滑轨21对称固定在移动板6顶端的前后两侧;通过电机16带动丝杆轴17转动,使得滑块19在C型滑块20和滑轨21的配合使用下,带动检测平台11左右移动,避免使用者手动调节芯片的检测位置,省时省力,提高装置的使用便捷性。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括两组第二固定块22、两组小型电动推杆23、两组连接杆24、两组移动杆 25、两组连接块26、两组转动螺杆27、两组第二转动把手28、两组压块29和两组橡胶垫30,两组第二固定块22对称固定在检测平台11顶端的左右两侧,小型电动推杆23固定在第二固定块22的外侧端上部,并且小型电动推杆23的输出端与连接杆24连接,连接杆24固定在移动杆 25上,并且移动杆25与第二固定块22滑动连接,连接块26固定在移动杆25的内侧端,并且转动螺杆27与连接块26螺装连接,第二转动把手 28固定在转动螺杆27的顶端,压块29固定在转动螺杆27的底端,并且橡胶垫30固定在压块29的底端;通过控制小型电动推杆23,并在连接杆24和移动杆25的配合使用下带动连接块26左右移动,并通过转动第二转动把手28,使得转动螺杆27带动压块29和橡胶垫30向下移动,通过压块29将不同尺寸的芯片固定在检测平台11上,进一步降低装置的使用局限性。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括多组直角连接杆31、多组垫块32和多组防滑垫33,多组直角连接杆31 均匀固定在两组空心支撑块1左右两端的底部,垫块32固定在直角连接杆31的底端,并且防滑垫33固定在垫块32的底端;通过设置直角连接杆31、垫块32和防滑垫33,避免装置使用时发生偏移或倾斜,提高装置的使用稳定性。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括防护罩34和防尘网36,防护罩34固定在空心支撑块1的顶端右侧,并将固定座15和电机16罩住,并且防护罩34的顶端设置有多组散热孔35,防尘网36将散热孔35覆盖住,并且防尘网36固定在防护罩34顶端内侧壁上;通过设置防护罩34,对电机16进行防护,避免出现磕碰损伤,同时通过设置散热孔35和防尘网36,便于电机16的散热,避免电机16 受热老化,提高电机16的使用寿命。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括隔震垫37,隔震垫37固定在固定座15与电机16之间;通过设置隔震垫37,减小震动对电机16的影响,确保电机16的稳定运行。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,还包括多组加强板38,多组加强板38均匀固定在螺杆5的左右两端,并与移动板6的底端连接;通过设置加强板38,加强移动板6与螺杆5连接的稳定性,提高装置的结构强度。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其在工作时,首先通过控制小型电动推杆23,并在连接杆24和移动杆25的配合使用下带动连接块26左右移动,并通过转动第二转动把手28,使得转动螺杆27带动压块29和橡胶垫30向下移动,通过压块29将不同尺寸的芯片固定在检测平台11上,之后通过镜筒14对芯片进行检测,通过电机16带动丝杆轴17转动,使得滑块19在C型滑块20和滑轨21的配合使用下,带动检测平台11左右移动,避免使用者手动调节芯片的检测位置,省时省力,提高装置的使用便捷性,然后可通过转动第一转动把手10,带动转动轴9和第二锥齿轮8转动,第二锥齿轮8与第一锥齿轮7 啮合传动连接,使得第一锥齿轮7带动螺管4转动,从而使得螺杆5带动移动板6上下移动,便于根据使用者的身高调节镜筒14的高度,降低装置的使用局限性,并且通过设置直角连接杆31、垫块32和防滑垫 33,避免装置使用时发生偏移或倾斜,提高装置的使用稳定性。
