CN220419384U - 一种可快速切换的芯片检测台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可快速切换的芯片检测台，包括检测台、卡槽、支撑脚和固定架，所述卡槽开设在检测台的顶部，所述支撑脚固定连接在卡槽内壁的底部，所述固定架固定连接在检测台的底部，所述检测台顶部的四角均固定连接有放置机构。本实用新型通过设置卡槽，在对芯片进行检测时通过将芯片放入卡槽内，然后使检测台对芯片进行检测，解决了现有的检测台在检测完成后需要将芯片取出，然后再次将芯片放入，在更换芯片的过程中速度较慢，无法对芯片进行快速更换的问题，具备了更换芯片更加快捷的优点。

Description

一种可快速切换的芯片检测台

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种可快速切换的芯片检测台。

背景技术

芯片是一种半导体元件产品的统称，芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，而芯片在批量生产投入市场之前需要进行抽检，主要是对芯片内回路进行电流检测，通过专业的检测设备能够清晰的检测出芯片内电流回路是否断开或者短路，从而保证投入市场中的芯片处于最佳状态。

现有的比如专利号为CN202222174852.5，的中国发明专利,该专利公开了芯片电流检测台，包括电流检测台主体，所述电流检测台主体上表面的中心处开设有卡槽，且卡槽的内壁固定有支撑脚，并且支撑脚的上表面设置有卡合于卡槽内部的芯片主体，在原有芯片电流检测台的基础上，加装了专用的芯片夹持机构，通过伸缩杆、挡板和复位弹簧等零件之间的相互配合作用，沿着滑槽的内壁逆时针旋转滑杆时，滑杆会同步带动套环在四组第二限位杆的限位作用下同步进行逆时针旋转并通过四组第一限位槽同步对四组第一限位杆产生向外的推动作用，从而使得四组伸缩杆会同步贯穿腔槽的内壁进行外扩式的收缩滑动，进而可将芯片放置在四组支撑脚上进行夹持，或者可将芯片快速取下，稳定性较高，且方便芯片的定位和取下。

现有的检测台在检测完成后需要将芯片取出，然后再次将芯片放入，在更换芯片的过程中速度较慢，无法对芯片进行快速更换。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型的目的在于提供一种可快速切换的芯片检测台，具备了更换芯片更加快捷的优点，解决了现有的检测台在检测完成后需要将芯片取出，然后再次将芯片放入，在更换芯片的过程中速度较慢，无法对芯片进行快速更换的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：包括检测台、卡槽、支撑脚和固定架，所述卡槽开设在检测台的顶部，所述支撑脚固定连接在卡槽内壁的底部，所述固定架固定连接在检测台的底部，所述检测台顶部的四角均固定连接有放置机构。

作为本实用新型优选的，所述放置机构包括限位架，所述限位架固定连接在检测台顶部的四角，所述卡槽内壁的左侧和右侧均开设有移动槽，所述移动槽内壁的右侧活动连接有推板。

作为本实用新型优选的，所述固定架右侧的顶部固定连接有马达，所述固定架顶部的右侧开设有活动槽。

作为本实用新型优选的，所述马达的输出端固定连接有蜗杆，所述活动槽的左侧固定连接有轴承，所述蜗杆的另一端与轴承的内环固定连接。

作为本实用新型优选的，所述推板底部的右侧固定连接有传动块，所述传动块的左侧开设有螺纹槽，所述蜗杆的表面与螺纹槽螺纹连接。

作为本实用新型优选的，所述卡槽内壁的前侧开设有凹槽，所述凹槽内壁的前侧固定连接有电磁铁。

作为本实用新型优选的，所述电磁铁后侧的两侧均固定连接有弹簧，所述弹簧的另一端固定连接有固定块。

作为本实用新型优选的，所述检测台的左侧固定连接有托架，所述固定架的左侧开设有存放槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置卡槽，在对芯片进行检测时通过将芯片放入卡槽内，然后使检测台对芯片进行检测，解决了现有的检测台在检测完成后需要将芯片取出，然后再次将芯片放入，在更换芯片的过程中速度较慢，无法对芯片进行快速更换的问题，具备了更换芯片更加快捷的优点。

2、本实用新型通过设置放置机构，在使用时通过在限位架内放置多块芯片，通过检测台对底部的芯片进行检测，然后通过推板将检测后的芯片推向左侧的移动槽内，然后通过推板复位，使芯片落到卡槽内进行检测。

3、本实用新型通过设置马达和活动槽，活动槽可以为传动块提供足够的活动空间，避免传动块在移动时卡住，然后通过马达带动蜗杆旋转，使蜗杆带动通过螺纹推动传动块移动，通过传动块带动推板移动，将检测完成的芯片推出卡槽，可以在更换芯片时更加快捷。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型立体局部剖面结构示意图；

图3为本实用新型为图2中A处放大结构示意图。

图中：1、检测台；2、卡槽；3、支撑脚；4、固定架；5、放置机构；51、限位架；52、移动槽；53、推板；6、马达；7、活动槽；8、蜗杆；9、轴承；10、传动块；11、螺纹槽；12、凹槽；13、电磁铁；14、弹簧；15、固定块；16、托架；17、存放槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1至图3所示，本实用新型提供的包括检测台1、卡槽2、支撑脚3和固定架4，卡槽2开设在检测台1的顶部，支撑脚3固定连接在卡槽2内壁的底部，固定架4固定连接在检测台1的底部，检测台1顶部的四角均固定连接有放置机构5。

参考图1，放置机构5包括限位架51，限位架51固定连接在检测台1顶部的四角，卡槽2内壁的左侧和右侧均开设有移动槽52，移动槽52内壁的右侧活动连接有推板53。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置放置机构5，在使用时通过在限位架51内放置多块芯片，通过检测台1对底部的芯片进行检测，然后通过推板53将检测后的芯片推向左侧的移动槽52内，然后通过推板53复位，使芯片落到卡槽2内进行检测。

参考图2，固定架4右侧的顶部固定连接有马达6，固定架4顶部的右侧开设有活动槽7。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置马达6和活动槽7，活动槽7可以为传动块10提供足够的活动空间，避免传动块10在移动时卡住，然后通过马达6带动蜗杆8旋转，使蜗杆8带动通过螺纹推动传动块10移动，通过传动块10带动推板53移动，将检测完成的芯片推出卡槽2，可以在更换芯片时更加快捷。

参考图2，马达6的输出端固定连接有蜗杆8，活动槽7的左侧固定连接有轴承9，蜗杆8的另一端与轴承9的内环固定连接。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置蜗杆8和轴承9，在蜗杆8旋转时通过轴承9对蜗杆8的另一端进行支撑和限位，同时轴承9可以在蜗杆8旋转时减少蜗杆8旋转时的摩擦力，可以在使用时更加稳定。

参考图2，推板53底部的右侧固定连接有传动块10，传动块10的左侧开设有螺纹槽11，蜗杆8的表面与螺纹槽11螺纹连接。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置传动块10和螺纹槽11，在蜗杆8旋转时通过螺纹槽11内的螺纹推动传动块10移动，在芯片检测完成后通过启动马达6，通过马达6带动蜗杆8旋转，使传动块10向左移动，通过推板53将芯片顶出，然后通过马达6带动蜗杆8反转，使传动块10向右移动，然后芯片再次落到卡槽2内进行检测，可以在更换芯片时更加便捷。

参考图3，卡槽2内壁的前侧开设有凹槽12，凹槽12内壁的前侧固定连接有电磁铁13。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置凹槽12和电磁铁13，通过凹槽12将电磁铁13固定，然后通过对电磁铁13通电使电磁铁13产生磁力将固定块15吸附，使固定块15向前侧移动。

参考图3，电磁铁13后侧的两侧均固定连接有弹簧14，弹簧14的另一端固定连接有固定块15。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置弹簧14和固定块15，在芯片进入卡槽2后对电磁铁13进行断电，然后通过弹簧14推动固定块15向后侧移动，将芯片顶住，对芯片进行限位，在检测完成后通过对电磁铁13进行通电，使固定块15与芯片分离。

参考图2，检测台1的左侧固定连接有托架16，固定架4的左侧开设有存放槽17。

作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置托架16和存放槽17，在推板53将检测完成的芯片推出时芯片落到托架16上，根据查托架16斜度使芯片向左移动到存放槽17内。

本实用新型的工作原理及使用流程：在使用时通过在限位架51内放置多块芯片，通过检测台1对底部的芯片进行检测，然后通过推板53将检测后的芯片推向左侧的移动槽52内，然后通过推板53复位，使芯片落到卡槽2内进行检测，活动槽7可以为传动块10提供足够的活动空间，避免传动块10在移动时卡住，然后通过马达6带动蜗杆8旋转，使蜗杆8带动通过螺纹推动传动块10移动，通过传动块10带动推板53移动，将检测完成的芯片推出卡槽2，可以在更换芯片时更加快捷，在蜗杆8旋转时通过轴承9对蜗杆8的另一端进行支撑和限位，同时轴承9可以在蜗杆8旋转时减少蜗杆8旋转时的摩擦力，可以在使用时更加稳定，在蜗杆8旋转时通过螺纹槽11内的螺纹推动传动块10移动，在芯片检测完成后通过启动马达6，通过马达6带动蜗杆8旋转，使传动块10向左移动，通过推板53将芯片顶出，然后通过马达6带动蜗杆8反转，使传动块10向右移动，然后芯片再次落到卡槽2内进行检测，可以在更换芯片时更加便捷，通过凹槽12将电磁铁13固定，然后通过对电磁铁13通电使电磁铁13产生磁力将固定块15吸附，使固定块15向前侧移动，在芯片进入卡槽2后对电磁铁13进行断电，然后通过弹簧14推动固定块15向后侧移动，将芯片顶住，对芯片进行限位，在检测完成后通过对电磁铁13进行通电，使固定块15与芯片分离，在推板53将检测完成的芯片推出时芯片落到托架16上，根据查托架16斜度使芯片向左移动到存放槽17内。

综上所述：该一种可快速切换的芯片检测台，通过设置卡槽2，在对芯片进行检测时通过将芯片放入卡槽2内，然后使检测台1对芯片进行检测，解决了现有的检测台在检测完成后需要将芯片取出，然后再次将芯片放入，在更换芯片的过程中速度较慢，无法对芯片进行快速更换的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种可快速切换的芯片检测台，包括检测台(1)、卡槽(2)、支撑脚(3)和固定架(4)，其特征在于：所述卡槽(2)开设在检测台(1)的顶部，所述支撑脚(3)固定连接在卡槽(2)内壁的底部，所述固定架(4)固定连接在检测台(1)的底部，所述检测台(1)顶部的四角均固定连接有放置机构(5)。

2.根据权利要求1所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述放置机构(5)包括限位架(51)，所述限位架(51)固定连接在检测台(1)顶部的四角，所述卡槽(2)内壁的左侧和右侧均开设有移动槽(52)，所述移动槽(52)内壁的右侧活动连接有推板(53)。

3.根据权利要求2所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述固定架(4)右侧的顶部固定连接有马达(6)，所述固定架(4)顶部的右侧开设有活动槽(7)。

4.根据权利要求3所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述马达(6)的输出端固定连接有蜗杆(8)，所述活动槽(7)的左侧固定连接有轴承(9)，所述蜗杆(8)的另一端与轴承(9)的内环固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述推板(53)底部的右侧固定连接有传动块(10)，所述传动块(10)的左侧开设有螺纹槽(11)，所述蜗杆(8)的表面与螺纹槽(11)螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述卡槽(2)内壁的前侧开设有凹槽(12)，所述凹槽(12)内壁的前侧固定连接有电磁铁(13)。

7.根据权利要求6所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述电磁铁(13)后侧的两侧均固定连接有弹簧(14)，所述弹簧(14)的另一端固定连接有固定块(15)。

8.根据权利要求1所述的一种可快速切换的芯片检测台，其特征在于：所述检测台(1)的左侧固定连接有托架(16)，所述固定架(4)的左侧开设有存放槽(17)。