CN216562467U - 一种ssd高温老化测试设备 - Google Patents

一种ssd高温老化测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN216562467U
CN216562467U CN202123011992.2U CN202123011992U CN216562467U CN 216562467 U CN216562467 U CN 216562467U CN 202123011992 U CN202123011992 U CN 202123011992U CN 216562467 U CN216562467 U CN 216562467U
Authority
CN
China
Prior art keywords
ssd
card slot
temperature aging
aging test
sliding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202123011992.2U
Other languages
English (en)
Inventor
李创锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Tigo Semiconductor Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Tigo Semiconductor Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Tigo Semiconductor Co ltd filed Critical Shenzhen Tigo Semiconductor Co ltd
Priority to CN202123011992.2U priority Critical patent/CN216562467U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN216562467U publication Critical patent/CN216562467U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型实施例公开了一种SSD高温老化测试设备,涉及SSD技术领域,该SSD高温老化测试设备包括箱体、供电单元以及多个卡槽承载机构,所述卡槽承载机构设有多个卡槽本体,所述卡槽本体用于与待测SSD连接;多个所述卡槽承载机构层叠排列设置在所述箱体内,所述供电单元分别与各所述卡槽承载机构连接。该SSD高温老化测试设备有效地解决了目前市面上大都是对SSD进行拔插等物理测试,并不能够对SSD集中进行运行环境测试,容易导致SSD测试中对SSD运行环境的参数造成遗漏,未能对SSD高温老化测试的问题。

Description

一种SSD高温老化测试设备
技术领域
本实用新型涉及SSD技术领域,尤其涉及一种SSD高温老化测试设备。
背景技术
SSD,固态硬盘(Solid State Disk或Solid State Drive,简称SSD),又称固态驱动器,是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘,被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等诸多领域。
在SSD的生产过程中,对产品的性能测试是一项比较重要的工序,此工序不仅能够了解产品的各项数据参数,同时能够得知产品在不同环境下的工作性能和使用寿命,若不经过此工序,会导致对产品的性能了解不足,所致市场推广难度大和产品质量难以控制。
目前市面上大都是对SSD进行拔插等物理测试,并不能够对SSD进行运行环境测试,容易导致SSD测试中对SSD运行环境的参数造成遗漏,因此需要一种SSD高温老化测试设备以解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型实施例所要解决的技术问题是目前市面上大都是对SSD进行拔插等物理测试,并不能够对SSD进行运行环境测试,容易导致SSD测试中对SSD运行环境的参数造成遗漏,未能对SSD集中进行高温老化测试,提供更全面的SSD运行环境测试。
为了解决上述问题,本实用新型实施例提供了一种SSD高温老化测试设备,设计对大批量SSD集中进行高温老化测试,同时具有分批管理、便捷取放效果。
本实用新型提供了一种SSD高温老化测试设备,该SSD高温老化测试设备包括:箱体、供电单元以及多个卡槽承载机构,所述卡槽承载机构设有多个卡槽本体,所述卡槽本体用于与待测SSD连接;多个所述卡槽承载机构层叠排列设置在所述箱体内,所述供电单元分别与各所述卡槽承载机构连接。
其进一步的技术方案为,该SSD高温老化测试设备还包括多个散热装置,所述散热装置设于所述箱体上,且位于所述供电单元的一侧。
其进一步的技术方案为,该SSD高温老化测试设备还包括导线槽,所述导线槽设于所述箱体上,所述导线槽分别连通所述供电单元、所述散热装置以及所述卡槽承载机构。
其进一步的技术方案为,所述卡槽承载机构包括滑动平台以及多个线路板,所述线路板设于所述滑动平台上,所述卡槽本体设于所述线路板上。
其进一步的技术方案为,所述卡槽承载机构还包括第一滑槽、U型导线保护槽以及滑轨,所述滑轨以及所述U型导线保护槽固定于所述滑动平台上,所述滑轨与所述第一滑槽以滑动式连接,所述U型导线保护槽内设有所述导线槽。
其进一步的技术方案为,该SSD高温老化测试设备还包括推拉限位机构,所述推拉限位机构包括固定板、弹性装置以及活动板,所述固定板固定于所述滑动平台上,所述活动板与所述固定板通过所述弹性装置连接。
其进一步的技术方案为,所述推拉限位机构还包括连杆、第二滑槽、齿条以及棘牙限位块,所述齿条与所述第二滑槽连接,所述棘牙限位块可滑动式设于所述第二滑槽中,所述棘牙限位块以及所述活动板分别铰接于所述连杆两端。
其进一步的技术方案为,所述导线槽的表面设有耐高温涂层。
其进一步的技术方案为,该SSD高温老化测试设备还包括隔离板,所述供电单元和所述散热装置设于所述隔离板一侧,所述卡槽承载机构设于所述隔离板另一侧,连接所述供电单元与所述卡槽承载机构的导线槽穿过所述隔离板。
其进一步的技术方案为,该SSD高温老化测试设备还包括散热板、观察窗、柜门以及把手,所述散热板与所述隔离板连接,所述柜门与所述箱体以开合式连接,所述观察窗以及所述把手设于所述柜门上。
与现有技术相比,本实用新型实施例所能达到的技术效果包括:
通过供电单元控制卡槽承载机构上卡槽本体的电流,同时卡槽承载机构上可设置大量卡槽本体,由于SSD工作会产生热量,因此集中大批量SSD工作同时可提供高温环境,使得无需增加外界控温设备来对大批量SSD进行高温老化测试,同时大批量SSD方便分批量管理取放,最终取得更便捷、更高效率、更节省能源地对SSD进行高温老化测试的效果。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提出的一种SSD高温老化测试设备的一结构示意图。
图2为本实用新型实施例提出的一种SSD高温老化测试设备的另一结构示意图。
图3为本实用新型实施例提出的一种SSD高温老化测试设备的卡槽承载机构一结构示意图。
图4为本实用新型实施例提出的一种SSD高温老化测试设备的推拉限位机构一结构示意图。
图5为本实用新型实施例提出的一种SSD高温老化测试设备的另一结构示意图。
附图标记
箱体1、隔离板2、散热板3、供电单元5、散热装置8、导线槽10、卡槽承载机构12、第一滑槽1201、滑动平台1202、滑轨1203、线路板1204、卡槽本体1205、U型导线保护槽1206、推拉限位机构13、第二滑槽1301、固定板1302、活动板1303、齿条1304、棘牙限位块1305、限位杆1306、伸缩弹簧1307、连杆1308、柜门14、观察窗15、支撑腿16、把手17、弹性装置20。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然,以下将描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本实用新型实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型实施例。如在本实用新型实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
参见图1-图5,本实用新型实施例提供了一种SSD高温老化测试设备,包括箱体1、供电单元5以及多个卡槽承载机构12。各部件具体介绍如下:
在本实施例中,所述卡槽承载机构12设有多个卡槽本体1205,所述卡槽本体1205用于与待测SSD连接;多个所述卡槽承载机构12层叠排列设置在所述箱体1内,所述供电单元5分别与各所述卡槽承载机构12连接。
具体地,箱体1为设备的整体外壳,用于装载容纳包括供电单元5以及多个卡槽承载机构12。供电单元5指包括带有开关的电源的部件。
在一实施例中,箱体1的外表面有必要经过隔热处理,优先采用隔绝热传导型隔热涂层,能够避免箱体1内部的热量散失过快或误伤工作人员。包括八个卡槽承载机构12,供电单元5为均带有开关的的一个总电源以及八组分电源,一个总电源控制八组分电源,总电源以及八组分电源固定设于箱体1的内壁,同时总电源应选用带有漏电保护措施的电流控制开关,避免箱体1内部发生漏电导致误伤SSD或工作人员。分电源的组数与卡槽承载机构12的数量比例为1:1,一组分电源控制一个卡槽承载机构12上的全部卡槽本体1205的电流,需要说明的是,分电源的组数与卡槽承载机构12的数量比例为1:1仅仅是一个示例,作用为供电单元5控制卡槽承载机构12上卡槽本体1205的电流,本领域技术人员还可以采用其它分电源的组数与卡槽承载机构12的数量比例,这并不会超出本实用新型的保护范围。
该SSD高温老化测试设备的工作过程如下:
确定供电单元5处于关闭状态下,将待测SSD插入设置在卡槽承载机构12的卡槽本体1205中,打开供电单元5上的开关,让卡槽本体1205通电,使得SSD进行集中在卡槽承载机构12上运行,在其产生高温使SSD处于高温运行环境,若需更换SSD,只需关闭供电开关,对卡槽承载机构12的卡槽本体1205将SSD取下即可。
通过本实用新型的技术方案,通过供电单元5控制卡槽承载机构12上卡槽本体1205的电流,同时卡槽承载机构12上可设置大量卡槽本体1205,可以使得同时对大批量SSD进行高温老化测试,使得大批量SSD进行分批管理,最终取得更便捷、更高效率地取放SSD的可进行高温老化测试的效果。
继续参见图1-图5,在本实施例中,该SSD高温老化测试设备还包括多个散热装置8,所述散热装置8设于所述箱体1上,且位于所述供电单元5的一侧。
具体地,散热装置8指排风设备,排风设备工作可对供电单元5进行排风降温,避免供电单元5温度过高导致宕机
在一实施例中,散热装置8采用静音高功率风机,避免设备噪音过大,在箱体1设有十六个侧面排风机组和两个上部排风机组。需要说明的是,散热装置8的数量以及设置位置仅仅是一个示例,作用为使箱体1内的温度降低,保护供电单元5避免受高温损坏,本领域技术人员还可以采用任意散热装置8的数量,这并不会超出本实用新型的保护范围。
进一步地,该SSD高温老化测试设备还包括导线槽10,所述导线槽10设于所述箱体1上,所述导线槽10分别连通所述供电单元5、所述散热装置8以及所述卡槽承载机构12。
同时,所述导线槽10的表面设有耐高温涂层。
具体地,导线槽10用于装载电线、导线,均为电路保护槽,并不提供供电功能,电路可根据实际情况自行安装,将所述供电单元5、所述散热装置8以及所述卡槽承载机构12相通,通过预设导线槽10可使连接线路保持整洁美观,同时导线槽10指表面设有耐高温涂层的通道,保护导线槽10内的电线防止导线、电线受到高温和自身电流产热的共同作用导致融坏。
在一实施例中,供电单元5包括的十六个分电源、散热装置8包括的十六个侧面排风机组和两个上部排风机组均通过导线槽10与总电源固定连接相通。
进一步地,所述卡槽承载机构12包括滑动平台1202以及多个线路板,所述线路板设于所述滑动平台1202上,所述卡槽本体1205设于所述线路板上。
同时,所述卡槽承载机构12还包括第一滑槽1201、U型导线保护槽1206以及滑轨1203,所述滑轨1203以及所述U型导线保护槽1206固定于所述滑动平台1202上,所述滑轨1203与所述第一滑槽1201以滑动式连接,所述U型导线保护槽1206内设有所述导线槽10。
再有,该SSD高温老化测试设备还包括隔离板2,所述供电单元5和所述散热装置8设于所述隔离板2一侧,所述卡槽承载机构12设于所述隔离板2另一侧,连接所述供电单元5与所述卡槽承载机构12的导线槽10穿过所述隔离板2。
在一实施例中,卡槽承载机构12包括两个第一滑槽1201和一个滑动平台1202,两个第一滑槽1201均固定连接于隔离板2的正面,滑动平台1202的底面固定连接有两个滑轨1203,且两个滑轨1203分别滑动连接于两个第一滑槽1201内。同时,滑动平台1202的上表面固定连接有十个线路板,每个线路板的上表面均固定连接有十个卡槽本体1205,十个线路板分别通过两个导线槽10与两个分电源固定连接,滑动平台1202的上表面固定连接有两个U型导线保护槽1206,且两个导线槽10分别位于两个U型导线保护槽1206内部。可理解地,即能够通过第一滑槽1201和滑动平台1202之间的相对滑动,实现卡槽本体1205的便于安装和拆卸,同时通过设置U型导线保护槽1206,对导线槽10进行保护,能够避免滑动平台1202在多次抽动带动导线槽10运动时导致导线槽10使用寿命过短的问题。隔离板2的作用是为SSD提供一个密封环境,并避免SSD在测试中产生的高温影响设备的供电单元5。侧面排风机组的侧面均固定连接有导线槽10,每个导线槽10远离侧面排风机组的一端均贯穿隔离板2的背面并延伸至隔离板2的正面,隔离板2的正面设置有八组卡槽承载机构12。在使用过程中,后期可将线路板与智能监控系统相连接,实现对卡槽本体1205的智能监控,但需要注意的是,连接线路必须保持安全整洁美观,避免影响箱体1内部的其他零件。
进一步地,该SSD高温老化测试设备还包括推拉限位机构13,所述推拉限位机构13包括固定板1302、弹性装置20以及活动板1303,所述固定板1302固定于所述滑动平台1202上,所述活动板1303与所述固定板1302通过所述弹性装置20连接。
同时,所述推拉限位机构13还包括连杆1308、第二滑槽1301、齿条1304以及棘牙限位块1305,所述齿条1304与所述第二滑槽1301连接,所述棘牙限位块1305以滑动式设于所述第二滑槽1301中,所述棘牙限位块1305以及所述活动板1303分别铰接于所述1308连杆两端。
具体地,所述弹性装置20指具有弹性的设备,用于连接固定板1302以及活动板1303,使固定板1302以及活动板1303在外力作用下可以相互靠近,释放外力后相互分离。
