CN219178566U - 一种型材断面线扫测量设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种型材断面线扫测量设备，包括机箱，控制装置，机箱内设置有检测平台，检测平台上通过防尘罩划分成第一空间和第二空间；第一空间内设置有线扫相机、线扫镜头；线扫相机安装在所述机箱内侧壁，线扫镜头通过镜头支架安装在与所述线扫相机对应的一侧；所述防尘罩与所述线扫镜头的X轴向检测面对应的位置开设有与第二空间连通的条形检测孔。所述第二空间内设置有高亮线光源、两Y轴向直线电机、U形底座。U形底座固定安装在检测平台上，所述U形底座沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧高精度直线导轨均滑动连接有Y轴向直线电机。在Y轴向运动的时候，确保检测精度的基础上，可对型材的断面进行高精度测量。

Description

一种型材断面线扫测量设备

技术领域

本实用新型涉及线扫测技术领域，具体公开了一种型材断面线扫测量设备。

背景技术

中国专利授权公告号为CN208751554U，授权公告日为2019年01月14日，提供了一种新型高精度视觉测试运动平台，包括工作底座，所述的工作底座上设有工作台，所述的工作台上设有滑轨，所述的滑轨上设有直线电机，所述的直线电机上设有运动载台，所述工作台两侧设有对称的圆柱支架，所述的圆柱支架上套设有可上下移动的滑块，所述滑块的一侧设有用于顶住圆柱支架的手动螺柱，所述两个相对称的滑块之间设有支撑板，所述支撑板的一侧设有与其垂直的卡板，所述卡板的凸块上卡设有支撑块。该技术存在的缺陷是：1、不能测量产品的断面；2、待测物随意放置在运动载台上，导致每次放置的位置均存在偏差，影响测试精度。鉴于这种情况，亟待改善。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种型材断面线扫测量设备，确保检测精度的基础上，可对型材的断面进行高精度测量。

为解决现有技术问题，本实用新型公开一种型材断面线扫测量设备，包括机箱，控制装置，所述机箱内设置有检测平台，所述检测平台上通过防尘罩划分成第一空间和第二空间；所述第一空间内设置有线扫相机、线扫镜头；所述线扫相机安装在所述机箱内侧壁，所述线扫镜头通过镜头支架安装在与所述线扫相机对应的一侧；所述防尘罩与所述线扫镜头的X轴向检测面对应的位置开设有与所述第二空间连通的条形检测孔。

所述第二空间内设置有高亮线光源、两Y轴向直线电机、U形底座；所述U形底座固定安装在所述检测平台上，所述U形底座沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧所述高精度直线导轨均滑动连接有所述Y轴向直线电机；两侧所述Y轴向直线电机的滑块之间连接有横跨所述U形底座的连接板，所述连接板上设置有测试承放板；所述检测平台上表面并且位于U形底座的一侧与所述条形检测孔对应的位置通过安装支架设置有高亮线光源；所述高亮线光源的出光面靠向所述X轴向检测面设置。

进一步，所述连接板靠向所述防尘罩的一侧沿其长度方向设置有透明玻璃定位隔板。

进一步，所述测试承放板远离入料口的一侧设置有限位部，所述测试承放板靠向入料口的一侧安装有第一气缸安装座，所述第一气缸安装座上靠向所述限位部的一侧安装有定位气缸。

进一步，所述测试承放板从入料口一侧包括依次线性排列设置的第一承放段、第二承放段、第三承放段；所述第一承放段、第二承放段、第三承放段的上表面均沿其长度方向均匀线性阵列凸设有多个承放凸条；所述第一承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置A，所述第二承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置B，所述第三承放段上的相邻两承放凸条之间的宽度设置C，A＞B＞C。

