CN219799530U - 一种rf高频测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域，具体公开一种RF高频测试治具，包括上模组件、与所述上模组件扣合连接的下模组件、安装于所述下模组件中的探针组件、以及位于所述探针组件下方的测试电路板；所述探针组件包括：探针板组，所述探针板组设有用于放置待测器件的放件槽；若干检测探针，各所述检测探针安装于所述探针板组中；所述检测探针的上端向上凸伸并伸入所述放件槽中，下端向下凸伸并与所述测试电路板电连接；其中，所述探针板组由高频介质材料制成。本实用新型提供的RF高频测试治具，能有效提高对待测器件进行RF测试时的阻抗稳定性，进而提高测试精度。

Description

一种RF高频测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种RF高频测试治具。

背景技术

射频即Radio Frequency，通常缩写为RF。由于待测器件(DUT)的性质和构成非常敏感且通常较为精细，因此，射频电路的测量(简称“RF测试”)往往是一项棘手任务。

进行RF测试时，待测器件与测试电路板之间的阻抗是否稳定对于测试精度有着决定性影响。一般地，测试频率越高，阻抗稳定性对测试精度的影响越大。

本实用新型致力于，对现有RF测试治具进行改进，以提高对待测器件进行RF测试时的阻抗稳定性，进而提高测试精度。

本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种RF高频测试治具，能有效提高对待测器件进行RF测试时的阻抗稳定性，进而提高测试精度。

为达以上目的，本实用新型提供一种RF高频测试治具，包括上模组件、与所述上模组件扣合连接的下模组件、安装于所述下模组件中的探针组件、以及位于所述探针组件下方的测试电路板；

所述探针组件包括：

探针板组，所述探针板组设有用于放置待测器件的放件槽；

若干检测探针，各所述检测探针安装于所述探针板组中；所述检测探针的上端向上凸伸并伸入所述放件槽中，下端向下凸伸并与所述测试电路板电连接；

其中，所述探针板组由高频介质材料制成。

可选的，所述检测探针的端部的直径尺寸小于所述检测探针的中间位置的直径尺寸；

所述探针板组包括：

放件板，所述放件板的顶部设有向下凹陷的所述放件槽，所述放件槽的槽底设有供所述检测探针的上端伸入的进针孔；

上固针板，所述上固针板位于所述放件板的下方，且所述上固针板对应于所述进针孔的正下方的位置设有供所述检测探针的上部插入的正凸形槽；

下固针板，所述下固针板紧固安装于所述上固针板的底部，且所述下固针板对应于所述正凸形槽的正下方的位置设有供所述检测探针的下部插入的倒凸形槽。

可选的，所述放件板和所述上固针板上下滑动连接；

所述放件板和所述上固针板之间设有用于驱使所述放件板相对所述上固针板向上滑动的第一浮升弹簧。

可选的，所述下模组件包括：

下模安装板，所述上固针板与所述下模安装板紧固连接；

限位螺栓，所述限位螺栓的螺杆与所述下模安装板紧固连接，所述限位螺栓的头部凸伸至所述放件板的上方，限制所述放件板继续向上滑动。

可选的，所述下模组件还包括：

下模底板，所述下模底板位于所述下模安装板的下方并与所述下模安装板相对固定设置；

若干竖直导柱，各所述竖直导柱与所述下模底板固接；

其中，所述测试电路板位于所述下模底板与所述探针组件之间，并沿所述竖直导柱相对所述下模底板上下滑动。

可选的，还包括：

第二浮升弹簧，所述第二浮升弹簧位于所述下模底板和所述测试电路板之间，驱使所述测试电路板相对所述下模底板向上滑动。

可选的，所述上模组件包括：

上模主体；

旋转扣板，所述旋转扣板的中部位置与所述上模主体转动连接；

扣板弹簧，所述扣板弹簧位于所述旋转扣板的上端与所述上模主体之间，用于驱使所述旋转扣板的下端向所述下模安装板转动至与所述下模安装板扣合。

可选的，所述下模安装板对应于所述旋转扣板的位置设有供所述旋转扣板的下端卡入的卡扣槽。

本实用新型的有益效果在于：提供一种RF高频测试治具，除待测器件和测试电路板外，与所述检测探针直接接触的探针板组由高频介质材料制成；

使用高频介质材料制成的探针板组，介电常数(Dk)的稳定性较好，因此，将检测探针安装于由高频介质材料制成的探针板组上时，检测探针的阻抗稳定性大幅上升，由此即可提高测试精度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为实施例提供的RF高频测试治具的正面示意图；

图2为实施例提供的RF高频测试治具的侧面示意图；

图3为实施例提供的下模组件和探针组件的剖面示意图。

图中：

1、上模组件；101、上模主体；102、旋转扣板；

2、下模组件；201、下模安装板；2011、卡扣槽；202、下模底板；203、限位螺栓；204、竖直导柱；

3、探针组件；301、探针板组；3011、放件板；3011a、放件槽；3011b、进针孔；3012、上固针板；3012a、正凸形槽；3013、下固针板；3013a、倒凸形槽；3014、第一浮升弹簧；302、检测探针；

4、测试电路板；

5、第二浮升弹簧。

具体实施方式

为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。

此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本实用新型的限制。

以下将结合附图所示的具体实施方式对本实用新型进行详细描述。但这些实施方式并不限制本实用新型，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本实用新型的保护范围内。

本实用新型提供一种RF高频测试治具，适用于对待测器件进行RF测试的应用场景，其能有提高对待测器件进行RF测试时的阻抗稳定性，进而提高测试精度。

参见图1和图2，本实施例中，RF高频测试治具包括上模组件1、与所述上模组件1扣合连接的下模组件2、安装于所述下模组件2中的探针组件3、以及位于所述探针组件3下方的测试电路板4。

所述上模组件1包括上模主体101、旋转扣板102以及扣板弹簧。所述旋转扣板102的中部位置与所述上模主体101转动连接；所述扣板弹簧位于所述旋转扣板102的上端与所述上模主体101之间，用于驱使所述旋转扣板102的下端向所述下模组件2转动至与所述下模组件2扣合。

所述下模组件2包括下模安装板201和下模底板202。其中，所述下模底板202位于所述下模安装板201的下方并与所述下模安装板201相对固定设置。进一步地，所述下模安装板201对应于所述旋转扣板102的位置设有供所述旋转扣板102的下端卡入的卡扣槽2011。

参见图3，所述探针组件3包括探针板组301和安装于所述探针板组301上的若干检测探针302。其中，所述检测探针302为双头探针，即，检测探针302上下两端的直径尺寸均小于所述检测探针302的中间位置的直径尺寸。

相应地，所述探针板组301包括放件板3011、上固针板3012、下固针板3013、以及第一浮升弹簧3014。

所述放件板3011的顶部设有用于放置待测器件并向下凹陷的放件槽3011a，所述放件槽3011a的槽底设有供所述检测探针302的上端伸入的进针孔3011b。

所述放件板3011位于所述上固针板3012的中间位置的正上方，且所述上固针板3012的边沿位置通过紧固件与所述下模安装板201紧固连接。进一步地，所述放件板3011和所述上固针板3012上下滑动连接，且第一浮升弹簧3014位于所述放件板3011和所述上固针板3012之间，用于驱使所述放件板3011相对所述上固针板3012向上滑动。可选的，下模安装板201的顶面设有限位螺栓203，所述限位螺栓203的螺杆与所述下模安装板201紧固连接，所述限位螺栓203的头部凸伸至所述放件板3011的上方，限制所述放件板3011继续向上滑动，由此即可实现放件板3011的上滑限位。

所述上固针板3012对应于所述进针孔3011b的正下方的位置设有供所述检测探针302的上部插入的正凸形槽3012a；所述下固针板3013紧固安装于所述上固针板3012的底部，且所述下固针板3013对应于所述正凸形槽3012a的正下方的位置设有供所述检测探针302的下部插入的倒凸形槽3013a。

检测探针302的上部插入正凸形槽3012a后，正凸形槽3012a的上端开口尺寸小于检测探针302的中间位置的直径尺寸，因此，检测探针302的上端可以经所述正凸形槽3012a的上端开口，穿过所述进针孔3011b后，伸入放件槽3011a中，以便与待测器件抵持，但检测探针302无法整体向上穿过正凸形槽3012a；

同理，检测探针302的下部插入倒凸形槽3013a后，倒凸形槽3013a的下端开口尺寸小于检测探针302的中间位置的直径尺寸，因此，检测探针302的倒端可以经所述倒凸形槽3013a的下端开口向下凸伸至下固针板3013的下方，但检测探针302无法整体向下穿过倒凸形槽3013a；

即，上固针板3012和下固针板3013用于沿上下方向夹紧检测探针302，由此实现检测探针302的安装固定。

下模底板202的顶部固接有若干竖直导柱204，所述测试电路板4位于所述下模底板202与所述探针组件3之间，并沿所述竖直导柱204相对所述下模底板202上下滑动。进一步地，所述下模底板202和所述测试电路板4之间设有第二浮升弹簧5，用于驱使所述测试电路板4相对所述下模底板202向上滑动，以使得所述测试电路板4向上顶紧检测探针302向下凸伸的下端，由此实现检测探针302与测试电路板4之间的电连接。

本实施例中，所述探针板组301由高频介质材料制成，即，除待测器件和测试电路板4外，与所述检测探针302直接接触的放件板3011、上固针板3012、以及下固针板3013均由高频介质材料制成，例如，高频介质材料可以为碳氢树脂、PTFE、LCP液晶高聚物、PREPERM等。

需要说明的是，探针板组301作为用于安装固定检测探针302的部件，不仅单纯起着使检测探针302与其它部件进行绝缘的分隔，还能在一定程度上影响着检测探针302工作时的阻抗，进而影响信号的传输速度、信号衰减和发热等。可以理解的是，测试频率越高，探针板组301对测试阻抗的影响作用越明显。

当对待测器件进行高频测试时，待测器件对材料的介电常数(Dk)的变化很敏感。使用高频介质材料制成的探针板组301，介电常数(Dk)的稳定性较好，因此，将检测探针302安装于由高频介质材料制成的探针板组301上时，检测探针302的阻抗稳定性大幅上升，由此即可提高测试精度。

本实施例提供的RF高频测试治具，使用过程如下：

S10：开始时，各部件的状态如下：

①上模组件1和下模组件2分开；

②第一浮升弹簧3014驱使放件板3011向上滑动至较高的位置，此时，检测探针302的上端在放件槽3011a中的凸伸尺寸较小；

③第二浮升弹簧5驱使测试电路板4向上滑动并顶紧检测探针302的下端；

S20：当需要进行测试时，先将待测器件放入放件槽3011a中，然后将上模组件1放在下模组件2上，然后向下压上模组件1：

一方面，上模组件1对应于待测器件的位置会向下挤压待测器件，进而克服第一浮升弹簧3014的弹力作用，驱使待测器件和放件板3011适当向下滑动，以使得检测探针302的上端可以顶紧待测器件；

另一方面，在扣板弹簧的驱动作用下，旋转扣板102的下端转动至卡入下模安装板201的卡扣槽2011中；

由此即可实现上模组件1和下模组件2之间的相对定位；

S30：测试电路板4通过检测探针302实现与待测器件的电连接，进而执行测试程序；

S40：完成测试后，克服扣板弹簧的弹力作用，按下旋转扣板102的上端，即可打开上模组件1，然后将完成测试的待测器件取出。

本实施例提供的RF高频测试治具，具有以下优点：

①将检测探针302安装于由高频介质材料制成的探针板组301上，使得检测探针302进行RF高频测试时的阻抗稳定性大幅上升，由此提高测试精度；

②将检测探针302安装于上固定板和下固定板上，形成一个整体，便于装配。

应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本实用新型的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本实用新型的保护范围，凡未脱离本实用新型技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种RF高频测试治具，其特征在于，包括上模组件(1)、与所述上模组件(1)扣合连接的下模组件(2)、安装于所述下模组件(2)中的探针组件(3)、以及位于所述探针组件(3)下方的测试电路板(4)；

所述探针组件(3)包括：

探针板组(301)，所述探针板组(301)设有用于放置待测器件的放件槽(3011a)；

若干检测探针(302)，各所述检测探针(302)安装于所述探针板组(301)中；所述检测探针(302)的上端向上凸伸并伸入所述放件槽(3011a)中，下端向下凸伸并与所述测试电路板(4)电连接；

其中，所述探针板组(301)由高频介质材料制成。

2.根据权利要求1所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述检测探针(302)的端部的直径尺寸小于所述检测探针(302)的中间位置的直径尺寸；

所述探针板组(301)包括：

放件板(3011)，所述放件板(3011)的顶部设有向下凹陷的所述放件槽(3011a)，所述放件槽(3011a)的槽底设有供所述检测探针(302)的上端伸入的进针孔(3011b)；

上固针板(3012)，所述上固针板(3012)位于所述放件板(3011)的下方，且所述上固针板(3012)对应于所述进针孔(3011b)的正下方的位置设有供所述检测探针(302)的上部插入的正凸形槽(3012a)；

下固针板(3013)，所述下固针板(3013)紧固安装于所述上固针板(3012)的底部，且所述下固针板(3013)对应于所述正凸形槽(3012a)的正下方的位置设有供所述检测探针(302)的下部插入的倒凸形槽(3013a)。

3.根据权利要求2所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述放件板(3011)和所述上固针板(3012)上下滑动连接；

所述放件板(3011)和所述上固针板(3012)之间设有用于驱使所述放件板(3011)相对所述上固针板(3012)向上滑动的第一浮升弹簧(3014)。

4.根据权利要求2所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述下模组件(2)包括：

下模安装板(201)，所述上固针板(3012)与所述下模安装板(201)紧固连接；

限位螺栓(203)，所述限位螺栓(203)的螺杆与所述下模安装板(201)紧固连接，所述限位螺栓(203)的头部凸伸至所述放件板(3011)的上方，限制所述放件板(3011)继续向上滑动。

5.根据权利要求4所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述下模组件(2)还包括：

下模底板(202)，所述下模底板(202)位于所述下模安装板(201)的下方并与所述下模安装板(201)相对固定设置；

若干竖直导柱(204)，各所述竖直导柱(204)与所述下模底板(202)固接；

其中，所述测试电路板(4)位于所述下模底板(202)与所述探针组件(3)之间，并沿所述竖直导柱(204)相对所述下模底板(202)上下滑动。

6.根据权利要求5所述的RF高频测试治具，其特征在于，还包括：

第二浮升弹簧(5)，所述第二浮升弹簧(5)位于所述下模底板(202)和所述测试电路板(4)之间，驱使所述测试电路板(4)相对所述下模底板(202)向上滑动。

7.根据权利要求4所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述上模组件(1)包括：

上模主体(101)；

旋转扣板(102)，所述旋转扣板(102)的中部位置与所述上模主体(101)转动连接；

扣板弹簧，所述扣板弹簧位于所述旋转扣板(102)的上端与所述上模主体(101)之间，用于驱使所述旋转扣板(102)的下端向所述下模安装板(201)转动至与所述下模安装板(201)扣合。

8.根据权利要求7所述的RF高频测试治具，其特征在于，所述下模安装板(201)对应于所述旋转扣板(102)的位置设有供所述旋转扣板(102)的下端卡入的卡扣槽(2011)。