CN220064294U - 一种散热性芯片检测设备 - Google Patents
一种散热性芯片检测设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN220064294U CN220064294U CN202321683345.2U CN202321683345U CN220064294U CN 220064294 U CN220064294 U CN 220064294U CN 202321683345 U CN202321683345 U CN 202321683345U CN 220064294 U CN220064294 U CN 220064294U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- fixedly connected
- plate
- chip
- heat dissipation
- positioning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 25
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
本申请公开一种散热性芯片检测设备,属于散热性芯片技术领域,包括固定台和设置在固定台上的多组芯片主体,固定台的一侧固定连接有连接板,连接板的上端固定连接有横板,横板的下端固定连接有两组第一电动滑轨,两组第一电动滑轨的外壁分别滑动连接有第一电动滑块,通过多组对芯片主体固定的固定机构,而第一电动滑轨可以带动第一电动滑块和移动板移动,而移动板上的第二电动滑轨可以带动第二电动滑块移动,从而让电动推杆带动安装座和温度检测仪移动,进而可以对芯片主体起到检测的作用,继而在对一组芯片主体进行检测的时候,便可以让工作人员对另外其他组芯片主体进行更换,进而加快了芯片主体检测的效率。
Description
技术领域
本申请涉及散热性芯片技术领域,尤其涉及一种散热性芯片检测设备。
背景技术
晶体管发明并大量生产之后,各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用,取代了真空管在电路中的功能与角色,到了20世纪中后期半导体制造技术进步,使得集成电路成为可能,相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件,集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片,是一个巨大的进步,集成电路的规模生产能力,可靠性,电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管,芯片工作时会产生大量热,严重时甚至会烧毁电器件,就出现了能够散热的芯片。
已经授权公告的公告号为CN213275858U的专利文件中,公开了一种散热性芯片检测设备,包括工作台,所述工作台的上壁面安装有定位结构,所述定位结构的上壁面安装有夹紧结构,所述工作台的上壁面安装有支撑结构,所述支撑结构的下壁面安装有检测结构,所述定位结构包括:定位板、四个定位块、主板、芯片、充电座以及充电头;本实用新型涉及芯片检测技术领域,本实用新型中,在定位板上安装充电装置,通过更换定位板实现提前让芯片工作,以便于在上一块芯片检测后可以直接检测这一块芯片,解决了现有的散热性芯片检测设备浪费检测时间,降低检测效率的问题。
以上装置在实施的时候,当芯片主体被检测的时候,由于定位板、主板、芯片只有一组,而检测设备只有一组,从而加大了工作人员不断更换芯片的时间,而工作人员在更换的时候则降低了检测效率。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本申请提供了一种散热性芯片检测设备,克服了现有技术的不足,旨在解决以上装置在实施的时候,当芯片主体被检测的时候,由于定位板、主板、芯片只有一组,而检测设备只有一组,从而加大了工作人员不断更换芯片的时间,而工作人员在更换的时候则降低了检测效率的问题。
为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:一种散热性芯片检测设备,包括固定台和设置在固定台上的多组芯片主体,所述固定台的一侧固定连接有连接板,所述连接板的上端固定连接有横板,所述横板的下端固定连接有两组第一电动滑轨,两组所述第一电动滑轨的外壁分别滑动连接有第一电动滑块,所述第一电动滑块的下端固定连接有移动板,所述移动板的下端固定连接有第二电动滑轨,所述第二电动滑轨的外壁滑动连接有第二电动滑块,所述第二电动滑块的下端固定连接有电动推杆,所述电动推杆的伸缩端固定连接有安装座,所述安装座的下端安装有温度检测仪,所述芯片主体的一侧设置有多组固定机构。
通过采用上述技术方案,通过多组对芯片主体固定的固定机构,而第一电动滑轨可以带动第一电动滑块和移动板移动,而移动板上的第二电动滑轨可以带动第二电动滑块移动,从而让电动推杆带动安装座和温度检测仪移动,进而可以对芯片主体起到检测的作用,继而在对一组芯片主体进行检测的时候,便可以让工作人员对另外其他组芯片主体进行更换,进而加快了芯片主体检测的效率。
作为本申请的一种优选技术方案,所述固定机构包括多组定位板,多组所述定位板的上端放置有主板,所述主板与芯片主体接触。
通过采用上述技术方案,通过定位板可以对主板起到放置的作用,而主板可以对芯片主体起到放置的作用,且定位板、主板和芯片主体为对比文件中现有技术,此处不过多阐述。
作为本申请的一种优选技术方案,所述定位板的上端固定连接有两组滑杆,所述滑杆的上端固定连接有第二限位块,所述滑杆的外壁滑动穿设有压板,位于压板下方的所述滑杆的外壁滑动套设有弹簧,所述弹簧的一侧与定位板固定连接,所述弹簧的另一侧与压板固定连接。
