CN219957691U - 测试探针、电源探头及检测设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种测试探针、电源探头及检测设备，测试探针用于测试待测元件，包括第一针头、第二针头和固定器，所述固定器包括第一孔和第二孔，所述第一孔与所述第二孔间隔设置，所述第一针头穿设于所述第一孔，所述第二针头穿设于所述第二孔，所述第一针头与所述第二针头间隔且平行设置，所述测试探针的所述第一针头与所述第二针头的距离与一种待测元件的正极和负极的距离配合设置，所述固定器的材料为绝缘材料，所述第一针头与所述第二针头的材料为导电材料。本申请实施例的技术方案能够直接与待测元件对准，从而节省了焊接过程所耗费的时间，增加了电子设备的产能。

Description

测试探针、电源探头及检测设备

技术领域

本申请涉及检测领域，尤其涉及一种测试探针、电源探头及检测设备。

背景技术

目前，电源信号测试中，一般通过将检测设备的线缆直接与电子设备的各种电子元件的正负极焊接，然后通过手工或者半自动化的方式调试电子测量仪器，从而得到测试结果并判断元件的各种性能是否达标。但由于线缆与元件的焊接过程较为复杂，且需要较高的准度，其测试效率较低，很大程度上降低了电子设备的产能。

实用新型内容

本申请的实施例提供一种测试探针、电源探头及检测设备，测试探针能够直接与待测元件对准，从而节省了焊接过程所耗费的时间，增加了电子设备的产能。

第一方面，本申请实施例提供一种测试探针，用于测试待测元件，包括第一针头、第二针头和固定器，所述固定器包括第一孔和第二孔，所述第一孔与所述第二孔间隔设置，所述第一针头穿设于所述第一孔，所述第二针头穿设于所述第二孔，所述第一针头与所述第二针头间隔且平行设置，所述测试探针的所述第一针头与所述第二针头的距离与一种待测元件的正极和负极的距离配合设置。

可以理解的是，第一针头和第二针头与固定器安装后，固定器可以固定第一针头和第二针头之间的距离，从而保证第一针头和第二针头之间的间距稳定不变，且增加第一针头与第二针头的结构强度，使测试探针更加结实耐用。

另外，第一针头和第二针头能够直接与待测元件对准，不需要焊接，操作简单方便，从而节省了焊接过程所耗费的时间，增加了服务器的电源等器件的产能。

再者，由于测试探针不用与待测元件的电极焊接，避免了焊接过程中，待测元件被损坏，从而增加了电源组件的良品率。并且还避免了焊接过程中，待测元件的电极与测试探针焊接不良而引入检测误差。

一种可能的实施方式中，还包括第一弹性件和第二弹性件，所述第一针头包括第一杆体和第一触头，所述第一触头连接于所述第一杆体的一端，所述第一弹性件连接于所述第一杆体的另一端，所述第二针头包括第二杆体和第二触头，所述第二触头连接于所述第二杆体的一端，所述第二弹性件连接于所述第二杆体的另一端。

可以理解的是，第一弹性件和第二弹性件可以在第一针头和第二针头与待测元件抵接力过大时发生弹性形变，从而可以对第一针头和第二针头对待测元件施加的力进行缓冲，避免第一针头与第二针头对待测元件施加的压力过大，导致待测元件的电极损坏。

一种可能的实施方式中，所述第一弹性件包括第一套筒和第一弹簧，所述第二弹性件包括第二套筒和第二弹簧，所述第一弹簧位于第一套筒内，所述第一弹簧的一端与所述第一套筒抵持，所述第一弹簧的另一端与所述第一杆体连接，所述第二弹簧位于所述第二套筒内，所述第二弹簧的一端与所述第二套筒抵持，所述第二弹簧的另一端与所述第二杆体连接。

可以理解的是，当测试探针与壳体连接后，由于第一套筒与第二套筒和壳体之间存在摩擦力。因此第一套筒和第二套筒不会从壳体脱落。

另外，在电源探头进行工作时，需要将第一针头和第二针头与待测元件抵接。因此，即使第一套筒和第二套筒在与壳体安装过程中，未完全到达壳体的安装位置，在检测过程中，测试探针与待测元件抵接后，第一套筒会受到从第一针头传递的力，第二套筒受到从第二针头传递的力，从而使第一套筒和第二套筒会向壳体内移动，从而到达安装位置。

一种可能的实施方式中，所述第一触头的形状为直角三角形，所述第二触头的形状为直角三角形，所述第一触头的一个直角边与所述第一杆体连接，所述第一触头的另一个直角边朝向所述第二触头，所述第二触头的一个直角边与所述第二杆体连接，所述第二触头的另一个直角边朝向所述第一触头。

可以理解的是，第一触头和第二触头为直角三角形，可以使第一触头和第二触头通过锐角部分与待测元件的电极进行接触，接触点更加精准。且第一触头和第二触头的两个直角边相对设置，第一触头的接触点与第二触头的接触点之间的距离可以为两个相对的直角边之间的距离，从而使第一触头与第二触头之间的距离更易判断。

第二方面，本申请实施例还提供一种电源探头，包括壳体如上所述的测试探针，所述壳体包括外壳和填充部，所述填充部包括第一探针孔和第二探针孔，所述第一针头连接于所述第一探针孔，所述第二针头连接于所述第二探针孔，所述测试探针与所述填充部可拆卸连接，第一触头相对所述第一探针孔露出，第二触头相对所述第二探针孔露出。

可以理解的是，外壳可以屏蔽外界干扰，避免外界的电磁或者其他因素影响待测元件的测试结果。

一种可能的实施方式中，还包括第一连接线和第二连接线，所述第一连接线的一端与所述第一针头电连接，所述第一连接线的另一端用于与连接线缆电连接，所述第二连接线的一端与所述第二针头电连接，所述第二连接线的另一端与所述外壳电连接。

可以理解的是，测试电流可以通过连接线缆通过第一连接线传递至第一针头。且壳体的外壳通过第二连接线与第二针头电连接以形成接地线。接地线可以把外壳可能带有的电流通过导体传递至地面，从而避免外壳带电。

一种可能的实施方式中，所述壳体包括第一壳体和第二壳体，所述第一壳体设有收容空间，所述填充部位于所述第一壳体内，所述第一壳体设有开口，所述第一连接线和所述第二连接线位于所述收容空间，所述第二壳体连接于所述开口。

可以理解的是，所述第一壳体的收容空间可以为内部的填充部、第一连接线和第二连接线提供安装位置。并且由于第一壳体设有开口，因此，在电源探头无法正常工作时，可以将第一壳体与第二壳体进行拆卸，从而通过开口的位置对电源探头的内部组件进行修理。

第三方面，本申请实施例还提供一种检测设备，包括计算机组件、电子测量仪、连接线缆和电源探头，所述计算机组件与所述电子测量仪电连接，所述电子测量仪与所述电源探头通过所述连接线缆电连接，所述第一连接线与所述连接线缆连通。

可以理解的是，计算机组件可以为电源信号测试所用的电脑，电脑上可以安装有自动化测试软件。在电源探头与待测元件电连接后。自动化测试组件可以自行运转，对待测元件进行测试并可以记录需要的结果。连接线缆可以为连接电子测量仪与计算机组件的网线，在电子测量仪与计算机组件之间传输电信号。电子测量仪可以为示波器。示波器可以被计算机组件的测试软件控制，自动化的完成波形的采样和分析。

一种可能的实施方式中，还包括机械手，所述机械手与所述电源探头固定连接，所述机械手能够控制所述电源探头移动。

可以理解的是，机械手可以控制电源探头平移或者旋转，从而与待测元件对准。机械手可以使检测设备的检测过程自动化，从而节省了检测时间，节约了电源组件的检测的人工成本。

一种可能的实施方式中，还包括支架，所述支架与所述电源探头固定连接，所述支架用于放置在设有待测元件的单板上。

可以理解的是，支架可以为电源探头提供固定位置，从而在测试的过程中，支架可以直接放在需要进行测试的单板上，以使电源探头直接与待测元件接触，从而避免工作人员需要手持电源探头进行测试，可以使检测工作更易进行。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以如这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的检测设备的结构示意图；

图2是图1所示的第二线缆与电源探头连接的一端的结构示意图；

图3是图1所示的电源探头的剖面示意图；

图4是图3所示的电源探头的部分结构分解示意图；

图5是图4所示的第二部分的一种剖面示意图；

图6为图4所示的第二部分的另一种剖面示意图；

图7是图4所示的第二部分的再一种剖面示意图；

图8是图4所示的第二连接端的部分结构示意图；

图9是图3所示的测试探针的结构示意图；

图10是机械手控制图1所示的电源探头检测待测元件A的示意图。

具体实施方式

为了方便理解，首先对本申请的实施例所涉及的术语进行解释。

和/或：仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。

多个：是指两个或多于两个。

连接：应做广义理解，例如，A与B连接，可以是A与B直接相连，也可以是A与B通过中间媒介间接相连。

下面将结合附图，对本申请的具体实施方式进行清楚地描述。

请参阅图1，图1是本申请实施例提供的检测设备1000的结构示意图。本申请实施例中的检测设备1000可以对电子设备中的元件进行电源信号测试。电源信号测试是针对服务器等电子设备的硬件的测试项目。通过电源信号测试的元件，在各种环境和各种压力下的工作可靠性较高。具体而言，检测设备1000可以对电源组件中的电容元件、电阻元件或者芯片的引脚等进行测试。测试主要包括元件的电压精度、纹波、噪声和动态等指标。

检测设备1000可以包括计算机组件100、连接线200、电子测量仪300、两个连接线缆400、耦合电容500和电源探头600。计算机组件100与电子测量仪300通过连接线200电连接。一个连接线缆400一端与耦合电容500电连接，且连接线缆400的另一端与电子测量仪300电连接。另一个连接线缆400的一端与耦合电容500的另一端电连接，且连接线缆400的另一端与电源探头600电连接。

需说明的是，图1的目的仅在于示意性的描述计算机组件100、连接线200、电子测量仪300、连接线缆400、耦合电容500和电源探头600的连接关系，并非是对各个设备的连接位置、具体构造及数量做具体限定。而本申请实施例示意的结构并不构成对检测设备1000的具体限定。在本申请另一些实施例中，检测设备1000包括比图1所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图1所示的部件可以以硬件，软件或软件和硬件的组合实现。

计算机组件100可以为电源信号测试所用的电脑，电脑上可以安装有自动化测试软件。在电源探头600与待测元件电连接后。自动化测试组件可以自行运转，对待测元件进行测试并可以记录需要的结果。

连接线200可以为连接电子测量仪300与计算机组件100的网线，在电子测量仪300与计算机组件100之间传输电信号。

电子测量仪300可以为示波器。示波器可以被计算机组件100的测试软件控制，自动化的完成波形的采样和分析。

两个连接线缆400分别为第一线缆410和第二线缆420。第一线缆410和第二线缆420可以为同轴线缆。第一线缆410在电子测量仪300和耦合电容500之间提供电连接线路。第二线缆420在耦合电容500和电源探头600之间提供电连接线路。

在第一线缆410和第二线缆420之间的耦合电容500可以隔离直流电压，从而使高频的交流电通过，交流电可以供电源探头600进行测量。本申请实施例中，耦合电容500隔离直流电压，防止损坏检测设备1000。

请参阅图2，图2是图1所示的第二线缆420与电源探头600连接的一端的结构示意图。第二线缆420包括线缆本体421和第一连接端422。第一连接端422与线缆本体421的一端电连接。具体而言，第一连接端422包括第一本体4221、第一螺纹4222和电连接针4223。第一本体4221的一端与线缆本体421固定连接，第一本体4221的另一端设有收容腔4224。收容腔4224包括底壁4225与侧壁4226。第一螺纹4222设于收容腔4224的侧壁4226。电连接针4223设于收容腔4224的底壁4225。电连接针4223由收容腔4224的底壁4225向远离底壁4225的方向延伸，电连接针4223与线缆本体421电连接。

请参阅图3，图3是图1所示的电源探头600的剖面示意图。电源探头600包括第二连接端610、壳体620、电连接件630和测试探针640。第二连接端610和测试探针640可以分别连接于壳体620长度方向的相对两端。电连接件630设于壳体620内部，且电连接件630的一端与第二连接端610电连接，电连接件630的另一端与测试探针640电连接。