在一实施例中,所述弹性装置20包括限位杆1306以及伸缩弹簧1307,卡槽承载机构12的下方均设置有推拉限位机构13,推拉限位机构13包括一个第二滑槽1301、一个固定板1302、一个活动板1303和两个齿条1304,第二滑槽1301固定连接于滑动平台1202底面,固定板1302固定连接于滑动平台1202底面,两个齿条1304分别固定连接于两个第一滑槽1201相互靠近的一面。第二滑槽1301内部滑动连接有两个与齿条1304相匹配的棘牙限位块1305,两个棘牙限位块1305分别与两个齿条1304啮合,固定板1302的背面固定连接有两个限位杆1306,且两个限位杆1306均贯穿活动板1303的正面并延伸至活动板1303的背面,限位杆1306穿过伸缩弹簧1307,并将伸缩弹簧1307夹在固定板1302与活动板1303之间。两个棘牙限位块1305的底面均通过销轴铰接有连杆1308,两个连杆1308远离棘牙限位块1305的一端均通过销轴铰接于活动板1303的侧面。即能够通过拉动活动板1303使齿条1304和棘牙限位块1305之间产生联动,来对滑动平台1202进行限位,避免滑动平台1202自由滑动导致卡槽本体1205损坏的情况出现。
可理解地,卡槽承载机构12以及推拉限位机构13全部位于箱体1内部,之后选择相对应的卡槽承载机构12,并施加作用力拉动相对应卡槽承载机构12下方的活动板1303,使活动板1303向固定板1302靠近时通过连杆1308带动两个棘牙限位块1305相互靠拢,实现棘牙限位块1305与齿条1304的分离,此时滑动平台1202不受运动限制,可自由拉动,在拉动滑动平台1202时,滑动平台1202受到滑轨1203的方向限制,沿着第一滑槽1201方向滑出,之后将滑动平台1202拉出箱体1的外部,松开活动板1303,将SSD插入相对应的卡槽本体1205之中,之后将滑动平台1202推进箱体1的内部,此时由于向箱体1内部推动滑动平台1202时,齿条1304和棘牙限位块1305之间的棘牙为顺茬,所以滑动平台1202可自由进入箱体1的内部,并不需要施加外力将活动板1303向固定板1302靠近。
通过巧妙的设计推拉限位机构13,可对卡槽承载机构12进行推拉,使得取放SSD更灵活,同时增加齿条1304和棘牙限位块1305,避免滑动平台1202滑出对SSD造成损坏的情况发生。
进一步地,该SSD高温老化测试设备还包括散热板3、观察窗15、柜门14以及把手17,所述散热板3与所述隔离板2连接,所述柜门14与所述箱体1以开合式连接,所述观察窗15以及所述把手17设于所述柜门14上。
在一实施例中,箱体1的内壁固定连接有隔离板2,隔离板2的正面固定连接有两个散热板3。箱体1的正面通过销轴铰接有两个柜门14,所述箱体1的底面固定连接有四个支撑腿16,两个所述柜门14的正面均固定连接有把手17。通过设置观察窗15和把手17,能够通过柜门14对箱体1内部形成一个密封环境,同时通过设置观察窗15能够在不开启柜门14的情况下观察箱体1内部的SSD运行情况,避免开启柜门14观察箱体1内部对箱体1内部的高温环境造成影响,通过设置支撑腿16可以更加方便快捷的操作柜门14,提高工作效率。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详细描述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,尚且本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
以上所述,为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种SSD高温老化测试设备,其特征在于,包括箱体、供电单元以及多个卡槽承载机构,所述卡槽承载机构设有多个卡槽本体,所述卡槽本体用于与待测SSD连接;多个所述卡槽承载机构层叠排列设置在所述箱体内,所述供电单元分别与各所述卡槽承载机构连接。
2.根据权利要求1所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,还包括多个散热装置,所述散热装置设于所述箱体上,且位于所述供电单元的一侧。
3.根据权利要求2所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,还包括导线槽,所述导线槽设于所述箱体上,所述导线槽分别连通所述供电单元、所述散热装置以及所述卡槽承载机构。
4.根据权利要求3所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,所述卡槽承载机构包括滑动平台以及多个线路板,所述线路板设于所述滑动平台上,所述卡槽本体设于所述线路板上。
5.根据权利要求4所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,所述卡槽承载机构还包括第一滑槽、U型导线保护槽以及滑轨,所述滑轨以及所述U型导线保护槽固定于所述滑动平台上,所述滑轨与所述第一滑槽以滑动式连接,所述U型导线保护槽内设有所述导线槽。
6.根据权利要求5所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,还包括推拉限位机构,所述推拉限位机构包括固定板、弹性装置以及活动板,所述固定板固定于所述滑动平台上,所述活动板与所述固定板通过所述弹性装置连接。
7.根据权利要求6所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,所述推拉限位机构还包括连杆、第二滑槽、齿条以及棘牙限位块,所述齿条与所述第二滑槽连接,所述棘牙限位块以滑动式设于所述第二滑槽中,所述棘牙限位块以及所述活动板分别铰接于所述连杆两端。
8.根据权利要求7所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,所述导线槽的表面设有耐高温涂层。
9.根据权利要求3所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,还包括隔离板,所述供电单元和所述散热装置设于所述隔离板一侧,所述卡槽承载机构设于所述隔离板另一侧,连接所述供电单元与所述卡槽承载机构的导线槽穿过所述隔离板。
10.根据权利要求9所述的SSD高温老化测试设备,其特征在于,还包括散热板、观察窗、柜门以及把手,所述散热板与所述隔离板连接,所述柜门与所述箱体以开合式连接,所述观察窗以及所述把手设于所述柜门上。
CN202123011992.2U 2021-12-02 2021-12-02 一种ssd高温老化测试设备 Active CN216562467U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202123011992.2U CN216562467U (zh) 2021-12-02 2021-12-02 一种ssd高温老化测试设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202123011992.2U CN216562467U (zh) 2021-12-02 2021-12-02 一种ssd高温老化测试设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN216562467U true CN216562467U (zh) 2022-05-17

Family

ID=81539268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202123011992.2U Active CN216562467U (zh) 2021-12-02 2021-12-02 一种ssd高温老化测试设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN216562467U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114675122A (zh) * 2022-05-27 2022-06-28 南通先佳精密模具有限公司 一种隔热型铝电解电容器全自动老化测试分选机

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114675122A (zh) * 2022-05-27 2022-06-28 南通先佳精密模具有限公司 一种隔热型铝电解电容器全自动老化测试分选机

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN216562467U (zh) 一种ssd高温老化测试设备
JP5558504B2 (ja) 充放電試験装置およびその製造方法
KR20120118418A (ko) 이차 전지의 충방전 평가 장치
KR20140097929A (ko) 충방전 시스템
CN110346681B (zh) 一种usb接口和数据线综合测试系统及方法
CN112670107A (zh) 一种软件图形接口测试的自动断电的装置及服务器
CN218727404U (zh) 一种大功率晶圆测试装置
CN114460487A (zh) 一种电源老化状态监测系统及监测方法
CN114814534A (zh) 电路板测试结构及电路板测试治具
CN211603515U (zh) 一种半导体设备的故障排查装置
CN214176505U (zh) 一种方便维修的配电箱
CN218158226U (zh) 一种电池管理芯片老化试验装置
CN110161349B (zh) 电子终端设备测试保温箱及测试系统
CN219226892U (zh) 一种便于拆装的电力仪表设备支架
CN218828569U (zh) 电控柜可调试仪表支架
CN216750776U (zh) 一种可防静电的电控柜
CN210347805U (zh) 一种电子元件的过流实验箱
CN210627017U (zh) 一种用于大数据服务平台的稳定型数据存储服务器
CN217088423U (zh) 控制箱
CN220872597U (zh) 一种高压mlcc电容器的测试工装
CN218122152U (zh) 一种绝缘子电气性能检测装置
CN216930596U (zh) 用于网络通信设备的机柜多层理线装置
CN215375628U (zh) 一种具有多通道测试功能的高效电性能测试平台
JP2013149571A (ja) 蓄電池モジュール
CN215219681U (zh) 一种用于数据中心的负载测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant