CN219740384U - 一种光模块老化治具和光模块老化装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种光模块老化治具和光模块老化装置，属于光模块老化测试领域。包括：托架为前窄后宽结构，装配段位于前端，定位段位于后端；PCBA测试板的前端设有金手指，其上设有至少一个专用连接器；金手指的宽度＜PCBA测试板的整体宽度＜装配段的宽度<定位段的宽度。在托架插入装配槽的过程中，因装配段宽度小于限位块间的距离，使得托架能够在槽中自由地上下左右活动调节，调整空间充足，托架不会卡住而刮伤测试板和金手指，也能防止误操作而折断测试板；当托架的大部分插入后，定位段进入装配槽内，左右活动空间变小，限位块会限制托架上下活动，引导托架向内延伸，使金手指能准确插入老化箱，操作快速便捷，效率高。
Description
技术领域
本实用新型属于光模块老化测试领域，更具体地，涉及一种光模块老化治具和光模块老化装置。
背景技术
随着光通信技术的发展和日趋广泛的运用，光网络的稳定性以及可靠性更加凸显，由于光网络品质很大程度上受到光模块质量的影响，因而进行批量生产时，通过对光模块进行老化，提前暴露出会在寿命终止前出现异常的光模块。
以往大部分的光模块老化托架采用的是单通道设计，在老化箱中一次只能老化单一产品或单一条件产品，不能同时进行多个产品的老化试验，效率低。专利CN206132890U提供了一种高度集成化的老化测试装置，设置多组老化板组，可以同时对多个光模块进行老化试验，极大提高老化效率。
然而，在上述方案中，老化板组插拔时，可活动空间狭小，老化板托板与隔条易擦边卡住，金手指易触碰到隔条而损坏，多次插拔易刮伤老化板托板和金手指，极大影响老化板组的使用寿命。此外，老化板用螺丝固定连接在固定板上，老化板和固定板的材质不同，热膨胀系数不同，当温度发生变化时，两板膨胀形变不一致，老化板易发生弯曲变形，影响使用。
实用新型内容
针对现有技术的缺陷，本实用新型的目的在于提供一种光模块老化治具和光模块老化装置，旨在解决老化板托板和金手指在插拔过程中被刮伤的问题。
为实现上述目的，第一方面，本实用新型提供了一种光模块老化治具，包括托架(1)和安装在所述托架上的PCBA测试板(2)，
所述托架(1)为前窄后宽结构，装配段(11)位于前端，定位段(12)位于后端；
所述PCBA测试板(2)的前端设有用于插接老化箱中连接器的金手指(3)，其上设有至少一个用于连接待测光模块的专用连接器(4)；
其中，金手指(3)的宽度＜PCBA测试板(2)的整体宽度＜装配段(11)的宽度<定位段(12)的宽度。
优选地，所述金手指(3)的宽度范围为69mm～72mm。
优选地，所述PCBA测试板(2)通过多组螺丝组件(5)固定在所述托架(1)上，所述螺丝组件(5)包括：螺丝(51)和缓冲垫圈(52)，所述缓冲垫圈(52)套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板(2)隔开。
优选地，所述PCBA测试板(2)靠近所述金手指(3)的一端仅通过螺丝(51)与所述托架(1)固定连接，剩下部分则通过螺丝组件(5)与所述托架(1)固定连接，所述螺丝组件(5)包括：螺丝(51)和缓冲垫圈(52)，所述缓冲垫圈(52)套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板(2)隔开。
优选地，所述缓冲垫圈(52)为硅胶垫圈。
优选地，所述托架(1)设有多个散热孔(13)的铝合金托架，其远离所述金手指(3)的一端设有把手(14)。
优选地，所述PCBA测试板(2)远离所述金手指(3)的一端设置LED指示灯(6)，用于显示所述PCBA测试板(2)的工作状态。
优选地，所述PCBA测试板(2)背面安装有至少一个温度传感器(7)，用于实时监控老化治具所处的环境温度。
优选地，所述PCBA测试板(2)背面安装有EEPROM芯片(8)，用于存储老化治具的序列号、对应待测光模块类型和插拔次数信息。
为实现上述目的，第二方面，本实用新型提供了一种光模块老化装置，包括：如第一方面所述的光模块老化治具、多组装配槽(9)和老化箱(15)；
所述光模块老化治具插接在所述装配槽(9)内；
所述装配槽(9)端口设有限位块(10)；
其中，装配段(11)的宽度<相邻两个限位块(10)间的距离<定位段(12)的宽度。
总体而言，通过本实用新型所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
