CN219757183U - 一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的m值检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及检测设备技术领域的一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，包括底座，所述底座配合有定位套，所述底座中心设有通孔，所述通孔上端固定有凸沿，所述凸沿的外径与定位套的内孔直径匹配，定位套套设在底座的凸沿上；所述定位套的内孔与同步器齿套的外圆配合，所述底座的通孔的内壁上设有两个开口槽，两个开口槽的连线经过通孔的圆心，所述开口槽上下贯穿底座及凸沿，所述开口槽与M值测量仪的检测头配合。本实用新型的有益效果，整体结构简单，操作方便，可以快速、准确地检测出齿套倒锥M值，避免发生错齿现象，提高检测的准确性，便于批量检测。

Description

一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具

技术领域

本实用新型属于检测设备技术领域，具体涉及一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具。

背景技术

汽车同步器齿套倒锥在不同位置的M值不同，技术要求中，一般需要标定齿套倒锥在轴向高度特定位置的M值。现有技术中，通常在测量齿套倒锥的M值时，将齿套平放在一平板上，通过设定平板的高度对齿套倒锥轴向高度特定位置进行测量。例如，专利号CN208795136U公开了一种同步器齿套内齿M值检具，包括底板，底板的上表面前后并排设置有固定测头座和可前后移动的活动测头座，固定测头座和活动测头座上各设置有一个球状的测头，两个测头设置在一条直线上，且固定测头座和活动测头座上的测头分别指向前方和后方；底板上设置有可将活动测头座向后推出的弹簧，活动测头座连接到可前后活动的检测块上，检测块位于活动测头座的后方，底板上安装有百分表，百分表的检测头指向检测块。该专利在测量时，仅仅将同步器尺套安放在固定测头座上，没有对同步器齿套进行定心，容易造成测量不准确，而且在大批量检测时，由于需要确保两端测头过齿套中心，操作费时，不适合批量检测，因此，急需一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，解决上述问题。

实用新型内容

针对现有技术存在的上述缺陷，本实用新型提供了一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，包括底座，所述底座配合有定位套，所述底座中心设有通孔，所述通孔上端固定有凸沿，所述凸沿的外径与定位套的内孔直径匹配，定位套套设在底座的凸沿上；

所述定位套的内孔与同步器齿套的外圆配合，所述底座的通孔的内壁上设有两个开口槽，两个开口槽的连线经过通孔的圆心，所述开口槽上下贯穿底座及凸沿，所述开口槽与M值测量仪的检测头配合。

优选的，所述定位套通过螺栓与底座可拆卸连接。

优选的，所述凸沿的内径大于同步器齿套的内径小于同步器齿套的外径。

本实用新型还包括能够使一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具正常使用的其它组件，如M值测量仪等均为本领域的常规技术手段。另外，本实用新型中未加限定的装置或组件均采用本领域中的常规技术手段，如M值测量仪、检测头等均是本领域常规设备。

本实用新型的工作原理：工作时，将底座平放在M值测量仪上，即底座的下端面放置在M值测量仪的工作台面上，并使底座的两个开口槽与M值测量仪的两端检测头对中，再将待检测的同步器齿套放入定位套内，同步器齿套的下端面与底座的凸沿的上端面接触，齿套外圆与定位套的内孔间隙配合，定位套的内孔对同步器齿套定心，由于底座的两端开口槽与M值测量仪的两端检测头已对中，确保M值测量仪的两端检测头通过齿套中心，避免发生错齿现象。提高检测的准确性。便于操作，检测效率高，检测精度高。整体结构简单，操作方便，可以快速、准确地检测出齿套倒锥M值，测量结果精确。通过改变定位套内孔大小和底座的高度，可对不同规格的同步器齿套进行快速精准的测量。

本实用新型的有益效果，整体结构简单，操作方便，可以快速、准确地检测出齿套倒锥M值，避免发生错齿现象，提高检测的准确性，便于批量检测。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1为本实用新型结构示意图

图2为图1中A-A剖视图

图3为待检测的同步器齿套

图4为本实用新型工作示意图。

图中：1、定位套；2、底座；3、同步器齿套；4、螺栓；5、检测头；6、凸沿；7、凸沿的上端面；8、定位套的内孔；9、底座的下端面；10、开口槽；11、同步器齿套的下端面；12、同步器齿套的外圆。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图以及具体实施例对本实用新型进行清楚地描述，在此处的描述仅仅用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

实施例

如图1-4所示，本实用新型提供了一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，包括底座2，所述底座2配合有定位套1，所述底座2中心设有通孔，所述通孔上端固定有凸沿6，所述凸沿6的外径与定位套1的内孔8直径匹配，定位套1套设在底座2的凸沿6上；

所述定位套1的内孔与同步器齿套的外圆12配合，所述底座2的通孔的内壁上设有两个开口槽10，两个开口槽10的连线经过通孔的圆心，所述开口槽10上下贯穿底座2及凸沿6，所述开口槽10与M值测量仪的检测头5配合。

所述定位套1通过螺栓4与底座2可拆卸连接。

所述凸沿的内径大于同步器齿套3的内径小于同步器齿套的外径，确保同步器齿套3可放置在底座2上。

本实施例中，待检测的同步器齿套，技术要求需要检测H2位置处的倒锥M值。即M值测量仪的检测头的中心必须准确落在同步器齿套3轴向高度H2的检测位置。由于测量仪的两端检测头5至工作台面的中心高H是固定的，通过设定底座2的H1值，使H＝H1+H2，即可保证测量仪的检测头5准确落在同步器齿套3轴向高度H2的检测位置。

工作时，将底座2平放在M值测量仪上，即底座的下端面9放置在M值测量仪的工作台面上，并使底座2的两个开口槽10与M值测量仪的两端检测头5对中，再将待检测的同步器齿套放入定位套1内，同步器齿套的下端面11与底座2的凸沿的上端面7接触，同步器齿套外圆12与定位套1的内孔间隙配合，定位套1的内孔对同步器齿套定心，由于底座的两端开口槽与M值测量仪的两端检测头已对中，确保M值测量仪的两端检测头通过齿套中心，避免发生错齿现象。提高检测的准确性。便于操作，检测效率高，检测精度高。整体结构简单，操作方便，可以快速、准确地检测出齿套倒锥M值，测量结果精确。通过改变定位套内孔大小和底座的高度，可对不同规格的同步器齿套进行快速精准的测量。

通过设定底座高度H1可以定位齿套轴向高度，使M值测量仪的检测头准确落在同位器齿套轴向高度H2的检测位置，从而准确测量同步器齿套倒锥在H2位置的M值。定位座设有的两端缺口槽可以避免定位座与测头发生干涉。定位套内孔对齿套定心，确保两端测头通过齿套中心。同步器齿套放好后，M值测量仪的检测头在同步器齿套的H2检测位置，即可通过M值测量仪上显示出的读数测出齿套倒锥的M值。

以上已经描述了本实用新型的实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的实施例。在不偏离所说明实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，包括底座，其特征在于：所述底座配合有定位套，所述底座中心设有通孔，所述通孔上端固定有凸沿，所述凸沿的外径与定位套的内孔直径匹配，定位套套设在底座的凸沿上；

所述定位套的内孔与同步器齿套的外圆配合，所述底座的通孔的内壁上设有两个开口槽，两个开口槽的连线经过通孔的圆心，所述开口槽上下贯穿底座及凸沿，所述开口槽与M值测量仪的检测头配合。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，其特征在于：所述定位套通过螺栓与底座可拆卸连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量同步器齿套倒锥特定位置的M值检具，其特征在于：所述凸沿的内径大于同步器齿套的内径小于同步器齿套的外径。