CN112235565A - 一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置及方法，克服现有技术的需增加新的设备才能进行批量全检、的问题，包括面光源、若干固定条和光源隔片，光源隔片中间设有与面光源连接的固定面，光源隔片两端设有用于固定固定条的连接面，固定面与连接面之间由连接片连接，连接片分别与固定面和连接面垂直，固定条两端设有固定孔，光源隔片与固定条之间设有螺丝，螺丝穿过通孔将固定条光源隔片连接，所述面光源连接有支架连接机构，面光源紧贴光源隔片的固定面。本发明利用模组厂现有设备即可实现所有形状光源的flare测试，减少设备购买成本，且可以根据实际的测试需求搭配多种形状的光源隔片。
Description
技术领域
本发明涉及手机摄像头技术领域，尤其是涉及一种摄像头模组厂和镜头厂配合平面光源进行Flare异常检测的装置及方法。
背景技术
摄像模组，主要应用于手机、平板电脑、无人机、医疗等电子终端产品上，现在已成为人们必不可少的生活物品。尤其现在手机上摄像头个数使用越来越多。进行Flare检测作为一项额外的检测项目，由于需要增加检测设备和工序增加，大部分模组厂和镜头厂尚未进行批量全检，只有少部分镜头厂使用阵列点光源测试Flare测试，以及手机组装厂组装后对着车间环境进行目视判别。模组厂若不增加新的设备则无法进行批量检测。
例如，一种在中国专利文献上公开的“一种flare测试光源及装置”，其公告号CN209387248U，该flare测试光源包括一基板和设置在所述基板一面上的若干点光源，若干点光源在所述基板上呈均匀的点阵方式分布。该测试装置仅能提供点光源测试，且该测试装置的点光源测试需要使用多个LED灯进行测试，对每一个单独控制，操作麻烦，无法批量检测，且还需要单独的阵列点光源机台和面光源机台。
发明内容
本发明是为了克服现有技术的需增加新的设备才能进行批量全检、的问题，提供一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置及方法，本发明无需单独的阵列点光源机台，可同时使用面光源和点光源进行批量检测。
为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，包括面光源、若干固定条和光源隔片，光源隔片中间设有与面光源连接的固定面，光源隔片两端设有用于固定固定条的连接面，固定面与连接面之间由连接片连接，连接片分别与固定面和连接面垂直，固定条两端设有固定孔，光源隔片与固定条之间设有螺丝，螺丝穿过通孔将固定条光源隔片连接，所述面光源连接有支架连接机构。
本发明利用模组厂现有设备即可实现所有形状光源的flare测试，减少设备购买成本，且可以根据实际的测试需求搭配多种形状的光源隔片，仅使用一个面光源即可实现flare测试，无需对多个点光源进行单独调控，省时省力，所有部件的金属都进行发黑处理达到亚光黑效果，黑色保证挡光效果。
作为优选，所述光源隔片进行发黑处理，光源隔片为亚光黑效果，光源隔片包括方形光源隔片、长条形光源隔片和阵列点光源隔片。
光源隔片有多种形状，根据需要选取安装，光源隔片用固定条固定在面光源上，拆装方便便于批量测试。
作为优选，所述方形光源隔片是那个设有若干均匀分布的方形孔，长条形光源隔片上设有若干并列分布的条形孔，阵列点光源隔片上设有若干均匀分布的圆形孔。
作为优选，所述面光源紧贴光源隔片的固定面。
作为优选，面光源与支架连接机构之间转动连接。
一种配合平面光源进行Flare异常检测的方法，采用配合平面光源进行Flare异常检测的装置，包括以下步骤：
S1、定义测试环境，对装置进行发黑处理，使之金属部件部分达到亚光黑效果，选取需要的光源隔片与面光源和固定条进行安装；
S2、定义拍摄测试距离；
S3、转动支架连接机构在多个角度拍摄进行flare异常检测；
S4、记录每次拍摄flare的大小区域和强度影响程度。
作为优选，所述测试环境包括面光源的色温和亮度，定义好测试环境后持续使用同一种测试环境进行多次测试。
作为优选，定义的拍摄测试距离在后续多次测试中也使用同一测试距离。
因此，本发明具有如下有益效果：
1.本发明利用模组厂现有设备即可实现所有形状光源的flare测试，减少设备购买成本，且可以根据实际的测试需求搭配多种形状的光源隔片，仅使用一个面光源即可实现flare测试，无需对多个点光源进行单独调控，省时省力，所有部件的金属都进行发黑处理达到亚光黑效果，黑色保证挡光效果；
2.本发明对测试环境和拍摄距离进行定义，保证测试环境一致测量结果准确，在测试过程中可以根据需求更换光源隔片，避免增加新的测量装置费时费力。
附图说明
图1是本实施例面光源的结构示意图。
图2是本实施例方形光源隔片的结构示意图。
图3是本实施例长条形光源隔片的结构示意图。
图4是本实施例阵列点光源隔片的结构示意图。
图5是本实施例的结构示意图。
