CN220171170U - 一种老化试验产线 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种老化试验产线，其节省了装载盒的使用，使得产线成本降低，同时能用于采用端电极封装方式的电容。其包括上料工位、老化夹具安装工位、老化试验工位，所述上料工位用于将电容置于老化板中，所述老化板上开设有多个用于放置电容的定位槽，每个所述定位槽的槽底设有触点电极，所述触点电极与所述老化板表面的加电端一相连；所述老化夹具安装工位用于将上针板与所述老化板连接形成老化夹具，所述上针板底部设有与每个所述定位槽相对应的探针，当所述上针板与所述老化板连接后，所述探针与所述老化板表面的加电端二相连。

Description

一种老化试验产线

技术领域

本实用新型涉及电子元件老化试验技术领域，具体为一种老化试验产线。

背景技术

大批量生产高可靠MLCC（贴片电容），通常需要有效的、有一定时间的加电加温老化筛选，以筛除有隐患的电容，使通过老化的合格电容具有较高的可靠性，由于MLCC产量大，需要老化的MLCC也数量众多，所以需要在一批次的老化过程中能够同时对大批量电容进行老化。

目前涉及到批量老化的现有技术例如申请人早日申请的专利电容老化及测试的检测线（公开号CN218890862U），其包括装盒机、装板机、装架机、老化装置、取板机、拆板机、测试装置等，由于其需要在该产线中完成老化试验和参数测试，为此采用了装载盒装载电容，这样电容能够在老化试验和参数测试中始终位于同一装载盒内便于数据跟踪，具体的，在老化前先通过装盒机将电容装入装载盒，然后再将多个装载盒通过装板机安装在一块老化板上形成老化夹具，通过老化板将电容电极引出至老化板端部的金手指上，为了进一步增加同时进行老化的电容数量，还设有老化架，通过装架机将多个老化夹具连接在老化架上，再通过将老化架置入老化装置中来对老化架上所有的电容进行加电老化，完成老化后再依次通过取板机将老化夹具从老化架上取下、通过拆板机使装载盒与老化板分离，分离出的装载盒再置入测试装置的测试轨道中进行测试，但是结合该专利附图14及其引用的专利（公开号：CN208224312U）中所描述的内容，其都是用于钽电容、叠铝电容这些电极均位于电容同一面的电容（图1中a处即为两个朝上的电极），而对于采用端电极封装方式的MLCC等电极位于其相对两端的电容则不能适用，同时有时候只需要进行老化试验而不需要进行参数测试，也就没必要采用装载盒，如果仍采用装载盒将会导致成本的增加。

实用新型内容

针对现有电容老化检测线采用装载盒导致成本高，且不能适用于采用端电极封装方式的电容的问题，本实用新型提供了一种老化试验产线，其节省了装载盒的使用，使得产线成本降低，同时能用于采用端电极封装方式的电容。

其技术方案是这样的：一种老化试验产线，其包括上料工位、老化夹具安装工位、老化试验工位，其特征在于：所述上料工位用于将电容置于老化板中，所述老化板上开设有多个用于放置电容的定位槽，每个所述定位槽的槽底设有触点电极，所述触点电极与所述老化板表面的加电端一相连；

所述老化夹具安装工位用于将上针板与所述老化板连接形成老化夹具，所述上针板底部设有与每个所述定位槽相对应的探针，当所述上针板与所述老化板连接后，所述探针与所述老化板表面的加电端二相连。

其进一步特征在于：

所述老化夹具中的电容分别串联连接有保护元件；

所述老化夹具上设有与每个电容对应的触点电极和探针分别对应相连的测试触点；老化试验产线还包括电容接触测试工位，所述电容接触测试工位包括用于与所述测试触点连接并形成回路的电容接触测试装置；

所述电容接触测试工位设于老化试验工位前；

所述电容接触测试工位设于老化试验工位后；

所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构压覆在所述老化板上，所述电容上料装置包括料斗框和刮板，所述料斗框中间设有落料缺口并且所述料斗框中间向内延伸形成有位于所述落料缺口端部的存料板，当所述电容上料装置压覆在所述老化板上时，所述老化板上的定位槽位于所述落料缺口内，所述刮板用于将存料板上的电容刮入所述定位槽内；

所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构压覆在所述老化板上，所述电容上料装置包括料斗框和刮板，所述料斗框中间设有筛板，所述筛板上设有与所述定位槽相对应的落料孔，所述刮板用于将筛板上的电容刮入所述落料孔内；

所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构贴近所述老化板，所述电容上料装置包括料斗框和振动装置，所述料斗框中间设有落料缺口并且所述料斗框中间向内延伸形成有位于所述落料缺口端部的存料板，当所述电容上料装置压覆在所述老化板上时，所述老化板上的定位槽位于所述落料缺口内，所述振动装置用于产生晃动并使电容在所述老化板上移动；

所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构贴近所述老化板，所述电容上料装置包括料斗框和振动装置，所述料斗框中间设有筛板，所述筛板上设有与所述定位槽相对应的落料孔，所述振动装置用于产生晃动并使电容在筛板上移动；

所述老化试验工位前还设有老化架安装工位，所述老化试验工位后还设有老化架拆除工位、老化夹具拆除工位、不合格品剔除工位和下料工位。

有益效果：由于上料时电容直接置于老化板的定位槽中，不再需要使用装载盒来放置电容，有效节省了产线成本，同时定位槽底部设有触点电极并且老化板通过与底部设有探针的上针板连接形成老化夹具，触点电极分别和探针分别与位于电容上下两端的电极接触，从而适用于采用端电极封装方式的电容。

附图说明

图1为现有装载盒结构示意图；

图2为老化板结构示意图；

图3为上针板与老化板结构示意图；

图4为上料工位、老化夹具安装工位结构示意图；

图5为图4的俯视图；

图6为老化板与料斗框的结构示意图（具有筛板）；

图7为图6中A处放大示意图；

图8为老化板与料斗框的结构示意图（不具有筛板）；

图9为加电电路示意图；

图10为老化架结构示意图。

具体实施方式

结合图4、图5所示的一种老化试验产线，其包括上料工位1、老化夹具安装工位2、老化架安装工位、老化试验工位，其中，上料工位用于将电容置于如图2所示的老化板100中，老化板100上开设有多个用于放置电容的定位槽101，每个定位槽101的槽底设有触点电极102（结合图7），触点电极102与老化板100表面的加电端一通过印刷在老化板100表面的线路相连；老化夹具安装工位2用于将上针板104与老化板100连接形成老化夹具105，如图3所示，上针板104底部设有与每个定位槽相对应的探针106，当上针板104与老化板100连接后，探针106与老化板100表面的加电端二相连，多个加电端一和加电端二汇集于老化板100端部的金手指插头103。

具体的，上料工位1包括用于输送老化板100的输送轨道3，上料工位1处可以采用类似于现有的将电容上料至装载盒中的振盘及吸头机构来进行上料（可以参见公开号CN218890862U的专利中关于装盒机的描述），这样通过振盘将电容送至上料轨道后通过吸头逐颗或者一次性多颗将电容置于定位槽101中；也可以才如图6所示的机构进行上料，此时，输送轨道3上方安装有电容上料装置200，电容上料装置200通过位移机构贴近或压覆在位于前正下方的老化板100上（图6中位于上方的图是压覆前，位于下方的图是压覆后），电容上料装置200包括料斗框201和刮板202，料斗框201中间设有筛板203，结合图7所示，筛板203上设有与定位槽相对应的落料孔204，刮板202用于将筛板203上的电容刮入落料孔204内，落料孔204和定位槽101的尺寸与电容竖直状态的截面尺寸相对应，使得电容落入定位槽和落料孔内时，保证其是竖直状态（竖直状态指电容的电极位于顶端和底端），这样输送轨道上的老化板在位于电容上料装置处时，可以使电容上料装置下压，然后使刮板水平运动将电容至筛板上，电容能够竖直落入定位槽内实现电容上料，图中206为电容堆。

另外的一种电容上料装置的结构如下：如图8所示，与上述结构不同的是，料斗框201中间设有落料缺口204并且料斗框201中间向内延伸形成有位于落料缺口端部的存料板205，当电容上料装置压覆或贴近在老化板上时，老化板100上的定位槽101位于落料缺口204内，刮板202用于将存料板上的电容刮入定位槽内，这样可以不采用筛板，之间将电容刮入定位槽内，只需通过存料板来储存堆积的电容堆206。还可以采用振动装置通过振动料斗框、老化板来使电容运动从而落入定位槽内，这样就可以通过振动装置替换刮板的使用。

完成上料后，老化板100进入老化夹具安装工位2，该工位上位于输送轨道一侧设有上针板堆积处，可以人工将上针板放置于老化板上，当然为了实现自动化作业，可以通过夹爪或者吸盘吸取上针板后通过横向输送机构来搬运上针板并放置在老化板上，之后进入后道拧螺丝工位，通过螺丝拧紧装置4将上针板与老化板固定形成老化夹具（也可以使上针板和老化板之间通过卡扣连接，这样在将上针板放置在老化板上时直接通过压力下压使得上针板与老化板扣接在一起），这样电容上下两端通过探针和触点电极实现电容固定。

之后的老化架安装工位、老化试验工位类似于现有检测线（公开号CN218890862U的专利）中的装架机、老化装置（例如使用老化箱），将老化夹具沿着如图10所示的老化架5上的导槽501插入老化架，老化架上一次性能够装载多个老化夹具，然后整体置入老化装置中进行老化试验，当然也可以不采用老化架直接将老化夹具插入老化箱中，类似的，老化试验工位后还设有老化架拆除工位（用于将老化夹具从老化架中取出）、老化夹具拆除工位（用于将上针板从老化板上拆下）、不合格品剔除工位（用于剔除不合格电容）和下料工位（用于倒出试验完成合格的电容），其中下料工位可以通过控制老化板翻转来倒出其中电容。

另外，结合图9所示，当上针板安装在老化板上后，老化板中的电容分别串联连接有保护元件6（保护电阻）后相互并联，图9中点B、C分别为加电端一、二，通过设置保护电阻能够防止短路。

老化夹具上设有与每个电容对应的触点电极和探针分别对应相连的测试触点D1~Dn；老化试验产线还包括电容接触测试工位，电容接触测试工位包括用于与测试触点连接并形成回路的电容接触测试装置；当老化板装好电容后，可通过接触测试装置的多个探针压在老化板测试触点阵列上，对每个单元中的电容进行接触状态的快速测试；具体的，电容接触测试工位设于老化试验工位前，即在老化板装入老化架前，也可以将电容接触测试工位设于老化试验工位后，即在老化架完成老化后，将老化板从老化架取出，再次对老化板中的电容的接触状态进行一次测试，结合前面老化前对老化板中电容的接触测试结果，采用自动吸头将这个电容从老化板中取出，重新安排老化，老化板中剩余的电容将被作为经过有效老化的电容。

以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，虽然本方案提到能够用于端电极封装方式的电容，但是本方案也能够将电容等同替换为电极位于两端的其它电子元器件例如二极管等。

Claims (10)

1.一种老化试验产线，其包括上料工位、老化夹具安装工位、老化试验工位，其特征在于：所述上料工位用于将电容置于老化板中，所述老化板上开设有多个用于放置电容的定位槽，每个所述定位槽的槽底设有触点电极，所述触点电极与所述老化板表面的加电端一相连；

所述老化夹具安装工位用于将上针板与所述老化板连接形成老化夹具，所述上针板底部设有与每个所述定位槽相对应的探针，当所述上针板与所述老化板连接后，所述探针与所述老化板表面的加电端二相连。

2.根据权利要求1所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述老化夹具中的电容分别串联连接有保护元件。

3.根据权利要求1或2所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述老化夹具上设有与每个电容对应的触点电极和探针分别对应相连的测试触点；老化试验产线还包括电容接触测试工位，所述电容接触测试工位包括用于与所述测试触点连接并形成回路的电容接触测试装置。

4.根据权利要求3所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述电容接触测试工位设于老化试验工位前。

5.根据权利要求3所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述电容接触测试工位设于老化试验工位后。

6.根据权利要求1所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构压覆在所述老化板上，所述电容上料装置包括料斗框和刮板，所述料斗框中间设有落料缺口并且所述料斗框中间向内延伸形成有位于所述落料缺口端部的存料板，当所述电容上料装置压覆在所述老化板上时，所述老化板上的定位槽位于所述落料缺口内，所述刮板用于将存料板上的电容刮入所述定位槽内。

7.根据权利要求1所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构压覆在所述老化板上，所述电容上料装置包括料斗框和刮板，所述料斗框中间设有筛板，所述筛板上设有与所述定位槽相对应的落料孔，所述刮板用于将筛板上的电容刮入所述落料孔内。

8.根据权利要求1所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构贴近所述老化板，所述电容上料装置包括料斗框和振动装置，所述料斗框中间设有落料缺口并且所述料斗框中间向内延伸形成有位于所述落料缺口端部的存料板，当所述电容上料装置压覆在所述老化板上时，所述老化板上的定位槽位于所述落料缺口内，所述振动装置用于产生晃动并使电容在所述老化板上移动。

9.根据权利要求1所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述上料工位包括用于输送所述老化板的输送轨道，所述输送轨道上方安装有电容上料装置，所述电容上料装置通过位移机构贴近所述老化板，所述电容上料装置包括料斗框和振动装置，所述料斗框中间设有筛板，所述筛板上设有与所述定位槽相对应的落料孔，所述振动装置用于产生晃动并使电容在筛板上移动。

10.根据权利要求1、2、4-9中任一所述的一种老化试验产线，其特征在于：所述老化试验工位前还设有老化架安装工位，所述老化试验工位后还设有老化架拆除工位、老化夹具拆除工位、不合格品剔除工位和下料工位。