CN219648139U - 一种芯片测试实验台 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 title abstract description 7
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 229920001821 foam rubber Polymers 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试实验台，包括测试组件，还包括：台体，台体的顶部的两侧分别开有合格收集槽和不合格收集槽；支撑座，支撑座固定安装在台体的顶部，支撑座的顶部开有容纳槽；旋转组件，旋转组件包括转动件、底板和电机，转动件沿横向设置在容纳槽内、且两端均与容纳槽的内壁转动连接，底板沿横向设置在转动件的上方、且与转动件固定连接，电机用于控制转动件旋转；限位组件，限位组件包括固定块、导向杆和升降板，固定块固定安装在底板的顶部，固定块与芯片相适应，导向杆与底板滑动连接，升降板沿横向固定安装在导向杆的顶部，升降板上开有限位槽；以及驱动组件，驱动组件用于控制升降板上下移动。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试实验台。
背景技术
随着我国云计算、大数据和人工智能产业的发展，中国已经成为信息产业大国，然而信息系统中对性能和安全最为关键的则是芯片。芯片在生产后需要进行测试，以保证其出厂质量。现有的测试方法一般通过人工拿取测试仪器对准芯片引脚进行测试，测试起来效率较低，人工成本大。
目前市面上已经出现了一些自动测试设备，能够通过测试组件对芯片引脚进行自动测试，自动测试过程不需要人工参与。但是在测试完成后依然需要工作人员将芯片手动取出，整体测试效率依然较低。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种芯片测试实验台，使其在自动测试完成后能够自动将芯片取出。
为了实现上述目的，本实用新型通过如下的技术方案来实现：一种芯片测试实验台，包括测试组件，还包括：
台体，所述台体的顶部的两侧分别开有向下延伸的合格收集槽和不合格收集槽；
支撑座，所述支撑座固定安装在所述台体的顶部、且位于所述合格收集槽与所述不合格收集槽之间，所述支撑座的顶部开有向下延伸的容纳槽；
旋转组件，所述旋转组件包括转动件、底板和电机，所述转动件沿横向设置在所述容纳槽内、且两端均与所述容纳槽的内壁转动连接，所述底板沿横向设置在所述转动件的上方、且与所述转动件固定连接，所述电机用于控制所述转动件旋转；
限位组件，所述限位组件包括固定块、导向杆和升降板，所述固定块固定安装在所述底板的顶部，所述固定块与芯片相适应，所述导向杆沿纵向穿过所述底板、且与所述底板滑动连接，所述升降板沿横向固定安装在所述导向杆的顶部，所述升降板上开有沿纵向贯穿的限位槽，所述限位槽与所述固定块相适应；以及
驱动组件，所述驱动组件用于控制所述升降板上下移动。
进一步地，所述驱动组件包括弹簧、电磁铁和铁块，所述弹簧的两端分别与所述底板和所述升降板固定连接，所述电磁铁和所述铁块相对设置，所述电磁铁与所述底板固定连接，所述铁块与所述升降板固定连接。
进一步地，所述支撑座的顶部与所述合格收集槽的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第一倾斜面，所述支撑座的顶部与所述不合格收集槽的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第二倾斜面。
进一步地，所述第一倾斜面和所述第二倾斜面上均铺设有第一海绵垫。
进一步地，所述合格收集槽的内壁和所述不合格收集槽的内壁上均铺设有第二海绵垫。
进一步地，所述台体的底部设置有多个自锁脚轮。
本实用新型的有益效果：本实用新型提供的一种芯片测试实验台，测试时工作人员将芯片放入到限位槽内，固定板对芯片进行支撑，随后测试组件便对芯片引脚进行测试。测试完成后，驱动组件控制升降板向下移动，然后电机启动带动转动件旋转，芯片便会自动落入到合格收集槽或不合格收集槽内，因此本实验台能够在测试完成后自动将芯片取出。
附图说明
图1为本实用新型在第一视角下的立体结构示意图；
图2为图1中A部的放大结构示意图；
图3为本实用新型在第二视角下的立体结构示意图；
图4为本实用新型的侧视结构示意图。
附图标记：10-测试组件、20-台体、21-合格收集槽、22-不合格收集槽、23-第一倾斜面、24-第二倾斜面、25-自锁脚轮、30-支撑座、31-容纳槽、40-旋转组件、41-转动件、42-底板、43-电机、50-限位组件、51-固定块、52-导向杆、53-升降板、54-限位槽、60-驱动组件、61-弹簧、62-电磁铁、63-铁块。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“纵”、“横”、“水平”、“顶”、“底”、“上”、“下”、“内”和“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
如图1-4所示，本实用新型提供一种芯片测试实验台，包括测试组件10和控制柜，测试组件10包括测试探针，测试探针与芯片引脚接触时，能够对芯片引脚进行测试，上述内容均为现有技术，具体结构在此不再赘述。本实用新型还包括台体20、支撑座30、旋转组件40、限位组件50和驱动组件60。
台体20的顶部的两侧分别开有向下延伸的合格收集槽21和不合格收集槽22。
支撑座30固定安装在台体20的顶部、且位于合格收集槽21与不合格收集槽22之间，支撑座30的顶部开有向下延伸、且沿横向贯穿的容纳槽31。
旋转组件40包括转动件41、底板42和电机43。转动件41沿横向设置在容纳槽31内、且两端均与容纳槽31的内壁转动连接。底板42沿横向设置在转动件41的上方、且与转动件41固定连接。电机43与控制柜电连接、用于控制转动件41旋转。
限位组件50包括固定块51、导向杆52和升降板53。固定块51固定安装在底板42的顶部，固定块51与芯片的规格相适应。导向杆52沿纵向穿过底板42、且与底板42滑动连接。升降板53沿横向设置在导向杆52的顶部、且与导向杆52固定连接。升降板53上开有沿纵向贯穿的限位槽54，限位槽54与固定块51相适应。
驱动组件60用于控制升降板53上下移动。
初始状态下，固定板的顶部位于限位槽54的底部。
具体地工作过程为：首先工作人员将芯片放入到限位槽54内，此时固定板对芯片进行支撑。然后工作人员通过控制柜控制测试组件10启动，测试组件10便对芯片引脚进行测试，测试完成后，驱动组件60控制升降板53向下移动，直到升降板53的顶部与固定板的顶部齐平。接着控制柜根据测试组件10的测试组件10控制电机43启动，当测试结果为芯片合格时，电机43带动转动件41向着合格收集槽21的方向旋转，升降板53呈倾斜状态，芯片便会自动落入到合格收集槽21；当测试结果为芯片不合格时，电机43带动转动件41向着不合格收集槽22的方向旋转，升降板53呈倾斜状态，芯片便会自动落入到不合格收集槽22。本实验台能够在测试完成后自动将芯片取出。
工作完成后，控制柜控制所有的零部件复位，准备进行下一次工作。
在一个实施例中，驱动组件60包括弹簧61、电磁铁62和铁块63。弹簧61套设在导向杆52上，弹簧61的两端分别与升降板53和底板42固定连接，弹簧61使得升降板53具有靠近底板42的趋势。电磁铁62和铁块63相对设置，电磁铁62与底板42固定连接，电磁铁62与控制柜电连接，铁块63与升降板53固定连接。
初始状态下，控制器不给电磁铁62通电。
驱动组件60启动时，控制柜给电磁铁62通电，电磁铁62通电后对铁块63产生吸引，铁块63便会带动升降板53向下移动，直到升降板53的顶部与固定板的顶部齐平。
这种升降组件的结构简单，便于制造和使用。
在一个实施例中，支撑座30的顶部与合格收集槽21的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第一倾斜面23。支撑座30的顶部与不合格收集槽22的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第二倾斜面24。
从固定板和升降板53上落下的芯片会通过第一倾斜面23和第二倾斜面24分别落入到合格收集槽21和不合格收集槽22内，一方面对掉落的芯片起到缓冲作用，另一方面避免掉落的芯片砸到之前掉落的芯片上，减少芯片之间的直接撞击。
在一个实施例中，第一倾斜面23和第二倾斜面24上均铺设有第一海绵垫，对掉落的芯片起到保护作用。
在一个实施例中，合格收集槽21的内壁和不合格收集槽22的内壁上均铺设有第二海绵垫，进一步对掉落的芯片起到保护作用。
在一个实施例中，台体20的底部安装有多个自锁脚轮25，以方便工作人员移动本实验台。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (6)
1.一种芯片测试实验台，包括测试组件，其特征在于：还包括：
台体，所述台体的顶部的两侧分别开有向下延伸的合格收集槽和不合格收集槽；
支撑座，所述支撑座固定安装在所述台体的顶部、且位于所述合格收集槽与所述不合格收集槽之间，所述支撑座的顶部开有向下延伸的容纳槽；
旋转组件，所述旋转组件包括转动件、底板和电机，所述转动件沿横向设置在所述容纳槽内、且两端均与所述容纳槽的内壁转动连接，所述底板沿横向设置在所述转动件的上方、且与所述转动件固定连接，所述电机用于控制所述转动件旋转；
限位组件，所述限位组件包括固定块、导向杆和升降板，所述固定块固定安装在所述底板的顶部，所述固定块与芯片相适应，所述导向杆沿纵向穿过所述底板、且与所述底板滑动连接，所述升降板沿横向固定安装在所述导向杆的顶部，所述升降板上开有沿纵向贯穿的限位槽，所述限位槽与所述固定块相适应；以及
驱动组件，所述驱动组件用于控制所述升降板上下移动。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试实验台，其特征在于：所述驱动组件包括弹簧、电磁铁和铁块，所述弹簧的两端分别与所述底板和所述升降板固定连接，所述电磁铁和所述铁块相对设置，所述电磁铁与所述底板固定连接，所述铁块与所述升降板固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试实验台，其特征在于：所述支撑座的顶部与所述合格收集槽的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第一倾斜面，所述支撑座的顶部与所述不合格收集槽的底部之间均形成有向下倾斜、且向外延伸的第二倾斜面。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试实验台，其特征在于：所述第一倾斜面和所述第二倾斜面上均铺设有第一海绵垫。
5.根据权利要求4所述的一种芯片测试实验台，其特征在于：所述合格收集槽的内壁和所述不合格收集槽的内壁上均铺设有第二海绵垫。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试实验台，其特征在于：所述台体的底部设置有多个自锁脚轮。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320978747.9U CN219648139U (zh) | 2023-04-26 | 2023-04-26 | 一种芯片测试实验台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320978747.9U CN219648139U (zh) | 2023-04-26 | 2023-04-26 | 一种芯片测试实验台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219648139U true CN219648139U (zh) | 2023-09-08 |
Family
ID=87855709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202320978747.9U Active CN219648139U (zh) | 2023-04-26 | 2023-04-26 | 一种芯片测试实验台 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN219648139U (zh) |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN117686504A (zh) * | 2023-11-29 | 2024-03-12 | 无锡市宜欣科技有限公司 | 一种芯片表面瑕疵检测方法及系统 |
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- 2023-04-26 CN CN202320978747.9U patent/CN219648139U/zh active Active
Cited By (2)
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| CN117686504B (zh) * | 2023-11-29 | 2024-05-14 | 无锡市宜欣科技有限公司 | 一种芯片表面瑕疵检测方法及系统 |
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