CN220367350U - 阻抗测试治具 - Google Patents
阻抗测试治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN220367350U CN220367350U CN202321821602.4U CN202321821602U CN220367350U CN 220367350 U CN220367350 U CN 220367350U CN 202321821602 U CN202321821602 U CN 202321821602U CN 220367350 U CN220367350 U CN 220367350U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- tested
- impedance
- testing
- test
- probes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 180
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 65
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 19
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Abstract
本申请公开了一种阻抗测试治具,应用于光通信领域,包括:安装底座上设置有测试位;测试组件包括测量装置和转接装置,测量装置包括安装块和多个探针,多个探针贯穿安装块设置,多个探针的第一端与转接装置连接,在对待测试器件进行测试时,测试组件位于测试位上方,多个探针的第二端与待测试器件连接,转接装置与外接测试板连接;下压组件装置包括支撑架和锁紧装置,支撑架的第一端与安装底座连接,支撑架的第二端与锁紧装置连接,锁紧装置设置于测试位上方,在对测试器件进行测试时,锁紧装置用于将测试组件锁紧在待测试器件上方。本申请通过测试组件和下压组件的设置,降低了阻抗测试的操作难度,提高了阻抗测试的准确率和效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及光通讯领域,具体涉及一种阻抗测试治具。
背景技术
在阻抗测量过程中,阻抗测试治具通常采用手持式探针以手动的方式在阻抗测试模块,即待测试器件上采集信号进行测量,该测试方式因为手动的不确定性,容易造成探针与接触点接触不良导致阻抗值测量不准确或阻抗值误判的现象,降低了阻抗测试的准确率,进而降低了阻抗测试的效率。
实用新型内容
本申请实施例提供了一种阻抗测试治具,能够提高阻抗测试的准确率以及效率。
本申请实施例提供一种阻抗测试治具,包括:
安装底座,所述安装底座上设置有测试位,所述测试位用于放置待测试器件;
测试组件,所述测试组件包括测量装置和转接装置,所述测量装置包括安装块和多个探针,多个所述探针贯穿所述安装块设置,多个所述探针的第一端与所述转接装置连接,在对所述待测试器件进行测试时,所述测试组件位于所述测试位上方,多个所述探针的第二端与所述待测试器件连接,所述转接装置与外接测试板连接;
下压组件,所述下压组件装置包括支撑架和锁紧装置,所述支撑架的第一端与所述安装底座连接,所述支撑架的第二端与所述锁紧装置连接,所述锁紧装置设置于所述测试位上方,在对所述待测试器件进行测试时,所述锁紧装置用于将所述测试组件锁紧在所述待测试器件上方。
本申请实施例中,在对待测试器件进行阻抗测量时,通过锁紧装置将测试组件锁紧在待测试器件上方,使得测量装置的探针与待测试器件相连接,即测量装置的探针与待测试器件的管脚一一对应连接,能够通过一次安装操作将待测试光器件的管脚电信号全部引出,降低了操作难度,提高了阻抗测试的准确率,同时外接测试板通过转接装置和测量装置能够一次性读取待测试器件的电信号,从而得到待测试器件的管脚间的阻抗值,提高了阻抗测试的效率,本申请通过测试组件和下压组件的设置,降低了阻抗测试的操作难度,提高了阻抗测试的准确率和效率。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
附图用来提供对本申请技术方法的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方法,并不构成对本申请技术方法的限制。
图1是本申请实施例提供的阻抗测试装置的结构示意图;
图2是本申请实施例提供的测试组件的结构示意图;
图3是本申请实施例提供的下压组件的结构示意图;
图4是本申请实施例提供的安装底座的俯视图。
附图标记:
安装底座100;基板110;限位件111;弹性固定夹112;支撑座120;
测试组件200;测量装置210;安装块211;探针212;定位件213;转接装置220;转接板221;金手指222;转接孔223;定位孔224;
下压组件300;支撑架310;锁紧装置320;肘夹321;弹性压头322;伸缩件323;调节螺母324。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请实施例。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请实施例的描述。
需要说明的是,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
还应当理解,在本申请实施例说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请实施例的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此,在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例,而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”,除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”,除非是以其他方式另外特别强调。
在本申请的描述中,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在阻抗测量过程中,阻抗测试治具通常采用手持式探针以手动的方式在阻抗测试模块,即待测试器件上采集信号进行测量,该测试方式因为手动的不确定性,容易造成探针与接触点接触不良导致阻抗值测量不准确或阻抗值误判的现象,降低了阻抗测试的准确率,进而降低了阻抗测试的效率。另外,该阻抗测试治具也容易因重复频繁移动造成探针以及连接部位的损坏,阻抗测试治具的使用寿命较低,使用成本较高。
基于此,本申请提供一种阻抗测试治具,本申请实施例提供的阻抗测试治具通过测试组件和下压组件的设置,降低了阻抗测试的操作难度,提高了阻抗测试的准确率和效率。
下面结合附图对本申请做进一步阐述。
参照图1至图4,本申请提供一种阻抗测试治具,本申请实施例提供的测试治具包括安装底座100、测试组件200和下压组件300。
其中,安装底座100上设置有测试位,测试位用于放置待测试器件。
测试组件200包括测量装置210和转接装置220,测量装置210包括安装块211和多个探针212,多个探针212贯穿安装块211设置,多个探针212的第一端与转接装置220连接,在对待测试器件进行测试时,测试组件位于测试位上方,多个探针212的第二端与待测试器件连接,转接装置220与外接测试板连接。
下压组件300装置包括支撑架310和锁紧装置320,支撑架310的第一端与安装底座100连接,支撑架310的第二端与锁紧装置320连接,锁紧装置320设置于测试位上方,在对待测试器件进行测试时,锁紧装置320用于将测试组件200锁紧在待测试器件上方。
需要说明的是,本申请实施例提供的阻抗测试治具在对待测试器件进行阻抗测量时,通过锁紧装置320将测试组件200锁紧在待测试器件上方,使得测量装置210的探针212与待测试器件相连接,即测量装置210的探针212与待测试器件的管脚一一对应连接,能够通过一次安装操作将待测试光器件的管脚电信号全部引出,降低了操作难度,提高了阻抗测试的准确率,同时外接测试板通过转接装置220和测量装置210能够一次性读取待测试器件的电信号,从而得到待测试器件的管脚间的阻抗值,提高了阻抗测试的效率,本申请通过测试组件200和下压组件300的设置,降低了阻抗测试的操作难度,提高了阻抗测试的准确率和效率。
需要说明的是,在对待测试器件进行测试时,锁紧装置320将测试组件200锁紧在待测试器件上方,使探针212与待测试器件的管脚一一对应连接,能够减少探针212在阻抗测试的过程中发生滑动等问题,进而减少探针212与管脚接触不良等情况的产生,提高了阻抗测试的准确率。
需要说明的是,探针212与待测试器件的管脚一一对应,能够提高探针212与待测试器件管脚接触的准确定与稳定性。
需要说明的是,在对待测试器件进行阻抗测试时,探针212与待测试器件的管脚一一对应连接,探针212将待测试器件的管脚的电信号通过转接装置220发送给外接测试板,外接测试板能够根据测量需要选取对应的待测试器件的管脚的电信号并进行处理,得到对应的阻抗并展示给用户,或者,外接测试板能够将待测试器件对待测试器件的所有管脚的电信号进行处理,从而得到每两个管脚之间的阻抗值并展示给用户,用户可根据需要选取待测试器件的阻抗值。
需要说明的是,转接装置220与外接测试板电连接,另外,转接装置220与外接测试板之间的连接为可拆卸连接,在阻抗测试的过程中,可将转接装置220与外接测试板进行连接,在其余时刻,可将转接装置220与外接测试板分开设备,便于对转接装置220、外接测试板进行收纳。具体地,转接装置220能够通过连接线与外接测试板连接,连接线的两端分别与转接装置220、外接测试板进行可拆卸连接,这样的设置便于对连接线进行更换,从而实现对转接装置220与外接测试板之间距离的调整,提高了阻抗测试的灵活性,另外,降低了转接装置220与外接测试板之间连接的维护成本。
需要说明的是,支撑架310的设置为锁紧装置320提供了安装空间,支撑架310的第一端与安装底座100进行可拆卸连接,支撑架310的第二端与锁紧装置320进行可拆卸连接,便于分别对支撑架310、锁紧装置320进行更换,提高了阻抗测试治具的适用性,具体地,当待测试器件的高度过高,从而导致通过锁紧装置320所能调节的高度范围无法适用于该待测试器件时,可通过更换支撑架310以调整锁紧装置320与待测试器件之间的高度,或者,通过更换锁紧装置320以调整锁紧装置320与待测试器件之间的高度。另外,支撑架310的可拆卸设置便于对支撑架310或锁紧装置320进行更换维修。
可以理解的是,参照图2,转接装置包括转接板221,转接板221与安装块211可拆卸连接。
需要说明的是,转接板221与安装块211之间进行可拆卸连接,便于根据待测试器件的管脚位置关系对安装块211进行更换,提高了阻抗测试治具的适用性。
可以理解的是,参照图2,转接板221上设置有多个金手指222,金手指222与探针212连接,转接板221设置有多个转接孔223,转接孔223与金手指222连通,且转接孔223与外接测试板电连接。
需要说明的是,转接板221内部设置有多个连接线,连接线的两端分别与金手指222、转接孔223连接,以使得金手指222与转接孔223电连接,且转接孔223与外接测试板电连接,使得外接测试板能够通过转接装置220、测量装置210获取待测试器件的电信号。
可以理解的是,安装块211设置有多个安装孔,多个探针212可拆卸设置于安装孔内。
需要说明的是,探针212可拆卸设置于安装孔内,当单个探针212发生损坏时,可将损坏的探针212进行替换,提高了阻抗测量装置210的使用寿命,且单个探针212更换的成本较低,能够有效降低阻抗测量装置210的维护成本。
需要说明的是,探针212的直径与安装孔的内直径相同,探针212安装于安装孔内,当对待测试器件进行测试时,探针212的一端与待测试器件的管脚连接,探针212的另一端与转接板221上的金手指222进行连接,下压组件300,即锁紧装置320将测试组件200下压,使得探针212与待测试器件的管脚进行紧密连接,能够减少探针212在阻抗测试过程中发生位移等情况。
需要说明的是,当探针212发生损坏时,通过夹取探针212的一端,以使损坏的探针212脱离安装块211的安装孔,之后,可放置完好的探针于该安装孔内,实现对探针212的更换,或者,对转接板221与安装块211进行拆卸使得安装块211单独设置,通过在安装块211的第一端按动探针212,使得探针212从安装块211的第二端脱离,之后,可放置完好的探针于该安装孔内,实现对探针212的更换。安装块211的第一端可以为安装块211与转接板221连接的一端,也可以为安装块211与待测试器件连接的一端,而安装块211的第二端为与第一端相对的一端。
可以理解的是,参照图2,安装块211上设置有定位件213,转接板221上设置有定位孔224,定位件213与定位孔224相匹配。
需要说明的是,安装块211上设置有定位件213,转接板221上设置有定位孔224,安装块211和转接板221通过定位件213和定位孔224进行定位,使得探针212能够与金手指222进行一一对应连接。
需要说明的是,定位件213可以为销钉、定位块等,本申请实施例中,定位件213设置为销钉。
需要说明的是,安装块211与转接板221通过螺栓实现可拆卸连接。
可以理解的是,参照图3,锁紧装置320包括肘夹321和弹性压头322,肘夹321设置于支撑架310上,肘夹321与弹性压头322连接,在对待测试器件进行测试时,弹性压头322设置于测试组件200上方。
需要说明的是,锁紧装置320包括肘夹321,肘夹321安装在支撑架310上,肘夹321的一端与弹性压头322连接,肘夹321能够控制弹性压头322进行上下移动,在对待测试器件进行测试时,弹性压头322设置于测试组件200上方,以将测试组件200锁紧在待测试器件上方,弹性压头322的设置,使得测试时测试组件200与待测试器件之间的压力可调,起到保护待测试器件和测试组件200的作用。
需要说明的是,肘夹321通过螺栓的方式与支撑架310进行可拆卸连接,便于对肘夹321进行维修。
需要说明的是,支撑架310的第二端的形状与肘夹321相适配,便于支撑架310的第二端与肘夹进行连接,在一实施例中,肘夹321与支撑架310连接的一端设置为方形,对应的,支撑架310的第二端的形状设置为方形,该设置使得肘夹321与支撑架310之间的连接更加稳定、牢固。
需要说明的是,支撑架310与肘夹321之间设置有安装板,肘夹321通过安装板与支撑架310进行可拆卸连接。
需要说明的是,在对待测试器件进行阻抗测试时,将待测试器件放在待检测位,之后将测试组件200放在待检测位上方,并将测试组件200的探针212与待测试器件的管脚一一对应,另外,锁紧装置320位于待检测位上方,通过肘夹321控制弹性压头322下压,能够将测试组件锁紧在待测试器件上方,且弹性压头322的设置,使得测试时测试组件200与待测试器件之间的压力可调,起到保护待测试器件和测试组件200的作用。
需要说明的是,弹性压头322的材料使用尼龙塑料,尼龙塑料具有弹性,使得弹性压头322与测试组件200之间的压力可调。
可以理解的是,参照图3,锁紧装置320还包括伸缩件323,伸缩件323的第一端与弹性压头322连接,伸缩件323的第二端通过螺纹与肘夹321进行连接。
需要说明的是,锁紧装置320还包括伸缩件323,伸缩件323的第一端与弹性压头322连接,伸缩件323的第二端通过螺纹与肘夹321进行连接,通过螺纹能够对伸缩件323与肘夹321的连接长度进行调整,从而对弹性压头322的高度进行调整。
需要说明的是,肘夹321与伸缩件323连接的一端设置有内螺纹,伸缩件323设置有外螺纹,内螺纹与外螺纹相匹配,通过旋转伸缩件323能够对伸缩件323与肘夹321的连接长度进行调整,从而实现对弹性压头322的高度的调整。
需要说明的是,在对待测试器件进行阻抗测试时,将待测试器件放在待检测位,之后将测试组件200放在待检测位上方,并将测试组件200的探针212与待测试器件的管脚一一对应,另外,锁紧装置320位于待检测位上方,若当前弹性压头322与测试组件200之间的距离较远时,可通过旋转伸缩件323对伸缩件323与肘夹321的连接长度进行调整,从而实现对弹性压头322的高度的调整,之后,通过肘夹321控制弹性压头322下压,以将测试组件锁紧在待测试器件上方。
需要说明的是,伸缩件323可以通过螺纹的方式与弹性压头322进行可拆卸连接。
可以理解的是,参照图3,伸缩件323的第二端设置有调节螺母324。
需要说明的是,当伸缩件323与肘夹321连接部分过短时,伸缩件323可能会发生晃动,从而影响阻抗测试精度,为解决这一问题,本申请在伸缩件323的第二端,即伸缩件323与肘夹321连接的一端设置有调节螺母324,调节螺母324位于伸缩件323与肘夹321的连接处,调节螺母324的设置,能够减少伸缩件323的晃动,从而提高阻抗测试精度。
需要说明的是,调节螺母324的数量可根据伸缩件323的长度进行设置,其中一个调节螺母324位于伸缩件323与肘夹321的连接处,其余调节螺母324可设置于肘夹321与弹性压头322之间,进一步减少伸缩件323的晃动,提高阻抗测试精度。
需要说明的是,本申请实施例的阻抗测试治具设置有两个调节螺母324,一个调节螺母324位于伸缩件323与肘夹321的连接处,另一个调节螺母324可设置于肘夹321与弹性压头322之间,能够进一步减少伸缩件323的晃动,提高阻抗测试精度。
可以理解的是,参照图4,安装底座100上设置有基板110,待测试器件设置于基板110上,基板110上设置有多个限位件111,多个限位件111设置于待测试器件的至少相邻两侧。
需要说明的是,安装底座100的测试位处还设置有基板110,待测试器件设置于基板110上,且基板110设置有多个限位件111,多个限位件111设置于待测试器件的至少相邻两侧,以对待测试器件进行限位。
需要说明的是,限位件111的设置能够对待测试器件进行限位,减少待测试器件在阻抗测试过程中发生位移的情况,能够进一步提高阻抗测试的准确度。
需要说明的是,限位件111可拆卸设置于安装底座100上,该设置便于根据待测试器件的形状调整限位件111的位置。
需要说明的是,基板110可通过螺栓的方式固定在安装底座100上。
需要说明的是,限位件111可设置于待测试器件的相邻两侧,或者设置于待测试器件的三个侧面,甚至,多个限位件111可沿待测试器件周向设置,从而提高对待测试器件的限位精度。
需要说明的是,限位件111可以设置为限位块、销钉等,本申请实施例中,限位件111设置为销钉。
需要说明的是,安装底座100上设置有多个销钉,多个销钉设置于基板110的至少相对两侧,以对基板110进行限位。
可以理解的是,参照图4,基板110上还设置有弹性固定夹112,弹性固定夹112的第一端与基板110连接,在对待测试器件进行测试时,弹性固定夹112的第二端与待测试器件相抵接。
需要说明的是,基板110上设置有弹性固定夹112,弹性固定夹112的一端与基板110进行连接,在对待测试器件进行测试时,弹性固定夹112的另一端与待测试器件相抵接,以使弹性固定夹112与限位件111相配合,进一步提高对待测试器件的限位精度。
需要说明的是,弹性固定夹112与其中一个限位件111分别设置于待测试器件的相对两侧,弹性固定夹112与限位件111在待测试器件的相对的两侧,便于对待测试器件进行固定。
需要说明的是,弹性固定夹112包括弹性件和限位块,弹性件的一端固定在基板110上,弹性件的另一端与限位块连接,弹性件用于驱动限位块朝向待测试器件的方向移动。在对待测试器件进行阻抗测试时,弹性件驱动限位块朝向待测试器件的方向移动,限位块与与限位件111相配合,以实现对待测试器件的限位,且进一步提高了对待测试器件的限位精度。另外,弹性件可以设置为弹性膜片、弹簧等装置。
可以理解的是,参照图4,安装底座100上还设置有支撑座120,支撑座120用于放置测试组件200。
需要说明的是,安装底座100上设置有支撑座120,在对待测试器件进行测试时,测试组件200位于待测试器件的上方,在非测试期间,测试组件200放置在支撑座120上。
需要说明的是,支撑座120与检测位间隔一定距离设置,以使支撑座的设置不会对待测试器件的放置造成影响。
需要说明的是,支撑座120可拆卸设置于安装底座100上,因为测试组件200的探针212与待测试器件的管脚一一对应设置,所以测试组件200的形状也会因为待测试器件的更换而改变,而支撑座120与安装底座100之间的可拆卸设置,便于根据测试组件200的形状对支撑座120进行更换。
需要说明的是,安装底座100上可设置有多个供支撑座120安装的位置,且支撑座120与安装底座100可拆卸连接,根据待测试器件的形状、大小等,可更换支撑座120的安装位置,有利于对待测试器件进行阻抗测试。
需要说明的是,支撑座120通过螺栓连接方式固定在安装底座100上。
可以理解的是,支撑座120采用防静电材料制作。
需要说明的是,支撑座120采用防静电材料制作,且支撑座120用于放置非测试状态下的测试组件200,能够减少探针212的非测试损耗,提高探针212的使用寿命,进而提高阻抗测试治具的使用寿命。
需要说明的是,防静电材料是一种用于防止静电的材料,它在避免静电的同时,也可以降低阻抗测试治具的故障率,提高阻抗测试效率。
需要说明的是,支撑座120采用防静电材料制作,而防静电材料的种类繁多,具体可以设置为导电材料、抗静电塑料、阻抗复合材料等,即支撑座120可以采用导电材料、抗静电塑料、阻抗复合材料进行制作。
可以理解的是,安装块211的形状符合干涉规避要求。
需要说明的是,待测试器件的结构复杂,在待测试器件的管脚周围存在光纤、光纤架、电阻、芯片等器件,阻抗测试时需要进行规避,以避免安装块211与待测试器件发生干涉。因此,安装块211的形状需要符合干涉规避要求,即在需要规避的元器件上方,安装块211进行中空设置。
需要说明的是,参照图1至图4,在非测试期间,测试组件200设置于支撑座120上,在对待测试器件进行测试时,通过人工或者机械手将测试组件200放置于待测试器件上方,使得测试组件200中测量装置210的探针212与待测试器件的管脚一一对应,另外,测量装置210的探针212与转接装置220上的金手指222进行一一对应连接,之后,根据待测试器件的高度,使用伸缩件323对弹性压头322的高度进行调整,高度调整完毕后,通过肘夹321控制弹性压头322下压,从而将测试组件200锁紧在待测试器件上方,外接测试板通过转接装置220和测量装置210获取待测试器件的电信号,从而得到待测试器件各个管脚之间的阻抗,本申请提供的测试组件200能够通过一次安装操作将待测试光器件的管脚电信号全部引出,降低了操作难度,提高了阻抗测试的准确率,同时外接测试板通过转接装置220和测量装置210能够一次性读取待测试器件的电信号,从而得到待测试器件的管脚间的阻抗值,提高了阻抗测试的效率,另外,探针212可拆卸设置于安装块211的安装孔内,能够根据需要对探针212进行更换,从而降低了阻抗测试治具的制作成本。本申请实施例提供的阻抗测试治具通过测试组件200和下压组件300的设置,降低了阻抗测试的操作难度,提高了阻抗测试的准确率和效率。
上面结合附图对本申请实施例作了详细说明,但是本申请不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本申请宗旨的前提下作出各种变化。此外,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
Claims (13)
1.一种阻抗测试治具,包括:
安装底座,所述安装底座上设置有测试位,所述测试位用于放置待测试器件;
测试组件,所述测试组件包括测量装置和转接装置,所述测量装置包括安装块和多个探针,多个所述探针贯穿所述安装块设置,多个所述探针的第一端与所述转接装置连接,在对所述待测试器件进行测试时,所述测试组件位于所述测试位上方,多个所述探针的第二端与所述待测试器件连接,所述转接装置与外接测试板连接;
下压组件,所述下压组件包括支撑架和锁紧装置,所述支撑架的第一端与所述安装底座连接,所述支撑架的第二端与所述锁紧装置连接,所述锁紧装置设置于所述测试位上方,在对所述待测试器件进行测试时,所述锁紧装置用于将所述测试组件锁紧在所述待测试器件上方。
2.根据权利要求1所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述转接装置包括转接板,所述转接板与所述安装块可拆卸连接。
3.根据权利要求2所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述转接板上设置有多个金手指,所述金手指与所述探针连接,所述转接板设置有多个转接孔,所述转接孔与所述金手指连通,且所述转接孔与外接测试板电连接。
4.根据权利要求2所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述安装块设置有多个安装孔,多个所述探针可拆卸设置于所述安装孔内。
5.根据权利要求2所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述安装块上设置有定位件,所述转接板上设置有定位孔,所述定位件与所述定位孔相匹配。
6.根据权利要求1所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述锁紧装置包括肘夹和弹性压头,所述肘夹设置于所述支撑架上,且所述肘夹与所述弹性压头连接,在对所述待测试器件进行测试时,所述弹性压头设置于所述测试组件上方。
7.根据权利要求6所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述锁紧装置还包括伸缩件,所述伸缩件的第一端与所述弹性压头连接,所述伸缩件的第二端通过螺纹与所述肘夹进行连接。
8.根据权利要求7所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述伸缩件的第二端设置有调节螺母。
9.根据权利要求1所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述安装底座上设置有基板,所述待测试器件设置于所述基板上,所述基板上设置有多个限位件,多个限位件设置于所述待测试器件的至少相邻两侧。
10.根据权利要求9所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述基板上还设置有弹性固定夹,所述弹性固定夹的第一端与所述基板连接,在对所述待测试器件进行测试时,所述弹性固定夹的第二端与所述待测试器件相抵接。
11.根据权利要求1所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述安装底座上还设置有支撑座,所述支撑座用于放置所述测试组件。
12.根据权利要求11所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述支撑座采用防静电材料制作。
13.根据权利要求1所述的阻抗测试治具,其特征在于,所述安装块的形状符合干涉规避要求。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321821602.4U CN220367350U (zh) | 2023-07-11 | 2023-07-11 | 阻抗测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321821602.4U CN220367350U (zh) | 2023-07-11 | 2023-07-11 | 阻抗测试治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220367350U true CN220367350U (zh) | 2024-01-19 |
Family
ID=89520827
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321821602.4U Active CN220367350U (zh) | 2023-07-11 | 2023-07-11 | 阻抗测试治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220367350U (zh) |
-
2023
- 2023-07-11 CN CN202321821602.4U patent/CN220367350U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20020057098A1 (en) | Probe contract system having planarity adjustment mechanism | |
EP2051293A1 (en) | Parallelism adjusting mechanism of probe card | |
CN114252838B (zh) | 一种mems垂直探针综合测试平台及测试方法 | |
CN216117737U (zh) | 带触发功能的压力可调芯片加电探针机构 | |
CN220367350U (zh) | 阻抗测试治具 | |
KR100428782B1 (ko) | 포고 핀 탄성 측정장치 | |
CN114252658A (zh) | 测试装置 | |
JP3244049U (ja) | アンプ電気性能試験装置 | |
CN201765257U (zh) | 二极管裸芯片电磁铁弹性探针 | |
CN112903022B (zh) | 一种探针测试系统、其操作方法及检测方法 | |
CN217561545U (zh) | 一种dfn系列半导体芯片的测试模组 | |
CN217425653U (zh) | 一种霍尔效应测量用带探针的样品台 | |
CN205067627U (zh) | 一种探针测试装置 | |
CN211743100U (zh) | 一种半导体的真空吸附检测装置 | |
CN211741374U (zh) | 一种pcb探针的单头万向测试架 | |
CN218068160U (zh) | 一种检测模块及检测治具 | |
CN219015873U (zh) | 一种配合弯曲疲劳试验的夹持工装 | |
CN210604690U (zh) | 一种电参数测试工站及测试设备 | |
CN215116510U (zh) | 一种用于分流电阻器的无损测试夹具 | |
CN218824398U (zh) | 电路板测试工装 | |
CN219715619U (zh) | 一种用于焊板电阻测试的装置 | |
CN219811022U (zh) | Vcm半自动电测机 | |
CN219737236U (zh) | 一种芯片无损红外检测的载具 | |
CN220251995U (zh) | 一种触摸屏假压电测夹具 | |
CN216051879U (zh) | 一种悬臂针使用测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |