CN220626578U - 一种用于测试半导体的调节装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于测试半导体的调节装置，包括底座；伸缩杆，伸缩杆的底部与底座的顶部固定连接；固定板，固定板的底部与底座的顶部固定连接；工作台，工作台的底部与伸缩杆的顶部固定连接，用于对半导体进行加工作业；固定台，固定台的底部与工作台的顶部固定连接。上述方案中，先将半导体放置在固定台和防滑条上面，接着对工作台进行升降，利用按压柱和弹簧之间的按压，使得按压柱不再对竖向支撑板的正面起到固定的效果，移动到指定的位置后，再次固定按压柱与竖向支撑板的位置，然后将电容笔一从夹持环中取出，进行工作的检测，通过伸缩杆和伸缩架，可以根据不同大小的半导体及时的对工作台进行高度的改变，便于检测作业的正常进行。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种用于测试半导体的调节装置。
背景技术
半导体测试装置指的是用于对半导体器件进行测试和分析的设备和仪器，它们通过对器件的电学特性、功能和性能进行测量和分析，以验证器件是否符合设计要求并评估其质量和可靠性，但是在实际的使用中，在对半导体的检测中，已有的设备为固定长度和固定位置，对于不同体积大小的半导体并不能很有效的进行检测，需要不断的根据半导体的大小来来改变检测设备的位置和摆放位置，如此会使得在检测前要不断地移动位置吗，从而会影响正常检测半导体的进度。
实用新型内容
为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种用于测试半导体的调节装置，以解决现有技术在对半导体的检测中，已有的设备为固定长度和固定位置，对于不同体积大小的半导体并不能很有效的进行检测，需要不断的根据半导体的大小来来改变检测设备的位置和摆放位置，如此会使得在检测前要不断地移动位置吗，从而会影响正常检测半导体的进度的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种用于测试半导体的调节装置，包括
底座；
伸缩杆，所述伸缩杆的底部与底座的顶部固定连接；
固定板，所述固定板的底部与底座的顶部固定连接；
工作台，所述工作台的底部与伸缩杆的顶部固定连接，用于对半导体进行加工作业；
伸缩架，所述伸缩架的底部与固定板的顶部活动连接，所述伸缩架的顶部与工作台的底部固定连接；
固定台，所述固定台的底部与工作台的顶部固定连接。
其中，还包括竖向支撑板、横向支撑板、防滑条、移动组件，所述竖向支撑板的底部与底座顶部的两侧固定连接，所述横向支撑板的两侧与竖向支撑板的侧面固定连接，所述防滑条设置在工作台的顶部，用于在检测时增大半导体与工作台的摩擦力，所述移动组件的侧面与工作台的两侧固定连接，所述移动组件的侧面与竖向支撑板的侧面活动连接。
其中，还包括夹持环、检测组件，所述夹持环的侧面与竖向支撑板的侧面固定连接，所述检测组件设置在横向支撑板的中部，便于适应不同高度的半导体检测。
其中，所述移动组件包括工字架、弹簧、按压柱，所述工字架的侧面与工作台的侧面固定连接，所述工字架的侧面与竖向支撑板的侧面活动连接，所述弹簧设置在工字架的两侧，所述按压柱的背面与弹簧的正面固定连接，所述按压柱的外表面与竖向支撑板的内表面活动连接。
其中，所述检测组件包括转盘、连接柱、手柄、连接线、电容笔一，所述转盘的外表面与横向支撑板的内表面固定连接，所述连接柱的底部与转盘顶部的中间转动连接，所述手柄左侧的底部与连接柱的顶部固定连接，所述连接线的一端与转盘的中部活动连接，所述电容笔一的顶部与连接线的另一端固定连接，所述电容笔一的外表面与夹持环的内表面可拆卸安装。
其中，还包括固定柱、弹性电线、电容笔二，所述固定柱的外表面与横向支撑板的内表面固定连接，所述弹性电线的顶部与固定柱的底部固定连接，所述电容笔二的顶部与弹性电线的底部固定连接，所述电容笔二的外表面与夹持环的内表面可拆卸安装。
本实用新型的上述技术方案的有益效果如下：
上述方案中，首先将半导体放置在固定台和防滑条上面，接着对工作台进行升降，利用按压柱和弹簧之间的按压，使得按压柱不再对竖向支撑板的正面起到固定的效果，移动到指定的位置后，再次固定按压柱与竖向支撑板的位置，然后将电容笔一从夹持环中取出，转动手柄使得转盘的长度根据所需改变，方便检测工作的进行，同理在用电容笔二检测半导体时，弹性电线的连接可使得电容笔二活动自如，通过伸缩杆和伸缩架，可以根据不同大小的半导体及时的对工作台进行高度的改变，便于检测作业的正常进行，通过检测组件，可在应对不同大小的半导体时，方便电容笔一和电容笔二的正常使用，减少检测前需要改变检测位置的情况，保证检测工作的进度，通过检测组件。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的整体装置立体装配图；
图3为本实用新型的移动组件连接结构示意图；
图4为本实用新型的检测组件结构示意图。
[附图标记]
1、底座；2、竖向支撑板；3、横向支撑板；4、伸缩杆；5、固定板；6、工作台；7、伸缩架；8、固定台；9、防滑条；10、移动组件；11、夹持环；12、检测组件；101、工字架；102、弹簧；103、按压柱；121、转盘；122、连接柱；123、手柄；124、连接线；125、电容笔一；126、固定柱；127、弹性电线；128、电容笔二。
具体实施方式
为使本实用新型要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
如附图1至附图4本实用新型的实施例提供一种用于测试半导体的调节装置，包括
底座1；
伸缩杆4，所述伸缩杆4的底部与底座1的顶部固定连接；
固定板5，所述固定板5的底部与底座1的顶部固定连接；
工作台6，所述工作台6的底部与伸缩杆4的顶部固定连接，用于对半导体进行加工作业；
伸缩架7，所述伸缩架7的底部与固定板5的顶部活动连接，所述伸缩架7的顶部与工作台6的底部固定连接；
固定台8，所述固定台8的底部与工作台6的顶部固定连接。
其中，还包括竖向支撑板2、横向支撑板3、防滑条9、移动组件10，所述竖向支撑板2的底部与底座1顶部的两侧固定连接，所述横向支撑板3的两侧与竖向支撑板2的侧面固定连接，所述防滑条9设置在工作台6的顶部，用于在检测时增大半导体与工作台6的摩擦力，所述移动组件10的侧面与工作台6的两侧固定连接，所述移动组件10的侧面与竖向支撑板2的侧面活动连接。
其中，还包括夹持环11、检测组件12，所述夹持环11的侧面与竖向支撑板2的侧面固定连接，所述检测组件12设置在横向支撑板3的中部，便于适应不同高度的半导体检测。
其中，所述移动组件10包括工字架101、弹簧102、按压柱103，所述工字架101的侧面与工作台6的侧面固定连接，所述工字架101的侧面与竖向支撑板2的侧面活动连接，所述弹簧102设置在工字架101的两侧，所述按压柱103的背面与弹簧102的正面固定连接，所述按压柱103的外表面与竖向支撑板2的内表面活动连接；可通过手指或其他物品对按压柱103进行按压，使得在需要升降时，解除按压柱103与竖向支撑板2的固定效果。
其中，所述检测组件12包括转盘121、连接柱122、手柄123、连接线124、电容笔一125，所述转盘121的外表面与横向支撑板3的内表面固定连接，所述连接柱122的底部与转盘121顶部的中间转动连接，所述手柄123左侧的底部与连接柱122的顶部固定连接，所述连接线124的一端与转盘121的中部活动连接，所述电容笔一125的顶部与连接线124的另一端固定连接，所述电容笔一125的外表面与夹持环11的内表面可拆卸安装。
其中，还包括固定柱126、弹性电线127、电容笔二128，所述固定柱126的外表面与横向支撑板3的内表面固定连接，所述弹性电线127的顶部与固定柱126的底部固定连接，所述电容笔二128的顶部与弹性电线127的底部固定连接，所述电容笔二128的外表面与夹持环11的内表面可拆卸安装；弹性电线127具有一定的弹性，可以在拉动后自动复原，便于使用。
本实用新型的工作过程如下：
