CN220490966U - 一种半导体封装的绝缘测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体封装技术领域，公开了一种半导体封装的绝缘测试装置，包括连接座，所述连接座的顶端设置有转动检测机构，所述转动检测机构的顶端设置有固定机构，所述连接座的底部设置有安装机构，所述转动检测机构的内部包括有转动槽，所述转向轮的顶端固定连接有辅助支架，所述固定盘一的顶端中部固定连接有连接件，所述连接座的顶端中部固定连接有对接柱，所述固定盘一的顶端固定连接有多个固定盘二。本实用新型中，能够在不滑动装置且自身位置不移动的情况下对多个半导体进行逐个检测减少了工作强度的同时提高了工作效率且能够同时对多个半导体固定防止半导体在检测过程中发生偏移。

Description

一种半导体封装的绝缘测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体封装技术领域，尤其涉及一种半导体封装的绝缘测试装置。

背景技术

半导体封装测试芯片成为成品是经过芯片粘片、引线键合、注塑封装、电镀、切引脚整形及电性测试这几个最基本工艺的。目前测试只有两个方式：一为探针测试：从芯片表面用探针来测试；二为封装后再测试：把所有工艺做完整，再由测试机进行测试。

但是无论是哪种测试工艺进行测试的时候都需要对半导体进行固定防止半导体接受测试时发生脱落导致测试中断，并且对多个半导体进行同时检测且整体使用更加便捷不需要工作人员重复进行转动设备或者自身进行走动即可完成操作。

实用新型内容

本实用新型的目的是解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体封装的绝缘测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体封装的绝缘测试装置，包括连接座，所述连接座的顶端设置有转动检测机构，所述转动检测机构的顶端设置有固定机构，所述连接座的底部设置有安装机构；

所述转动检测机构的内部包括有转动槽，所述转动槽的内部滑动连接有多个转向轮，所述转向轮的顶端固定连接有辅助支架，所述辅助支架的顶端固定连接有固定盘一，所述固定盘一的底端中部设置有对接槽，所述固定盘一的顶端中部固定连接有连接件，所述连接座的顶端中部固定连接有对接柱，所述固定盘一的顶端固定连接有多个固定盘二。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定机构的内部包括有固定块，两个所述固定块的相近固定连接有转轴，其中一个所述转轴的外部左右两端均转动连接有连接环，所述连接环远离连接件的一侧固定连接有连接条，所述连接条的底端固定连接有安装条，所述安装条的内部滑动连接有橡胶块，所述橡胶块的顶端前后两侧均固定连接有绝缘测试机，所述绝缘测试机的顶端固定连接有限位柱，所述限位柱的外壁固定连接有弹簧，所述橡胶块的底部固定连接有多个防滑块，所述连接条的前侧转动连接有卡环。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述安装机构的内部包括有安装板，所述安装板的底端螺纹连接有螺栓，所述螺栓的顶端固定连接有橡胶片。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述辅助支架滑动连接在转动槽的内部，所述对接柱转动连接在对接槽的内部。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定盘一的底部与连接座的顶端相接触。

作为上述技术方案的进一步描述：

多个所述固定块固定连接在固定盘一的顶端，所述卡环与其中远离连接件的转轴相接触。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述弹簧滑动连接在限位柱的外壁，所述弹簧的底部固定连接在绝缘测试机的顶端。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述限位柱的一侧固定连接在绝缘测试机的顶端，所述固定盘二的一侧滑动连接在安装条的顶端内部。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述螺栓贯穿安装板的内部并固定连接在橡胶片的底端中部。

作为上述技术方案的进一步描述：

多个所述安装板固定连接在连接座的底端四角。

本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型中，通过对接槽、辅助支架、连接件、固定盘一等组件的配合使用使得工作人员能够在不滑动装置且自身位置不移动的情况下对多个半导体进行逐个检测减少了工作强度的同时提高了工作效率。

2、本实用新型中，通过限位柱、防滑块、卡环、固定块等组件的配合使用使得装置能够同时对多个半导体的边缘进行限位固定防止半导体在检测过程中发生偏移导致检测失败的情况。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的正视立体图；

图2为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的正视转动检测机构示意图；

图3为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的仰视固定盘结构示意图；

图4为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的正视固定机构示意图；

图5为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的右视连接条结构示意图；

图6为本实用新型提出的一种半导体封装的绝缘测试装置的安装条结构剖面图。

图例说明：

1、连接座；2、转动检测机构；201、转动槽；202、转向轮；203、辅助支架；204、对接槽；205、固定盘一；206、连接件；207、对接柱；208、固定盘二；3、固定机构；301、固定块；302、转轴；303、连接环；304、连接条；305、安装条；306、橡胶块；307、绝缘测试机；308、限位柱；309、弹簧；310、防滑块；311、卡环；4、安装机构；401、安装板；402、螺栓；403、橡胶片。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参照图1-6，本实用新型提供的一种实施例：一种半导体封装的绝缘测试装置，包括连接座1，连接座1的顶端设置有转动检测机构2，转动检测机构2的顶端设置有固定机构3，连接座1的底部设置有安装机构4；

转动检测机构2的内部包括有转动槽201，转动槽201的内部滑动连接有多个转向轮202，转向轮202的顶端固定连接有辅助支架203，转向轮202与辅助支架203的设计是为了能够对固定盘一205进行转动的同时能够分担其重量，辅助支架203的顶端固定连接有固定盘一205，固定盘一205的底端中部设置有对接槽204，固定盘一205的顶端中部固定连接有连接件206，连接件206的设计可以加装显示屏幕能够对半导体的检测进行辅助作用，连接座1的顶端中部固定连接有对接柱207，对接柱207与对接槽204的设计是为了装置能够进行转动从而不需要工作人员平移装置与自身转动即可完成多个半导体检测，固定盘一205的顶端固定连接有多个固定盘二208，固定盘二208的设计是为了装置能够对半导体进行放置。

固定机构3的内部包括有固定块301，固定块301的设计是为了能够对转轴302进行安装，两个固定块301的相近固定连接有转轴302，转轴302的设计是为了对连接环303与卡环311进行限位，其中一个转轴302的外部左右两端均转动连接有连接环303，连接环303的设计是为了能够带动连接条304进行转动，连接环303远离连接件206的一侧固定连接有连接条304，连接条304的设计是为了对底部安装条305进行限位，连接条304的底端固定连接有安装条305，安装条305的内部滑动连接有橡胶块306，橡胶块306的顶端前后两侧均固定连接有绝缘测试机307，绝缘测试机307的设计是为了能够对顶部固定的半导体进行检测，绝缘测试机307的顶端固定连接有限位柱308，限位柱308的设计是为了能够对弹簧309进行限位防止出现形变，限位柱308的外壁固定连接有弹簧309，弹簧309的设计是为了能够对底部橡胶块306进行弹力输出从而能够对半导体进行固定防止出现滑动，橡胶块306的底部固定连接有多个防滑块310，防滑块310的设计是为了能够对半导体的边缘进行限位增加摩擦力防止在检测过程中出现脱落，连接条304的前侧转动连接有卡环311，卡环311的设计是为了能够对连接条304进行限位从而使得橡胶块306与防滑块310对半导体进行接触限位，安装机构4的内部包括有安装板401，安装板401的底端螺纹连接有螺栓402，螺栓402的顶端固定连接有橡胶片403，螺栓402与安装板401以及橡胶片403的设计是为了能够将连接座1固定在检测台面上防止工作人员使用装置出现滑动造成使用不便的情况，辅助支架203滑动连接在转动槽201的内部，这样的设计是为了能够更好地分担固定盘一205的重量，对接柱207转动连接在对接槽204的内部，固定盘一205的底部与连接座1的顶端相接触，多个固定块301固定连接在固定盘一205的顶端，卡环311与其中远离连接件206的转轴302相接触，这样的设计是为了对连接条304进行锁死防止因为弹簧309的弹力造成连接条304发生脱落，弹簧309滑动连接在限位柱308的外壁，弹簧309的底部固定连接在绝缘测试机307的顶端，这样的设计是为了在弹簧309提供弹力的同时能够对弹簧309进行防护防止出现形变，限位柱308的一侧固定连接在绝缘测试机307的顶端，固定盘二208的一侧滑动连接在安装条305的顶端内部，螺栓402贯穿安装板401的内部并固定连接在橡胶片403的底端中部，这样的设计能够将装置固定在检测台上，多个安装板401固定连接在连接座1的底端四角。

工作原理：工作人员通过转动螺栓402通过顶端的橡胶片403将连接座1固定在检测台面上，然后将需要进行检测的半导体放置在固定盘二208的内部，放置结束后拉动卡环311带动连接条304与连接环303在其中一个转轴302的表面进行固定，然后将卡环311与前侧转轴302进行卡合定位，在定位的同时通过连接条304内部的橡胶块306与防滑块310将半导体的左右边缘固定在固定盘二208的内部，这样的设计能够防止半导体在进行检测的过程中发生滑动导致半导体检测失败的问题，且能够同时固定多个半导体，并且在固定结束后通过转动固定盘一205，通过对接柱207在固定盘一205底部对接槽204中进行转动并且同时辅助支架203与转向轮202同时在转动槽201的内部进行转动从而使得工作人员可以自身不进行转动也不需要滑动装置的情况下对多个半导体进行逐个检测减少了工作强度的同时提高了工作效率。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种半导体封装的绝缘测试装置，包括连接座(1)，其特征在于：所述连接座(1)的顶端设置有转动检测机构(2)，所述转动检测机构(2)的顶端设置有固定机构(3)，所述连接座(1)的底部设置有安装机构(4)；

所述转动检测机构(2)的内部包括有转动槽(201)，所述转动槽(201)的内部滑动连接有多个转向轮(202)，所述转向轮(202)的顶端固定连接有辅助支架(203)，所述辅助支架(203)的顶端固定连接有固定盘一(205)，所述固定盘一(205)的底端中部设置有对接槽(204)，所述固定盘一(205)的顶端中部固定连接有连接件(206)，所述连接座(1)的顶端中部固定连接有对接柱(207)，所述固定盘一(205)的顶端固定连接有多个固定盘二(208)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述固定机构(3)的内部包括有固定块(301)，两个所述固定块(301)的相靠近的一侧固定连接有转轴(302)，其中一个所述转轴(302)的外部左右两端均转动连接有连接环(303)，所述连接环(303)远离连接件(206)的一侧固定连接有连接条(304)，所述连接条(304)的底端固定连接有安装条(305)，所述安装条(305)的内部滑动连接有橡胶块(306)，所述橡胶块(306)的顶端前后两侧均固定连接有绝缘测试机(307)，所述绝缘测试机(307)的顶端固定连接有限位柱(308)，所述限位柱(308)的外壁固定连接有弹簧(309)，所述橡胶块(306)的底部固定连接有多个防滑块(310)，所述连接条(304)的前侧转动连接有卡环(311)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述安装机构(4)的内部包括有安装板(401)，所述安装板(401)的底端螺纹连接有螺栓(402)，所述螺栓(402)的顶端固定连接有橡胶片(403)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述辅助支架(203)滑动连接在转动槽(201)的内部，所述对接柱(207)转动连接在对接槽(204)的内部。

5.根据权利要求1所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述固定盘一(205)的底部与连接座(1)的顶端相接触。

6.根据权利要求2所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：多个所述固定块(301)固定连接在固定盘一(205)的顶端，所述卡环(311)与其中远离连接件(206)的转轴(302)相接触。

7.根据权利要求2所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述弹簧(309)滑动连接在限位柱(308)的外壁，所述弹簧(309)的底部固定连接在绝缘测试机(307)的顶端。

8.根据权利要求2所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述限位柱(308)的一侧固定连接在绝缘测试机(307)的顶端，所述固定盘二(208)的一侧滑动连接在安装条(305)的顶端内部。

9.根据权利要求3所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：所述螺栓(402)贯穿安装板(401)的内部并固定连接在橡胶片(403)的底端中部。

10.根据权利要求3所述的一种半导体封装的绝缘测试装置，其特征在于：多个所述安装板(401)固定连接在连接座(1)的底端四角。