CN219143027U - 芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，包括安置座和安装在安置座上表面U形的支架，所述支架内安装有滑杆，滑杆上滑动安装有滑板一和滑板二，支架内壁的左右两侧面均安装有电动推杆一；该芯片测试装置，通过设置吸盘和红外传感器，通过行程气缸驱动吸盘竖直直线运动的作用，实现对芯片自动上下料的效果，设置滑板一两侧的红外传感器可以对芯片位置进行监测，当检测到芯片放置在吸盘下方时，行程气缸驱动吸盘对其进行吸附夹持，并且配合电动推杆一驱动滑板一直线移动，将芯片放置于芯片测试座上端等待测试工作，可以保证吸盘和芯片测试座之间位置的准确性和稳定性，避免出现错位的现象，提高芯片的测试结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试装置。
背景技术
芯片，在电子学中是一种将电路，主要包括半导体设备，也包括被动组件等小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，设计初期系统级芯片测试，由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划，微处理器芯片在生产过程中，为了保证芯片各个性能达到指标，需要对芯片进行详细的测试，需要用到芯片测试装置。
市场上的芯片测试装置不便于对芯片进行插接，无法保证芯片在测试过程中的稳定性，容易在移动的过程中出现晃动进而导致插接位置出现错位的现象，直接影响芯片的测试结果。
实用新型内容
本实用新型提出的芯片测试装置，解决了市场上的芯片测试装置不便于对芯片进行插接，无法保证芯片在测试过程中的稳定性，容易在移动的过程中出现晃动进而导致插接位置出现错位的现象，直接影响芯片的测试结果的问题。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：芯片测试装置，包括安置座和安装在安置座上表面U形的支架，所述支架内安装有滑杆，所述滑杆上滑动安装有滑板一和滑板二，所述支架内壁的左右两侧面均安装有电动推杆一，两个所述电动推杆一的输出轴分别与滑板一和滑板二固定连接，所述滑板一的下表面安装有行程气缸，所述行程气缸的输出轴端部安装有吸盘，所述滑板一的左右两侧面均安装有L形的安装板，所述安装板的底端安装有红外传感器，所述安置座的上表面安装有弹性支撑柱，所述弹性支撑柱的顶端安装有芯片测试座。
采用上述方案，通过设置吸盘和红外传感器，通过行程气缸驱动吸盘竖直直线运动的作用，实现对芯片自动上下料的效果，设置滑板一两侧的红外传感器可以对芯片位置进行监测，当检测到芯片放置在吸盘下方时，行程气缸驱动吸盘对其进行吸附夹持，并且配合电动推杆一驱动滑板一直线移动，将芯片放置于芯片测试座上端等待测试工作，可以保证吸盘和芯片测试座之间位置的准确性和稳定性，避免出现错位的现象，提高芯片的测试结果。
作为一种优选的实施方式，所述所述滑板二的下表面安装有电动推杆二，所述电动推杆二输出轴端部安装有下表面开口的保护框，所述保护框的下表面设置有定位组件。
采用上述方案，通过设置保护框，利用右侧电动推杆一驱动滑板二移动，进而带动保护框移动，结合电动推杆二驱动保护框竖直直线运动的作用，对插接完毕之后的芯片进行保护，使得芯片无干扰的进行测试工作。
作为一种优选的实施方式，所述定位组件包括两组安装在保护框下表面前后两侧的插销，且每组插销的数量为两个，所述芯片测试座的上表面开设有与插销相配合使用的插槽。
采用上述方案，通过设置插销，利用插销的一端与插槽相配合的作用，使得保护框随着电动推杆二的驱动向下移动时，通过插销的作用，对保护框进行定位，去报保护框位置的精准性。
作为一种优选的实施方式，所述支架内安装有两个侧板，两个所述侧板分别位于滑杆的前后两侧，所述滑板一和滑板二的前后两侧面均安装有限位板，所述限位板的一端滑动安装在限位槽内。
采用上述方案，通过设置限位板，利用限位板的一端在限位槽内滑动的作用，使得滑板一和滑板二在电动推杆一的驱动下可以保持水平直线位置上的直线移动，确保芯片测试过程中的稳定性，从而保证芯片测试的精准性。
作为一种优选的实施方式，所述安置座的上表面安装有四个弹簧，所述弹簧的另一端安装有等待测试放置板，所述等待测试放置板位于吸盘的下方。
采用上述方案，通过设置弹簧和等待测试放置板，将芯片放置在等待测试放置板上，方便吸盘精准的对芯片进行吸附移动，结合弹簧的弹性作用对吸盘向芯片施加的压力进行缓冲。
作为一种优选的实施方式，所述弹簧内设置有伸缩杆，所述伸缩杆安装在安置座的上表面，所述伸缩杆的伸缩轴与等待测试放置板固定连接。
采用上述方案，通过设置伸缩杆，利用伸缩杆位于弹簧内的作用，对弹簧内部进行填充，提高弹簧内部的饱满性，使得弹簧稳定的对等待测试放置板进行支撑。
本实用新型中：
该芯片测试装置，通过设置吸盘和红外传感器，通过行程气缸驱动吸盘竖直直线运动的作用，实现对芯片自动上下料的效果，设置滑板一两侧的红外传感器可以对芯片位置进行监测，当检测到芯片放置在吸盘下方时，行程气缸驱动吸盘对其进行吸附夹持，并且配合电动推杆一驱动滑板一直线移动，将芯片放置于芯片测试座上端等待测试工作，可以保证吸盘和芯片测试座之间位置的准确性和稳定性，避免出现错位的现象，提高芯片的测试结果；
该芯片测试装置，通过设置保护框，利用右侧电动推杆一驱动滑板二移动，进而带动保护框移动，结合电动推杆二驱动保护框竖直直线运动的作用，对插接完毕之后的芯片进行保护，使得芯片无干扰的进行测试工作。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的主视剖面结构示意图；
图3为本实用新型的图2中A处放大结构示意图。
图中：1、安置座；2、支架；3、滑杆；4、滑板一；5、电动推杆一；6、行程气缸；7、吸盘；8、安装板；9、红外传感器；10、等待测试放置板；11、芯片测试座；12、弹性支撑柱；13、侧板；14、滑板二；15、电动推杆二；16、保护框；17、插销；18、伸缩杆；19、弹簧；20、限位板。
具体实施方式
实施例
参照图1-3，本实用新型提供芯片测试装置，包括安置座1和安装在安置座1上表面U形的支架2，支架2内安装有滑杆3，利用滑杆3对滑板一4和滑板二14进行支撑，滑杆3上滑动安装有滑板一4和滑板二14，支架2内壁的左右两侧面均安装有电动推杆一5，利用电动推杆一5驱动滑板一4和滑板二14移动，两个电动推杆一5的输出轴分别与滑板一4和滑板二14固定连接，滑板一4的下表面安装有行程气缸6，行程气缸6的输出轴端部安装有吸盘7，利用吸盘7对芯片进行吸附夹持，滑板一4的左右两侧面均安装有L形的安装板8，安装板8的底端安装有红外传感器9，利用红外传感器9度芯片的位置进行检测，安置座1的上表面安装有弹性支撑柱12，弹性支撑柱12的顶端安装有芯片测试座11，利用芯片测试座11对芯片进行检测。
滑板二14的下表面安装有电动推杆二15，电动推杆二15输出轴端部安装有下表面开口的保护框16，对插接完毕之后的芯片进行保护，使得芯片无干扰的进行测试工作，保护框16的下表面设置有定位组件。
定位组件包括两组安装在保护框16下表面前后两侧的插销17，通过插销17的作用，对保护框16进行定位，去报保护框16位置的精准性，且每组插销17的数量为两个，芯片测试座11的上表面开设有与插销17相配合使用的插槽。
支架2内安装有两个侧板13，两个侧板13分别位于滑杆3的前后两侧，滑板一4和滑板二14的前后两侧面均安装有限位板20，利用限位板20的一端在限位槽内滑动的作用，使得滑板一4和滑板二14在电动推杆一5的驱动下可以保持水平直线位置上的直线移动，限位板20的一端滑动安装在限位槽内。
安置座1的上表面安装有四个弹簧19，结合弹簧19的弹性作用对吸盘7向芯片施加的压力进行缓冲,弹簧19的另一端安装有等待测试放置板10，将芯片放置在等待测试放置板10上，方便吸盘7精准的对芯片进行吸附移动,等待测试放置板10位于吸盘7的下方。
弹簧19内设置有伸缩杆18，利用伸缩杆18位于弹簧19内的作用，对弹簧19内部进行填充,伸缩杆18安装在安置座1的上表面，伸缩杆18的伸缩轴与等待测试放置板10固定连接。