进一步，所述U形底座远离所述防尘罩的一侧沿其长度方向的相对两侧分别设置有第二定位气缸座和第三定位气缸座，所述第二定位气缸座靠向入料口一侧设置；所述第二定位气缸座和第三定位气缸座均相向设置有定位气缸；靠向所述第二定位气缸座和第三定位气缸座一侧的所述Y轴向直线电机中部的下表面设置有与所述第二定位气缸座和第三定位气缸座的定位气缸配合的限位凸块。

进一步，所述U形底座的内腔沿其长度方向设置有与所述高精度直线导轨对应的金属光栅尺；所述金属光栅尺的分辨率设置为0.1um。

进一步，所述U形底座的上表面并且位于所述连接板的相对两侧的下方均盖设有风琴护罩。

进一步，所述线扫相机设置为8K线扫相机，所述线扫镜头设置为大视野线扫镜头；所述检测平台设置为大理石平台。

进一步，所述第一空间内并且位于所述防尘罩和镜头支架之间设置有安装在所述检测平台上表面的调整块，所述镜头支架通过多个六角螺栓与所述调整块连接。

进一步，所述机箱位于入料口的位置铰接有防尘门。

本实用新型的有益效果为：

1、通过设置线扫相机和线扫镜头，在高亮线光源的配合下，两Y轴向直线电机带动测试承放板沿高精度直线导轨长度方向移动，待测型材断面靠向X轴向检测面方向放置，待测型材断面穿过X轴向检测面从而形成检测，控制装置将X轴向检测面所检测的一条条的线成像连起来从而形成完整的画面，从而可对型材的断面进行高精度测量；

2、连接板靠向防尘罩的一侧沿其长度方向设置有透明玻璃定位隔板，待测型材断面靠向X轴向检测面方向放置后，通过与透明玻璃定位隔板相贴接触，从而确保待测型材的X轴向处于合适的检测位置；再通过限位部和第一气缸安装座上的定位气缸相互配合，从而确保待测型材的Y轴向处于合适的检测位置，从而提升测量的精度；

3、测试承放板包括第一承放段、第二承放段、第三承放段，第一承放段、第二承放段、第三承放段上相邻两承放凸条之间的宽度不同，通过这样的结构设置，为了适应不同的产品，避开干涉部分，从而提升测量的精度；

附图说明

图1为本实用新型整机立体视图。

图2为本实用新型检测平台上相应结构的立体视图。

图3为本实用新型检测平台上相应结构的侧视图。

图4为本实用新型检测平台上相应结构的后视图。

图5为测试承放板的侧面结构示意图。

附图标记为：机箱10、防尘门11、控制装置12、检测平台13、型材14、安装支架15、限位部16、线扫相机17、线扫镜头18、防尘罩19、调整块20、条形检测孔21、Y轴向直线电机22、高亮线光源23、X轴向检测面24、透明玻璃定位隔板25、测试承放板26、第三定位气缸座27、限位凸块28、第一气缸安装座29、第二定位气缸座30、六角螺栓31、镜头支架32、第二承放段33、第三承放段34、承放凸条35、风琴护罩36、U形底座37、连接板38、第一承放段39、第一空间40、第二空间41、高亮线光源的出光面42、金属光栅尺43。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

参考图1至图5。

本实用新型实施例公开一种型材断面线扫测量设备，包括机箱10，控制装置12，机箱10内设置有检测平台13，检测平台13上通过防尘罩19划分成第一空间40和第二空间41；第一空间40内设置有线扫相机17、线扫镜头18；线扫相机17安装在机箱10内侧壁，线扫镜头18通过镜头支架32安装在与线扫相机17对应的一侧；防尘罩19与线扫镜头18的X轴向检测面24对应的位置开设有与第二空间41连通的条形检测孔21。

第二空间41内设置有高亮线光源23、两Y轴向直线电机22、U形底座37；U形底座37固定安装在检测平台13上，U形底座37沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧高精度直线导轨均滑动连接有Y轴向直线电机22；两侧Y轴向直线电机22的滑块之间连接有横跨U形底座37的连接板38，连接板38上设置有测试承放板26；检测平台13上表面并且位于U形底座37的一侧与条形检测孔21对应的位置通过安装支架15设置有高亮线光源23；高亮线光源的出光面42靠向X轴向检测面24设置。