上述方案，首先将半导体放置在固定台8和防滑条9上面，接着对工作台6进行升降，利用按压柱103和弹簧102之间的按压，使得按压柱103不再对竖向支撑板2的正面起到固定的效果，移动到指定的位置后，再次固定按压柱103与竖向支撑板2的位置，然后将电容笔一125从夹持环11中取出，转动手柄123使得转盘121的长度根据所需改变，方便检测工作的进行，同理在用电容笔二128检测半导体时，弹性电线127的连接可使得电容笔二128活动自如。
最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；
其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；
最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，包括
底座(1)；
伸缩杆(4)，所述伸缩杆(4)的底部与底座(1)的顶部固定连接；
固定板(5)，所述固定板(5)的底部与底座(1)的顶部固定连接；
工作台(6)，所述工作台(6)的底部与伸缩杆(4)的顶部固定连接，用于对半导体进行加工作业；
伸缩架(7)，所述伸缩架(7)的底部与固定板(5)的顶部活动连接，所述伸缩架(7)的顶部与工作台(6)的底部固定连接；
固定台(8)，所述固定台(8)的底部与工作台(6)的顶部固定连接。
2.根据权利要求1所述的用于测试半导体的调节装置，其特征在于，还包括竖向支撑板(2)、横向支撑板(3)、防滑条(9)、移动组件(10)，所述竖向支撑板(2)的底部与底座(1)顶部的两侧固定连接，所述横向支撑板(3)的两侧与竖向支撑板(2)的侧面固定连接，所述防滑条(9)设置在工作台(6)的顶部，用于在检测时增大半导体与工作台(6)的摩擦力，所述移动组件(10)的侧面与工作台(6)的两侧固定连接，所述移动组件(10)的侧面与竖向支撑板(2)的侧面活动连接。
3.根据权利要求1所述的用于测试半导体的调节装置，其特征在于，还包括夹持环(11)、检测组件(12)，所述夹持环(11)的侧面与竖向支撑板(2)的侧面固定连接，所述检测组件(12)设置在横向支撑板(3)的中部，便于适应不同高度的半导体检测。
4.根据权利要求2所述的用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述移动组件(10)包括工字架(101)、弹簧(102)、按压柱(103)，所述工字架(101)的侧面与工作台(6)的侧面固定连接，所述工字架(101)的侧面与竖向支撑板(2)的侧面活动连接，所述弹簧(102)设置在工字架(101)的两侧，所述按压柱(103)的背面与弹簧(102)的正面固定连接，所述按压柱(103)的外表面与竖向支撑板(2)的内表面活动连接。
5.根据权利要求3所述的用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述检测组件(12)包括转盘(121)、连接柱(122)、手柄(123)、连接线(124)、电容笔一(125)，所述转盘(121)的外表面与横向支撑板(3)的内表面固定连接，所述连接柱(122)的底部与转盘(121)顶部的中间转动连接，所述手柄(123)左侧的底部与连接柱(122)的顶部固定连接，所述连接线(124)的一端与转盘(121)的中部活动连接，所述电容笔一(125)的顶部与连接线(124)的另一端固定连接，所述电容笔一(125)的外表面与夹持环(11)的内表面可拆卸安装。
6.根据权利要求5所述的用于测试半导体的调节装置，其特征在于，还包括固定柱(126)、弹性电线(127)、电容笔二(128)，所述固定柱(126)的外表面与横向支撑板(3)的内表面固定连接，所述弹性电线(127)的顶部与固定柱(126)的底部固定连接，所述电容笔二(128)的顶部与弹性电线(127)的底部固定连接，所述电容笔二(128)的外表面与夹持环(11)的内表面可拆卸安装。
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