CN220455004U - 一种工业硅块质量检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于多晶硅生产技术领域。鉴于现有的工业硅块在进行粒径占比、金属含量检测时，存在劳动强度大和不方便进行取样的问题，本实用新型公开了一种工业硅块质量检测系统，其结构包括料仓；多级筛选装置，用于接收料仓落下的工业硅块并将工业硅块按照不同粒径筛分成合格尺寸和不合格尺寸；收集装置，用于接收多级筛选装置的合格尺寸出料口流出的合格尺寸工业硅块；称重装置，可分别接收多级筛选装置的不合格尺寸出料口流出的不合格尺寸工业硅块，并对不合格尺寸工业硅块分别进行称重；除尘装置，具有若干个吸尘口；吸尘口和多级筛选装置的进料口和出料口配合安装。该系统有利于减轻工作人员的劳动强度，且方便进行取样，并可保证检测结果的准确性。

Description

一种工业硅块质量检测系统

技术领域

本实用新型属于多晶硅生产技术领域，具体涉及一种工业硅块质量检测系统。

背景技术

工业硅块是由硅矿石加工制成，是多晶硅的生产原料。在多晶硅生产过程中，在工业硅来料后进行磨粉加工时，工业硅块的粒径占比和金属含量对整个生产过程存在重要影响，如工业硅块中的超尺寸硅料过多，会导致磨粉后的产品粒径过大不符合下工序使用要求，需反复研磨，从而影响生产效率，且增大了磨粉设备的负载，容易损坏设备；或工业硅块的金属含量过高会增加生产难度。因此，需要对工业硅块的粒径占比、金属含量进行检测。

目前，工业硅块通过吨袋方式由车辆运输送达仓库后，检测时将吨袋从车辆上吊至地面上，再由人工将吨袋打开将硅料筛选后，对不同规格硅料集中后，由人工将不同规格硅料用工具将转运至称重设备上，分别称重并记录数据计算粒径占比。同时在人工筛选过程中，需要人工从硅料中随机抽取一定重量的物料，转运至破碎机进行破碎，再将破碎后的硅料通过人工搬运至缩分器入口，通过缩分器随机分样后，从分样物料中随机抽取积分进行金属含量分析。

但在实际操作过程中，存在下列问题：

（1）检测物料过多，人工工作强度大，效率低；

（2）进行取样时，若打开吨袋进行挑选，再收集的工作量大，若不打开吨袋，只能挑选最上面几层的硅块取样，无法保证检测结果的准确性。

实用新型内容

鉴于上述现有采用人工筛选的方式存在劳动强度大，且不方便取样的问题，本实用新型的目的之一在于提供一种工业硅块质量检测系统，该系统有利于减轻工作人员的劳动强度，且方便进行取样。

为实现上述目的，本实用新型采用下列技术方案：

一种工业硅块质量检测系统，包括料仓、多级筛选装置、收集装置、称重转子和除尘装置。

其中，所述多级筛选装置的进料口和所述料仓的出料口连通，用于接收所述料仓落下的工业硅块并将所述工业硅块按照不同粒径筛分成合格尺寸和不合格尺寸。

所述收集装置和所述多级筛选装置的合格尺寸出料口连通，用于接收所述多级筛选装置的合格尺寸出料口流出的合格尺寸工业硅块。

所述称重装置可分别接收所述多级筛选装置的不合格尺寸出料口流出的不合格尺寸工业硅块，并可对不合格尺寸工业硅块分别进行称重。

所述除尘装置具有若干个吸尘口；所述吸尘口分别和所述多级筛选装置的进料口和出料口配合安装。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，还包括取样装置；所述取样装置用于对所述合格尺寸出料口流出的合格尺寸工业硅块进行取样。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述取样装置包括支架；取样盘，活动安装在所述支架上。

当进行取样时，所述取样盘可在外力的作用下伸入所述合格尺寸出料口的下方。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述支架的底部设有行走轮。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述取样装置包括下料锥斗；所述下料锥斗安装在所述支架上，并和所述取样盘配合安装，以接收所述取样盘中的样料。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述称重装置包括吊架；电子吊秤，可上下升降安装在所述吊架上；料斗，和所述电子吊秤连接，并和所述多级筛选装置的出料口配合安装。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述称重装置还包括绕线轮，设置在所述支架上；升降绳，绕设在所述绕线轮上，并和所述电子吊秤连接固定；转动轮，和所述绕线轮同轴连接。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，所述吊架底部设有行走轮。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，还包括破碎缩分机；所述破碎缩分机设置在所述料仓一侧，可对所述取样装置的取样进行破碎缩分制样。

在本实用新型公开的其中一个技术方案中，还包括电磁振动给料机；所述电磁振动给料机设置在所述料仓的下方，以接收所述料仓落下的工业硅块并将所述工业硅块供给所述多级筛选装置。

通过以上说明可知，与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.通过多级筛选装置将工业硅块按照不同粒径进行多级筛分，其中，占主要重量的合格尺寸工业硅块直接流入收集容器中，其它尺寸的工业硅块流入料斗中进行称重，从而可减轻工作人员的劳动强度，且可在筛选的同时进行取样，有利于提高检测效率。

2.设置有取样装置，通过取样盘对合格尺寸出料口流出的工业硅块进行取样，实现随机取样，保证检测结果的准确性，同时，支架的底部设有行走轮，从而方便移动取样装置至破碎缩分机处进行制样，且支架上还设有和取样盘对应的下料锥斗，从而有利于取样盘的下料。

3.设置有除尘装置，可避免下料过程中产生的粉尘污染工作环境。

4.设置有电磁振动给料，可均匀向多级筛选装置中送料，从而有利于提高筛选效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的侧视结构示意图。

图2为本实用新型的三维结构示意图。

图3为本实用新型收集装置和取样和装置的结构示意图。

图4为本实用新型称重装置的结构示意图。

附图标记：1-料仓；11-爬梯；2-多级筛选装置；21-振动结构；3-称重装置；31-吊架；32-电子吊秤；33-料斗；34-升降绳；35-绕线轮；36-转动轮；37-行走轮；4-收集装置；41-托架；42-收集容器；5-除尘装置；51-除尘管道；511-吸尘口；52-除尘器；6-取样装置；61-支架；62-取样盘；63-下料锥斗；7-破碎缩分机；8-电磁振动给料机。

具体实施方式

在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。

本实用新型实施例公开了一种工业硅块质量检测系统，其结构如附图1和附图2所示，包括料仓1、多级筛选装置2、称重装置3、收集装置4和除尘装置5。

具体地，多级筛选装置2可接收从料仓1中落下的工业硅块，并将工业硅块按照不同粒径筛分成合格尺寸和不合格尺寸。其中，合格尺寸占主要重量。

更具体地，为提高筛选效率，多级筛选装置2还具有振动结构21，此常见于现有技术，对于本领域技术人员来说不存在任何难点，这里就不再具体赘述。

收集装置4用于再次集中收集筛选后的工业硅块，如附图3所示，包括托架41和固定在托架41上的收集容器42。其中，收集容器42和多级筛选装置2的合格尺寸出料口22连通，即收集容器42可接收多级筛选装置2的合格尺寸出料口22流出的工业硅块。

称重装置3可分别接收从多级筛选装置2其它出料口流出的不合格尺寸的工业硅块，并对不合格尺寸的工业硅块进行称重；如附图4所示，其包括吊架31、电子吊秤32和料斗33。

具体地，电子吊秤32可上下升降安装在吊架31上；料斗33和电子吊秤32可拆卸连接固定，并分别和多级筛选装置2的其它出料口对应安装，以接收从多级筛选装置2流出的不合格尺寸的工业硅块。

更具体地，称重装置3还包括升降绳34和转动安装在吊架31上的绕线轮35。在使用时，电子吊秤32和升降绳43连接。通过外力驱动绕线轮35转动，从而带动料斗33上下移动，完成称重。在本实施例中，称重装置3还包括安装有把手的转动轮35，转动轮36绕线轮35同轴连接，工作人员可手动转动转动轮36，从而实现料斗33的上下升降。

可以理解的是，对于本领域技术人员来说，很容易想到还可采用其它升降结构来驱动电子吊秤32上下升降，如螺杆升降、电动伸缩杆等等。

在实际使用时，为方便移动称重装置3至收集装置4处，吊架31的底部设有行走轮37。

采用上述结构，在实际使用时，首先通过吊装设备将吨袋吊装至里料仓1的上方，将工业硅块倒入料仓1中；随后，工业硅块经多级筛选装置2中筛分成不同粒径规格，且其中占主要重量的合格尺寸工业硅块直接流入收集装置4的收集容器42中，而其它不合格尺寸的工业硅块分别进入称重装置3的料斗33中进行称重；从而实现对工业硅块的粒径占比检测，该方式可减少工人的劳动强度。

除尘装置5具有除尘管道51和除尘器52。此常见于现有技术，对于本领域技术人员来说不存在任何难点。但值得说明的是，除尘管道51具有若干个吸尘口511，吸尘口511分别和多级筛选装置2的进料口和出料口配合安装。

在一些实施例中，为方便进行取样，该检测系统还包括取样装置6，取样装置6和收集装置4配合安装，用于对多级筛选装置2合格尺寸出料口22流出的工业硅块进行取样；如附图3所示，其包括支架61和活动安装在支架61上的取样盘62。其中，取样盘62可在外力的作用下移动至合格尺寸出料口22下方进行取样。

更具体地，取样装置还包括用于驱动取样盘61移动的动力结构（附图未示出）。动力结构具体为电动气缸。可以理解的是，在本实施例中，对动力结构并不需要作限制性规定，对于本领域技术人员来说，可通过动力结构的作用合理采用其它线性驱动结构来驱动取样盘62移动，此对于本领域技术人员来说不存在任何难点。

更具体地，支架61的底部设有行走轮，且支架61上还设有和收集盘62对应的下料锥斗63。相应地，取样盘62对应下料锥斗63的一侧设置有开口；其目的是方便移动取样装置6至破碎缩分机7处进行制样，且方便对样料进行下料。

需要说明的是，破碎缩分机7为现有技术，对于本领域技术人员来说不存在任何难点。通过破碎缩分机7对取样盘62所取得样品进行破碎、缩分制样，从而可保证金属含量检测结果的准确性。

在一些实施例中，为均匀向多级筛选装置2中送料，提高筛选效率，料仓1的出料口和多级筛选装置2的进料口之间设置有电磁振动给料机8。

作为上述实施例的具体实施方案，为方便工作人员操作，料仓1的侧壁设有爬梯11。

更具体地，为提高安全性，爬梯11的外侧设有笼型防护架，且料仓1的顶部设有围栏。

本使用新型实施例的工作原理是：

（1）通过吊装设备将需要检测的吨袋吊升至料仓1上，并将其中的工业硅块倒入料仓1中；同时，通过叉车将收集装置4移动至合适位置，以接收从多级筛选装置2的合格尺寸出料口22流出的工业硅块；并推动称重装置3移动至合适位置，以使料斗33接收多级筛选装置2其它出料口流出的不合格尺寸的工业硅块；

（2）工业硅块经电磁振动给料机8落入多级筛选装置2进行多级筛分；合格尺寸工业硅块从多级筛选装置2的合格尺寸出料口22直接流入收集容器42中，而不合格尺寸工业硅块分别流入料斗33中进行称重；

（3）移动取样装置6至合适位置，通过取样盘62对合格尺寸出料口22流出的工业硅块进行取样，取样完成后，移动取样装置6至破碎缩分机7处进行制样；

（4）筛选完成后，通过转动转动轮36，使料斗33上升，电子吊秤32完成对料斗33中的超尺寸规格和小尺寸规格的工业硅块的称重，记录数据；随后，移动称重装置3至收集装置4处，将不合格尺寸规格的工业硅块倒入收集容器42中；从而实现对工业硅块的粒径占比检测。

通过以上说明可知，本实用新型实施例的有益效果是：

通过多级筛选装置3将工业硅块按照不同粒径进行多级筛分，其中，占主要重量的合格尺寸工业硅块直接流入收集容器42中，其它尺寸的工业硅块流入料斗33中进行称重，从而可减轻工作人员的劳动强度，有利于提高检测效率；进一步地，设置有取样装置6，通过取样盘62对合格尺寸出料口22流出的工业硅块进行取样，实现随机取样，保证检测结果的准确性，同时，支架61的底部设有行走轮，从而方便移动取样装置6至破碎缩分机处进行制样，且支架61上还设有和取样盘62对应的下料锥斗63，从而有利于取样盘62的下料；更进一步地，设置有除尘装置5，可避免下料过程中产生的粉尘污染工作环境；最后，设置有电磁振动给料7，可均匀向多级筛选装置2中送料，从而有利于提高筛选效率。

以上所述的具体实施方式，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施方式而已，并不用于限定本实用新型的保护范围，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种工业硅块质量检测系统，其特征在于，包括：

料仓；

多级筛选装置；所述多级筛选装置的进料口和所述料仓的出料口连通，用于接收所述料仓落下的工业硅块并将所述工业硅块按照不同粒径筛分成合格尺寸工业硅块和不合格尺寸工业硅块；

收集装置，和所述多级筛选装置的合格尺寸出料口连通，用于接收所述多级筛选装置的合格尺寸出料口流出的合格尺寸工业硅块；

称重装置，可分别接收所述多级筛选装置的不合格尺寸出料口流出的不合格尺寸工业硅块，并可对不合格尺寸工业硅块分别进行称重；

除尘装置，具有若干个吸尘口；所述吸尘口分别和所述多级筛选装置的进料口和出料口配合安装。

2.根据权利要求1所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，还包括取样装置；所述取样装置用于对所述合格尺寸出料口流出的合格尺寸工业硅块进行取样。

3.根据权利要求2所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述取样装置包括：

支架；

取样盘，活动安装在所述支架上；

当进行取样时，所述取样盘可在外力的作用下伸入所述合格尺寸出料口的下方。

4.根据权利要求3所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述支架的底部设有行走轮。

5.根据权利要求3所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述取样装置包括下料锥斗；所述下料锥斗安装在所述支架上，并和所述取样盘配合安装，以接收所述取样盘中的样料。

6.根据权利要求3所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述称重装置包括：

吊架；

电子吊秤，可上下升降安装在所述吊架上；

料斗，和所述电子吊秤连接，并和所述多级筛选装置的出料口配合安装。

7.根据权利要求6所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述称重装置还包括：

绕线轮，设置在所述支架上；

升降绳，绕设在所述绕线轮上，并和所述电子吊秤连接固定；

转动轮，和所述绕线轮同轴连接。

8.根据权利要求6所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，所述吊架底部设有行走轮。

9.根据权利要求2所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，还包括破碎缩分机；所述破碎缩分机设置在所述料仓一侧，可对所述取样装置的取样进行破碎缩分制样。

10.根据权利要求1所述的工业硅块质量检测系统，其特征在于，还包括电磁振动给料机；所述电磁振动给料机设置在所述料仓的下方，以接收所述料仓落下的工业硅块并将所述工业硅块供给所述多级筛选装置。