通过采用上述技术方案,通过弹簧可以对压板起到收紧的作用,而滑杆可以对压板起到导向的作用,且第二限位块可以对压板起到限位的作用,进而方便压板对芯片主体起到压紧的作用。
作为本申请的一种优选技术方案,所述定位板的上端固定连接有多组导向杆,所述导向杆的上端固定连接有第一限位块,所述导向杆滑动穿设过压板。
通过采用上述技术方案,通过导向杆可以对压板进一步起到导向的作用,而第一限位块可以对压板起到限位的作用。
作为本申请的一种优选技术方案,所述定位板的上端固定连接有多组定位块,所述定位块与主板接触。
通过采用上述技术方案,通过定位块可以对主板起到定位的作用。
作为本申请的一种优选技术方案,所述定位板与固定台固定连接,所述固定台的上端固定连接有多组挡板,所述挡板与定位板接触。
通过采用上述技术方案,通过挡板可以对定位板起到定位的作用。
本申请的有益效果:
通过多组对芯片主体固定的固定机构,而第一电动滑轨可以带动第一电动滑块和移动板移动,而移动板上的第二电动滑轨可以带动第二电动滑块移动,从而让电动推杆带动安装座和温度检测仪移动,进而可以对芯片主体起到检测的作用,继而在对一组芯片主体进行检测的时候,便可以让工作人员对另外其他组芯片主体进行更换,进而加快了芯片主体检测的效率。
附图说明
图1为本申请的俯视部分剖面示意图;
图2为本申请的仰视部分剖面示意图;
图3为本申请的电动推杆正视示意图;
图4为本申请的压板正视示意图。
图中:1、固定台;2、连接板;3、芯片主体;4、横板;5、第一电动滑轨;6、第一电动滑块;7、移动板;8、第二电动滑轨;9、第二电动滑块;10、电动推杆;11、温度检测仪;12、安装座;13、挡板;14、定位板;15、定位块;16、主板;17、压板;18、导向杆;19、第一限位块;20、滑杆;21、第二限位块;22、弹簧。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参照图1-4,一种散热性芯片检测设备,包括固定台1和设置在固定台1上的多组芯片主体3,固定台1的一侧固定连接有连接板2,连接板2的上端固定连接有横板4,横板4的下端固定连接有两组第一电动滑轨5,两组第一电动滑轨5的外壁分别滑动连接有第一电动滑块6,第一电动滑块6的下端固定连接有移动板7,移动板7的下端固定连接有第二电动滑轨8,第二电动滑轨8的外壁滑动连接有第二电动滑块9,第二电动滑块9的下端固定连接有电动推杆10,电动推杆10的伸缩端固定连接有安装座12,安装座12的下端安装有温度检测仪11,芯片主体3的一侧设置有多组固定机构,通过多组对芯片主体3固定的固定机构,而第一电动滑轨5可以带动第一电动滑块6和移动板7移动,而移动板7上的第二电动滑轨8可以带动第二电动滑块9移动,从而让电动推杆10带动安装座12和温度检测仪11移动,进而可以对芯片主体3起到检测的作用,继而在对一组芯片主体3进行检测的时候,便可以让工作人员对另外其他组芯片主体3进行更换,进而加快了芯片主体3检测的效率。
参照图1,固定机构包括多组定位板14,多组定位板14的上端放置有主板16,主板16与芯片主体3接触,通过定位板14可以对主板16起到放置的作用,而主板16可以对芯片主体3起到放置的作用,且定位板14、主板16和芯片主体3为对比文件中现有技术,此处不过多阐述,定位板14的上端固定连接有多组定位块15,定位块15与主板16接触,通过定位块15可以对主板16起到定位的作用,定位板14与固定台1固定连接,固定台1的上端固定连接有多组挡板13,挡板13与定位板14接触,通过挡板13可以对定位板14起到定位的作用。
参照图1和图4,定位板14的上端固定连接有两组滑杆20,滑杆20的上端固定连接有第二限位块21,滑杆20的外壁滑动穿设有压板17,位于压板17下方的滑杆20的外壁滑动套设有弹簧22,弹簧22的一侧与定位板14固定连接,弹簧22的另一侧与压板17固定连接,通过弹簧22可以对压板17起到收紧的作用,而滑杆20可以对压板17起到导向的作用,且第二限位块21可以对压板17起到限位的作用,进而方便压板17对芯片主体3起到压紧的作用,定位板14的上端固定连接有多组导向杆18,导向杆18的上端固定连接有第一限位块19,导向杆18滑动穿设过压板17,通过导向杆18可以对压板17进一步起到导向的作用,而第一限位块19可以对压板17起到限位的作用。
工作原理:使用本实用新型时,通过定位板14可以对主板16起到放置的作用,而主板16可以对芯片主体3起到放置的作用,且定位板14、主板16和芯片主体3为对比文件中现有技术,此处不过多阐述,而挡板13可以对定位板14起到定位的作用,且定位块15可以对主板16起到定位的作用,从而通过弹簧22可以对压板17起到收紧的作用,而滑杆20可以对压板17起到导向的作用,且第二限位块21可以对压板17起到限位的作用,进而方便压板17对芯片主体3起到压紧的作用,而导向杆18可以对压板17进一步起到导向的作用,而第一限位块19可以对压板17起到限位的作用,便可以通过第一电动滑轨5带动第一电动滑块6和移动板7移动,而移动板7上的第二电动滑轨8可以带动第二电动滑块9移动,从而让电动推杆10带动安装座12和温度检测仪11移动,进而可以对芯片主体3起到检测的作用,继而在对一组芯片主体3进行检测的时候,便可以让工作人员对另外其他组芯片主体3进行更换,进而加快了芯片主体3检测的效率。
