CN220340274U - 一种用于电路板测试的模卡箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于电路板测试的模卡箱，属于电路板生产技术领域，该模卡箱包括主体，所述主体上设有用于夹持测试架的夹块，所述夹块上设有夹持宽度可调的夹槽，所述夹槽用于夹持测试架；所述夹块可在所述主体的上方上下移动。该模卡箱通过设置宽度可调的夹槽，使得模卡箱能够夹持不同尺寸的测试架，而且测试架更换方便，使用灵活，有助于提高电路板的测试效率。

Description

一种用于电路板测试的模卡箱

技术领域

本实用新型涉及电路板生产技术领域，尤其涉及一种用于电路板测试的模卡箱。

背景技术

电路板已经广泛应用于电子手表、计算器、计算机、通信设备、电子雷达系统等不同领域。电路板在生产过程中，需要对电路板进行测试，以判断电路板的电路是否正常。现有的电路板的一种电路检测方法，需要将电路板放置在测试架上，测试装置驱动测试架运动，使得测试架上的电路能够与针床的测试针电连接，以便进行电路检测。不同的电路板需要更换不同的测试架，但是现有的测试装置中，测试架更换麻烦，且不能灵活适应不同尺寸的测试架的安装，这会大大影响电路板的测试效率。

因此，需要改进现有的电路板测试装置的测试架的安装方式，以克服现有技术的缺陷。

实用新型内容

为克服相关技术中存在的问题，本实用新型的目的是提供一种用于电路板测试的模卡箱，该模卡箱通过设置宽度可调的夹槽，使得模卡箱能够夹持不同尺寸的测试架，而且测试架更换方便，使用灵活，有助于提高电路板的测试效率。

一种用于电路板测试的模卡箱，包括：

主体，所述主体上设有用于夹持测试架的夹块，所述夹块上设有夹持宽度可调的夹槽，所述夹槽用于夹持测试架；

所述夹块可在所述主体的上方上下移动。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述夹块在所述主体上设置两个，每个所述夹块上均设有夹槽，且两个所述夹槽的开口相互对应。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述夹块上设有调整块，所述调整块贯穿所述夹槽的侧壁伸入所述夹槽内，所述调整块与所述夹块滑动配合。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述夹块上设有用于将所述调整块锁定在所述夹块上的锁紧螺丝。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述夹块上设有卡槽，所述卡槽设置在所述夹槽的一侧其与所述夹槽侧壁垂直；所述卡槽中设有可拆卸的卡块；更换不同的卡块，能够改变所述夹槽的夹持宽度。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述主体上设有驱动装置，所述驱动装置的输出端与所述夹块连接，所述驱动装置驱动所述夹块在所述主体上方上下运动。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述主体上设有针床，所述针床位于所述主体的顶部，所述针床上设有多个测试位，每个所述测试位上均设有多根测试针；

两个所述夹块分别位于所述针床相对的两侧，且两个所述夹块均位于所述针床的上方。

在本实用新型较佳的技术方案中，所述针床与所述夹块相对的一侧设有第一限高台阶，所述夹块上设有第二限高台阶，所述第二限高台阶与所述第一限高台阶相对应；

当所述夹块上下移动带动所述第二限高台阶与所述第一限高台阶相接时，所述夹块被所述第一限高台阶限位。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的一种用于电路板测试的模卡箱，该模卡箱的主体上设有用于夹持测试架的夹块，夹块上设有夹持宽度可调的夹槽，夹槽用于夹持测试架；夹块可在主体的上方上下移动。该模卡箱的主体上设置有宽度可调的夹槽，在电路板测试过程中，根据不同的测试架来调整夹槽的宽度，使得夹槽能够快速夹紧不同型号、尺寸的测试架，以满足不同的电路板的电性测试需求。而且通过夹槽来夹持测试架，使得测试架的安装、更换方便，使用灵活，有助于提高电路板的测试效率。

附图说明

图1是本实用新型提供的用于电路板测试的模卡箱的立体图1；

图2是本实用新型提供的用于电路板测试的模卡箱的立体图2；

图3是本实用新型提供的驱动装置与夹块配合的结构示意图；

图4是本实用新型的实施例1提供的夹块的结构示意图；

图5是本实用新型的实施例2提供的夹块的结构示意图。

附图标记：

1、主体；11、夹块；111、夹槽；112、第二限高台阶；113、卡槽；2、测试架；3、针床；31、第一限高台阶；32、测试针；4、驱动装置；5、调整块；51、锁紧螺丝；6、卡块。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本实用新型的优选实施方式。虽然附图中显示了本实用新型的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本实用新型而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本实用新型更加透彻和完整，并且能够将本实用新型的范围完整地传达给本领域的技术人员。

在本实用新型使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本实用新型。在本实用新型和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本实用新型可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本实用新型范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

实施例

电路板已经广泛应用于电子手表、计算器、计算机、通信设备、电子雷达系统等不同领域。电路板在生产过程中，需要对电路板进行测试，以判断电路板的电路是否正常。现有的电路板的一种电路检测方法，需要将电路板放置在测试架上，测试装置驱动测试架运动，使得测试架上的电路能够与针床的测试针电连接，以便进行电路检测。不同的电路板需要更换不同的测试架，但是现有的测试装置中，测试架更换麻烦，且不能灵活适应不同尺寸的测试架的安装，这会大大影响电路板的测试效率。基于此，本申请提供一种用于电路板测试的模卡箱，以克服现有技术的缺陷。

如图1-图3所示，该用于电路板测试的模卡箱包括：

主体1，所述主体1上设有用于夹持测试架2的夹块11，所述夹块11上设有夹持宽度可调的夹槽111，所述夹槽111用于夹持测试架2；所述夹块11可在所述主体1的上方上下移动。

更具体地，所述夹块11在所述主体1上设置两个，每个所述夹块11上均设有夹槽111，且两个所述夹槽111的开口相互对应。夹槽111用于夹持放置待测试电路板的测试架2。具体地，夹槽111为具有一定长度、且一侧开口的矩形槽。夹槽111的宽度指的是夹槽111垂直于夹槽111开口方向的宽度。夹持过程中，测试架2卡入夹槽111内从而被夹紧。而夹槽111的在主体1的上方上下移动，是通过驱动装置4来实现的。具体地，所述主体1上设有驱动装置4，所述驱动装置4的输出端与所述夹块11连接，所述驱动装置4驱动所述夹块11在所述主体1上方上下运动。该驱动装置4可以是电机或者气缸。驱动装置4固定在模卡箱的表面，且驱动装置4的输出端竖直向上设置。当驱动装置4是气缸时，驱动装置4的输出端即气缸的活塞杆。气缸的活塞杆竖直向上设置，夹块11固定在活塞缸的顶部，气缸上下移动以带动夹块11在主体1的上方上下移动。

上述的一种用于电路板测试的模卡箱，该模卡箱的主体1上设有用于夹持测试架2的夹块11，夹块11上设有夹持宽度可调的夹槽111，夹槽111用于夹持测试架2；夹块11可在主体1的上方上下移动。该模卡箱的主体1上设置有宽度可调的夹槽111，在电路板测试过程中，根据不同的测试架2来调整夹槽111的宽度，使得夹槽111能够快速夹紧不同型号、尺寸的测试架2，以满足不同的电路板的电性测试需求。而且通过夹槽111来夹持测试架2，使得测试架2的安装、更换方便，使用灵活，有助于提高电路板的测试效率。

在本实施例中，如图4所示，所述夹块11上设有调整块5，所述调整块5贯穿所述夹槽111的侧壁伸入所述夹槽111内，所述调整块5与所述夹块11滑动配合。具体地，所述调整块5为一长方体状结构。在一种工作状态中，夹块11水平放置时，调整块5竖直贯穿夹块11的侧壁且一侧壁能够伸入夹槽111中。改变调整块5在夹槽111中的伸入高度，即能够改变夹槽111的宽度。在使用过程中，调整块5的避免与测试架2的避免接触以实现测试架2的锁紧。需要说明的是，调整块5与测试架2相接的一面应具有足够大的表面积，以保证调整块5能够锁紧测试架2。更佳地，调整块5与测试架2相接的一面的表面积大于4平方厘米。调整块5与夹块11滑动配合，使得调整块5的调整方便，这有助于提高使用该模块箱测试电路板时的测试效率，

进一步地，所述夹块11上设有用于将所述调整块5锁定在所述夹块11上的锁紧螺丝51。锁紧螺丝51用于在调整块5调整到目标位置后，即夹槽111的宽度调整到目标宽度后，将调整块5锁紧，以使得调整块5能够夹紧测试架2。更具体地，锁紧螺丝51一端贯穿夹块11的侧壁与调整块5抵接，调整锁紧螺丝51的位置，使得锁紧螺丝51离开调整块5，即能够对调整块5进行位置调整。而使得锁紧螺丝51一端抵持在调整块5上后，调整块5被固定在夹块11上。

在更佳的实施方式中，所述主体1上设有针床3，所述针床3位于所述主体1的顶部，所述针床3上设有多个测试位，每个所述测试位上均设有多根测试针32；

两个所述夹块11分别位于所述针床3相对的两侧，且两个所述夹块11均位于所述针床3的上方。测试过程中，测试架2上放置有电路板。测试装置驱动测试架2向下移动，电路板与测试针32相接，使得测试针32能够测试电路板电路的通断。

更佳地，所述针床3与所述夹块11相对的一侧设有第一限高台阶31，所述夹块11上设有第二限高台阶112，所述第二限高台阶112与所述第一限高台阶31相对应；

当所述夹块11上下移动带动所述第二限高台阶112与所述第一限高台阶31相接时，所述夹块11被所述第一限高台阶31限位。

两个限高台阶的设置，使得夹块11的行程被限制，安装在夹块11上的测试架2的行程也被限制。这能够避免在测试过程中，测试架2下压过度，导致测试架2上的电路板压块测试针32。

实施例2

如图5所示，该实施例仅描述与实施例1的不同之处，其余技术特征与上述实施例相同。

在本实施例中，所述夹块11上设有卡槽113，所述卡槽113设置在所述夹槽111的一侧其与所述夹槽111侧壁垂直；所述卡槽113中设有可拆卸的卡块6；更换不同的卡块6，能够改变所述夹槽111的夹持宽度。

本实施例的夹块11通过卡槽113以及卡块6的设计，来改变夹槽111的宽度。具体地，卡块6的一面位于夹槽111内，卡块6与卡槽113相适配。卡块6可以通过螺钉固定在夹槽111中。在实际的应用中，设计不同尺寸的卡块6，使得卡块6安装在夹槽111中后，能够改变夹槽111的夹持宽度。例如通过更换不同的卡块6，使得夹槽111的夹持宽度可以在1cm-6cm的范围内调节。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，

对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于电路板测试的模卡箱，其特征在于，包括：

主体(1)，所述主体(1)上设有用于夹持测试架(2)的夹块(11)，所述夹块(11)上设有夹持宽度可调的夹槽(111)，所述夹槽(111)用于夹持测试架(2)；

所述夹块(11)可在所述主体(1)的上方上下移动。

2.根据权利要求1所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述夹块(11)在所述主体(1)上设置两个，每个所述夹块(11)上均设有夹槽(111)，且两个所述夹槽(111)的开口相互对应。

3.根据权利要求1或2所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述夹块(11)上设有调整块(5)，所述调整块(5)贯穿所述夹槽(111)的侧壁伸入所述夹槽(111)内，所述调整块(5)与所述夹块(11)滑动配合。

4.根据权利要求3所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述夹块(11)上设有用于将所述调整块(5)锁定在所述夹块(11)上的锁紧螺丝(51)。

5.根据权利要求2所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述夹块(11)上设有卡槽(113)，所述卡槽(113)设置在所述夹槽(111)的一侧其与所述夹槽(111)侧壁垂直；所述卡槽(113)中设有可拆卸的卡块(6)；更换不同的卡块(6)，能够改变所述夹槽(111)的夹持宽度。

6.根据权利要求2所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述主体(1)上设有驱动装置(4)，所述驱动装置(4)的输出端与所述夹块(11)连接，所述驱动装置(4)驱动所述夹块(11)在所述主体(1)上方上下运动。

7.根据权利要求2所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述主体(1)上设有针床(3)，所述针床(3)位于所述主体(1)的顶部，所述针床(3)上设有多个测试位，每个所述测试位上均设有多根测试针(32)；

两个所述夹块(11)分别位于所述针床(3)相对的两侧，且两个所述夹块(11)均位于所述针床(3)的上方。

8.根据权利要求7所述的用于电路板测试的模卡箱，其特征在于：

所述针床(3)与所述夹块(11)相对的一侧设有第一限高台阶(31)，所述夹块(11)上设有第二限高台阶(112)，所述第二限高台阶(112)与所述第一限高台阶(31)相对应；

当所述夹块(11)上下移动带动所述第二限高台阶(112)与所述第一限高台阶(31)相接时，所述夹块(11)被所述第一限高台阶(31)限位。