CN220324146U - 固态硬盘的寿命测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台，所述测试台的内部安装有测试主机，所述测试主机的一端插设有测试连接线，所述测试连接线的一侧连接有高温测试结构，所述高温测试结构包括测试箱，所述测试箱安装在测试连接线的一侧，所述测试箱的顶端安装有温度表，所述测试箱的内部安装有安装卡槽，所述测试箱的内部的安装有加热管，所述测试台的顶端安装有显示屏，本实用新型通过设置高温测试结构，使用时通过测试连接线将测试主机与固态硬盘进行连接，将固态硬盘卡合到测试箱内部的安装卡槽上，测试箱内部的加热管对测试箱内部的固态硬盘进行加热，通过测试箱顶端的温度表可以贯穿测试箱内部的温度，从而实现了高温测试功能。

Description

固态硬盘的寿命测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，具体为固态硬盘的寿命测试装置。

背景技术

固态硬盘是用固态电子储存阵列制作而成的硬盘，用于储存和取读电子数据，一般多用于电脑主机等设备上，在固态硬盘生产时，会对固态硬盘的性能等进行测试，来收集其中的数据方便研究和改进，就需要使用到测试装置来对固态硬盘进行测试；

在实际使用过程中经常会使用软件对固态硬盘数据、存储等进行测试，对固态硬盘硬件的测试较少，现需要固态硬盘的寿命测试装置，通过设置高温测试功能，来将固态硬盘放置到测试箱内部后，通过测试箱内部的加热管对内部的固态硬盘的使用环境进行加热，测试固态硬盘高温环境下的使用性能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供固态硬盘的寿命测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台，所述测试台的内部安装有测试主机，所述测试主机的一端插设有测试连接线，所述测试连接线的一侧连接有高温测试结构，所述高温测试结构包括测试箱，所述测试箱安装在测试连接线的一侧，所述测试箱的顶端安装有温度表，所述测试箱的内部安装有安装卡槽，所述测试箱的内部的安装有加热管，所述测试台的顶端安装有显示屏，所述测试台的顶端安装有拔插测试结构，所述测试台的顶端安装有限位架，所述测试台顶端安装有观察结构。

优选的，所述测试箱通过测试连接线与测试主机相连接，所述安装卡槽呈等间距安装在测试箱的内部。

优选的，所述加热管贯穿测试箱的内部，所述测试箱通过导线与温度表构成电性连接。

优选的，所述观察结构包括固定杆，所述固定杆的安装到测试台顶端，所述固定杆的一侧安装有固定插槽，所述固定插槽的内部插设有工业显微镜。

优选的，所述工业显微镜与固定插槽构成卡合结构，所述工业显微镜通过导线与测试主机相连接，所述工业显微镜通过固定插槽与固定杆相连接。

优选的，所述拔插测试结构包括伸缩电机，所述伸缩电机安装到测试台的顶端，所述伸缩电机的一侧安装有控制器，所述伸缩电机的另一侧安装有安装架，所述安装架的一侧安装有测试插头。

优选的，所述控制器与伸缩电机构成电性连接，所述伸缩电机与安装架构成伸缩结构。

优选的，所述测试插头通过安装架与伸缩电机构成伸缩接，所述测试插头与测试主机构成电性连接。

本实用新型提供的该固态硬盘的寿命测试装置，本实用新型的有益效果是：不仅实现了高温测试功能，实现了拔插测试功能，而且实现了观察功能；

(1)通过设置高温测试结构，将其设置在测试连接线的一侧，使用时通过测试连接线将测试主机与固态硬盘进行连接，将固态硬盘卡合到测试箱内部的安装卡槽上，测试箱内部的加热管对测试箱内部的固态硬盘进行加热，通过测试箱顶端的温度表可以贯穿测试箱内部的温度，从而实现了高温测试功能，来测试固态硬盘高温承受度和使用寿命；

(2)通过设置观察结构，将其设置在测试台的顶端，使用时通过工业显微镜从固定杆一侧的固定插槽上取下来，通过工业显微镜对固态硬盘电路板进行贯穿，通过工业显微镜连接的测试主机后，将放大的图案通过显示屏显示处理，贯穿固态硬盘内部形态，从而实现了观察功能，方便对测试后固态硬盘进行观察；

(3)通过设置拔插测试结构，将其设置在测试台的顶端，使用时将固态硬盘固定到限位架上，然后通过伸缩电机带动安装架进行伸缩，通过安装架带动一侧的测试插头与固态硬盘进行拔插，通过测试插头与测试主机进行连接，观察固态硬盘的连接情况，伸缩电机一侧的控制器可以控制和记录拔插次数，从而实现了拔插测试功能，检测固态硬盘的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的正视结构示意图；

图2为本实用新型的拔插测试结构平面结构示意图；

图3为本实用新型的观察结构平面结构示意图；

图4为本实用新型的高温测试结构剖面结构示意图。

图中：1、测试台；2、拔插测试结构；201、控制器；202、伸缩电机；203、测试插头；204、安装架；3、限位架；4、观察结构；401、工业显微镜；402、固定插槽；403、固定杆；5、显示屏；6、测试主机；7、测试连接线；8、高温测试结构；801、测试箱；802、温度表；803、安装卡槽；804、加热管。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台1，测试台1的内部安装有测试主机6，测试主机6的一端插设有测试连接线7，测试连接线7的一侧连接有高温测试结构8，高温测试结构8包括测试箱801，测试箱801安装在测试连接线7的一侧，测试箱801的顶端安装有温度表802，测试箱801的内部安装有安装卡槽803，测试箱801的内部的安装有加热管804；

测试箱801通过测试连接线7与测试主机6相连接，安装卡槽803呈等间距安装在测试箱801的内部，加热管804贯穿测试箱801的内部，测试箱801通过导线与温度表802构成电性连接；

具体地，如图1和图4所示，通过设置高温测试结构8，使用时通过测试连接线7将测试主机6与固态硬盘进行连接，将固态硬盘卡合到测试箱801内部的安装卡槽803上，测试箱801内部的加热管804对测试箱801内部的固态硬盘进行加热，通过测试箱801顶端的温度表802可以贯穿测试箱801内部的温度，从而实现了高温测试功能；

测试台1的顶端安装有显示屏5，测试台1的顶端安装有拔插测试结构2，拔插测试结构2包括伸缩电机202，伸缩电机202安装到测试台1的顶端，伸缩电机202的一侧安装有控制器201，伸缩电机202的另一侧安装有安装架204，安装架204的一侧安装有测试插头203；

控制器201与伸缩电机202构成电性连接，伸缩电机202与安装架204构成伸缩结构，测试插头203通过安装架204与伸缩电机202构成伸缩接，测试插头203与测试主机6构成电性连接；

具体地，如图1和图2所示，通过设置观察结构4，使用时通过工业显微镜401从固定杆403一侧的固定插槽402上取下来，通过工业显微镜401对固态硬盘电路板进行贯穿，通过工业显微镜401连接的测试主机6后，将放大的图案通过显示屏5显示处理，贯穿固态硬盘内部形态，从而实现了观察功能；

测试台1的顶端安装有限位架3，测试台1顶端安装有观察结构4，观察结构4包括固定杆403，固定杆403的安装到测试台1顶端，固定杆403的一侧安装有固定插槽402，固定插槽402的内部插设有工业显微镜401；

工业显微镜401与固定插槽402构成卡合结构，工业显微镜401通过导线与测试主机6相连接，工业显微镜401通过固定插槽402与固定杆403相连接；

具体地，如图1和图3所示，通过设置拔插测试结构2，使用时将固态硬盘固定到限位架3上，然后通过伸缩电机202带动安装架204进行伸缩，通过安装架204带动一侧的测试插头203与固态硬盘进行拔插，通过测试插头203与测试主机6进行连接，观察固态硬盘的连接情况，伸缩电机202一侧的控制器201可以控制和记录拔插次数，从而实现了拔插测试功能。

工作原理：在实际实用过程中，首先将固态硬盘通过测试连接线7与测试主机6进行连接，将与测试主机6连接的固态硬盘卡合到测试箱801内部的安装卡槽803上，通过对测试箱801内部的加热管804对测试箱801进行升温，来测试固态硬盘在测试箱801内部高温情况下的使用寿命，通过测试箱801顶端的温度表802可以知道测试箱801内的温度，之后将固态硬盘放置到测试台1顶端的限位架3上进行固定后，通过控制器201控制伸缩电机202带动安装架204进行伸缩，来使安装架204一侧的测试插头203对固态硬盘进行拔插，来测试测试插头203与固态硬盘拔插的使用寿命，最后在固态硬盘测试完成后，通过将工业显微镜401从固定插槽402取下来，通过工业显微镜401对固态硬盘放大观察，看原件是否有损坏等一些情况，最终完成该固态硬盘的寿命测试装置的使用工作。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.固态硬盘的寿命测试装置，包括测试台(1)，其特征在于：所述测试台(1)的内部安装有测试主机(6)，所述测试主机(6)的一端插设有测试连接线(7)，所述测试连接线(7)的一侧连接有高温测试结构(8)，所述高温测试结构(8)包括测试箱(801)，所述测试箱(801)安装在测试连接线(7)的一侧，所述测试箱(801)的顶端安装有温度表(802)，所述测试箱(801)的内部安装有安装卡槽(803)，所述测试箱(801)的内部的安装有加热管(804)，所述测试台(1)的顶端安装有显示屏(5)，所述测试台(1)的顶端安装有拔插测试结构(2)，所述测试台(1)的顶端安装有限位架(3)，所述测试台(1)顶端安装有观察结构(4)。

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述测试箱(801)通过测试连接线(7)与测试主机(6)相连接，所述安装卡槽(803)呈等间距安装在测试箱(801)的内部。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述加热管(804)贯穿测试箱(801)的内部，所述测试箱(801)通过导线与温度表(802)构成电性连接。

4.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述观察结构(4)包括固定杆(403)，所述固定杆(403)的安装到测试台(1)顶端，所述固定杆(403)的一侧安装有固定插槽(402)，所述固定插槽(402)的内部插设有工业显微镜(401)。

5.根据权利要求4所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述工业显微镜(401)与固定插槽(402)构成卡合结构，所述工业显微镜(401)通过导线与测试主机(6)相连接，所述工业显微镜(401)通过固定插槽(402)与固定杆(403)相连接。

6.根据权利要求1所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述拔插测试结构(2)包括伸缩电机(202)，所述伸缩电机(202)安装到测试台(1)的顶端，所述伸缩电机(202)的一侧安装有控制器(201)，所述伸缩电机(202)的另一侧安装有安装架(204)，所述安装架(204)的一侧安装有测试插头(203)。

7.根据权利要求6所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述控制器(201)与伸缩电机(202)构成电性连接，所述伸缩电机(202)与安装架(204)构成伸缩结构。

8.根据权利要求6所述的固态硬盘的寿命测试装置，其特征在于：所述测试插头(203)通过安装架(204)与伸缩电机(202)构成伸缩接，所述测试插头(203)与测试主机(6)构成电性连接。