CN101236147B - 按键测试机 - Google Patents

按键测试机 Download PDF

Info

Publication number
CN101236147B
CN101236147B CN2007100731967A CN200710073196A CN101236147B CN 101236147 B CN101236147 B CN 101236147B CN 2007100731967 A CN2007100731967 A CN 2007100731967A CN 200710073196 A CN200710073196 A CN 200710073196A CN 101236147 B CN101236147 B CN 101236147B
Authority
CN
China
Prior art keywords
clamp
base station
testing machine
adjustable ground
key testing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2007100731967A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101236147A (zh
Inventor
李雷
陈平
成智
吴建桂
李红艳
瞿学良
孙长发
陶永智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd filed Critical Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority to CN2007100731967A priority Critical patent/CN101236147B/zh
Priority to US11/945,520 priority patent/US7743676B2/en
Publication of CN101236147A publication Critical patent/CN101236147A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101236147B publication Critical patent/CN101236147B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • G01M99/008Subject matter not provided for in other groups of this subclass by doing functionality tests

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种按键测试机,用于测试一便携式电子装置的按键,该按键测试机包括一机座、一用于按压按键的执行机构及一用于固持便携式电子装置的夹紧装置,执行机构与夹紧装置安装在机座上,该执行机构包括一基板、一底板、一卡板及一卡片,基板设置于机座上,底板在一第一轴上可调节地安装在基板上,卡板在一第二轴上可调节地安装在底板上,卡片在一第三轴上可调节地安装在卡板上,该夹紧装置包括一基台、一夹持台及若干个夹板,基台在该第二轴上可调节地安装在机座上,夹持台在该第二轴上可调节地安装在基台上,夹板在该第三轴上可调节地安装在基台上,所述第一轴、第二轴及第三轴两两互相垂直。

Description

按键测试机
技术领域
本发明涉及一种按键测试机,尤其是涉及一种用于对便携式电子装置的按键进行测试的测试机。
背景技术
便携式电子装置按键疲劳失效测试是测试一部便携式电子装置质量特性的关键项目之一。
目前,业界有关便携式电子装置按键疲劳失效测试的测试设备型号较少,而且结构复杂,成本较高。
另外,由于现有测试便携式电子装置按键疲劳失效测试的设备为专用测试设备,对于新型的不同款式的便携式电子装置的出现以及各种新的测试条件的要求,需要更换不同的便携式电子装置夹具及测量头,从而增大了测试工作的工作量,降低了测试效率。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种通用性较高且能有效提高测试效率的按键测试机。
一种按键测试机,用于测试一便携式电子装置的按键,该按键测试机包括一机座、一用于按压按键的执行机构及一用于固持便携式电子装置的夹紧装置,执行机构与夹紧装置安装在机座上,该执行机构包括一基板、一底板、一卡板、一卡片及一测试头,基板设置于机座上,底板在一第一轴上可调节地安装在基板上,卡板在一第二轴上可调节地安装在底板上,卡片在一第三轴上可调节地安装在卡板上,该测试头用以按压便携式电子装置的按键,该夹紧装置包括一基台、一夹持台及若干个夹板,基台在该第二轴上可调节地安装在机座上,夹持台在该第二轴上可调节地安装在基台上,夹板在该第三轴上可调节地安装在基台上,所述第一轴、第二轴及第三轴两两互相垂直。
相较现有技术,所述按键测试机的执行机构的底板在第一轴上可调节地安装在基板上,卡板在第二轴上可调节地安装在底板上,卡片在Z轴上可调节地安装在卡板上,从而实现了执行机构安装位置的三维灵活可调。该夹紧装置的基台在第二轴上可调节地安装在机座上,夹持台在第二轴上可调节地安装在基台上,夹板在第三轴上可调节地安装在基台上,从而实现了夹紧装置安装位置的三维灵活可调。执行机构及夹紧装置安装位置的三维灵活可调,使得不同规格不同尺寸的待测便携式电子装置均能够方便地被夹持及调节,不需要频繁地更换执行机构及夹紧装置,通用性较高,提高了测试效率。
附图说明
图1是本发明按键测试机较佳实施例的立体图。
图2是本发明按键测试机较佳实施例的执行机构立体分解图。
图3是本发明按键测试机较佳实施例的夹紧装置立体分解图。
图4是本发明按键测试机较佳实施例的测试示意图。
具体实施方式
本发明按键测试机适用于各类便携式电子装置按键的疲劳失效测试,本实施例以手机侧面按键的疲劳失效测试为例。
请参阅图1所示本发明按键测试机的一较佳实施例,该按键测试机100包括一机座11、一控制中心(图未示)、一动力发生装置(图未示)、若干个用于按压手机侧面按键的执行机构12、若干个用于固持待测试手机的夹紧装置13、若干个气管19、若干个螺钉(图未标)及螺母(图未标)。控制中心与动力发生装置电连接,该执行机构12通过气管19与动力发生装置连接。
请一并参阅图2所示,所述机座11包括一机箱14、四机架15及一第一工作台16。机箱14上设有一第二工作台111及一操作面板112。该第二工作台111大致呈一方形平板体,其上设置有二对贯通其上下表面的第一贯通槽1112。每一对第一贯通槽1112平行设置,用于与夹紧装置13相配合。该操作面板112设有若干个输入键1121、一LCD显示器1122及一电源指示灯1123,输入键1121用于输入控制命令,如测试机对按键的按压次数、按压力的大小及按压频率等。LCD显示器1122则用于显示控制命令。机架15呈框架构造并支撑在第二工作台111的四边角上。所述第一工作台16设置在该机架15的顶端。该第一工作台16在结构上与第二工作台111大致相同,其设置有二对贯通其上下表面的第一贯通槽161,每一对第一贯通槽161平行设置,用于与夹紧装置13相配合。
所述控制中心及动力发生装置均容置于机箱14内,控制中心与动力发生装置电连接。该动力发生装置可以为气动机构等。该控制中心可以为单片机或可编程控制器等,其用于接收输入键1121输入的控制命令以控制动力发生装置。
请参阅图2所示,所述执行机构12包括一测试头17及一装夹机构18。
测试头17是由一气缸171及一活塞173连接而成。活塞173的一端可伸缩地容置于气缸171内,其另一端为一按压头部1731。按压头部1731外套设一橡胶等软性体,以避免其对手机侧面按键造成非疲劳损坏。气缸171设有二气孔1711,该二气孔1711通过气管19连接动力发生装置,以使动力发生装置驱动活塞173在气缸171内往复移动以按压手机按键。
每一装夹机构18包括若干基板181、一底板182、一卡板183及一卡片185。
基板181大致呈一长条形体,其中部沿其延伸方向等间距开设有若干个第一卡持孔1811,本实施例中该第一卡持孔1811是螺纹孔。基板181两两配对固定在每一对第一贯通槽161、1112的四周,其中,二对基板181分别设置于一对第一贯通槽161或1112的两侧且垂直于该对第一贯通槽161或1112延伸的方向,另二对基板181分别设置于该对第一贯通槽161或1112的另外两侧且平行于第一贯通槽161或1112延伸的方向。每一对基板181中的两基板181相互平行且间隔相同的距离。位于相邻两对第一贯通槽161或1112之间的一对基板181则为该二对第一贯通槽161或1112相共用。
底板182具有一“T”字形截面,底板182顶部的中部沿平行该“T”字形截面的方向上开设一第二贯通槽1821,底板182两端则沿垂直于该第二贯通槽1821的延伸方向各开设一第三贯通槽1823,第三贯通槽1823的长度至少大于基板181两相邻卡持孔1811间的距离。底板182通过第三贯通槽1823与螺钉及一对基板181的任意相邻二卡持孔1811的配合可沿其两端的第三贯通槽1823延伸的方向移动地卡持固定在该对基板181上。
卡板183包括一底部1831及一支撑部1833,底部1831大致呈一平板体,其上开设有若干个第二卡持孔1832,本实施例中该第二卡持孔1832是螺纹孔。支撑部1833是一凸设于底部1831上的“U”形块,其具有一顶部1835,该顶部1835向下开设有一凹槽1837并形成了位于凹槽1837两侧的二侧部1839。该二侧部1839邻接于凹槽1837各开设有一第四贯通槽1836。第四贯通槽1836的延伸方向与凹槽1837的开设方向相同。卡板183的第二卡持孔1832与底板182的第二贯通槽1821相对应。卡板183通过螺钉与螺母可沿底板182的第二贯通槽1821的延伸方向移动地卡持固定在底板182上。
卡片185大致呈一平板体,其中部开设一第一通孔1851,用于容置测试头17的活塞173,其两端各开设一第三卡持孔1853,本实施例中该第三卡持孔1853是螺纹孔,用于与一对螺钉相配合以将卡片185沿第四贯通槽1836的延伸方向可移动地卡持固定在卡板183上。
请参阅图3所示,每一夹紧装置13包括一基台131、一夹持台132、若干个第一夹板133、若干个第二夹板134及若干个万向螺钉(图未示)。
基台131是一大致成“U”形的平台,其具有一顶部1311及由顶部1311的相对的两端向一侧延伸的二侧壁1313。该顶部1311设有若干个第六卡持孔1312,本实施例中该第六卡持孔1312是螺纹孔。该侧壁1313的底部具有若干个第四卡持孔(图未示),其侧部具有若干个滑槽1314,滑槽1314横跨侧壁1313的侧部且互为平行设置。每一滑槽1314上均开设有二第五卡持孔1315,第五卡持孔1315开设于滑槽1314的中上部。本实施例中第四卡持孔及第五卡持孔1315均是螺纹孔。基台131通过第一工作台16的第一贯通槽161或第二工作台111的第一贯通槽1112与螺钉及侧壁1313底部的第四卡持孔的配合可沿第一贯通槽161或1112的延伸方向移动地卡持固定在第一工作台16或第二工作台111上。
夹持台132大致呈一平板体,其用于承载一待测试手机。该夹持台132中部设有一第五贯通槽1321,其通过该第五贯通槽1321与一对螺钉及基台131的第六卡持孔1312的配合可沿第五贯通槽1321的延伸方向移动地卡持固定在基台131的顶部1311上。
第一夹板133大致为长条体,其上沿其延伸方向开设一第六贯通槽1331,其宽度与基台131的侧壁1313上的滑槽1314的宽度大致相当。每一第一夹板133通过其第六贯通槽1331与一对螺钉及基台131的卡持孔1315的配合可沿滑槽1314延伸的方向移动地卡持固定在基台131的侧壁1313上。
第二夹板134大致为变形长条体,其上沿其延伸方向开设一第七贯通槽1341,其宽度与基台131的侧壁1313上的滑槽1314的宽度大致相当。第二夹板134相对于第七贯通槽1341的另一端还设有一万向螺钉孔1342,用于装设万向螺钉于其内。万向螺钉能够根据待测试手机的形状自动灵活地调节其夹持头部夹持待测试手机的夹持方向,以实现夹持的稳固化。每一第二夹板134通过其第七贯通槽1341与一对螺钉及基台131的卡持孔1315的配合可沿滑槽1314延伸的方向移动地卡持固定在基台131的另一侧壁1313上。
请参阅图4所示,测试时,执行机构12及夹紧装置13卡持固定在第一工作台16或第二工作台111上,万向螺钉夹持待测试手机19于夹持台132上,且待测试手机19的侧面按键191对准执行机构12的按压头部1731。动力发生装置接收控制中心的命令并提供动力给执行机构12,从而实现对待测试手机19的侧面按键191的按压测试。
请参阅图2及3所示,为了更好地说明本较佳实施例,我们建立一三维空间坐标系,该坐标系包括X轴、Y轴及Z轴,X轴、Y轴及Z轴两两垂直,我们将底板182两端的第三贯通槽1823延伸的方向定义为X轴。可以理解,我们也可以把X轴、Y轴及Z轴定义为两两垂直的第一轴、第二轴及第三轴。
本实施例测试机100的执行机构12的底板182在X轴上可调节地安装在基板181上,卡板183在Y轴上可调节地安装在底板182上,卡片185在Z轴上可调节地安装在卡板183上,从而实现了执行机构12的三维灵活可调。该夹紧装置13的基台131在Y轴上可调节地安装在机座14上,夹持台132在Y轴上可调节地安装在基台131上,第一夹板133及第二夹板134在Z轴上可调节地安装在基台131上,从而实现了夹紧装置13的三维灵活可调。执行机构12及夹紧装置13安装位置的三维灵活可调,使得不同规格不同尺寸的待测便携式电子装置均能够方便地被夹持及调节,不需要频繁地更换执行机构及夹紧装置,通用性较高且提高了测试效率。

Claims (9)

1.一种按键测试机,用于测试一便携式电子装置的按键,该按键测试机包括一机座、一用于按压按键的执行机构及一用于固持便携式电子装置的夹紧装置,执行机构与夹紧装置安装在机座上,其特征在于:该执行机构包括若干基板、一底板、一卡板、一卡片及一测试头,基板设置于机座上,底板在一第一轴上可调节地安装在基板上,卡板在一第二轴上可调节地安装在底板上,卡片在一第三轴上可调节地安装在卡板上,卡片大致呈一平板体,卡片中部开设有安装该测试头的通孔,该测试头用以按压便携式电子装置的按键,该夹紧装置包括一基台、一夹持台及若干个夹板,基台在该第二轴上可调节地安装在机座上,夹持台在该第二轴上可调节地安装在基台上,夹板在该第三轴上可调节地安装在基台上,所述第一轴、第二轴及第三轴两两互相垂直。
2.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述基板大致呈一条形体,其上等间距开设有若干个卡持孔,以便底板可在该第一轴上可调节地卡持固定于基板上。
3.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述底板大致呈一“T”字形体,其中部开设一贯通槽,以便卡板可在该第二轴上可调节地安装在底板上。
4.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述卡板包括一底部及一支撑部,该底部大致呈一平板体,该底部上开设有若干卡持孔,该支撑部是一凸设于该底部的“U”形块,且该支撑部具有一顶部及邻接该顶部的二侧部,该顶部向下开设有一凹槽,该二侧部邻接于该凹槽且各开设有一贯通槽,以便卡片可在该第三轴上可调节地安装在卡板上。
5.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述卡片两端各开设一卡持孔,用于卡持固定卡片于卡板上。
6.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述基台大致呈一“U”形体,其顶部开设若干个卡持孔,用于卡持固定夹持台于基台上,其邻接该顶部的二侧部各设有若干个卡持孔,用于卡持固定夹板于基台上。
7.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述夹持台大致呈一平板体,其中部设有一贯通槽,以便夹持台可在该第二轴上调节地安装在基台上。
8.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述夹板设有一贯通槽,以便夹板可在该第三轴上调节地安装在基台上。
9.如权利要求1所述的按键测试机,其特征在于:所述基板与机座的安装方式是螺纹连接固定、铆接固定或一体成型。
CN2007100731967A 2007-02-02 2007-02-02 按键测试机 Expired - Fee Related CN101236147B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007100731967A CN101236147B (zh) 2007-02-02 2007-02-02 按键测试机
US11/945,520 US7743676B2 (en) 2007-02-02 2007-11-27 Key testing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007100731967A CN101236147B (zh) 2007-02-02 2007-02-02 按键测试机

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101236147A CN101236147A (zh) 2008-08-06
CN101236147B true CN101236147B (zh) 2010-12-01

Family

ID=39675041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007100731967A Expired - Fee Related CN101236147B (zh) 2007-02-02 2007-02-02 按键测试机

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7743676B2 (zh)
CN (1) CN101236147B (zh)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101384064B (zh) * 2008-10-21 2011-08-10 深圳市汇创达科技有限公司 一种手机薄膜按键重片/漏片/反片的检测方法及其装置
CN102200566A (zh) * 2010-03-22 2011-09-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 按键测试装置
CN102608020A (zh) * 2011-01-20 2012-07-25 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 按键测试装置
CN102650586A (zh) * 2011-02-24 2012-08-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 按键测试装置
TWI479138B (zh) * 2013-03-22 2015-04-01 Quanta Comp Inc 鍵盤測試機
CN104076169B (zh) * 2013-03-27 2016-11-23 纬创资通(昆山)有限公司 应用于多点触控功能的测试夹具
CN105044399A (zh) * 2015-08-18 2015-11-11 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 一种ltcc基板通用测试夹具
CN105938046A (zh) * 2016-06-13 2016-09-14 歌尔股份有限公司 线控按键灵敏度检测装置
JP6733522B2 (ja) * 2016-11-29 2020-08-05 株式会社デンソー 撮像装置
CN107421725B (zh) * 2017-06-06 2019-02-22 中南大学 一种测试电子按键的多自由度平台
CN107402128B (zh) * 2017-08-25 2023-12-05 歌尔科技有限公司 模组按压测试工装及测试方法
CN108695784A (zh) * 2018-07-20 2018-10-23 广东电网有限责任公司 一种可调式街码装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2784906Y (zh) * 2004-12-28 2006-05-31 比亚迪股份有限公司 手机按键疲劳测试装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5192152A (en) * 1991-05-31 1993-03-09 Compaq Computer Corporation Switch actuator
US6314825B1 (en) * 1999-02-18 2001-11-13 Behavior Tech Computer Corp. Keyboard testing apparatus
US6304830B1 (en) * 1999-05-28 2001-10-16 Behavior Tech Computer Corp. Automatic keyboard testing apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2784906Y (zh) * 2004-12-28 2006-05-31 比亚迪股份有限公司 手机按键疲劳测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7743676B2 (en) 2010-06-29
CN101236147A (zh) 2008-08-06
US20080184825A1 (en) 2008-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101236147B (zh) 按键测试机
CN102789075B (zh) 用于检测液晶面板的点灯治具
CN105258834A (zh) 键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机
CN102095900A (zh) 检测系统
CN104678224A (zh) 触摸屏电测对位机
CN105004888A (zh) 一种可调集成电路测试治具
CN205507022U (zh) 电路板测试装置
CN206891679U (zh) 振动试验工装
CN210400787U (zh) 一种电子产品的振动试验工装
KR20120034884A (ko) 판재의 굽힘시험장치
CN204569994U (zh) 一种六自由度振动时效装置
CN206056912U (zh) 跌落测试工装
CN105093044A (zh) 一种针载板模组测试机构
CN102778390A (zh) 一种硬质塑料材料应力对比测试夹具及测试方法
CN207730414U (zh) 振动试验工装
CN204903683U (zh) 一种针载板模组测试机构
TW201235676A (en) Key testing device
CN213957543U (zh) 电路板测试治具
TWI398628B (zh) 按鍵測試機
US20130168520A1 (en) Testing apparatus
CN203616087U (zh) 一种小型混凝土产品试验振动台
CN103647103B (zh) 一种半自动电池压合机
CN208537129U (zh) 一种可垂直水平正弦方位振动试验装置
CN203720215U (zh) 一种可移动测试探针的测试治具
CN207300522U (zh) 一种振动台治具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20101201

Termination date: 20130202