CN219657768U - 一种陶瓷电阻用高低温测试设备 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及陶瓷电阻测试设备技术的领域，尤其涉及一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其包括设备主体，设备主体上设有工作台，工作台上沿其长度方向从左到右依次设有用于产品上下料的上下料机构以及用于提供测试环境的常温测试台和高温测试台，工作台上设有用于搬运产品于上下料机构、常温测试台和高温测试台之间的搬运机构，搬运机构上设有用于测试产品的探针机构以及用于提高测试精确性的视觉定位系统，探针机构外接有测试仪表。本申请具有改善常规抽检带来的多种问题，提高对陶瓷电阻的测试效率，同时提高测试设备对不同封装产品的兼容性的作用。
Description
技术领域
本实用新型涉及陶瓷电阻测试设备技术的领域，尤其是涉及一种陶瓷电阻用高低温测试设备。
背景技术
在陶瓷电阻生产过程中，需要在每个工艺环节中把控产品的品质，而前道工序中陶瓷基片印刷好电阻图形后，需要对基板上大批量电阻进行抽样测试常温、高温的阻值变化率，需要对选中的某个电阻先后进行两次测试。
现在厂商一般采用抽检，单片放置于加热台使用测试表笔进行测试，在加热台先完成常温测试，再升温完成高温测试。而对于封装较小的0402、0603很难进行准确的四线测试，产品两次测试可能找错对象、效率低下、操作人员手可能被烫伤等问题。
并且有些厂商在测试时采用固定夹具固定探针卡的形式，由于产品种类多且电极间距不相同，在测试时需要对不同封装产品更换探针卡，此种方法兼容性比较差，测试不同产品时需要更换较多零件且需要微调，效率不高。
实用新型内容
为了改善常规抽检带来的多种问题，提高对陶瓷电阻的测试效率，同时提高测试设备对不同封装产品的兼容性，本申请提供一种陶瓷电阻用高低温测试设备。
本申请提供的一种陶瓷电阻用高低温测试设备采用如下的技术方案：
一种陶瓷电阻用高低温测试设备，包括设备主体，所述设备主体上设有工作台，所述工作台上沿其长度方向从左到右依次设有用于产品上下料的上下料机构以及用于提供测试环境的常温测试台和高温测试台，所述工作台上设有用于搬运产品于上下料机构、常温测试台和高温测试台之间的搬运机构，所述搬运机构上设有用于测试产品的探针机构以及用于提高测试精确性的视觉定位系统，所述探针机构外接有测试仪表。
优选的，所述上下料机构包括上料气缸、上料盒、下料气缸和下料盒，所述上料气缸和下料气缸均连接于工作台上，所述上料盒连接于上料气缸的滑动座上，所述下料盒连接于下料气缸的滑动座上，所述上料气缸和下料气缸可将上料盒和下料盒送出设备主体的外部。
优选的，所述搬运机构包括X轴直线电机、Z轴直线电机、升降气缸和吸盘，所述X轴直线电机连接于工作台上，所述X轴直线电机沿工作台的长度方向设置，所述Z轴直线电机连接于X轴直线电机的动子座上，所述Z轴直线电机的动子座上连接有转接板，所述升降气缸连接于转接板上，所述升降气缸的活塞杆沿朝向工作台的方向设置，所述吸盘连接于升降气缸的活塞杆的端部。
优选的，所述探针机构包括固定探针、活动探针和直线步进电机，所述固定探针连接于转接板上，所述直线步进电机连接于转接板上，所述活动探针连接于直线步进电机的动子座上，所述固定探针和活动探针相对设置，所述固定探针和活动探针通过线缆与测试仪表相连接。
优选的，所述视觉定位系统包括工业相机、补光灯和视觉控制器，所述工业相机连接于转接板上，所述工业相机沿朝向工作台的方向设置，所述补光灯连接于转接板上，所述补光灯沿朝向工作台的方向设置，所述工业相机、补光灯和探针机构由上而下依次设置，所述视觉控制器用于处理工业相机的照片得到产品的位置信息。
优选的，还包括测控系统，所述测控系统包括工控机电脑、PLC和触摸屏，所述工控机电脑作为整个系统的核心控制部分，实现各个机构运行的命令控制、仪表的命令控制、视觉定位系统的命令控制、测试数据的显示及存储；所述PLC和触摸屏实现设备中电机、气缸、加热的控制。
综上所述，本申请包括以下有益技术效果：
本实用新型通过常温测试台、高温测试台、上下料机构、搬运机构、探针机构、视觉定位系统和测试仪表的协同工作，实现产品的自动化测试，代替了以往人工手持测试表笔的测试方式，并且通过设置常温测试台和高温测试台，采用双工位先常温测试再高温测试的方法，省去了以往单工位升降温的流程，其中探针机构通过设置固定探针、活动探针和直线步进电机，采用一端固定，另一端由直线步进电机带动的方式，可兼容所有间距的产品，实现自动产品切换，无需任何人为介入更换部件，从而达到了改善常规抽检带来的多种问题，提高对陶瓷电阻的测试效率，同时提高测试设备对不同封装产品的兼容性的效果。
附图说明
图1是本申请实施例中陶瓷电阻用高低温测试设备的整体结构示意图；
图2是本申请实施例中用于体现陶瓷电阻用高低温测试设备内部结构的俯视图；
图3是本申请实施例中用于体现陶瓷电阻用高低温测试设备内部结构的正视图；
图4是本申请实施例中用于体现转接板上机构的示意图。
附图标记说明：1、设备主体；11、工作台；12、常温Y轴直线电机；121、常温测试台；13、高温Y轴直线电机；131、高温测试台；2、上下料机构；21、上料气缸；22、上料盒；23、下料气缸；24、下料盒；3、搬运机构；31、X轴直线电机；32、Z轴直线电机；321、转接板；33、升降气缸；34、吸盘；4、探针机构；41、固定探针；42、活动探针；43、直线步进电机；5、视觉定位系统；51、工业相机；52、补光灯。
具体实施方式
以下结合附图1-4对本申请作进一步详细说明。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个原件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
本申请实施例公开一种陶瓷电阻用高低温测试设备。参照图1和图2，陶瓷电阻用高低温测试设备包括设备主体1，设备主体1上设有工作台11，工作台11上沿其长度方向从左到右依次设有用于陶瓷电阻上下料的上下料机构2以及用于提供测试环境的常温测试台121和高温测试台131，工作台11上设有用于搬运陶瓷电阻于上下料机构2、常温测试台121和高温测试台131之间的搬运机构3，搬运机构3上设有用于测试陶瓷电阻的探针机构4以及用于提高测试精确性的视觉定位系统5，探针机构4外接有测试仪表。
其中，工作台11上连接有常温Y轴直线电机12，常温测试台121连接于常温Y轴直线电机12的动子座上，工作台11上连接有高温Y轴直线电机13，高温测试台131连接于高温Y轴直线电机13的动子座上。
参照图1和图2，上下料机构2包括上料气缸21、上料盒22、下料气缸23和下料盒24，上料气缸21和下料气缸23均连接于工作台11上，上料气缸21和下料气缸23均沿工作台11的宽度方向设置，上料气缸21和下料气缸23相互平行设置，上料盒22连接于上料气缸21的滑动座上，下料盒24连接于下料气缸23的滑动座上，上料气缸21和下料气缸23滑动时可将上料盒22和下料盒24送出设备主体1的外部，操作人员可将待检测的陶瓷电阻放置于上料盒22内，将下料盒24中测试完毕的陶瓷电阻取走，上述的上料盒22和下料盒24根据陶瓷片产品外形设计。
参照图2和图3，搬运机构3包括X轴直线电机31、Z轴直线电机32、升降气缸33和吸盘34，X轴直线电机31连接于工作台11上，X轴直线电机31沿工作台11的长度方向设置，X轴直线电机31为电磁驱动，对于长距离运动具有高速、精确、静音的优点，Z轴直线电机32连接于X轴直线电机31的动子座上，Z轴直线电机32为伺服电机，对于位置的精度非常准确，Z轴直线电机32的动子座上连接有转接板321，升降气缸33连接于转接板321上，升降气缸33的活塞杆沿朝向工作台11的方向设置，吸盘34连接于升降气缸33的活塞杆的端部，升降气缸33伸出时吸盘34接触陶瓷电阻，通过负压真空将陶瓷电阻吸起并通过X轴直线电机31运动实现搬运。
参照图4，探针机构4包括固定探针41、活动探针42和直线步进电机43，固定探针41连接于转接板321上，直线步进电机43连接于转接板321上，活动探针42连接于直线步进电机43的动子座上，固定探针41和活动探针42相对设置，由于不同封装产品的电极间距不同，故本方法通过直线步进电机43运动拉开或缩小固定探针41和活动探针42之间的间距，实现了所有封装产品的测试接触兼容，固定探针41和活动探针42通过线缆与测试仪表相连接。
参照图4，视觉定位系统5包括工业相机51、补光灯52和视觉控制器，工业相机51连接于转接板321上，工业相机51沿朝向工作台11的方向设置，该工业相机51为定焦相机，补光灯52连接于转接板321上，补光灯52沿朝向工作台11的方向设置，工业相机51、补光灯52和探针机构4由上而下依次设置，视觉控制器用于处理工业相机51的照片得到产品的位置信息。
其中，该设备还包括测控系统，测控系统包括工控机电脑、PLC和触摸屏，工控机电脑作为整个系统的核心控制部分，实现各个机构运行的命令控制、仪表的命令控制、视觉定位系统5的命令控制、测试数据的显示及存储；PLC和触摸屏实现设备中电机、气缸、加热的控制。
本申请实施例一种陶瓷电阻用高低温测试设备的实施原理为：首先将多个产品放入上料盒22内，然后在工控机电脑上设定产品封装、抽样测试点数、标称值、TCR判定范围，接着点击开始命令，上料气缸21自动将上料盒22运送至设备主体1内部，X轴直线电机31运动至上料位，Z轴直线电机32下降同时升降气缸33伸出，吸盘34真空吸取产品，升降气缸33及Z轴直线电机32上升，X轴直线电机31将产品搬运至常温测试台121并将陶瓷电机放置在常温测试台121上，接着X轴直线电机31和常温Y轴直线电机12配合运动，使得工业相机51对准常温测试台121上的产品，工业相机51进行拍照处理得出该产品的位置并发送至PLC，PLC经过计算得到产品上单个陶瓷电阻电极之间的距离，随后通过直线步进电机43调节固定探针41和活动探针42之间的距离，接着通过X轴直线电机31将固定探针41和活动探针42运动到产品的上方，接着Z轴直线电机32下压使得固定探针41和活动探针42接触产品上的电极，此时工控机电脑控制测试仪表进行测试，并保存测试数据，Z轴直线电机32抬起，常温工位测试完成后，通过X轴直线电机31将产品转移至高温工位，进行一定时间的加热后，同常温测试一样的方式进行测试，测试完成后将产品搬运至下料盒24内，两次测试完成后，工控机电脑自动将该产品上多个陶瓷电阻两次测试的数据进行处理，计算得出TCR值，设备再以上述方式进行下一片产品的测试，直至最后一片产品测试完成。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：包括设备主体(1)，所述设备主体(1)上设有工作台(11)，所述工作台(11)上沿其长度方向从左到右依次设有用于产品上下料的上下料机构(2)以及用于提供测试环境的常温测试台(121)和高温测试台(131)，所述工作台(11)上设有用于搬运产品于上下料机构(2)、常温测试台(121)和高温测试台(131)之间的搬运机构(3)，所述搬运机构(3)上设有用于测试产品的探针机构(4)以及用于提高测试精确性的视觉定位系统(5)，所述探针机构(4)外接有测试仪表。
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：所述上下料机构(2)包括上料气缸(21)、上料盒(22)、下料气缸(23)和下料盒(24)，所述上料气缸(21)和下料气缸(23)均连接于工作台(11)上，所述上料盒(22)连接于上料气缸(21)的滑动座上，所述下料盒(24)连接于下料气缸(23)的滑动座上，所述上料气缸(21)和下料气缸(23)可将上料盒(22)和下料盒(24)送出设备主体(1)的外部。
3.根据权利要求1所述的一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：所述搬运机构(3)包括X轴直线电机(31)、Z轴直线电机(32)、升降气缸(33)和吸盘(34)，所述X轴直线电机(31)连接于工作台(11)上，所述X轴直线电机(31)沿工作台(11)的长度方向设置，所述Z轴直线电机(32)连接于X轴直线电机(31)的动子座上，所述Z轴直线电机(32)的动子座上连接有转接板(321)，所述升降气缸(33)连接于转接板(321)上，所述升降气缸(33)的活塞杆沿朝向工作台(11)的方向设置，所述吸盘(34)连接于升降气缸(33)的活塞杆的端部。
4.根据权利要求1所述的一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：所述探针机构(4)包括固定探针(41)、活动探针(42)和直线步进电机(43)，所述固定探针(41)连接于转接板(321)上，所述直线步进电机(43)连接于转接板(321)上，所述活动探针(42)连接于直线步进电机(43)的动子座上，所述固定探针(41)和活动探针(42)相对设置，所述固定探针(41)和活动探针(42)通过线缆与测试仪表相连接。
5.根据权利要求1所述的一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：所述视觉定位系统(5)包括工业相机(51)、补光灯(52)和视觉控制器，所述工业相机(51)连接于转接板(321)上，所述工业相机(51)沿朝向工作台(11)的方向设置，所述补光灯(52)连接于转接板(321)上，所述补光灯(52)沿朝向工作台(11)的方向设置，所述工业相机(51)、补光灯(52)和探针机构(4)由上而下依次设置，所述视觉控制器用于处理工业相机(51)的照片得到产品的位置信息。
6.根据权利要求1所述的一种陶瓷电阻用高低温测试设备，其特征在于：还包括测控系统，所述测控系统包括工控机电脑、PLC和触摸屏，所述工控机电脑作为整个系统的核心控制部分，实现各个机构运行的命令控制、测试仪表的命令控制、视觉定位系统(5)的命令控制、测试数据的显示及存储，所述PLC和触摸屏实现设备中电机、气缸、加热的控制。
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