本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式,只要能够达成其有益效果的均可进行实施;本实用新型的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜的镜筒14为市面上采购,本行业内技术人员只需按照其附带的使用说明书进行安装和操作即可。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,包括两组空心支撑块(1)、多组定位块(2)、两组固定板(3)、两组螺管(4)、两组螺杆(5)、移动板(6)、两组第一锥齿轮(7)、两组第二锥齿轮(8)、转动轴(9)、第一转动把手(10)、调节装置检测平台(11)、直角镜臂(12)、阻尼转轴(13)和镜筒(14),空心支撑块(1)放置在地面上,多组定位块(2)均匀固定在两组空心支撑块(1)顶端的左右两侧,空心支撑块(1)顶端中部设置有开口,并且两组固定板(3)分别固定在两组空心支撑块(1)内,螺管(4)与固定板(3)转动连接,并且螺杆(5)与螺管(4)螺装连接,螺杆(5)的顶端可穿过空心支撑块(1)顶端中部的开口,并与移动板(6)的底端连接,移动板(6)底端设置有多组插槽,并与多组定位块(2)一一对应,并且两组第一锥齿轮(7)分别固定在两组螺管(4)的底部,第一锥齿轮(7)与第二锥齿轮(8)啮合传动连接,两组第二锥齿轮(8)均固定在转动轴(9)上,并且转动轴(9)与两组空心支撑块(1)转动连接,第一转动把手(10)固定在转动轴(9)的左端,并且检测平台(11)通过调节装置与移动板(6)的顶端连接,直角镜臂(12)固定在移动板(6)顶端左侧,并且镜筒(14)与直角镜臂(12)通过阻尼转轴(13)转动连接。
2.如权利要求1所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,调节装置包括固定座(15)、电机(16)、丝杆轴(17)、两组第一固定块(18)、滑块(19)、多组C型滑块(20)和两组滑轨(21),电机(16)通过固定座(15)固定在移动板(6)顶端右侧,电机(16)的输出端与丝杆轴(17)的右端连接,并且丝杆轴(17)与两组第一固定块(18)转动连接,两组第一固定块(18)对称固定在移动板(6)顶端的左右两侧,并且滑块(19)与丝杆轴(17)转动连接,滑块(19)固定在检测平台(11)的底端,多组C型滑块(20) 均匀固定在检测平台(11)底端的前后两侧,并且多组C型滑块(20)分别与两组滑轨(21)滑动卡装,两组滑轨(21)对称固定在移动板(6)顶端的前后两侧。
3.如权利要求2所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,还包括两组第二固定块(22)、两组小型电动推杆(23)、两组连接杆(24)、两组移动杆(25)、两组连接块(26)、两组转动螺杆(27)、两组第二转动把手(28)、两组压块(29)和两组橡胶垫(30),两组第二固定块(22)对称固定在检测平台(11)顶端的左右两侧,小型电动推杆(23)固定在第二固定块(22)的外侧端上部,并且小型电动推杆(23)的输出端与连接杆(24)连接,连接杆(24)固定在移动杆(25)上,并且移动杆(25)与第二固定块(22)滑动连接,连接块(26)固定在移动杆(25)的内侧端,并且转动螺杆(27)与连接块(26)螺装连接,第二转动把手(28)固定在转动螺杆(27)的顶端,压块(29)固定在转动螺杆(27)的底端,并且橡胶垫(30)固定在压块(29)的底端。
4.如权利要求3所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,还包括多组直角连接杆(31)、多组垫块(32)和多组防滑垫(33),多组直角连接杆(31)均匀固定在两组空心支撑块(1)左右两端的底部,垫块(32)固定在直角连接杆(31)的底端,并且防滑垫(33)固定在垫块(32)的底端。
5.如权利要求4所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,还包括防护罩(34)和防尘网(36),防护罩(34)固定在空心支撑块(1)的顶端右侧,并将固定座(15)和电机(16)罩住,并且防护罩(34)的顶端设置有多组散热孔(35),防尘网(36)将散热孔(35)覆盖住,并且防尘网(36)固定在防护罩(34)顶端内侧壁上。
6.如权利要求5所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,还包括隔震垫(37),隔震垫(37)固定在固定座(15)与电机(16)之间。
7.如权利要求6所述的一种芯片检测用带有夹持结构的显微镜,其特征在于,还包括多组加强板(38),多组加强板(38)均匀固定在螺杆(5)的左右两端,并与移动板(6)的底端连接。
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