CN219757256U - 一种自张紧式薄膜测厚装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于薄膜测厚技术领域，具体涉及一种自张紧式薄膜测厚装置，包括：一对底座本体，所述底座本体之间滑动设置有发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间存在检测间隙；一对转动设置在所述底座本体上的支撑辊，所述支撑辊分别设置在所述检测间隙的两侧，并且所述支撑辊的顶部的水平位置落在所述检测间隙内；弹性设置在所述底座本体上的张紧辊，所述张紧辊位于所述一侧的所述支撑辊的下方，以及所述张紧辊始终有向下运动的趋势。有益效果：张紧辊能向下运动的趋势能使待测薄膜处于张紧状态，避免了待测薄膜的褶皱弯折等情况，提高了检测质量。

Description

一种自张紧式薄膜测厚装置

技术领域

本实用新型属于薄膜测厚技术领域，具体涉及一种自张紧式薄膜测厚装置。

背景技术

薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为：由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的2维材料。例：光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业；薄膜生产完成后，为了保证薄膜质量，在出厂前需要对薄膜进行厚度检测。

现有技术中如图1所示，对薄膜厚度检测时，薄膜安放在支撑棍上穿过检测间隙，位于检测间隙上方的发射模块发出超声波穿过薄膜，位于下方的接收模块接收到薄膜的检测数据从而完成薄膜厚度的检测，但是由于薄膜薄而软，没有张紧装置对薄膜进行张紧，薄膜容易出现褶皱弯折等情况，造成对薄膜的检测数据不准确，影响检测效果。

因此，提供一种能对薄膜进行自张紧式的薄膜测厚装置是有必要的。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种自张紧式薄膜测厚装置，以解决检测薄膜时薄膜不能张紧影响检测数据的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种自张紧式薄膜测厚装置，包括：一对底座本体，所述底座本体之间滑动设置有发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间存在检测间隙；一对转动设置在所述底座本体上的支撑辊，所述支撑辊分别设置在所述检测间隙的两侧，并且所述支撑辊的顶部的水平位置落在所述检测间隙内；弹性设置在所述底座本体上的张紧辊，所述张紧辊位于所述一侧的所述支撑辊的下方，以及所述张紧辊始终有向下运动的趋势。

进一步地，所述张紧辊的轴向开设有贯穿孔，所述贯穿孔的端部开设有安装台阶，所述安装台阶通过轴承转动设置有张紧轴；所述底座本体上设置有一对张紧座，所述张紧座上开设有张紧缺口，所述张紧缺口的顶部设置有张紧弹簧，以及所述张紧轴的两端插接在所述张紧缺口内，所述张紧弹簧的另一端设置在所述张紧轴的插接端的顶部，所述张紧弹簧始终处于压缩状态。

进一步地，所述张紧缺口的侧壁为竖直设置，所述张紧轴的端部设置有一对竖直的第一扁位，所述第一扁位贴合所述张紧缺口的侧壁。

进一步地，所述张紧座的顶部盖合有张紧盖板，所述张紧缺口贯穿所述张紧座的顶部，所述张紧弹簧固定在所述张紧盖板的底部。

进一步地，所述张紧缺口的底壁开设有螺纹孔，所述螺纹孔内插接有限位柱，所述张紧弹簧套设在所述限位柱上；所述张紧轴的端部开设有竖直的限位孔，所述限位柱插接在所述限位孔内。

进一步地，所述张紧轴的端部设置有一对水平的第二扁位，所述限位孔开设在所述第二扁位上，以及所述张紧弹簧的底部固定在位于上方的所述第二扁位上。

进一步地，所述张紧盖板上开设有贯穿的插接孔，所述限位柱的顶部插接在所述插接孔内。

进一步地，所述张紧盖板上开设有一对连接孔，所述连接孔通过螺栓连接在所述张紧座的顶部。

进一步地，所述底座本体包括水平支板和竖直支板；所述竖直支板设置在所述水平支板的顶部，所述竖直支板之间设置有一对滑动导轨，所述发射模块滑动设置在位于上方的所述滑动导轨上，所述接收模块滑动设置在位于下方的所述滑动导轨上；所述支撑辊通过轴承座转动设置在所述竖直支板的侧壁；所述张紧座固定在所述水平支板的顶部。

本实用新型的有益效果:

1、底座本体能完成发射模块、接收模块、支撑辊与张紧辊的架设，结构稳定可靠；发射模块发出检测薄膜的超声波穿过待测的薄膜然后被接收模块接收从而得到检测数据完成对待测薄膜的检测；检测间隙留有适于检测薄膜的间隙；

2、检测间隙两侧的支撑辊能对待测薄膜的底部进行支撑，支撑辊的顶部的水平位置落在检测间隙内的设置使得待测薄膜能够平稳穿过检测间隙从而完成检测，提高了检测的质量；

3、张紧辊始终有向下运动趋势的设置，使得待测薄膜从张紧辊底部穿过时，待测薄膜的顶部能始终被张紧辊的底部压紧从而对待测薄膜有张紧作用，避免了待测薄膜在测量过程中出现褶皱弯折等情况，提高了检测质量。

本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有薄膜测厚装置结构示意图；

图2是本实用新型自张紧式薄膜测厚装置结构示意图；

图3是本实用新型底座本体、张紧座与张紧辊的结构示意图；

图4是本实用新型底座本体、张紧座与张紧辊的内部结构示意图。

图中：

100、底座本体，110、发射模块，120、接收模块，130、检测间隙，140、张紧座，141、张紧缺口，1411、螺纹孔，142、张紧弹簧，143、张紧盖板，1431、插接孔，1432、连接孔，144、限位柱，150、水平支板，160、竖直支板，170、滑动导轨，180、轴承座；

200、支撑辊；

300、张紧辊，310、贯穿孔，320、安装台阶，330、张紧轴，331、第一扁位，332、限位孔，333、第二扁位。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

如图2-4所示，本实用新型提供了一种自张紧式薄膜测厚装置，包括：一对底座本体100，所述底座本体100之间滑动设置有发射模块110和接收模块120，所述发射模块110和所述接收模块120之间存在检测间隙130；所述底座本体100能完成发射模块110、接收模块120、支撑辊200与张紧辊300的架设，结构稳定可靠；所述发射模块110发出检测薄膜的超声波穿过待测的薄膜然后被所述接收模块120接收从而得到检测数据完成对待测薄膜的检测；所述检测间隙130留有适于检测薄膜的间隙；一对转动设置在所述底座本体100上的支撑辊200，所述支撑辊200分别设置在所述检测间隙130的两侧，并且所述支撑辊200的顶部的水平位置落在所述检测间隙130内；所述检测间隙130两侧的所述支撑辊200能对待测薄膜的底部进行支撑，所述支撑辊200的顶部的水平位置落在检测间隙130内的设置使得待测薄膜能够平稳穿过所述检测间隙130从而完成检测，提高了检测的质量；弹性设置在所述底座本体100上的张紧辊300，所述张紧辊300位于所述一侧的所述支撑辊200的下方，以及所述张紧辊300始终有向下运动的趋势。所述张紧辊300始终有向下运动趋势的设置，使得待测薄膜从所述张紧辊300底部穿过时，待测薄膜顶部贴合所述张紧辊300的底部，待测薄膜的顶部能始终被张紧辊300的底部压紧从而对待测薄膜有张紧作用，待测薄膜向上运动使得待测薄膜底部被所述支撑辊200顶部支撑，在检测待测薄膜时，避免了待测薄膜在测量过程中出现褶皱弯折等情况，提高了检测质量。

所述张紧辊300的轴向开设有贯穿孔310，所述贯穿孔310的端部开设有安装台阶320，所述安装台阶320通过轴承转动设置有张紧轴330，所述张紧轴330能稳固支撑所述张紧辊300，使所述张紧辊300通过轴承能平稳转动在所述张紧轴330上，待测薄膜从所述张紧辊300底部穿过时，待测薄膜顶部贴合所述张紧辊300的底部，所述张紧辊300转动使得待测薄膜平稳向上运动至所述支撑棍的顶部时，减少了待测薄膜与所述张紧辊300之间的摩擦力，并且使待测薄膜处于张紧状态；所述底座本体100上设置有一对张紧座140，所述张紧座140上开设有张紧缺口141，所述张紧缺口141的顶部设置有张紧弹簧142，以及所述张紧轴330的两端插接在所述张紧缺口141内，所述张紧弹簧142的另一端设置在所述张紧轴330的插接端的顶部，所述张紧弹簧142始终处于压缩状态，所述张紧弹簧142处于压缩状态能提供弹性势能给所述张紧轴330，使得所述张紧轴330有始终向下运动的趋势从而带动所述张紧辊300有始终向下运动的趋势，待测薄膜贴合所述张紧辊300底部向上运动时，所述张紧辊300向下运动的趋势使得待测薄膜能够处于张紧状态。

所述张紧缺口141的侧壁为竖直设置，所述张紧轴330的端部设置有一对竖直的第一扁位331，所述第一扁位331贴合所述张紧缺口141的侧壁，所述张紧缺口141的侧壁限制了所述第一扁位331左右晃动，使得所述张紧轴330上下运动时，不会出现左右晃动，进而使得所述张紧辊300不会出现左右晃动，为待测薄膜提供了稳定的工作环境。

所述张紧座140的顶部盖合有张紧盖板143，所述张紧缺口141贯穿所述张紧座140的顶部，所述张紧弹簧142固定在所述张紧盖板143的底部，所述张紧弹簧142在所述张紧盖板143与所述张紧轴330的插接端顶部的夹持作用下始终处于压缩状态，所述压紧弹簧能提供弹性势能使得所述张紧轴330有始终向下运动的趋势。

所述张紧缺口141的底壁开设有螺纹孔1411，所述螺纹孔1411内插接有限位柱144，所述张紧弹簧142套设在所述限位柱144上，所述限位柱144为所述张紧弹簧142内壁提供了支撑力，使得所述张紧弹簧142不会左右晃动，提高了所述张紧弹簧142工作的可靠性；所述张紧轴330的端部开设有竖直的限位孔332，所述限位柱144插接在所述限位孔332内，所述限位柱144外壁与所述限位孔332内壁贴合，使得所述张紧轴330在所述限位柱144上平稳上下滑动。

所述张紧轴330的端部设置有一对水平的第二扁位333，所述限位孔332开设在所述第二扁位333上，所述限位孔332直径小于所述张紧弹簧142的内径；以及所述张紧弹簧142的底部固定在位于上方的所述第二扁位333上，所述第二扁位333能对所述张紧弹簧142稳固支撑

所述张紧盖板143上开设有贯穿的插接孔1431，所述限位柱144的顶部插接在所述插接孔1431内，使所述限位柱144能够被张紧盖板143支撑，所述张紧轴330在所述限位柱144上下滑动时，所述限位柱144的顶部能够得到支撑，避免了所述限位柱144某个部位受力过大从而损坏所述限位柱144的情况。

所述张紧盖板143上开设有一对连接孔1432，所述连接孔1432通过螺栓连接在所述张紧座140的顶部，结构简单可靠，能稳固连接所述张紧盖板143与所述张紧座140，使得所述张紧座140结构牢靠，为所述张紧辊300的工作提供了良好的工作环境。

所述底座本体100包括水平支板150和竖直支板160；所述竖直支板160设置在所述水平支板150的顶部，所述竖直支板160之间设置有一对滑动导轨170，所述发射模块110滑动设置在位于上方的所述滑动导轨170上，所述接收模块120滑动设置在位于下方的所述滑动导轨170上，所述发射模块110与所述接收模块120位置对应，同步滑动在所述滑动导轨170上，能对待测薄膜的宽度方向进行全面检测，提高了检测质量；所述支撑辊200通过轴承座180转动设置在所述竖直支板160的侧壁，所述轴承座180的设置使得所述支撑辊200转动更加平稳，对待测薄膜进行检测时，待测薄膜能被所述支撑辊200支撑，所述支撑辊200的平稳滑动能使待测薄膜平稳穿过所述检测间隙130，减少所述支撑辊200与待测薄膜的摩擦力，保护了待测薄膜；所述张紧座140固定在所述水平支板150的顶部。

本申请中选用的各个器件（未说明具体结构的部件）均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。并且，本申请所涉及的软件程序均为现有技术，本申请不涉及对软件程序作出任何改进。

在本实用新型实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本实用新型各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

以上述依据本实用新型的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (9)

1.一种自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，包括：

一对底座本体，所述底座本体之间滑动设置有发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间存在检测间隙；

一对转动设置在所述底座本体上的支撑辊，所述支撑辊分别设置在所述检测间隙的两侧，并且所述支撑辊的顶部的水平位置落在所述检测间隙内；

弹性设置在所述底座本体上的张紧辊，所述张紧辊位于所述一侧的所述支撑辊的下方，以及

所述张紧辊始终有向下运动的趋势。

2.如权利要求1所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧辊的轴向开设有贯穿孔，所述贯穿孔的端部开设有安装台阶，所述安装台阶通过轴承转动设置有张紧轴；

所述底座本体上设置有一对张紧座，所述张紧座上开设有张紧缺口，所述张紧缺口的顶部设置有张紧弹簧，以及

所述张紧轴的两端插接在所述张紧缺口内，所述张紧弹簧的另一端设置在所述张紧轴的插接端的顶部，所述张紧弹簧始终处于压缩状态。

3.如权利要求2所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧缺口的侧壁为竖直设置，所述张紧轴的端部设置有一对竖直的第一扁位，所述第一扁位贴合所述张紧缺口的侧壁。

4.如权利要求3所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧座的顶部盖合有张紧盖板，所述张紧缺口贯穿所述张紧座的顶部，所述张紧弹簧固定在所述张紧盖板的底部。

5.如权利要求4所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧缺口的底壁开设有螺纹孔，所述螺纹孔内插接有限位柱，所述张紧弹簧套设在所述限位柱上；

所述张紧轴的端部开设有竖直的限位孔，所述限位柱插接在所述限位孔内。

6.如权利要求5所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧轴的端部设置有一对水平的第二扁位，所述限位孔开设在所述第二扁位上，以及

所述张紧弹簧的底部固定在位于上方的所述第二扁位上。

7.如权利要求6所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧盖板上开设有贯穿的插接孔，所述限位柱的顶部插接在所述插接孔内。

8.如权利要求7所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述张紧盖板上开设有一对连接孔，所述连接孔通过螺栓连接在所述张紧座的顶部。

9.如权利要求8所述的自张紧式薄膜测厚装置，其特征在于，

所述底座本体包括水平支板和竖直支板；

所述竖直支板设置在所述水平支板的顶部，所述竖直支板之间设置有一对滑动导轨，所述发射模块滑动设置在位于上方的所述滑动导轨上，所述接收模块滑动设置在位于下方的所述滑动导轨上；

所述支撑辊通过轴承座转动设置在所述竖直支板的侧壁；

所述张紧座固定在所述水平支板的顶部。