最后应说明的是:在本申请的描述中,需要说明的是,术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种散热性芯片检测设备,包括固定台(1)和设置在固定台(1)上的多组芯片主体(3),其特征在于,所述固定台(1)的一侧固定连接有连接板(2),所述连接板(2)的上端固定连接有横板(4),所述横板(4)的下端固定连接有两组第一电动滑轨(5),两组所述第一电动滑轨(5)的外壁分别滑动连接有第一电动滑块(6),所述第一电动滑块(6)的下端固定连接有移动板(7),所述移动板(7)的下端固定连接有第二电动滑轨(8),所述第二电动滑轨(8)的外壁滑动连接有第二电动滑块(9),所述第二电动滑块(9)的下端固定连接有电动推杆(10),所述电动推杆(10)的伸缩端固定连接有安装座(12),所述安装座(12)的下端安装有温度检测仪(11),所述芯片主体(3)的一侧设置有多组固定机构。
2.根据权利要求1所述的一种散热性芯片检测设备,其特征在于,所述固定机构包括多组定位板(14),多组所述定位板(14)的上端放置有主板(16),所述主板(16)与芯片主体(3)接触。
3.根据权利要求2所述的一种散热性芯片检测设备,其特征在于,所述定位板(14)的上端固定连接有两组滑杆(20),所述滑杆(20)的上端固定连接有第二限位块(21),所述滑杆(20)的外壁滑动穿设有压板(17),位于压板(17)下方的所述滑杆(20)的外壁滑动套设有弹簧(22),所述弹簧(22)的一侧与定位板(14)固定连接,所述弹簧(22)的另一侧与压板(17)固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种散热性芯片检测设备,其特征在于,所述定位板(14)的上端固定连接有多组导向杆(18),所述导向杆(18)的上端固定连接有第一限位块(19),所述导向杆(18)滑动穿设过压板(17)。
5.根据权利要求2所述的一种散热性芯片检测设备,其特征在于,所述定位板(14)的上端固定连接有多组定位块(15),所述定位块(15)与主板(16)接触。
6.根据权利要求2所述的一种散热性芯片检测设备,其特征在于,所述定位板(14)与固定台(1)固定连接,所述固定台(1)的上端固定连接有多组挡板(13),所述挡板(13)与定位板(14)接触。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321683345.2U CN220064294U (zh) | 2023-06-29 | 2023-06-29 | 一种散热性芯片检测设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321683345.2U CN220064294U (zh) | 2023-06-29 | 2023-06-29 | 一种散热性芯片检测设备 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220064294U true CN220064294U (zh) | 2023-11-21 |
Family
ID=88767249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321683345.2U Active CN220064294U (zh) | 2023-06-29 | 2023-06-29 | 一种散热性芯片检测设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220064294U (zh) |
-
2023
- 2023-06-29 CN CN202321683345.2U patent/CN220064294U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107238736A (zh) | 多工位指纹模组自动测试装置 | |
CN210037874U (zh) | 一种pcb板测试治具 | |
CN112394280A (zh) | 一种电源芯片生产用的测试装置 | |
CN114325292A (zh) | 高功率芯片的老化测试系统 | |
CN220064294U (zh) | 一种散热性芯片检测设备 | |
CN207164160U (zh) | 多工位指纹模组自动测试装置 | |
CN203396909U (zh) | 一种具有定位限行程功能的pcb板性能检测治具 | |
CN216209316U (zh) | 一种自动测试工装夹具 | |
CN107037353B (zh) | 一种pcb测试架 | |
CN212965015U (zh) | 一种ict测试功能治具 | |
CN212620576U (zh) | 一种连接器pin针的位置和高度一站式检测设备 | |
CN219715677U (zh) | 一种金手指pcb板的顶针式测试台 | |
CN109396598B (zh) | 焊带定位装置及焊带移放设备 | |
CN218155866U (zh) | 一种pin针导通测试设备 | |
CN214622723U (zh) | 一种光芯片晶圆级老化设备台 | |
CN216595193U (zh) | 一种芯片质量检测的测试机用放置台 | |
CN117630646A (zh) | 芯片电性能测试机构 | |
CN216870663U (zh) | 一种阻抗测试平台 | |
CN220795376U (zh) | 一种基于pc104架构的测试设备 | |
CN220650004U (zh) | 一种检笔机 | |
CN218447816U (zh) | 一种集成电路定位装置 | |
CN218956697U (zh) | 一种产品老化测试设备用弹性机构 | |
CN216482611U (zh) | 一种孔位检测工具 | |
CN214335010U (zh) | 一种保压测试设备 | |
CN212844311U (zh) | 开关按键寿命检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |