CN219085078U - 一种集成电路测试板 - Google Patents

一种集成电路测试板 Download PDF

Info

Publication number
CN219085078U
CN219085078U CN202223415864.9U CN202223415864U CN219085078U CN 219085078 U CN219085078 U CN 219085078U CN 202223415864 U CN202223415864 U CN 202223415864U CN 219085078 U CN219085078 U CN 219085078U
Authority
CN
China
Prior art keywords
integrated circuit
circuit board
test board
supporting block
guide rail
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202223415864.9U
Other languages
English (en)
Inventor
孙迪非
孙易特
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Yuanhuang Technology Co ltd
Original Assignee
Shanghai Yuanhuang Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Yuanhuang Technology Co ltd filed Critical Shanghai Yuanhuang Technology Co ltd
Priority to CN202223415864.9U priority Critical patent/CN219085078U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN219085078U publication Critical patent/CN219085078U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试板,包括测试板板体,所述测试板板体的顶部一侧固定设置有第一集成电路板支撑块,测试板板体的顶部另一侧设置有可活动的第二集成电路板支撑块,所述第二集成电路板支撑块的一侧侧面中部固定设置有定位板;本实用新型的测试板板体上设置有用于支撑集成电路板的第一集成电路板支撑块和第二集成电路板支撑块,第二集成电路板支撑块可以活动,可以根据集成电路板的大小进行调整,测试板板体上设置有集成电路板细节放大机构,通过放大镜可以对集成电路板的细节部分进行放大,有利于检测人员看清,测试板板体上设置的集成电路板夹紧机构用于对集成电路板进行夹持固定,避免在检测过程中集成电路板出现移动。

Description

一种集成电路测试板
技术领域
本实用新型涉及集成电板检测技术领域,具体是一种集成电路测试板。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。
集成电路板在加工完成后需要对其进行检测,以保证产品的合格率,现有技术一般是将集成电路板放置到在测试板上进行检测,但集成电路板的大小和规格多种多样,且集成电路板细节部分较多,因此现有的测试板使用较为不方便。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试板,以解决现有技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种集成电路测试板,包括测试板板体,所述测试板板体的顶部一侧固定设置有第一集成电路板支撑块,测试板板体的顶部另一侧设置有可活动的第二集成电路板支撑块,所述第二集成电路板支撑块的一侧侧面中部固定设置有定位板,定位板插接在第一集成电路板支撑块上,所述测试板板体的顶部一端设置有集成电路板细节放大机构,所述测试板板体的另一端开设有定位滑槽,所述定位滑槽中安装有集成电路板夹紧机构,且集成电路板夹紧机构处于测试板板体的顶部。
优选的,所述集成电路板细节放大机构由导轨、导轨滑台、支撑柱、滑杆和放大镜组成,所述导轨滑台安装在导轨的顶部,所述支撑柱垂直并设置于导轨滑台的顶部一侧,且支撑柱与导轨滑台为转动连接,所述支撑柱的上部开设有贯穿槽,所述滑杆插接在贯穿槽中,所述放大镜固定在滑杆的一端端部。
优选的,所述导轨滑台的顶部另一侧固定有手扶台,所述手扶台具有呈弧形的顶部表面。
优选的,所述集成电路板夹紧机构由滑块、升降板、定位杆、弹簧、顶板和压紧板组成,所述定位杆设置有两个并垂直固定于滑块的顶部两侧,两个定位杆上各套装有一个弹簧,所述顶板固定在两个定位杆的顶部,所述升降板套设在两个定位杆上,且升降板处于弹簧的下方,所述压紧板固定在升降板的一侧。
优选的,所述定位板的顶部嵌入设置有橡胶板。
优选的,所述第一集成电路板支撑块的顶部和第二集成电路板支撑块的顶部均固定有橡胶垫。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型的测试板板体上设置有用于支撑集成电路板的第一集成电路板支撑块和第二集成电路板支撑块,使集成电路板悬空,可以保证集成电路板上的焊点不会剐蹭测试板板体,第二集成电路板支撑块可以活动,可以根据集成电路板的大小进行调整,测试板板体上设置的集成电路板细节放大机构,该集成电路板细节放大机构由导轨、导轨滑台、支撑柱、滑杆和放大镜组成,通过放大镜可以对集成电路板的细节部分进行放大,有利于检测人员看清,可旋转的支撑柱、可以滑动的滑杆以及可以滑动的导轨滑台可以方便检测人员根据使用情况调整放大镜的所在位置,测试板板体上设置的集成电路板夹紧机构用于对集成电路板进行夹持固定,避免在检测过程中集成电路板出现移动。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型的整体的结构示意图;
图2是本实用新型的集成电路板细节放大机构的结构示意图;
图3是本实用新型的集成电路板夹紧机构的结构示意图。
图中:1、测试板板体;2、第二集成电路板支撑块;3、集成电路板细节放大机构;4、定位板;5、第一集成电路板支撑块;6、定位滑槽;7、集成电路板夹紧机构;8、橡胶垫;9、橡胶板;10、滑块;11、升降板;12、定位杆;13、弹簧;14、顶板;15、压紧板;16、导轨;17、导轨滑台;18、手扶台;19、支撑柱;20、滑杆;21、放大镜。
具体实施方式
为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施方式中的附图,对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本实用新型保护的范围。因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3,本实用新型实施例中,一种集成电路测试板,包括测试板板体1,测试板板体1的顶部一侧固定设置有第一集成电路板支撑块5,测试板板体1的顶部另一侧设置有可活动的第二集成电路板支撑块2,第二集成电路板支撑块2的一侧侧面中部固定设置有定位板4,定位板4插接在第一集成电路板支撑块5上,测试板板体1的顶部一端设置有集成电路板细节放大机构3,测试板板体1的另一端开设有定位滑槽6,定位滑槽6中安装有集成电路板夹紧机构7,且集成电路板夹紧机构7处于测试板板体1的顶部。
集成电路板细节放大机构3由导轨16、导轨滑台17、支撑柱19、滑杆20和放大镜21组成,导轨滑台17安装在导轨16的顶部,支撑柱19垂直并设置于导轨滑台17的顶部一侧,且支撑柱19与导轨滑台17为转动连接,支撑柱19的上部开设有贯穿槽,滑杆20插接在贯穿槽中,放大镜21固定在滑杆20的一端端部。
导轨滑台17的顶部另一侧固定有手扶台18,手扶台18具有呈弧形的顶部表面。
集成电路板夹紧机构7由滑块10、升降板11、定位杆12、弹簧13、顶板14和压紧板15组成,定位杆12设置有两个并垂直固定于滑块10的顶部两侧,两个定位杆12上各套装有一个弹簧13,顶板14固定在两个定位杆12的顶部,升降板11套设在两个定位杆12上,且升降板11处于弹簧13的下方,压紧板15固定在升降板11的一侧。
定位板4的顶部嵌入设置有橡胶板9,橡胶板9用于增大定位板4与第一集成电路板支撑块5之间的摩擦力。
第一集成电路板支撑块5的顶部和第二集成电路板支撑块2的顶部均固定有橡胶垫8。
本实用新型的工作原理是:本实用新型的测试板板体1上设置有用于支撑集成电路板的第一集成电路板支撑块5和第二集成电路板支撑块2,使集成电路板悬空,可以保证集成电路板上的焊点不会剐蹭测试板板体1,第二集成电路板支撑块2可以活动,可以根据集成电路板的大小进行调整,测试板板体1上设置的集成电路板细节放大机构3,该集成电路板细节放大机构3由导轨16、导轨滑台17、支撑柱19、滑杆20和放大镜21组成,通过放大镜21可以对集成电路板的细节部分进行放大,有利于检测人员看清,可旋转的支撑柱19、可以滑动的滑杆20以及可以滑动的导轨滑台17可以方便检测人员根据使用情况调整放大镜21的所在位置,测试板板体1上设置的集成电路板夹紧机构7用于对集成电路板进行夹持固定,避免在检测过程中集成电路板出现移动。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路测试板,包括测试板板体(1),其特征在于:所述测试板板体(1)的顶部一侧固定设置有第一集成电路板支撑块(5),测试板板体(1)的顶部另一侧设置有可活动的第二集成电路板支撑块(2),所述第二集成电路板支撑块(2)的一侧侧面中部固定设置有定位板(4),定位板(4)插接在第一集成电路板支撑块(5)上,所述测试板板体(1)的顶部一端设置有集成电路板细节放大机构(3),所述测试板板体(1)的另一端开设有定位滑槽(6),所述定位滑槽(6)中安装有集成电路板夹紧机构(7),且集成电路板夹紧机构(7)处于测试板板体(1)的顶部。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板,其特征在于:所述集成电路板细节放大机构(3)由导轨(16)、导轨滑台(17)、支撑柱(19)、滑杆(20)和放大镜(21)组成,所述导轨滑台(17)安装在导轨(16)的顶部,所述支撑柱(19)垂直并设置于导轨滑台(17)的顶部一侧,且支撑柱(19)与导轨滑台(17)为转动连接,所述支撑柱(19)的上部开设有贯穿槽,所述滑杆(20)插接在贯穿槽中,所述放大镜(21)固定在滑杆(20)的一端端部。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板,其特征在于:所述导轨滑台(17)的顶部另一侧固定有手扶台(18),所述手扶台(18)具有呈弧形的顶部表面。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板,其特征在于:所述集成电路板夹紧机构(7)由滑块(10)、升降板(11)、定位杆(12)、弹簧(13)、顶板(14)和压紧板(15)组成,所述定位杆(12)设置有两个并垂直固定于滑块(10)的顶部两侧,两个定位杆(12)上各套装有一个弹簧(13),所述顶板(14)固定在两个定位杆(12)的顶部,所述升降板(11)套设在两个定位杆(12)上,且升降板(11)处于弹簧(13)的下方,所述压紧板(15)固定在升降板(11)的一侧。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板,其特征在于:所述定位板(4)的顶部嵌入设置有橡胶板(9)。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板,其特征在于:所述第一集成电路板支撑块(5)的顶部和第二集成电路板支撑块(2)的顶部均固定有橡胶垫(8)。
CN202223415864.9U 2022-12-20 2022-12-20 一种集成电路测试板 Active CN219085078U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202223415864.9U CN219085078U (zh) 2022-12-20 2022-12-20 一种集成电路测试板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202223415864.9U CN219085078U (zh) 2022-12-20 2022-12-20 一种集成电路测试板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN219085078U true CN219085078U (zh) 2023-05-26