图中：1、面光源 2、固定条 21、固定孔 3、光源隔片 31、固定面 32、连接面 33、连接片。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明做进一步的描述。
本实施例提供了一种配合平面光源1进行Flare异常检测的方法，如图1-5所示，包括面光源1、若干固定条2和光源隔片3，光源隔片3中间设有与面光源1连接的固定面31，光源隔片3两端设有用于固定固定条2的连接面32，固定面31与连接面32之间由连接片33连接，连接片33分别与固定面31和连接面32垂直，固定条2两端设有固定孔21，光源隔片3与固定条2之间设有螺丝，螺丝穿过通孔将固定条2光源隔片3连接，所述面光源1连接有支架连接机构，面光源1紧贴光源隔片3的固定面31，面光源1与支架连接机构之间转动连接，面光源1的短边方向有支架连接机构，因此光源隔片3仅在长边方向包住光源，面光源1根据光源隔片3的选取被分割成不同形状的光源。
光源隔片3进行发黑处理，光源隔片3为亚光黑效果，光源隔片3包括方形光源隔片3、长条形光源隔片3和阵列点光源隔片3；光源隔片3有多种形状，根据需要选取安装，光源隔片3用固定条2固定在面光源1上，拆装方便便于批量测试；方形光源隔片3是那个设有若干均匀分布的方形孔，长条形光源隔片3上设有若干并列分布的条形孔，阵列点光源隔片3上设有若干均匀分布的圆形孔。
本发明还相应的提供一种配合平面光源进行Flare异常检测的方法，采用配合平面光源进行Flare异常检测的装置，包括以下步骤：
S1、定义测试环境，对装置进行发黑处理，使之金属部件部分达到亚光黑效果，选取需要的光源隔片与面光源和固定条进行安装；
S2、定义拍摄测试距离；
S3、转动支架连接机构在多个角度拍摄进行flare异常检测；
S4、记录每次拍摄flare的大小区域和强度影响程度。
测试环境包括面光源的色温和亮度，定义好测试环境后持续使用同一种测试环境进行多次测试。
定义的拍摄测试距离在后续多次测试中也使用同一测试距离。
本发明利用模组厂现有设备即可实现所有形状光源的flare测试，减少设备购买成本，且可以根据实际的测试需求搭配多种形状的光源隔片，仅使用一个面光源即可实现flare测试，无需对多个点光源进行单独调控，省时省力，所有部件的金属都进行发黑处理达到亚光黑效果，黑色保证挡光效果。
上述实施例对本发明的具体描述，只用于对本发明进行进一步说明，不能理解为对本发明保护范围的限定，本领域的技术工程师根据上述发明的内容对本发明作出一些非本质的改进和调整均落入本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，其特征是，包括面光源、若干固定条和光源隔片，光源隔片中间设有与面光源连接的固定面，光源隔片两端设有用于固定固定条的连接面，固定面与连接面之间由连接片连接，连接片分别与固定面和连接面垂直，固定条两端设有固定孔，光源隔片与固定条之间设有螺丝，螺丝穿过通孔将固定条光源隔片连接，所述面光源连接有支架连接机构。
2.根据权利要求1所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，其特征是，所述光源隔片进行发黑处理，光源隔片为亚光黑效果，光源隔片包括方形光源隔片、长条形光源隔片和阵列点光源隔片。
3.根据权利要求2所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，其特征是，所述方形光源隔片是那个设有若干均匀分布的方形孔，长条形光源隔片上设有若干并列分布的条形孔，阵列点光源隔片上设有若干均匀分布的圆形孔。
4.根据权利要求1所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，其特征是，所述面光源紧贴光源隔片的固定面。
5.根据权利要求1所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的装置，其特征是，面光源与支架连接机构之间转动连接。
6.一种配合平面光源进行Flare异常检测的方法，采用权利要求1所述的装置，其特征是，包括以下步骤：
S1、定义测试环境，对装置进行发黑处理，使之金属部件部分达到亚光黑效果，选取需要的光源隔片与面光源和固定条进行安装；
S2、定义拍摄测试距离；
S3、转动支架连接机构在多个角度拍摄进行flare异常检测；
S4、记录每次拍摄flare的大小区域和强度影响程度。
7.根据权利要求6所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的方法，其特征是，所述测试环境包括面光源的色温和亮度，定义好测试环境后持续使用同一种测试环境进行多次测试。
8.根据权利要求6所述的一种配合平面光源进行Flare异常检测的方法，其特征是，定义的拍摄测试距离在后续多次测试中也使用同一测试距离。
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