请参阅图4，图4是图3所示的电源探头600的部分结构分解示意图。壳体620包括第一壳体621和第二壳体622。第二壳体622装于第一壳体621。

第一壳体621包括沿其长度方向相对的设置的第一部分6211、第二部分6212、及设于第一部分6211与第二部分6212之间的中间部分6213。第一部分6211可以为中空筒状，且第一部分6211可以为导电材料。

第二部分6212可以为梯台状。第二部分6212包括沿第一壳体621的长度方向相对设置的第一表面6214和第二表面6215。第二部分6212设有两个探针孔。分别为第一探针孔6216和第二探针孔6217。第一探针孔6216和第二探针孔6217间隔设置，第一探针孔6216和第二探针孔6217由第二表面6215向第一表面6214延伸。第一探针孔6216和第二探针孔6217用于为测试探针640提供安装位置。具体可参照下述实施方式。

第一种可能的实施方式中，请参阅图5，图5是图4所示的第二部分6212的一种剖面示意图。第二部分6212可以包括外壳6218和填充部6219。外壳6218具有腔体。填充部6219位于外壳6218的腔体内且与外壳6218固定连接，本实施例中填充部6219是填满外壳6218的腔体的。填充部6219和外壳6218两个在长度方向的相对的外观面共同构成第一表面6214和第二表面6215。填充部6219设有第一探针孔6216和第二探针孔6217。第一探针孔6216和第二探针孔6217可以为通孔，第一探针孔6216和第二探针孔6217沿探针模组的长度方向贯穿填充部6219。且第一探针孔6216和第二探针孔6217贯穿第一表面6214和第二表面6215。外壳6218可以为导电材料。填充部6219可以为绝缘材料，从而使第一探针孔6216与第二探针孔6217相互绝缘。

可以理解的是，填充部6219为绝缘材料可以将第一探针孔6216和第二探针孔6217绝缘间隔，从而避免位于第一探针孔6216的导电材料和第二探针孔6217电连接而导致短路。填充部6219还可以使外壳6218与插入探针孔的测试探针640绝缘，避免测试探针640与外壳6218直接电连接而导致短路。

示例性的，请参阅图6，图6为图4所示的第二部分6212的另一种剖面示意图。第一探针孔6216的孔壁和第二探针孔6217的孔壁还可以设有凸起650。凸起650可以有一个或者多个。凸起650的材质可以为绝缘材料。

可以理解的是，多个凸起650可以在测试探针640插入探针孔时卡持测试探针640，从而使测试探针640与探针孔的孔壁可以过盈配合。

第二种可能的实施方式中，请参阅图7，图7是图4所示的第二部分6212的再一种剖面示意图。与上述实施例不同的是，填充部6219设有第一探针孔6216、第二探针孔6217、第一线缆通孔6301和第二线缆通孔6302，且第一探针孔6216和第二探针孔6217为盲孔。具体而言，第一探针孔6216和第二探针孔6217不贯穿第二部分6212的第一表面6214。沿着第一表面6214到第二表面6215的方向，第一线缆通孔6301由第一表面6214向第一探针孔6216延伸，并贯穿第一探针孔6216的底壁635，第一线缆通孔6301与第一探针孔6216连通。第二线缆通孔6302由第一表面6214向第二探针孔6217延伸，且贯穿第二探针孔6217的底壁636，且第二线缆通孔6302与第二探针孔6217连通。具体的，第一线缆通孔6301与第一探针孔6216同轴设置，第二线缆通孔6302与第二探针孔6217同轴设置。

可以理解的是，将第一探针孔6216和第二探针孔6217设置为盲孔，在测试探针640插入第一探针孔6216和第二探针孔6217时，第一探针孔6216的底壁635和第二探针孔6217的底壁636可以对测试探针640进行抵持，从而提示操作人员测试探针640已经插入到位。

请再参阅图4，中间部分6213设有所述的开口633和收容空间634。开口633设于中间部分6213的周侧。开口633与收容空间634连通，且收容空间634还与第一部分6211的内部空间连通。收容空间634用于收容电连接件630。

第二壳体622的形状与中间部分6213的开口633形状适应设置。第二壳体622可以连接于中间部分6213的开口633且覆盖开口633并封闭收容空间634。

可以理解的是，由于第二壳体622可以与第一壳体621进行拆装，在电源探头600内部组件(电连接件630)损坏时，可以将第二壳体622拆除，从而方便工作人员对内部组件进行维修。

请结合参阅图4和图8，图8是图4所示的第二连接端610的部分结构示意图。第二连接端610连接于壳体620的第一部分6211背离中间部分6213的一端。第二连接端610包括第二本体611、第二螺纹612和电连接孔614。第二本体611的一端与第一部分6211固定连接，第二本体611的另一端设有收容腔613。收容腔613的底壁设有电连接孔614。电连接孔614由收容腔613的底壁凹陷设置。第二螺纹612设于第二本体611外周，用于与第一连接端422的第一螺纹4222螺纹连接。

请结合参阅图3和图4，电连接件630位于壳体620内部。具体而言，电连接件630包括第一连接线631和第二连接线632。第一连接线631和第二连接线632均位于第一部分6211和中间部分6213的内部空间。第一连接线631的一端与第二连接端610电连接，第一连接线631的另一端与一个探针孔连接。第二连接线632的一端与壳体620电连接，第二连接线632的另一端与另一个探针孔连接。

具体的，请再结合参阅图3和图5，在上述第一种实施方式中，当探针孔为通孔时。即贯穿第一表面和第二表面时，第一连接线631一端与第二连接端610电连接，第一连接线631的另一端与插入第一探针孔6216的一部分测试探针640(也即为下文所述的第一针头)电连接。第二连接线632的一端与壳体620电连接，也即为，第二连接线632可以与壳体620的任意部分电连接，第二连接线632的另一端与插入第二探针孔6217的另一部分测试探针640(也即为下文所述的第二针头)电连接。

请再结合参阅图3和图7，在上述第二种实施方式中，当探针通孔为盲孔时，第一连接线631的一端与第二连接端610电连接，第一连接线631的另一端穿过第一线缆通孔6301后，第一连接线631与插入第一探针孔6216的部分测试探针640电连接。第二连接线632的一端与壳体620电连接，第二连接线632的另一端穿过第二线缆通孔6302，与插入第二探针孔6217的部分测试探针640电连接。

可以理解的是，当第一探针孔6216和第二探针孔6217为通孔时，探针孔的加工较为简单。当第一探针孔6216和第二探针孔6217为盲孔时，第一探针孔6216的底壁635和第二探针孔6217的底壁636会对测试探针640进行限位，当测试探针640完全插入第一探针孔6216和第二探针孔6217后，测试探针640无法再插入，从而可以提示操作人员测试探针640的插入动作已完成。

示例性的，第一连接线631和第二连接线632的直径小于第二线缆420的直径。选用较细的第一连接线631和第二连接线632可以节省其安装在壳体620内部的所需空间，方便第一连接线631和第二连接线632的安装和维修。

请参阅图9，图9是图3所示的测试探针640的结构示意图。测试探针640可以包括固定器641、两个针头642及两个弹性件643。两个针头642装于固定器641，两个弹性件643分别连接两个针头642。

固定器641设有第一孔6411和第二孔6412。第一孔6411和第二孔6412间隔且平行设置。且第一孔6411和第二孔6412均贯穿固定器641相对的两个表面。固定器641的材料可以为绝缘材料。

两个针头642分别为第一针头6421和第二针头6422。第一针头6421和第二针头6422平行且间隔设置。具体而言，第一针头6421包括第一杆体6423和第一触头6424，第一触头6424连接于第一杆体6423的一端。第一触头6424的形状可以为直角三角形。第一触头6424包括第一直角边L1和第二直角边L2。第一触头6424的第一直角边L1可以与第一杆体6423的一端连接。第一杆体6423的材料和第一触头6424的材料可以为导电材料。

第二针头6422包括第二杆体6425和第二触头6426，第二触头6426连接于第二杆体6425的一端。第二触头6426的形状及大小可以与第一触头6424相同。第二触头6426包括第三直角边L3和第四直角边L4。第二触头6426的第三直角边L3可以与第二杆体6425的一端连接。第二杆体6425的材料和第二触头6426的材料可以为导电材料。

可以理解的是，第一触头6424和第二触头6426为直角三角形，可以使第一触头6424和第二触头6426通过锐角部分与待测元件的电极进行接触，接触点更加精准。

第一杆体6423穿过第一孔6411，第二杆体6425穿过第二孔6412。第一触头6424和第二触头6426位于固定器641的同一侧，第一触头6424的第二直角边L2与第二触头6426的第四直角边L4相对设置。第三直角边L3和第四直角边L4的距离D1为待测元件的第一触头6424与第二触头6426之间的测试距离。对于不同大小的待测元件，可以选用不同测试距离的测试探针640进行测试。

可以理解的是，第一针头6421和第二针头6422与固定器641安装后，固定器641可以固定第一针头6421和第二针头6422之间的距离，从而保证第一针头6421和第二针头6422之间的间距稳定不变，且增加第一针头6421与第二针头6422的结构强度，使测试探针640更加结实耐用。

两个弹性件643分别为第一弹性件6431和第二弹性件6432。第一弹性件6431连接于第一杆体6423背离第一触头6424的一端。第二弹性件6432连接于第二杆体6425背离第二触头6426的一端。

第一弹性件6431包括第一套筒6433和第一弹簧6434。第一弹簧6434位于第一套筒6433内部。第一套筒6433包括周壁6435和底壁6436，周壁6435连接于底壁6436的周缘；周壁6435围绕底壁6436设置，且形成具有第一插接口645的腔，第一插接口645位于周壁6435远离底壁6436一端。第一弹簧6434装于腔内，其周侧可以与周壁6435接触，且第一弹簧6434的一端可以与第一套筒6433的底壁6436抵持，第一弹簧6434的另一端朝向第一插接口645。第一弹簧6434的材料和第一套筒6433的材料可以为导电材料。

第二弹性件6432包括第二套筒6437和第二弹簧6438。第二弹簧6438位于第二套筒6437内部。第二套筒6437包括周壁6439和底壁6440，周壁6439连接于底壁6440的周缘；周壁6439围绕底壁6440设置，且形成具有第二插接口646的腔，第二插接口646位于周壁6439远离底壁6440一端。第二弹簧6438装于腔内，其的周侧可以与周壁6439接触，且第二弹簧6438的一端可以与第二套筒6437的底壁6440抵持，第二弹簧6438的另一端朝向第二插接口646。第二弹簧6438的材料和第二套筒6437的材料可以为导电材料。

第一套筒6433的第一插接口645套于第一杆体6423上，第一弹簧6434远离第一套筒6433的底壁6436的一端与第一杆体6423连接，且部分第一杆体6423可以位于第一套筒6433内部。第二套筒6437的第二插接口646套于第二杆体6425，第二弹簧6438远离第二套筒6437的底壁6440的一端与第二杆体6425连接，且部分的第二杆体6425可以位于第二套筒6437内部。

可以理解的是，在测试探针640与待测元件抵接后，第一弹簧6434和第二弹簧6438可以被压缩，从而避免第一触头6424与第二触头6426对待测元件的压力过大，导致待测元件损坏。

测试探针640的第一套筒6433和第二套筒6437可以与壳体620的第二部分6212连接。具体而言，第一套筒6433可以伸入第一探针孔6216，且第一套筒6433的直径可以与第一探针孔6216的直径相同，以使第一套筒6433与第一探针孔6216的孔壁抵接，从而使第一套筒6433可以与第一连接线631电连接。第二套筒6437可以伸入第二探针孔6217，且第二套筒6437的直径可以与第二探针孔6217的直径相同。以使第二套筒6437与第二探针孔6217的内壁抵接，从而使第二套筒6437可以与第二连接线632电连接。

另外，由于第一套筒6433与第一探针孔6216之间存在摩擦力，第二套筒6437与第二探针孔6217之间存在摩擦力。因此第一套筒6433不会从第一探针孔6216脱落、第二套筒6437不会从第二探针孔6217中脱落。在电源探头600进行工作时，需要将第一触头6424和第二触头6426与待测元件抵接。因此，即使第一套筒6433和第二套筒6437在安装过程中，未完全到达探针孔的底壁，在检测过程中，第一触头6424与待测元件抵接后，第一套筒6433会受到从第一触头6424、第一杆体6423和第一弹簧6434依次传递的力，从而向第一探针孔6216的底壁移动。第二触头6426与待测元件抵接后，第二套筒6437会受到从第二触头6426、第二杆体6425和第二弹簧6438依次传递的力，从而向第二探针孔6217的底壁移动。当第一套筒6433和第二套筒6437均与探针孔的底壁抵持后，测试探针640到达安装位置，从而使电源探头600可以正常工作。

请再结合参阅图2和图8，第二线缆420的第一连接端422和电源探头600的第二连接端610固定连接。具体而言，第一连接端422的第一螺纹4222与第二连接端610的第二螺纹612进行螺纹连接，且第一连接端422的电连接针4223插入第二连接端610的电连接孔614内。从而使电源探头600与第二线缆420电连接。

待测元件可以为贴片电容，贴片电容的长和宽可以为0.6mm和0.3mm、或者1.0mm和0.8mm、或者1.6mm和0.8mm、或者2.0mm和1.2mm、或者3.2mm和1.6mm等。贴片电容的正负电极相对设置在贴片电容的长度方向，因此第一触头6424与第二触头6426之间的距离与贴片电容的长度相同时，第一触头6424在接触贴片电容的正极的同时，第二触头6426可以接触贴片电容的负极，进而完成电源探头600与待测元件的对点接触。第一触头6424与第二触头6426之间的距离可以为0.6mm、1.0mm、1.6mm、2.0mm和3.2mm。示例性的，第一触头6424与第二触头6426之间的距离还可以略小于贴片电容的长度。具体而言，第一触头6424与第二触头6426之间的距离可以比贴片电容的长度小0.1mm，以使第一触头6424与第二触头6426可以更好的接触贴片电容两边的电极。示例性的，第一触头6424与第二触头6426之间的距离可以为0.5mm、0.9mm、1.5mm、1.9mm和3.1mm。

本申请实施例中的测试探针640可以有多种，多种测试探针640的第一触头6424与第二触头6426之间的间距不同。在需要对待测元件进行检测时，可以选用与待测元件的正负极相匹配的测试探针640。将该测试探针640的第一套筒6433与第一探针孔6216对位，且将第二套筒6437与第二探针孔6217对位，然后将第一套筒6433和第二套筒6437插入第二部分6212的探针孔。在需要更换测试探针640时，仅需将一个测试探针640拔出，将另外一个测试探针640插入探针孔即可。

目前，电源信号测试中，一般通过将检测设备的线缆直接与各种元件的正负极焊接，然后通过手工或者半自动化的方式调试电子测量仪，从而得到测试结果并判断各种性能是否达标。但由于线缆与元件的焊接过程较为复杂，且需要较高的准度，其测试效率较低，很大程度上降低了电源等器件的产能。

而本申请实施例中的测试探针640的第一针头6421和第二针头6422能够直接与待测元件对准，不需要焊接，操作简单方便，从而节省了焊接过程所耗费的时间，增加了服务器的电源等器件的产能。

另外，由于测试探针640不用与待测元件的电极焊接，避免了焊接过程中，待测元件被损坏，从而增加了电源组件的良品率。并且还避免了焊接过程中，待测元件的电极与测试探针640焊接不良而引入检测误差。

再者，由于电源探头600的壳体620为金属壳体620，因此壳体620可以屏蔽外界干扰，避免外界的电磁或者其他因素影响待测元件的测试结果。

检测设备1000在检测的过程中，第一触头6424、第一杆体6423、第一弹簧6434、第一套筒6433、第一连接线631、第二连接端610、第一连接端422和第二线缆420依次电连接。第二触头6426第二杆体6425、第二弹簧6438、第二套筒6437、第二连接线632和壳体620依次电连接，进而形成接地线。

在检测过程中，第一触头6424与待测元件的正极接触，第二触头6426与待测元件的负极接触。电脑控制电子测量仪300对待测元件进行检测。

一种可能的实施方式中，请参阅图10，图10是机械手700控制图1所示的电源探头600检测待测元件A的示意图。本申请实施例中的检测设备1000还可以包括机械手700。机械手700与电源探头600固定连接。机械手700可以控制电源探头600平移或者旋转，从而与待测元件A对准。机械手700可以使检测设备1000的检测过程自动化，从而节省了检测时间，节约了电源组件的检测的人工成本。

另一种可能的实施方式中，检测设备1000还可以包括支架。支架与电源探头600固定连接。可以理解的是，支架可以为电源探头600提供固定位置，从而在测试的过程中，支架可以直接放在需要进行测试的单板上，以使电源探头600直接与待测元件接触，从而避免工作人员需要手持电源探头600进行测试，可以使检测工作更易进行。

以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种测试探针，用于测试待测元件，其特征在于，包括第一针头、第二针头和固定器，所述固定器包括第一孔和第二孔，所述第一孔与所述第二孔间隔设置，所述第一针头穿设于所述第一孔，所述第二针头穿设于所述第二孔，所述第一针头与所述第二针头间隔且平行设置，所述测试探针的所述第一针头与所述第二针头的距离与一种待测元件的正极和负极的距离配合设置。

2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，还包括第一弹性件和第二弹性件，所述第一针头包括第一杆体和第一触头，所述第一触头连接于所述第一杆体的一端，所述第一弹性件连接于所述第一杆体的另一端，所述第二针头包括第二杆体和第二触头，所述第二触头连接于所述第二杆体的一端，所述第二弹性件连接于所述第二杆体的另一端。

3.根据权利要求2所述的测试探针，其特征在于，所述第一弹性件包括第一套筒和第一弹簧，所述第二弹性件包括第二套筒和第二弹簧，所述第一弹簧位于第一套筒内，所述第一弹簧的一端与所述第一套筒抵持，所述第一弹簧的另一端与所述第一杆体连接，所述第二弹簧位于所述第二套筒内，所述第二弹簧的一端与所述第二套筒抵持，所述第二弹簧的另一端与所述第二杆体连接。

4.根据权利要求2或3所述的测试探针，其特征在于，所述第一触头的形状为直角三角形，所述第二触头的形状为直角三角形，所述第一触头的一个直角边与所述第一杆体连接，所述第一触头的另一个直角边朝向所述第二触头，所述第二触头的一个直角边与所述第二杆体连接，所述第二触头的另一个直角边朝向所述第一触头。

5.一种电源探头，其特征在于，包括壳体如权利要求1-4任一项所述的测试探针，所述壳体包括外壳和填充部，所述填充部包括第一探针孔和第二探针孔，所述第一针头连接于所述第一探针孔，所述第二针头连接于所述第二探针孔，所述测试探针与所述填充部可拆卸连接，第一触头相对所述第一探针孔露出，第二触头相对所述第二探针孔露出。

6.根据权利要求5所述的电源探头，其特征在于，还包括第一连接线和第二连接线，所述第一连接线的一端与所述第一针头电连接，所述第一连接线的另一端用于与连接线缆电连接，所述第二连接线的一端与所述第二针头电连接，所述第二连接线的另一端与所述外壳电连接。

7.根据权利要求6所述的电源探头，其特征在于，所述壳体包括第一壳体和第二壳体，所述第一壳体设有收容空间，所述填充部位于所述第一壳体内，所述第一壳体设有开口，所述第一连接线和所述第二连接线位于所述收容空间，所述第二壳体连接于所述开口。

8.一种检测设备，其特征在于，包括计算机组件、电子测量仪、连接线缆和如权利要求6或7所述的电源探头，所述计算机组件与所述电子测量仪电连接，所述电子测量仪与所述电源探头通过所述连接线缆电连接，所述第一连接线与所述连接线缆连通。

9.根据权利要求8所述的检测设备，其特征在于，还包括机械手，所述机械手与所述电源探头固定连接。

10.根据权利要求8所述的检测设备，其特征在于，还包括支架，所述支架与所述电源探头固定连接，所述支架用于放置在设有待测元件的单板上。