(1)本实用新型提出一种光模块老化治具，将托架制作成前窄后宽的结构，将安装在其上的PCBA测试板设计的略窄，将PCBA测试板的金手指部分设计的更窄。在托架插入装配槽的过程中，因前端装配段宽度小于限位块间的距离，使得托架能够在槽中自由地上下左右活动调节，调整空间充足，托架不会卡住而刮伤PCBA测试板和金手指，同时也能避免向上的误操作而折断PCBA测试板；当托架的大部分插入后，托架后端的定位段进入装配槽内，左右活动空间变小，由于定位段宽度大于限位块间的距离，限位块会限制托架上下活动，引导托架向内延伸，使金手指能准确插入老化箱，操作快速便捷，效率高。
(2)本实用新型提出一种光模块老化治具，PCBA测试板与托架连接处使用缓冲垫圈，在高温老化时，PCBA测试板与托架受热膨胀不一致，可以发生横向移动，避免因螺丝完全固定而导致老化过程中PCBA测试板受热弯曲变形。
(3)本实用新型提出一种光模块老化治具，操作人员能通过老化治具上LED指示灯的状态及时发现测试异常。老化治具能实时监测测试环境并反馈老化系统调节测试温度，使测试环境温度恒定的要求范围内。老化治具具备插入状态检测功能，当老化治具插入老化设备后，设备可以自动识别到治具插入，并自动读取存储在EEPROM芯片中的序列号、对应待测光模块类型、插拔次数等信息，节省人工查询确认时间，提高工作效率。
附图说明
图1是本实用新型提供的光模块老化治具结构示意图。
图2是本实用新型提供的光模块老化治具背面示意图。
图3是本实用新型提供的光模块老化治具爆炸图。
图4是本实用新型提供的光模块老化治具装配与老化设备图。
图5是本实用新型提供的图4的A局部放大图。
在所有附图中，相同的附图标记用来表示相同的元件或结构，其中：
1-托架；2-PCBA测试板；3-金手指；4-专用连接器；5-螺丝组件；6-LED指示灯；7-温度传感器；8-EEPROM芯片；9-装配槽；10-限位块；11-装配段；12-定位段；13-散热孔；14-把手；15-老化箱；51-螺丝；52-缓冲垫圈。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
如图1所示，本实用新型提供了一种光模块老化治具，包括托架1和安装在所述托架上的PCBA测试板2。
所述托架1为前窄后宽结构(长方形)，装配段11位于前端，定位段12位于后端。
如图2所示，所述PCBA测试板2的前端设有用于插接老化箱中连接器的金手指3，其上设有至少一个用于连接待测光模块的专用连接器4；其中，金手指3的宽度＜PCBA测试板2的整体宽度＜装配段11的宽度<定位段12的宽度。在装配中托架左右调整时，可预防金手指3剐蹭到装配槽两侧而损坏。
优选地，所述金手指3的宽度范围为69mm～72mm。
PCBA测试板2上可根据测试需求安装一个或多个专用连接器4。金手指3，用于与老化系统进行电气连接。待测光模块插接在专用连接器4上，经PCBA测试板2内部通道的供电线路、金手指3与老化系统实现电气和通信连接。
优选地，如图3所示，所述PCBA测试板2通过多组螺丝组件5固定在所述托架1上，所述螺丝组件5包括：螺丝51和缓冲垫圈52，所述缓冲垫圈52套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板2隔开。
当紧固螺丝时，缓冲垫圈52将螺丝头与PCBA测试板2隔开。在高温老化时，二者受热膨胀延伸，因两者热膨胀系数不同，膨胀程度不一致，两者可以发生相对横向移动，避免螺丝固定过紧而导致PCBA测试板2受力弯曲变形。
优选地，所述PCBA测试板2靠近所述金手指3的一端仅通过螺丝51与所述托架1固定连接，剩下部分则通过螺丝组件5与所述托架1固定连接，所述螺丝组件5包括：螺丝51和缓冲垫圈52，所述缓冲垫圈52套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板2隔开。托架1和PCBA测试板2前端完全固定，二者受热向后端膨胀延伸。
优选地，所述缓冲垫圈52为硅胶垫圈。
优选地，如图2所示，所述托架1设有多个散热孔13的铝合金托架，其远离所述金手指3的一端设有把手14。
需要说明的是，散热孔13增加散热面积，进一步减少受热过程中形变。把手14用来推动和拉动托架1。铝合金托架轻便、导热性好、散热快，便于操作人员拿取。
优选地，所述PCBA测试板2远离所述金手指3的一端设置LED指示灯6，用于显示所述PCBA测试板2的工作状态。
当LED灯平稳闪烁时，表示PCBA测试板2工作正常；当LED灯快速闪烁时，表示PCBA测试板2工作异常，便于操作人员快速识别异常情况。应当注意的是，在不偏离本实用新型的实质内容的基础上，其他具有显示区别状态的指示方式，例如采用不同颜色指示不同工作状态的LED指示灯，都可以应用于本实用新型。
优选地，所述PCBA测试板2背面安装有至少一个温度传感器7，用于实时监控老化治具所处的环境温度。
如图2所示，在PCBA测试板2背面安装一个或多个NTC温度传感器7，实时监测老化治具所处的测试环境，并及时反馈老化系统进行自动调节，使测试环境温度恒定在要求范围内。
优选地，所述PCBA测试板2背面安装有EEPROM芯片8，用于存储老化治具的序列号、对应待测光模块类型和插拔次数信息。
当老化治具插入老化设备后，设备可以自动识别到治具插入，并自动读取存储在治具EEPROM芯片8中的存储信息，节省操作人员查询确认时间，提高工作效率。
如图4和图5所示，本实用新型提供了一种光模块老化装置，包括：如上所述的光模块老化治具、多组装配槽9和老化箱15；所述光模块老化治具插接在所述装配槽9内；所述装配槽9端口设有限位块10；其中，装配段11的宽度<相邻两个限位块10间的距离<定位段12的宽度。
每个装配槽的前端均装配有限位块，其结构类似钩子，用于限制治具的向上活动，并卡住治具向外活动。
在托架插入装配槽的过程中，因前端装配段宽度小于限位块间的距离，托架可在槽中上下左右活动调节，调整空间充足，托架不会卡住而刮伤PCBA测试板和金手指，同时也能避免向上的误操作而折断PCBA测试板；当托架的大部分插入后，托架后端的定位段进入装配槽内，左右活动空间变小，因定位段宽度大于限位块间的距离，限位块会限制托架上下活动，引导托架向内延伸，使金手指能准确插入老化箱，操作快速便捷，效率高。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种光模块老化治具，包括托架(1)和安装在所述托架上的PCBA测试板(2)，其特征在于，
所述托架(1)为前窄后宽结构，装配段(11)位于前端，定位段(12)位于后端；
所述PCBA测试板(2)的前端设有用于插接老化箱中连接器的金手指(3)，其上设有至少一个用于连接待测光模块的专用连接器(4)；
其中，金手指(3)的宽度＜PCBA测试板(2)的整体宽度＜装配段(11)的宽度<定位段(12)的宽度。
2.如权利要求1所述的光模块老化治具，其特征在于，所述金手指(3)的宽度范围为69mm～72mm。
3.如权利要求1所述的光模块老化治具，其特征在于，所述PCBA测试板(2)通过多组螺丝组件(5)固定在所述托架(1)上，所述螺丝组件(5)包括：螺丝(51)和缓冲垫圈(52)，所述缓冲垫圈(52)套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板(2)隔开。
4.如权利要求1所述的光模块老化治具，其特征在于，所述PCBA测试板(2)靠近所述金手指(3)的一端仅通过螺丝(51)与所述托架(1)固定连接，剩下部分则通过螺丝组件(5)与所述托架(1)固定连接，所述螺丝组件(5)包括：螺丝(51)和缓冲垫圈(52)，所述缓冲垫圈(52)套设在螺杆上，用于将螺丝头部与所述PCBA测试板(2)隔开。
5.如权利要求3或4所述的光模块老化治具，其特征在于，所述缓冲垫圈(52)为硅胶垫圈。
6.如权利要求1至4任一项所述的光模块老化治具，其特征在于，所述托架(1)设有多个散热孔(13)的铝合金托架，其远离所述金手指(3)的一端设有把手(14)。
7.如权利要求1至4任一项所述的光模块老化治具，其特征在于，所述PCBA测试板(2)远离所述金手指(3)的一端设置LED指示灯(6)，用于显示所述PCBA测试板(2)的工作状态。
8.如权利要求1至4任一项所述的光模块老化治具，其特征在于，所述PCBA测试板(2)背面安装有至少一个温度传感器(7)，用于实时监控老化治具所处的环境温度。
9.如权利要求1至4任一项所述的光模块老化治具，其特征在于，所述PCBA测试板(2)背面安装有EEPROM芯片(8)，用于存储老化治具的序列号、对应待测光模块类型和插拔次数信息。
10.一种光模块老化装置，其特征在于，包括：如权利要求1至9任一项所述的光模块老化治具、多组装配槽(9)和老化箱(15)；
所述光模块老化治具插接在所述装配槽(9)内；
所述装配槽(9)端口设有限位块(10)；
其中，装配段(11)的宽度<相邻两个限位块(10)间的距离<定位段(12)的宽度。
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