CN201765257U - 二极管裸芯片电磁铁弹性探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机构与测试移动架连接；所述测试机构具有呈L形支撑架，该L形支撑架的横架具有的通孔上安装一个带有探针管的探针管座，该探针管穿过L形支撑架的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架的立架上设置一个安装座及其上安装的电磁铁，该电磁铁上端连接电源导线；电磁铁下端通过带有的螺纹与安装座连接，使电磁铁下端穿过安装座接于绝缘块，其两体也是通过螺纹；其中绝缘块一侧端连接一个靠紧铜块，在所述绝缘块与靠紧铜块之间的配合端垂直安装有探针，该探针分别穿过探针管座和探针管。通过电磁铁的吸合和释放来实现弹性探针的往复运动。取代了以往探针台Z轴的往复运动，节省了空间和成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，保证了探针与芯片上的压焊点接触，把信号反馈给与探针相连接的测试仪，通过测试仪对产品电路进行分析，并对相应的芯片进行标注，还可以对集成电路、三极管、可控硅及敏感元件进行测试。
背景技术
一般情况下，一张二极管片子上布置很多的二极管裸芯片，二极管裸芯片完成线路布置后，为确定每个二极管裸芯片的每条线路是否正常导通，需要用测试探针予以测试，测试探针的针尖接触测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针与测试仪连接起来。测试仪是一种分析集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯好坏的测试装置。
目前探针台上使用的探针，结构通常是带一个弯角的针直接连接在可调节的探针座上，探针座通过螺钉紧定在探针台的针盘上。探针座通常用来微动调节探针与压焊点接触的移动部件，可以实现XYZ三方向手动微调，它的作用在使用前前与一组芯片各压焊点接触好以后，就不在调节。采用目前结构的探针，每测一组二极管裸芯片时，通常测试台承片台要下降一定高度后，等待承片台移动到下一个二极管裸芯片的位置后再提升到原来高度进行测试，这就要求承片台往复延Z轴运动，这对承片台的往复定位精度要求很高，而通常Z轴方向的运动通过小的步进电机来完成，电机的运动就会出现丢步或者误差，从而导致承片台重复运动定位精度不准确，会导致芯片与探针间的冲击或芯片与探针接触不良等问题。
发明内容
鉴于上述现状，本实用新型提供了一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，从而有效解决了二极管裸芯片测试过程中，对探针冲击损坏及探针与裸芯片接触不良问题。
本实用新型的技术解决方案是：一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机构与测试移动架连接；所述测试机构具有呈L形支撑架，该L形支撑架的横架具有的通孔上安装一个带有探针管的探针管座，该探针管穿过L形支撑架的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架的立架上设置一个安装座及其上安装的电磁铁，该电磁铁上端连接电源导线；电磁铁下端通过带有的螺纹与安装座连接，使电磁铁下端穿过安装座接于绝缘块，其中绝缘块一侧端连接一个靠紧铜块，在所述绝缘块与靠紧铜块之间的配合端垂直安装有探针，该探针分别穿过探针管座和探针管。这样，可利用二极管裸芯片电磁铁弹性探针上的电磁铁的吸合和释放来实现弹性探针的往复运动。
根据本实用新型的特点，所述靠紧铜块侧面对称有V型槽，用以同绝缘块结合时靠紧探针。
在本新型中，所述的探针，其探针针尖圆角R＝0.2mm，主要利用探针接触被检测的芯片。
本实施例所指的绝缘块，材质为尼龙。靠紧铜块的材质为黄铜。
总之，本实用新型提供的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，通过安装的电磁铁及探针，检测时，利用通、断电的电磁铁使其吸合或释放来实现弹性探针的往复运动。当利用所述探针进行测试时，探针可以根据测试要求往复运动，重复性好，从而使探针与二极管裸芯片线路接触良好，以得到更精确的信号。本实用新型的二极管裸芯片电磁铁弹性探针可应用于各种二极管裸芯片及对集成电路、三极管、可控硅及敏感元件进行测试。
附图说明
图1是本实用新型的结构视图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行进一步详细描述。
见图1所示，包括呈L形支撑架6，该L形支撑架6的横架具有的通孔上，通过螺纹安装连接一个带有探针管8的探针管座7，该探针管8穿过L形支撑架6的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架6的立架上设置一个安装座2及其上通过螺纹安装电磁铁1，则电磁铁1下端穿过安装座2，通过螺纹连接绝缘块3，该电磁铁1上端连接电源导线；其中绝缘块3一侧端连接一个靠紧铜块4及其中部具有一个V槽，通过螺钉5与绝缘块3固定连接；在所述绝缘块3与靠紧铜块4的V槽之间的配合端垂直安装有探针9，其探针9的针尖圆角R＝0.2mm，使探针9分别穿过探针管座7和探针管8。本实施例的L形支撑架6的立架两侧开有V型槽，利用L形支撑架6的V型槽安装在三维移动架(图中未给出)上。
当利用所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针进行测试时，对电磁铁通、断电，电磁铁1动作，带动绝缘块3及靠紧铜块4向上或向下运动，控制探针9随之运动，具有重复性好，从而使探针与二极管裸芯片线路接触良好，以得到更精确的信号，消除了定位误差和冲击的影响。
实施本实用新型的关键，将探针与电磁铁相连接，在每测一组二极管裸芯片时，探针可以自动抬起与释放，这就实现针尖与芯片的接触与脱离，而且电磁铁行程一定，重复精度好，取代了现行技术的承片台Z向的往复运动。也解决的因承片台往复运动带来的冲击与接触不良等问题。
Claims (5)
1.二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机构与测试移动架连接；其特征在于，所述测试机构具有呈L形支撑架(6)，该L形支撑架(6)的横架具有的通孔上安装一个带有探针管(8)的探针管座(7)，该探针管(8)穿过L形支撑架(6)的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架(6)的立架上设置一个安装座(2)及其上安装的电磁铁(1)，该电磁铁(1)上端连接电源导线；电磁铁(1)下端通过带有的螺纹与安装座(2)连接，使电磁铁(1)下端穿过安装座(2)接于绝缘块(3)，其中绝缘块(3)一侧端连接一个靠紧铜块(4)，在所述绝缘块(3)与靠紧铜块(4)之间的配合端垂直安装有探针(9)，该探针(9)分别穿过探针管座(7)和探针管(8)。
2.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述L形支撑架(6)侧面对称有V型槽。
3.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，探针针尖圆角R＝0.2mm。
4.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述的绝缘块，为尼龙材料。
5.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述的靠紧铜块为黄铜材料。
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