CN220730070U - 一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置,包括检测置物转盘、进料输入组件、出料输出组件和表面缺陷识别机构,所述检测置物转盘通过旋转驱动组件转动支撑在底座上,所述检测置物转盘相对的两个侧边分别设置有所述进料输入组件和所述出料输出组件,以构建待测微带天线的检测输送路径;所述进料输入组件与所述出料输出组件所限定的微带天线输送支撑平面是与所述检测置物转盘所限定的微带天线检测摆放平面共面设置的,以将微带天线移入或移出所述检测置物转盘;所述表面缺陷识别机构悬置在所述检测置物转盘的上方,以对所述检测置物转盘上间隔摆设的天线进行表面缺陷检测。本实用新型能够提升缺陷检测效率的同时实现批量化生产。
Description
技术领域
本实用新型涉及天线表面缺陷检测设备技术领域,尤其涉及一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置。
背景技术
微带天线是毫米波技术的一种应用。在微带天线制作完成后,需要对微带天线的产品质量进行检测,以保证其不存在结构缺陷。微带天线是一种呈薄片板体形产品,其是在一个薄介质基片上,一面附上金属薄层作为接地板,另一面用光刻腐蚀方法制成具有一定路径形状的金属贴片,利用微带线或同轴探针对贴片馈电构成的天线。微带天线一般通过锡焊连接,在实际生产中,目前通常采用人工方式检测微带天线的表观焊点或/和微带线的生产质量,其检测效率低,且存在人工误差。人工检测具体为采用肉眼观察的方式,以确定焊接点的脱焊或焊接不可靠等情况。
此外,虽然现有生产企业开始引入成像识别检测设备进行微带天线的检测,但是受到检测设备的体积和工作效率的限制,通常仅能够对批量化生产的微带天线进行抽检,存在实际产品良率较低,无法保证成品质量的缺陷。此外,现有检测设备通常需要人工或机械手进行过于繁琐的拆装工序,方可利用其完成表面缺陷检测,其检测效率低下,不便于连续性的批量化检测,质检速度远低于生产速度,严重制约了生产效率。
此外,一方面由于对本领域技术人员的理解存在差异;另一方面由于实用新型人做出本实用新型时研究了大量文献和专利,但篇幅所限并未详细罗列所有的细节与内容,然而这绝非本实用新型不具备这些现有技术的特征,相反本实用新型已经具备现有技术的所有特征,而且申请人保留在背景技术中增加相关现有技术之权利。
实用新型内容
本实用新型目的在于提供一种简化微带天线在检测前后摆放工序而提升缺陷检测效率的同时实现连续性缺陷检测的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,以解决现有检测设备拆装操作繁琐,需要花费额外的人力或装配额外的机械夹持机构,增大了设备制造成本的同时降低了生产效率,由于检测前后的拆装过程占用额外的时间而导致质检效率低下,严重制约生产效率的问题。
本实用新型所采用的技术方案为:一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置,包括检测置物转盘、进料输入组件、出料输出组件和表面缺陷识别机构,所述检测置物转盘通过旋转驱动组件转动支撑在底座上,并且所述检测置物转盘相对的两个侧边分别设置有所述进料输入组件和所述出料输出组件,以构建待测微带天线的检测输送路径;所述进料输入组件与所述出料输出组件所限定的微带天线输送支撑平面是与所述检测置物转盘所限定的微带天线检测摆放平面共面设置的,以可选择地将微带天线移入或移出所述检测置物转盘;所述表面缺陷识别机构悬置在所述检测置物转盘的上方,以对所述检测置物转盘上间隔摆设的微带天线进行表面缺陷检测。
根据一种优选的实施方式,所述检测置物转盘包括第一圆盘、第二圆盘和外圈弧条,其中,所述第一圆盘按照能够对所述第二圆盘进行遮挡且两者共轴线的方式叠放在所述第二圆盘上,并且所述第一圆盘的径向外侧设置有弧形条体的原点与其轴线共线的所述外圈弧条,所述第二圆盘的底面与所述旋转驱动组件的输出轴传动连接,并且所述输出轴与所述第二圆盘共轴线设置;在所述外圈弧条面向所述第一圆盘的径向内侧面上安装有定位机构,并且所述外圈弧条通过多个并行的支撑杆支撑在所述底座上。
根据一种优选的实施方式,在所述第一圆盘的盘体上环向间隔开设有贯穿其盘体的置物槽,所述置物槽按照分割所述第一圆盘的径向侧环面的方式开设扩展槽口,所述扩展槽口的槽口宽度是沿远离所述置物槽的方向增大的;所述置物槽是以叠放在所述第一圆盘下方的所述第二圆盘来构建其所限定的置物腔的支撑底面的。
根据一种优选的实施方式,所述定位机构包括限位槽、弹性伸缩件、定位柱和定位滚轮,其中,所述限位槽镶嵌在所述外圈弧条的径向内侧面上,并且所述弹性伸缩件自所述限位槽远离所述外圈弧条的开口置入槽腔,以限定部分插入所述限位槽的所述定位柱与所述限位槽之间的相对位置;所述定位柱远离所述限位槽的一端设置有所述定位滚轮。
根据一种优选的实施方式,所述进料输入组件包括进料传动轮、进料传送带、进料驱动电机和第一支撑架,其中,所述第一支撑架间隔支撑至少两个所述进料传动轮,以使得套设在所述进料传动轮上的进料传送带构建起用于进料的微带天线输送支撑平面,在所述第一支撑架上还设置有能够与所述进料传动轮传动连接的所述进料驱动电机;所述进料传送带的表面还沿其长度方向间隔布设有能够限定微带天线存在间隔距离的摆放位置的推挡块。
根据一种优选的实施方式,所述出料输出组件包括出料传动轮、出料传送带、出料驱动电机和第二支撑架,其中,所述第二支撑架间隔支撑至少两个所述出料传动轮,以使得套设在所述出料传动轮上的出料传送带构建起用于出料的微带天线输送支撑平面,在所述第二支撑架上还设置有能够与所述出料传动轮传动连接的所述出料驱动电机。
根据一种优选的实施方式,所述表面缺陷识别机构包括L形支撑件、升降调节杆和检测单元,其中,所述L形支撑件支撑在底座上,以使得其上端通过所述升降调节杆所连接的所述检测单元能够处于被所述定位机构限定安置位置的微带天线的上方。
根据一种优选的实施方式,所述检测置物转盘靠近所述出料输出组件的盘体下方还设置有支撑在所述底座上的旋转推出机构。
根据一种优选的实施方式,所述旋转推出机构支撑座设置在底座上,并且所述支撑座的轴向上端安置有旋转电机,并且所述旋转电机的输出端与若干在同一个平面内环向间隔布设已构成一个圆形面的转动杆连接,所述转动杆远离所述旋转电机的一端连接有弧形板。
根据一种优选的实施方式,所述底座的下表面还设置便于进行工作位置调节的轮体。
本实用新型的有益效果是:
本申请的检测置物转盘、进料输入组件、出料输出组件能够限定待检的微带天线的运动路径,从而使微带天线能够以存在间隔距离的持续输送,并且在检测置物转盘上完成检测。本申请通过对检测置物转盘的结构和容置槽腔进行设计,使得进料输入组件、出料输出组件能够直接与检测置物转盘定位对接的方式完成微带天线的输入和输出,相对于现有技术,本申请不需要利用额外的人工拆装工序或机械手夹持结构就能够实现检测置物转盘与进料输入组件、出料输出组件之间的微带天线的转移,从而提升了装置转运的效率,通过对中转工序的消减,缩减了整个流程的单次检测周期,使得设备能够以高速运转的方式持续完成微带天线的缺陷检测。本申请通过设置旋转推出机构来辅助检测置物转盘上的微带天线输出至出料输出组件,使得输出效率得到提升的同时,消除了机械手需要往复进行长路径运动以完成产品的转移而大大增加了流程运转时间的缺陷,同时机械手或人工的取消,大大降低了设备的制造成本和后期维护成本,使得其生产成本减小。
本申请通过对置物槽的结构和形状进行设计,以使得进料传送带上的微带天线能够在推挡块的推动下被直接推入到置物槽中,减少了需要额外的机械夹持转移机构或人为手动取放工序来完成微带天线自进料传送带至置物槽之间的转移,从而提升了转移的效率,进而使得装置能够以间隙时间更小的方式连续进行微带天线的缺陷检测。本申请所设置的扩展槽口能够便于对转移过程中的微带天线的定位,以保证其能够被准确地推入置物槽。
本申请所设置的定位机构是处于表面缺陷识别机构的下方的,从而对置物槽中的微带天线进行限位固定,以使表面缺陷识别机构能够在特定工位上获得相对位置固定的微带天线的清晰表面图像,以便于后续的缺陷识别处理。
本申请所设置的推挡块能够在进料传送带于进料传动轮发生偏转的过程中持续推动微带天线发生平移,以保证微带天线被有效转移至置物槽中。
本申请通过设置旋转推出机构来将与出料输出组件对接的置物槽中的微带天线转移至出料传送带,实现了设备自动化的连续物料转移。