工作原理：首先将芯片放置在等待测试放置板10上，然后红外传感器9可以对等待测试放置板10上芯片位置进行监测，启动行程气缸6，行程气缸6驱动吸盘7向下移动，对芯片进行吸附夹持，然后启动左侧的电动推杆一5，电动推杆一5驱动滑板一4进行直线水平移动，将芯片放置于芯片测试座11上端进行测试工作，然后将左侧的电动推杆一5复位，启动右侧的电动推杆一5，电动推杆一5驱动滑板二14移动，滑板二14带动保护框16移动到芯片上方，然后启动电动推杆二15，电动推杆二15驱动保护框16向下移动，保护框16带动插销17的一端进入到插槽内，然后便可对芯片进行测试工作，确保芯片测试过程中的稳定性，从而保证芯片测试的精准性。
Claims (6)
1.芯片测试装置，其特征在于，包括安置座(1)和安装在安置座(1)上表面U形的支架(2)，所述支架(2)内安装有滑杆(3)，所述滑杆(3)上滑动安装有滑板一(4)和滑板二(14)，所述支架(2)内壁的左右两侧面均安装有电动推杆一(5)，两个所述电动推杆一(5)的输出轴分别与滑板一(4)和滑板二(14)固定连接，所述滑板一(4)的下表面安装有行程气缸(6)，所述行程气缸(6)的输出轴端部安装有吸盘(7)，所述滑板一(4)的左右两侧面均安装有L形的安装板(8)，所述安装板(8)的底端安装有红外传感器(9)，所述安置座(1)的上表面安装有弹性支撑柱(12)，所述弹性支撑柱(12)的顶端安装有芯片测试座(11)。
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述滑板二(14)的下表面安装有电动推杆二(15)，所述电动推杆二(15)输出轴端部安装有下表面开口的保护框(16)，所述保护框(16)的下表面设置有定位组件。
3.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述定位组件包括两组安装在保护框(16)下表面前后两侧的插销(17)，且每组插销(17)的数量为两个，所述芯片测试座(11)的上表面开设有与插销(17)相配合使用的插槽。
4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述支架(2)内安装有两个侧板(13)，两个所述侧板(13)分别位于滑杆(3)的前后两侧，所述滑板一(4)和滑板二(14)的前后两侧面均安装有限位板(20)，所述限位板(20)的一端滑动安装在限位槽内。
5.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述安置座(1)的上表面安装有四个弹簧(19)，所述弹簧(19)的另一端安装有等待测试放置板(10)，所述等待测试放置板(10)位于吸盘(7)的下方。
6.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述弹簧(19)内设置有伸缩杆(18)，所述伸缩杆(18)安装在安置座(1)的上表面，所述伸缩杆(18)的伸缩轴与等待测试放置板(10)固定连接。
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| CN202222438766.0U CN219143027U (zh) | 2022-09-15 | 2022-09-15 | 芯片测试装置 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117783826A (zh) * | 2023-12-28 | 2024-03-29 | 无锡芯启博电子有限公司 | 一种芯片ft测试装置 |
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2022
- 2022-09-15 CN CN202222438766.0U patent/CN219143027U/zh active Active
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| CN117783826A (zh) * | 2023-12-28 | 2024-03-29 | 无锡芯启博电子有限公司 | 一种芯片ft测试装置 |
| CN117783826B (zh) * | 2023-12-28 | 2024-05-28 | 无锡芯启博电子有限公司 | 一种芯片ft测试装置 |
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