连接板38靠向防尘罩19的一侧沿其长度方向设置有透明玻璃定位隔板25，通过透明玻璃定位隔板25对型材14的侧面进行限位，从而确保放置位置在X轴心的准确度。

测试承放板26远离入料口的一侧设置有限位部16，测试承放板26靠向入料口的一侧安装有第一气缸安装座29，第一气缸安装座29上靠向限位部16的一侧安装有定位气缸。

测试承放板26从入料口一侧包括依次线性排列设置的第一承放段39、第二承放段33、第三承放段34；第一承放段39、第二承放段33、第三承放段34的上表面均沿其长度方向均匀线性阵列凸设有多个承放凸条35；第一承放段39上的相邻两承放凸条35之间的宽度设置A，第二承放段33上的相邻两承放凸条35之间的宽度设置B，第三承放段34上的相邻两承放凸条35之间的宽度设置C，A＞B＞C。通过这样的结构设置，为了适应不同的产品，避开干涉部分，从而提升测量的精度。

U形底座37远离防尘罩19的一侧沿其长度方向的相对两侧分别设置有第二定位气缸座30和第三定位气缸座27，第二定位气缸座30靠向入料口一侧设置；第二定位气缸座30和第三定位气缸座27均相向设置有定位气缸；靠向第二定位气缸座30和第三定位气缸座27一侧的Y轴向直线电机22中部的下表面设置有与第二定位气缸座30和第三定位气缸座27的定位气缸配合的限位凸块28。通过设置第二定位气缸座30和第三定位气缸座27，设置在第二定位气缸座30和第三定位气缸座27上的定位气缸与限位凸块28配合，防止Y轴向直线电机22走过了既定位置，从而确保Y轴向直线电机22的位移精度。

所述U形底座37的内腔沿其长度方向设置有与高精度直线导轨对应的金属光栅尺43；所述金属光栅尺的分辨率设置为0.1um。。通过这样的结构设置，在Y轴向运动的时候，通过金属光栅尺检测两Y轴向直线电机22的位移距离，从而确保位移的精度。

U形底座37的上表面并且位于连接板38的相对两侧的下方均盖设有风琴护罩36。通过设置风琴护罩36，避免在U形底座37内积尘。

线扫相机17设置为8K线扫相机，线扫镜头18设置为大视野线扫镜头；检测平台13设置为大理石平台。通过这样的结构设置，一方面确保测量的精度，另一方面，采用大理石平台，确保测量时的稳定性以及精度。

第一空间40内并且位于防尘罩19和镜头支架32之间设置有安装在检测平台13上表面的调整块20，镜头支架32通过多个六角螺栓31与调整块20连接。通过这样的结构设置，当需要调整镜头支架32与调整块20的相对距离时，松开六角螺栓31，将镜头支架32移动至合适位置后再拧紧六角螺栓31即可，操作简便快捷。

机箱10位于入料口的位置铰接有防尘门11，通过这样的结构设置，在非生产状态时，防尘门11关闭，避免尘屑进入机箱10内部，处于生产状态时，防尘门11打开。操作简便。

本实施方式的操作步骤是：

1、将型材14放置在测试承放板26上；

2、型材14靠向第一空间40的一侧紧贴透明玻璃定位隔板25，第一气缸安装座29上的定位气缸与限位部16配合，从而调整好型材14在Y轴向位置；

3、两Y轴向直线电机22带动连接板38和测试承放板26移动；

4、型材14经过条形检测孔21，线扫相机17通过线扫镜头18对型材14的截面进行线扫描；

5、型材14整体完全经过线扫镜头18后，控制装置将X轴向检测面所检测的一条条的线成像连起来从而形成完整的画面，从而可对型材的断面进行高精度测量。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种型材断面线扫测量设备，包括机箱(10)，控制装置(12)，所述机箱(10)内设置有检测平台(13)，其特征在于，所述检测平台(13)上通过防尘罩(19)划分成第一空间(40)和第二空间(41)；所述第一空间(40)内设置有线扫相机(17)、线扫镜头(18)；所述线扫相机(17)安装在所述机箱(10)内侧壁，所述线扫镜头(18)通过镜头支架(32)安装在与所述线扫相机(17)对应的一侧；所述防尘罩(19)与所述线扫镜头(18)的X轴向检测面(24)对应的位置开设有与所述第二空间(41)连通的条形检测孔(21)；

所述第二空间(41)内设置有高亮线光源(23)、两Y轴向直线电机(22)、U形底座(37)；所述U形底座(37)固定安装在所述检测平台(13)上，所述U形底座(37)沿其长度方向的相对两侧均设置有高精度直线导轨，两侧所述高精度直线导轨均滑动连接有所述Y轴向直线电机(22)；两侧所述Y轴向直线电机(22)的滑块之间连接有横跨所述U形底座(37)的连接板(38)，所述连接板(38)上设置有测试承放板(26)；所述检测平台(13)上表面并且位于U形底座(37)的一侧与所述条形检测孔(21)对应的位置通过安装支架(15)设置有高亮线光源(23)；所述高亮线光源(23)的出光面靠向所述X轴向检测面(24)设置。

2.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述连接板(38)靠向所述防尘罩(19)的一侧沿其长度方向设置有透明玻璃定位隔板(25)。

3.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述测试承放板(26)远离入料口的一侧设置有限位部(16)，所述测试承放板(26)靠向入料口的一侧安装有第一气缸安装座(29)，所述第一气缸安装座(29)上靠向所述限位部(16)的一侧安装有定位气缸。

4.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述测试承放板(26)从入料口一侧包括依次线性排列设置的第一承放段(39)、第二承放段(33)、第三承放段(34)；所述第一承放段(39)、第二承放段(33)、第三承放段(34)的上表面均沿其长度方向均匀线性阵列凸设有多个承放凸条(35)；所述第一承放段(39)上的相邻两承放凸条(35)之间的宽度设置A，所述第二承放段(33)上的相邻两承放凸条(35)之间的宽度设置B，所述第三承放段(34)上的相邻两承放凸条(35)之间的宽度设置C，A＞B＞C。

5.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述U形底座(37)远离所述防尘罩(19)的一侧沿其长度方向的相对两侧分别设置有第二定位气缸座(30)和第三定位气缸座(27)，所述第二定位气缸座(30)靠向入料口一侧设置；所述第二定位气缸座(30)和第三定位气缸座(27)均相向设置有定位气缸；靠向所述第二定位气缸座(30)和第三定位气缸座(27)一侧的所述Y轴向直线电机(22)中部的下表面设置有与所述第二定位气缸座(30)和第三定位气缸座(27)的定位气缸配合的限位凸块(28)。

6.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述U形底座(37)的内腔沿其长度方向设置有与所述高精度直线导轨对应的金属光栅尺(43)；所述金属光栅尺(43)的分辨率设置为0.1um。

7.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述U形底座(37)的上表面并且位于所述连接板(38)的相对两侧的下方均盖设有风琴护罩(36)。

8.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述线扫相机(17)设置为8K线扫相机，所述线扫镜头(18)设置为大视野线扫镜头；所述检测平台(13)设置为大理石平台。

9.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述第一空间(40)内并且位于所述防尘罩(19)和镜头支架(32)之间设置有安装在所述检测平台(13)上表面的调整块(20)，所述镜头支架(32)通过多个六角螺栓(31)与所述调整块(20)连接。

10.根据权利要求1所述的一种型材断面线扫测量设备，其特征在于，所述机箱(10)位于入料口的位置铰接有防尘门(11)。

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