附图说明
图1是本实用新型所提出的一种优选的批量化生产用天线表面缺陷检测装置的结构示意图;
图2是本实用新型所提出的一种优选的批量化生产用天线表面缺陷检测装置的检测置物转盘的平面示意图。
附图标记列表
1:检测置物转盘;2:进料输入组件;3:出料输出组件;4:表面缺陷识别机构;5:旋转驱动组件;6:底座;7:旋转推出机构;11:第一圆盘;12:第二圆盘;13:外圈弧条;14:定位机构;15:支撑杆;21:进料传动轮;22:进料传送带;23:进料驱动电机;24:第一支撑架;25:推挡块;31:出料传动轮;32:出料传送带;33:出料驱动电机;34:第二支撑架;41:L形支撑件;42:升降调节杆;43:检测单元;51:转动电机;52:输出轴;61:轮体;71:支撑座;72:旋转电机;73:转动杆;74:弧形板;111:置物槽;112:扩展槽口;121:导向槽;141:限位槽;142:弹性伸缩件;143:定位柱;144:定位滚轮。
具体实施方式
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将结合附图和实施例或现有技术的描述对本实用新型作简单地介绍,显而易见地,下面关于附图结构的描述仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
以下将参照附图,通过实施例方式详细地描述本实用新型提供的技术方案。在此需要说明的是,对于这些实施例方式的说明用于帮助理解本实用新型,但并不构成对本实用新型的限定。在一些例子中,由于一些实施方式属于现有或常规技术,因此并没有描述或没有详细的描述。
此外,本文中记载的技术特征,或公开的所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,还可以在一个或多个实施例中以任意合适的方式组合。对于本领域的技术人员来说,易于理解与本文提供的实施例有关的方法的步骤或操作顺序还可以改变。附图和实施例中的任何顺序仅仅用于说明用途,并不暗示要求按照一定的顺序,除非明确说明要求按照某一顺序。
本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,在合理情况下(不构成自相矛盾的情况下),均包括直接和间接连接(联接)。
下面结合附图进行详细说明。
实施例1
本申请提供一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其包括检测置物转盘1、进料输入组件2、出料输出组件3、表面缺陷识别机构4、旋转驱动组件5、底座6和旋转推出机构7。
根据图1示出的一种具体的实施方式,检测置物转盘1通过旋转驱动组件5转动支撑在底座6上。检测置物转盘1相对的两个侧边分别设置有进料输入组件2和出料输出组件3,以构建待测微带天线的检测输送路径。进料输入组件2与出料输出组件3所限定的微带天线输送支撑平面是与检测置物转盘1所限定的微带天线检测摆放平面共面设置的,以可选择地将微带天线移入或移出检测置物转盘1。表面缺陷识别机构4悬置在检测置物转盘1的上方,以对检测置物转盘1上间隔摆设的微带天线进行表面缺陷检测。检测置物转盘1靠近出料输出组件3的盘体下方还设置有支撑在底座6上的旋转推出机构7。旋转推出机构7的运动输出端可调节置入在第二圆盘12的盘体上周向间隔开设的导向槽121中,从而带动置物槽111中的微带天线转移至出料传送带32构建的用于出料的微带天线输送支撑平面上。本申请的检测置物转盘1、进料输入组件2、出料输出组件3能够限定待检的微带天线的运动路径,从而使微带天线能够以存在间隔距离的持续输送,并且在检测置物转盘1上完成检测。本申请通过对检测置物转盘1的结构和容置槽腔进行设计,使得进料输入组件2、出料输出组件3能够直接与检测置物转盘1定位对接的方式完成微带天线的输入和输出,相对于现有技术,本申请不需要利用额外的人工拆装工序或机械手夹持结构就能够实现检测置物转盘1与进料输入组件2、出料输出组件3之间的微带天线的转移,从而提升了装置转运的效率,通过对中转工序的消减,缩减了整个流程的单次检测周期,使得设备能够以高速运转的方式持续完成微带天线的缺陷检测。本申请通过设置旋转推出机构7来辅助检测置物转盘1上的微带天线输出至出料输出组件3,使得输出效率得到提升的同时,消除了机械手需要往复进行长路径运动以完成产品的转移而大大增加了流程运转时间的缺陷,同时机械手或人工的取消,大大降低了设备的制造成本和后期维护成本,使得其生产成本减小。
如图2所示,检测置物转盘1包括第一圆盘11、第二圆盘12、外圈弧条13、定位机构14和支撑杆15。优选地,第一圆盘11按照能够对第二圆盘12进行遮挡且两者共轴线的方式叠放在第二圆盘12上。第一圆盘11的径向外侧设置有弧形条体的原点与其轴线共线的外圈弧条13。进一步优选地,在外圈弧条13面向第一圆盘11的径向内侧面上安装有定位机构14。优选地,外圈弧条13通过多个并行的支撑杆15支撑在底座6上。
优选地,在第一圆盘11的盘体上环向间隔开设有贯穿其盘体的置物槽111。进一步优选地,置物槽111按照分割第一圆盘11的径向侧环面的方式开设扩展槽口112。具体地,扩展槽口112的槽口宽度是沿远离置物槽111的方向增大的。优选地,置物槽111是以叠放在第一圆盘11下方的第二圆盘12来构建其所限定的置物腔的支撑底面的。本申请通过设置叠放的第一圆盘11和第二圆盘12来构建能够与进料输入组件2的输出端进行路径对接的置物槽11,使得输入的微带天线能够在设定进料输入组件2的运动速度和检测置物转盘1的旋转间隙时间的情况下能够精准且有效地被推入置物槽11,从而使置物槽11能够被置物槽11限位的状态下完成弧线转移,并且在转动至特定位置时的间歇停止时间段内完成表面缺陷的图像采集。表面缺陷识别机构4通过自身采集的微带天线的表面图像进行识别分析来判断对应的微带天线是否存在裂痕、断裂等缺陷。本申请通过对置物槽111的结构和形状进行设计,以使得进料传送带22上的微带天线能够在推挡块25的推动下被直接推入到置物槽111中,减少了需要额外的机械夹持转移机构或人为手动取放工序来完成微带天线自进料传送带22至置物槽111之间的转移,从而提升了转移的效率,进而使得装置能够以间隙时间更小的方式连续进行微带天线的缺陷检测。本申请所设置的扩展槽口112能够便于对转移过程中的微带天线的定位,以保证其能够被准确地推入置物槽111。
优选地,定位机构14包括限位槽141、弹性伸缩件142、定位柱143和定位滚轮144。优选地,限位槽141镶嵌在外圈弧条13的径向内侧面上。进一步优选地,弹性伸缩件142自限位槽141远离外圈弧条13的开口置入槽腔,以限定部分插入限位槽141的定位柱143与限位槽141之间的相对位置。具体地,定位柱143远离限位槽141的一端设置有定位滚轮144,以使得定位滚轮144能够对旋转至表面缺陷识别机构4下方的置物槽111中的微带天线进行抵靠限位,以精准完成板体状的微带天线表面的图像采集和识别处理。本申请所设置的定位机构14是处于表面缺陷识别机构4的下方的,从而对置物槽111中的微带天线进行限位固定,以使表面缺陷识别机构4能够在特定工位上获得相对位置固定的微带天线的清晰表面图像,以便于后续的缺陷识别处理。
优选地,进料输入组件2包括进料传动轮21、进料传送带22、进料驱动电机23和第一支撑架24。优选地,第一支撑架24间隔支撑至少两个进料传动轮21,以使得套设在进料传动轮21上的进料传送带22构建起用于进料的微带天线输送支撑平面。优选地,在第一支撑架24上还设置有能够与进料传动轮21传动连接的进料驱动电机23。进一步优选地,进料传送带22的表面还沿其长度方向间隔布设有能够限定微带天线存在间隔距离的摆放位置的推挡块25。优选地,进料传送带22所限定的置物平面是与第二转盘12所限定的置物腔的支撑底面相平齐的,以保证被推挡块25推动的微带天线能够无阻碍的静茹到置物槽111中。本申请所设置的推挡块25能够在进料传送带22于进料传动轮21发生偏转的过程中持续推动微带天线发生平移,以保证微带天线被有效转移至置物槽111中。
优选地,出料输出组件3包括出料传动轮31、出料传送带32、出料驱动电机33和第二支撑架34。优选地,第二支撑架34间隔支撑至少两个出料传动轮31,以使得套设在出料传动轮31上的出料传送带32构建起用于出料的微带天线输送支撑平面。进一步优选地,在第二支撑架34上还设置有能够与出料传动轮31传动连接的出料驱动电机33。
优选地,表面缺陷识别机构4包括L形支撑件41、升降调节杆42和检测单元43。优选地,L形支撑件41支撑在底座6上,以使得其上端通过升降调节杆42所连接的检测单元43能够处于被定位机构14限定安置位置的微带天线的上方。优选地,本申请所采用的检测单元43是类似于申请号为CN202210088145.6的现有专利的检测机构相类似的现有检测设备,其能够定位抓取微波天线的表面图像,并且自行根据图像进行表面缺陷分析,并能够直接利用外联显示设备进行检测结构的输出,从而方便操作人员或设备根据检测结构对缺陷物料进行分类。
优选地,旋转驱动组件5包括转动电机51和输出轴52。转动电机51竖向安置在底座6上,优选地,第二圆盘12的底面与旋转驱动组件5的输出轴52传动连接,并且输出轴52与第二圆盘12共轴线设置。本申请的转动电机51能够带动检测置物转盘1发生间歇式的定向旋转,以使得检测置物转盘1能够完整微带天线的转运和定位检测。优选地,底座6的下表面还设置便于进行工作位置调节的轮体61。
优选地,旋转推出机构7包括支撑座71、旋转电机72、转动杆73和弧形板74。优选地,支撑座71设置在底座6上,并且支撑座71的轴向上端安置有旋转电机72。进一步优选地,旋转电机72的输出端与若干在同一个平面内环向间隔布设已构成一个圆形面的转动杆73连接。优选地,转动杆73远离旋转电机72的一端连接有弧形板74。进一步优选地,多个周向间隔设置的弧形板74在跟随转动杆73于特定的圆周线上旋转时选择性地旋入导向槽121,从而通过摩擦传动的方式推动微带天线移出导向槽121,进而被出料输出组件3定向输出。本申请通过设置旋转推出机构7来将与出料输出组件3对接的置物槽111中的微带天线转移至出料传送带32,实现了设备自动化的连续物料转移。使用时,本申请通过设定进料驱动电机23、出料驱动电机33、转动电机51以及旋转电机72不同的旋转速度和或间歇性旋转周期来进行运动配合,从而完成微带天线在多个连续组件之间的转运。
本实用新型不局限于上述可选实施方式,任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品,但不论在其形状或结构上作任何变化,凡是落入本实用新型权利要求界定范围内的技术方案,均落在本实用新型的保护范围之内。本领域技术人员应该明白,本实用新型说明书及其附图均为说明性而并非构成对权利要求的限制。本实用新型的保护范围由权利要求及其等同物限定。在全文中,“优选地”所引导的特征仅为一种可选方式,不应理解为必须设置,故此申请人保留随时放弃或删除相关优选特征之权利。
Claims (10)
1.一种批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,包括检测置物转盘(1)、进料输入组件(2)、出料输出组件(3)和表面缺陷识别机构(4),
所述检测置物转盘(1)通过旋转驱动组件(5)转动支撑在底座(6)上,并且所述检测置物转盘(1)相对的两个侧边分别设置有所述进料输入组件(2)和所述出料输出组件(3),以构建待测微带天线的检测输送路径;
所述进料输入组件(2)与所述出料输出组件(3)所限定的微带天线输送支撑平面是与所述检测置物转盘(1)所限定的微带天线检测摆放平面共面设置的,以可选择地将微带天线移入或移出所述检测置物转盘(1);
所述表面缺陷识别机构(4)悬置在所述检测置物转盘(1)的上方,以对所述检测置物转盘(1)上间隔摆设的微带天线进行表面缺陷检测。
2.如权利要求1所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述检测置物转盘(1)包括第一圆盘(11)、第二圆盘(12)和外圈弧条(13),其中,
所述第一圆盘(11)按照能够对所述第二圆盘(12)进行遮挡且两者共轴线的方式叠放在所述第二圆盘(12)上,并且所述第一圆盘(11)的径向外侧设置有弧形条体的原点与其轴线共线的所述外圈弧条(13),
所述第二圆盘(12)的底面与所述旋转驱动组件(5)的输出轴(52)传动连接,并且所述输出轴(52)与所述第二圆盘(12)共轴线设置;
在所述外圈弧条(13)面向所述第一圆盘(11)的径向内侧面上安装有定位机构(14),并且所述外圈弧条(13)通过多个并行的支撑杆(15)支撑在所述底座(6)上。
3.如权利要求2所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,在所述第一圆盘(11)的盘体上环向间隔开设有贯穿其盘体的置物槽(111),
所述置物槽(111)按照分割所述第一圆盘(11)的径向侧环面的方式开设扩展槽口(112),所述扩展槽口(112)的槽口宽度是沿远离所述置物槽(111)的方向增大的;
所述置物槽(111)是以叠放在所述第一圆盘(11)下方的所述第二圆盘(12)来构建其所限定的置物腔的支撑底面的。
4.如权利要求3所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述定位机构(14)包括限位槽(141)、弹性伸缩件(142)、定位柱(143)和定位滚轮(144),其中,
所述限位槽(141)镶嵌在所述外圈弧条(13)的径向内侧面上,并且所述弹性伸缩件(142)自所述限位槽(141)远离所述外圈弧条(13)的开口置入槽腔,以限定部分插入所述限位槽(141)的所述定位柱(143)与所述限位槽(141)之间的相对位置;
所述定位柱(143)远离所述限位槽(141)的一端设置有所述定位滚轮(144)。
5.如权利要求4所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述进料输入组件(2)包括进料传动轮(21)、进料传送带(22)、进料驱动电机(23)和第一支撑架(24),其中,
所述第一支撑架(24)间隔支撑至少两个所述进料传动轮(21),以使得套设在所述进料传动轮(21)上的进料传送带(22)构建起用于进料的微带天线输送支撑平面,在所述第一支撑架(24)上还设置有能够与所述进料传动轮(21)传动连接的所述进料驱动电机(23);所述进料传送带(22)的表面还沿其长度方向间隔布设有能够限定微带天线存在间隔距离的摆放位置的推挡块(25)。
6.如权利要求5所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,
所述出料输出组件(3)包括出料传动轮(31)、出料传送带(32)、出料驱动电机(33)和第二支撑架(34),其中,
所述第二支撑架(34)间隔支撑至少两个所述出料传动轮(31),以使得套设在所述出料传动轮(31)上的出料传送带(32)构建起用于出料的微带天线输送支撑平面,在所述第二支撑架(34)上还设置有能够与所述出料传动轮(31)传动连接的所述出料驱动电机(33)。
7.如权利要求6所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述表面缺陷识别机构(4)包括L形支撑件(41)、升降调节杆(42)和检测单元(43),其中,
所述L形支撑件(41)支撑在底座(6)上,以使得其上端通过所述升降调节杆(42)所连接的所述检测单元(43)能够处于被所述定位机构(14)限定安置位置的微带天线的上方。
8.如权利要求7所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述检测置物转盘(1)靠近所述出料输出组件(3)的盘体下方还设置有支撑在所述底座(6)上的旋转推出机构(7)。
9.如权利要求8所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述旋转推出机构(7)支撑座(71)设置在底座(6)上,并且所述支撑座(71)的轴向上端安置有旋转电机(72),并且所述旋转电机(72)的输出端与若干在同一个平面内环向间隔布设已构成一个圆形面的转动杆(73)连接,所述转动杆(73)远离所述旋转电机(72)的一端连接有弧形板(74)。
10.如权利要求9所述的批量化生产用天线表面缺陷检测装置,其特征在于,所述底座(6)的下表面还设置便于进行工作位置调节的轮体(61)。
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