CN220251191U - 一种红外线传感器芯片测试台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种红外线传感器芯片测试台，其特征在于，包括底座(1)，支架(2)，芯片承接装置，测试台板(13)，测试传导装置，以及红外线发射组件。本实用新型通过设置的红外线发射器作为测试光源，可很好的确保测试光源输出的稳定性；通过红外线发射组件中的第二伸缩杆、横杆以及滑套相配合，可实现对光源的横向、纵向距离的调整和控制，第二伸缩杆上设置的刻度尺与刻度指针相配合，可实现对光源纵向距离的准确控制和记录；通过红外线发射组件中的铰链头，可实现对光源角度的调整，从而本实用新型很好的解决了现有的红外线传感器芯片的灵敏度测试方式存在无法对红外线传感器芯片进行多方位照射测试和测试准确性差的问题。

Description

一种红外线传感器芯片测试台

技术领域

本实用新型涉及一种测试台开发技术领域，具体是指一种红外线传感器芯片测试台。

背景技术

红外线传感器芯片是光电芯片的一种，红外线传感器芯片能将接收的红外线信号转换成电信号输出，红外线传感器可根据该电信号获取物体的温度以及距离等信息。为了确保红外线传感器能准确的获取物体的温度以及距离等信息，便需要确保红外线传感器芯片工作的准确性，而红外线传感器芯片的灵敏度是影响红外线传感器芯片工作准确性的重要因素。因此，在红外线传感器芯片生产中需要对红外线传感器芯片的灵敏度进行测试，即通过改变光源的强度和距离来，测试红外线传感器芯片的灵敏度进行测试。

目前，行业中没有专门用于红外线传感器芯片的灵敏度测试的测试台，只是简单的在红外线传感器芯片的前方放置一只红外二极管作为测试光源，测试中通过人工水平移动红外二极管，实现对红外线传感器芯片与光源在不同水平距离时的工作灵敏度的测试，可见这种测试方式只能实现对光源的横向距离的控制，不能实现对光源的纵向距离(高度)、照射角度的调控，即现有的测试方式不能实现对红外线传感器芯片的多方位工作的灵敏度测试。同时，由于红外二极管发光强度会随使用时间增加而逐步衰减，导致红外线传感器芯片的灵敏度测试准确性差。

因此，现有的红外线传感器芯片的灵敏度测试方式存在无法对红外线传感器芯片进行多方位照射测试和测试准确性差的问题，不能满足红外线传感器芯片测试的需求，需要开发一种不仅可实现光源多方位调控，以实现对红外线传感器芯片进行多方位照射测试，还能确保测试准确性的红外线传感器芯片的灵敏度测试台，以满足红外线传感器芯片的测试需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有的现有的红外线传感器芯片的灵敏度测试机构存在的上述问题，提供一种不仅可实现光源多方位调控，以实现对红外线传感器芯片进行多方位照射测试，还能确保测试准确性的红外线传感器芯片测试台。

一种红外线传感器芯片测试台，包括底座，垂直固定在底座上的支架，设置在支架的横臂上可升降和横向水平运动的芯片承接装置，通过夹持组件水平设置在支架上且位于芯片承接装置上方的测试台板，设置在测试台板上的测试传导装置，以及设置在测试台板上的红外线发射组件；所述红外线发射组件由第二伸缩杆，通过滑套水平设置在第二伸缩杆的内杆上的横杆，通过铰链头设置在横杆靠近测试传导装置的一端上安装筒，以及安装在安装筒内并能上下移动的红外线发射器；所述测试台板上设置有测试孔；所述测试传导装置通过测试孔能与芯片承接装置接触；所述滑套水平固定在第二伸缩杆的内杆上，所述横杆安装在滑套内并能沿滑套的内壁水平运动，该滑套上设置有用于锁定横杆的固定螺杆。

进一步的，所述第二伸缩杆的内杆上设置有刻度尺，在第二伸缩杆的外杆上设置有与刻度尺相配合的刻度指针。

进一步的，所述芯片承接装置包括滑动组件，设置在滑动组件上的第一伸缩杆，水平设置在第一伸缩杆的内杆上的吸腔，以及覆盖于吸腔的腔口上的承接台；所述承接台设置有凹槽，在凹槽的底部设置有若干个与吸腔连通的吸孔；所述吸腔的侧壁上设置有吸气接头；所述承接台位于测试台板的测试孔下方。

进一步的，所述滑动组件包括滑轨，设置在滑轨内并能沿滑轨的轨壁水平滑动的滑块，所述第一伸缩杆垂直固定在滑块上；所述滑轨安装在支架的横臂上；所述滑块上设置有定位螺栓。

作为本实用新型的一种优选方案，所述滑轨的其中一滑槽壁上设置有一个条形通孔，在滑轨的两端分别设置有一个限位座；所述定位螺栓穿过条形通孔与滑块螺纹连接。

作为本实用新型的一种优选方案，所述夹持组件包括水平固定在支架的其中一根支臂上的固定夹板，和设置在支架的另一根支臂上并与固定夹板对称的弹性夹臂；所述弹性夹臂与固定夹板共同形成一个夹持台，所述测试台板安装在该夹持台上。

作为本实用新型的一种优选方案，所述弹性夹臂包括夹臂，活动夹板，以及压力弹簧；所述夹臂水平设置在支架的支臂上并能水平滑动，所述活动夹板水平固定在夹臂上，该活动夹板与固定夹板对称；所述压力弹簧套在夹臂上，该压力弹簧的一端与支架的支臂接触、另一端与活动夹板的安装壁接触。

作为本实用新型的一种优选方案，所述测试传导装置的数量为两个，所述测试传导装置包括针座，水平设置在针座上并能水平运动的测试传导杆，以及倾斜设置在测试传导杆的一端并伸入测试台板的测试孔内的测试针；所述针座固定在测试台板上；所述承接台能在第一伸缩杆伸展后与测试针接触。

进一步的，所述测试传导杆由绝缘套和传导体组成；所述绝缘套套在传导体上，所述测试针固定在传导体上。

作为本实用新型的一种优选方案，所述固定夹板和活动夹板均为“L”形板，在固定夹板和活动夹板上分别设置有一块胶垫。

本实用新型与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：

(1)本实用新型通过设置的红外线发射器作为测试光源，可很好的确保测试光源输出的稳定性；通过红外线发射组件中的第二伸缩杆、横杆以及滑套相配合，可实现对光源的横向、纵向距离的调整和控制，第二伸缩杆上设置的刻度尺与刻度指针相配合，可实现对光源纵向距离的准确控制和记录；通过红外线发射组件中的铰链头，可实现对光源角度的调整，从而本实用新型很好的解决了现有的红外线传感器芯片的灵敏度测试方式存在无法对红外线传感器芯片进行多方位照射测试和测试准确性差的问题。

(2)本实用新型通过设置的可升降和横向水平运动的芯片承接装置，不仅能使本测试台能用于不同型号的红外线传感器芯片的测试，还可确保待测试红外线传感器芯片的正负电极的准确对接。

(3)本实用新型通过设置的具有弹性的夹持组件，可便于测试台板的安装和拆卸，使整个测试台的使用和转运更方便。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构图。

图2为本实用新型的局部剖视图。

图3为本实用新型的承接台的结构示意图。

图4为本实用新型的测试传导杆的结构示意图。

图5为本实用新型的测试台板的结构示意图。

上述附图中的附图标记为:1—底座，2—支架，3—吸腔，4—承接台，4-1—凹槽，4-2—吸孔，5—第一伸缩杆，6—固定夹板，7—第二伸缩杆，7-1—刻度尺，7-2—刻度指针，8—横杆，9—滑套，10—固定螺杆，11—安装筒，12—红外线发射器，13—测试台板，131—测试孔，132—针座固定螺孔，133—螺纹安装孔，14—测试针，15—测试传导杆，151—绝缘套，152—传导体，16—针座，17—胶垫，18—活动夹板，19—压力弹簧，20—夹臂，21—吸气接头，22—滑轨，23—限位座，24—条形通孔，25—滑块，26—定位螺栓，27—铰链头。

具体实施方式

下面结合实施例对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。

实施例1

如图1～图5所示，本实用新型的红外线传感器芯片测试台，包括底座1，支架2，芯片承接装置，测试台板13，测试传导装置，以及红外线发射组件。具体的，底座1做为整个测试台的承载体。支架2垂直固定在底座1上，实际安装时，该支架2通过螺钉固定在底座1，以便于拆卸和安装。芯片承接装置设置在支架2的横臂上，该芯片承接装置可升降和横向水平运动，以使该测试台能用于不同型号的红外线传感器芯片的测试，还可确保待测试红外线传感器芯片的正负电极的准确对接。

其中，测试台板13通过夹持组件水平设置在支架2上，该测试台板13位于芯片承接装置上方。如图5所示，测试台板13上设置了测试孔131，测试传导装置通过测试孔131能与芯片承接装置接触。同时，在测试台板13上还预置有用于安装固定用的针座固定螺孔132和螺纹安装孔133。测试传导装置设置在测试台板13上，测试传导装置的数量为两个。实际安装时，两个测试传导装置通过螺钉固定在测试台板13的针座固定螺孔132上。以及红外线发射组件设置在测试台板13上。

所述红外线发射组件由第二伸缩杆7，横杆8，安装筒11，以及红外线发射器12。具体的，第二伸缩杆7垂直固定在测试台板13上，即第二伸缩杆7通过螺钉固定在测试台板13上，固定螺钉与测试台板13的螺纹安装孔133螺纹连接。第二伸缩杆7的内杆上设置有刻度尺7-1，在第二伸缩杆7的外杆上设置有与刻度尺7-1相配合的刻度指针7-2。横杆8通过滑套9水平设置在第二伸缩杆7的内杆上，安装时，滑套9水平固定在第二伸缩杆7的内杆上，滑套9通过螺钉或焊接的方式固定在第二伸缩杆7的内杆上。横杆8安装在滑套9内并能沿滑套9的内壁水平运动，该滑套9上设置了用于锁定横杆8的固定螺杆10。使用时，通过松开固定螺杆10，便可使横杆8实现水平运动，锁紧固定螺杆10，便可使横杆8固定在滑套9上。安装筒11通过铰链头27设置在横杆8靠近测试传导装置的一端上，使安装筒11的角度可调整。红外线发射器12安装在安装筒11内，使用时，红外线发射器12可在安装筒11内上下移动，在安装筒11上预置有用于固定红外线发射器12的螺杆。红外线发射器12通过具有收缩性的螺圈导线与外部的5～12V的直流电源连接。

如图1所示，所述芯片承接装置包括滑动组件，第一伸缩杆5，吸腔3，以及承接台4。具体的，第一伸缩杆5垂直固定在滑动组件上，滑动组件作为芯片承接装置的移动部件。滑动组件水平固定在支架2的横臂上，该滑动组件如图1和图2所示，滑动组件包括滑轨22，设置在滑轨22内并能沿滑轨22的轨壁水平滑动的滑块25。第一伸缩杆5垂直固定在滑块25上，并通过螺钉固定。滑轨22安装在支架2的横臂上。滑轨22的其中一滑槽壁上设置了一个条形通孔24，在滑轨22的两端分别设置有一个限位座23，限位座23不仅作为滑块25的行程限定部件，还作为滑轨22的固定部件。安装时，限位座23套在滑轨22的端头上，通过螺钉固定在支架2的横臂上。滑块25上设置有定位螺栓26，定位螺栓26穿过条形通孔24与滑块25螺纹连接。

另外，吸腔3水平设置在第一伸缩杆5的内杆上，吸腔3与第一伸缩杆5的内杆之间通过螺钉固定。吸腔3的侧壁上设置有吸气接头21，使用时，吸气接头21与外部的吸气设备连接。承接台4覆盖于吸腔3的腔口上，承接台4位于测试台板13的测试孔131下方。如图2和图3所示，该承接台4设置有凹槽4-1，在凹槽4-1的底部设置有若干个与吸腔3连通的吸孔4-2。使用时，吸气设备工作后，承接台4的与吸腔3连通的吸孔4-2会产生一个吸力，将放置在承接台4设置有凹槽4-1内的待测试的红外线传感器芯片牢牢的吸附在承接台4上，实现对红外线传感器芯片的测试固定。

如图1所示，所述夹持组件包括固定夹板6和弹性夹臂。具体的，固定夹板6水平固定在支架2的其中一根支臂上，并通过螺钉固定。弹性夹臂设置在支架2的另一根支臂上，并与固定夹板6对称。弹性夹臂与固定夹板6共同形成一个夹持台，所述测试台板13安装在该夹持台上。

进一步地，所述弹性夹臂包括夹臂20，活动夹板18，以及压力弹簧19。具体的，夹臂20水平设置在支架2的支臂上并能水平滑动，实际安装时，夹臂20由支架2的外侧穿过支架2的支臂上预置的通孔，并能沿支架2的支臂上的通孔内壁水平。活动夹板18水平固定在夹臂20上，该活动夹板18与固定夹板6对称。均为“L”形板，为了提高固定夹板6和活动夹板18的夹持稳定性，在固定夹板6和活动夹板18上分别设置有一块胶垫17，胶垫17通过粘胶或螺钉固定。压力弹簧19套在夹臂20上，该压力弹簧19的一端与支架2的支臂接触、另一端与活动夹板18的安装壁接触。使用时，夹臂20在压力弹簧19的作用下可实现自动收缩和伸展，即活动夹板18可在夹臂20的带动下自动收缩和伸展，使固定夹板6和活动夹板18相配合后，形成一个具有弹性的夹具。

如图1所示，所述测试传导装置的数量为两个。测试传导装置包括针座16，测试传导杆15，以及测试针14。具体的，针座16固定在测试台板13上，并通过螺钉固定在测试台板13上，用于固定的螺钉与针座固定螺孔132螺纹连接，使针座16固定在针座固定螺孔132处。测试传导杆15水平设置在针座16上，安装时，测试传导杆15水平穿过针座16预置的安装孔，该测试传导杆15并能在针座16上水平运动。测试针14倾斜设置在测试传导杆15的一端，具体安装时，测试针14安装在测试传导杆15靠近测试台板13的测试孔131的一端上，使测试针14能伸入测试台板13的测试孔131内，以确保承接台4在第一伸缩杆5伸展后能与测试针14接触。

其中，如图4所示，所述测试传导杆15由绝缘套151和传导体152组成。具体的，绝缘套151套在传导体152上，测试针14固定在传导体152上，且测试针14与传导体152固为一体。使用时，两个测试传导装置中的其中一个的传导体152与外部测试设备的正电极信号线连接，该传导体152上的测试针14在测试时与红外线传感器芯片的正极输出端连接。两个测试传导装置中的另一个的传导体152与外部测试设备的负电极信号线连接，该传导体152上的测试针14在测试时与红外线传感器芯片的负极输出端连接。

具体使用时，将待测试的红外线传感器芯片放置在承接台4的凹槽4-1内，通过第一伸缩杆5，调整承接台4的高度，即使承接台4向上运动，在承接台4向上运动至中调整红外线传感器芯片的位置，使红外线传感器芯片的输出端能与测试针14一一对接，当红外线传感器芯片的输出端能与测试针14一一对接后锁定第一伸缩杆5，并开启吸气设备，使红外线传感器芯片被牢牢的吸附在承接台4上。

此时，松开固定螺杆10，使横杆8能进行水平运动，通过移动横杆8，使安装筒内的红外线发射器12位于红外线传感器芯片的上方，以确保红外线传感器芯片内接收到红外线发射器12的照射为准。调整完成后开启红外线发射器12和外部的测试设备，测试开始。在测试中，通过第二伸缩杆7的刻度尺7-1和刻度指针7-2调整第二伸缩杆7的高度，实现光源与红外线传感器芯片不同距离时，红外线传感器芯片的灵敏度测试。也可通过调整红外线发射器12的高度来实现光源与红外线传感器芯片不同距离的测试。另外，通过铰链头27，对红外线发射器12的照射角度进行调整，实现在光源不同照射角度时，红外线传感器芯片的灵敏度测试。

因此，本实用新型通过红外线发射器12作为测试光源，可很好的确保测试光源输出的稳定性。通过红外线发射组件中的第二伸缩杆7、横杆8以及滑套9相配合，可实现对光源的横向、纵向距离的调整和控制，第二伸缩杆7上设置的刻度尺7-1与刻度指针7-2相配合，可实现对光源纵向距离的准确控制和记录。通过红外线发射组件中的铰链头27，可实现对光源角度的调整，从而本实用新型很好的解决了现有的红外线传感器芯片的灵敏度测试方式存在无法对红外线传感器芯片进行多方位照射测试和测试准确性差的问题。

如上所述，便可很好的实现本实用新型。

Claims (10)

1.一种红外线传感器芯片测试台，其特征在于，包括底座(1)，垂直固定在底座(1)上的支架(2)，设置在支架(2)的横臂上可升降和横向水平运动的芯片承接装置，通过夹持组件水平设置在支架(2)上且位于芯片承接装置上方的测试台板(13)，设置在测试台板(13)上的测试传导装置，以及设置在测试台板(13)上的红外线发射组件；所述红外线发射组件由第二伸缩杆(7)，通过滑套(9)水平设置在第二伸缩杆(7)的内杆上的横杆(8)，通过铰链头(27)设置在横杆(8)靠近测试传导装置的一端上安装筒(11)，以及安装在安装筒(11)内并能上下移动的红外线发射器(12)；所述测试台板(13)上设置有测试孔(131)；所述测试传导装置通过测试孔(131)能与芯片承接装置接触；所述滑套(9)水平固定在第二伸缩杆(7)的内杆上，所述横杆(8)安装在滑套(9)内并能沿滑套(9)的内壁水平运动，该滑套(9)上设置有用于锁定横杆(8)的固定螺杆(10)。

2.根据权利要求1所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述第二伸缩杆(7)的内杆上设置有刻度尺(7-1)，在第二伸缩杆(7)的外杆上设置有与刻度尺(7-1)相配合的刻度指针(7-2)。

3.根据权利要求1所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述芯片承接装置包括滑动组件，设置在滑动组件上的第一伸缩杆(5)，水平设置在第一伸缩杆(5)的内杆上的吸腔(3)，以及覆盖于吸腔(3)的腔口上的承接台(4)；所述承接台(4)设置有凹槽(4-1)，在凹槽(4-1)的底部设置有若干个与吸腔(3)连通的吸孔(4-2)；所述吸腔(3)的侧壁上设置有吸气接头(21)；所述承接台(4)位于测试台板(13)的测试孔(131)下方。

4.根据权利要求3所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述滑动组件包括滑轨(22)，设置在滑轨(22)内并能沿滑轨(22)的轨壁水平滑动的滑块(25)，所述第一伸缩杆(5)垂直固定在滑块(25)上；所述滑轨(22)安装在支架(2)的横臂上；所述滑块(25)上设置有定位螺栓(26)。

5.根据权利要求4所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述滑轨(22)的其中一滑槽壁上设置有一个条形通孔(24)，在滑轨(22)的两端分别设置有一个限位座(23)；所述定位螺栓(26)穿过条形通孔(24)与滑块(25)螺纹连接。

6.根据权利要求5所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述夹持组件包括水平固定在支架(2)的其中一根支臂上的固定夹板(6)，和设置在支架(2)的另一根支臂上并与固定夹板(6)对称的弹性夹臂；所述弹性夹臂与固定夹板(6)共同形成一个夹持台，所述测试台板(13)安装在该夹持台上。

7.根据权利要求6所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述弹性夹臂包括夹臂(20)，活动夹板(18)，以及压力弹簧(19)；所述夹臂(20)水平设置在支架(2)的支臂上并能水平滑动，所述活动夹板(18)水平固定在夹臂(20)上，该活动夹板(18)与固定夹板(6)对称；所述压力弹簧(19)套在夹臂(20)上，该压力弹簧(19)的一端与支架(2)的支臂接触、另一端与活动夹板(18)的安装壁接触。

8.根据权利要求7所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述测试传导装置的数量为两个，所述测试传导装置包括针座(16)，水平设置在针座(16)上并能水平运动的测试传导杆(15)，以及倾斜设置在测试传导杆(15)的一端并伸入测试台板(13)的测试孔(131)内的测试针(14)；所述针座(16)固定在测试台板(13)上；所述承接台(4)能在第一伸缩杆(5)伸展后与测试针(14)接触。

9.根据权利要求8所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述测试传导杆(15)由绝缘套(151)和传导体(152)组成；所述绝缘套(151)套在传导体(152)上，所述测试针(14)固定在传导体(152)上。

10.根据权利要求9所述的红外线传感器芯片测试台，其特征在于，所述固定夹板(6)和活动夹板(18)均为“L”形板，在固定夹板(6)和活动夹板(18)上分别设置有一块胶垫(17)。