Family

ID=86388833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202223415864.9U Active CN219085078U (zh) 2022-12-20 2022-12-20 一种集成电路测试板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN219085078U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116930724A (zh) * 2023-09-15 2023-10-24 深圳禄华科技有限公司 一种汽车无刷电机控制电路板的测试装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116930724A (zh) * 2023-09-15 2023-10-24 深圳禄华科技有限公司 一种汽车无刷电机控制电路板的测试装置
CN116930724B (zh) * 2023-09-15 2023-12-08 深圳禄华科技有限公司 一种汽车无刷电机控制电路板的测试装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN219085078U (zh) 一种集成电路测试板
US4938654A (en) Automated wafer inspection system
US4818169A (en) Automated wafer inspection system
KR102211088B1 (ko) 기판 검사 시스템, 웨이퍼 검사 장치, 및 프로버
CN109186977B (zh) 一种用于足式机器人单腿的分层式三自由度试验台
KR19990006387A (ko) 액정패널의 검사장치
TW349253B (en) Semiconductor wafer testing apparatus equipped with optical character recognizer
KR20000052405A (ko) 테스트를 위한 집적 회로의 이송 및 활성 온도 제어
CN219641868U (zh) 一种芯片测试装置
CN214503709U (zh) 可安装多种探针卡的测试探针台
CN215656528U (zh) 一种盒装晶圆检测的结构
US6695546B2 (en) Single drive aligner elevation apparatus for an integrated circuit handler
US20090050779A1 (en) Vibration isolation system
CN105326573B (zh) 一种医院手术使用的固定装置
KR100358322B1 (ko) 액정표시장치(lcd) 테스트 핸들러
CN210401635U (zh) 自动化磁性检测装置
KR100358704B1 (ko) 액정디스플레이패널 검사장치의 패널공급장치
CN220542996U (zh) 一种不易损伤待检产品的测试治具
JPH07167641A (ja) 直線案内装置
CN220367326U (zh) 一种集成电路板夹持冶具
CN219496573U (zh) 一种试验测试台
CN219765390U (zh) 一种可防止检测样本倾倒的医学检验台
CN218974150U (zh) 上下分离式芯片测试工装
KR102417320B1 (ko) 부상된 대상물을 이송시키는 이송 장치
CN219608974U (zh) 一种晶圆测试台

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant