CN219143026U - 一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，涉及激光器芯片测试技术领域，包括：测试用支撑组件，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；活动组件，位于测试用支撑组件内部的顶端。本实用新型的有益效果是：由于拨动板后侧的弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，即可使顺时针转动中的拨动板会缓缓对联动块产生向下的拨动力，使联动块携带联动块、限位块，沿着套筒前端的条形缺口缓缓向下移动，对抵压板和套杆对套筒产生的弹性势能的大小进行调整，将插杆经过相应的插孔塞至拨动板的左侧位置处，使铁块与磁块接触并磁吸连接，保证后续移动块上下位置调整后的稳定性，同时又能对套杆与套筒之间的伸缩范围进行调整。

Description

一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及激光器芯片测试技术领域，具体是一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备。

背景技术

激光器芯片也是一种激光，激光器芯片一般是经电流注入，当注入电流>阈值电流时，就可以发射出特定波段的激光。

且激光器芯片在制作的过程中，为保证其的质量，一般需要预先对其进行测试，从而出现一种激光器芯片测试装置及测试方法(具体参阅专利号：CN111323696A)，其中一种激光器芯片测试装置，包括左探针调节台1、右探针调节台3、芯片热沉调节基台2和芯片测试台底座4，左探针调节台1、右探针调节台3和芯片热沉调节基台2均安装在芯片测试台底座4上，且左探针调节台1和右探针调节台3分别对称布置在芯片热沉调节基台2的两侧，左探针调节台1包括三轴位移台底座1.1、三轴位移台1.2、探针底座1.3、探针支架1.4和芯片探针1.5，三轴位移台底座1.1安装在芯片测试台底座4上，三轴位移台1.2安装在三轴位移台底座1.1上，探针底座1.3为倒T型结构,固定在三轴位移台1.2上，探针底座1.3的竖板上设弧状的角度调节孔1.6和探针支架安装孔，探针支架1.4为杆状结构,其一端通过螺栓和探针支架安装孔的配合安装在探针底座1.3上，探针支架1.4侧面固定有一个圆柱,圆柱卡在角度调节孔1.6中，使圆柱可绕角度调节孔1.6滑动，实现探针支架1.4的角度调节，探针支架1.4的另一端设有通孔,用于安装芯片探针1.5，芯片探针1.5尖端设有软探针，通过三轴位移台1.2实现芯片探针1.5在XYZ三个方向的移动。

然由于激光器芯片的厚度和宽度皆小，从而使其在利用激光器芯片测试装置进行测试的过程中，其夹持的效果较差，很难对夹持的力度进行调整，在一定程度上增加了工作的难度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：为了解决由于激光器芯片的厚度和宽度皆小，从而使其在利用激光器芯片测试装置进行测试的过程中，其夹持的效果较差，很难对夹持的力度进行调整，在一定程度上增加了工作的难度的问题，提供一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，包括：

测试用支撑组件，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；

活动组件，位于测试用支撑组件内部的顶端；

联动组件，位于测试用支撑组件内部的一侧且与活动组件活动连接；

拨动组件，位于联动组件的一侧且与联动组件转动连接；

插杆，位于拨动组件一侧的顶端且与拨动组件可拆卸连接；

放置组件，位于测试用支撑组件内侧的底端位置处；

所述联动组件包括第二联动架，所述第二联动架内部的两端皆设置有第三卡齿，所述第二联动架的底部设置有联动件，所述联动件一侧的中间位置处设置有磁块，所述第二联动架内侧的底端设置有第二弹性件，所述第二弹性件的顶部设置有联动块，所述联动块远离插杆的一侧设置有联动杆，所述联动杆的一端均匀设置有多组移动块，所述联动杆的一端靠近联动件的一侧设置有限位块，所述放置组件的数目为六组，且六组所述放置组件皆包括放置架，所述放置架的顶部皆放置有放置板，所述放置板的顶部均匀设置有多组存放孔，所述存放孔的内切面呈“T”型结构。

作为本实用新型再进一步的方案：所述测试用支撑组件底板，所述底板顶部的两侧皆设置有滑槽，所述滑槽的顶部皆设置有活动杆，所述活动杆的底部皆安装有与滑槽相匹配的电磁滑块，所述活动杆的顶部设置有框架。

作为本实用新型再进一步的方案：所述活动组件包括电机，所述电机的输出端设置有转动杆，所述转动杆的外部均匀设置有多组转盘，所述转盘的一端均匀设置有多组第一卡齿，所述转盘的数目为七组，其中六组所述转盘的外侧均匀设置有多组第一联动架，所述第一联动架内部的两端皆均匀设置有多组第二卡齿，所述第一联动架的底部皆设置有延伸至框架下方的活动架，所述活动架底部的两侧皆设置有套筒，所述套筒的底部皆设置有延伸至套筒内部底端的套杆，所述套杆的顶部皆设置有第一弹性件，且所述第一弹性件皆位于套筒内部的顶端，所述套杆的底部设置有抵压板。

作为本实用新型再进一步的方案：所述拨动组件包括把手，所述把手的一侧设置有拨动杆，所述拨动杆的外侧套设有拨动板，所述拨动板一侧的顶部均匀设置有多组插孔，所述拨动板的一侧设置有弧形面，且所述弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，且所述拨动杆通过轴承座与联动件的一侧转动连接。

作为本实用新型再进一步的方案：所述插杆的一侧设置有与磁块相匹配的铁块，所述插杆通过磁块、铁块和插孔的相互配合与联动件和拨动板可拆卸连接。

作为本实用新型再进一步的方案：所述框架顶部均匀设置有多组对接孔，所述框架的顶部靠近插杆的一侧设置有活动孔，所述活动架皆通过对接孔与框架活动连接，所述第二联动架通过活动孔与框架活动连接。

作为本实用新型再进一步的方案：其中一组所述转盘外侧的第一卡齿与第三卡齿啮合连接，剩余几组所述转盘外侧的第一卡齿皆与多组第二卡齿啮合连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过设置的活动组件、联动组件、拨动组件、插杆和铁块，使用时，预先将多组待测试的激光器芯片均匀放置在设置有放置板上的存放孔内部(存放孔的大小根据待测试的激光器芯片大小进行设置，使其匹配待测试的激光器芯片尺寸)，并使待测试的激光器芯片抵在“T”型结构的存放孔的内部，然后将存放有待测试的激光器芯片的放置板放置在放置架的顶部，若激光器芯片自动测试设备对存放有待测试的激光器芯片的放置板的抵压出现松动的现象后，只需顺时针拨动把手，使把手携带拨动杆和其外部的拨动板顺时针转动，使转动中的拨动板后侧的弧形面在转动的同时对联动块的顶部产生抵压力，由于拨动板后侧的弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，从而即可使顺时针转动中的拨动板会缓缓对联动块产生向下的拨动力，使联动块携带联动块、限位块，沿着套筒前端的条形缺口缓缓向下移动，并对位于套筒内部底端的第一弹性件产生向下的挤压力，使第一弹性件的长度被缩短，且其受力上下变形的范围缩短，从而即可使其的弹性势能增加，从而即可对抵压板和套杆对套筒产生的弹性势能的大小进行调整，然后将插杆经过相应的插孔塞至拨动板的左侧位置处，直至插杆左侧的铁块与联动件右侧的磁块接触并磁吸连接，从而即可对拨动板进行固定连接，保证了后续移动块上下位置调整后的稳定性，同时又能对套杆与套筒之间的伸缩范围进行调整，从而即可保证抵压板对存放有待测试的激光器芯片的放置板的夹持力度的调整，更好的对夹持的力度进行调整，在一定程度上降低了工作的难度，便于后续维护；

2、通过设置的测试用支撑组件和活动组件，使用时，电机的输出端在电力作用下带动转动杆顺时针转动，并使转动杆携带其外部的转盘和第一卡齿顺时针转动，同时由于多组第一卡齿分别与第一联动架内部后侧的第二卡齿和第二联动架内部后侧的第三卡齿啮合连接，从而即可使转动中的转盘对位于第一联动架内部后侧的第二卡齿和位于第二联动架内部后侧的第三卡齿产生向下的拨动力，从而即可使第一联动架和第二联动架同时携带其底部的活动架和联动件下移，直至第一联动架底部的套筒、套杆和抵压板对位于底板顶部存放有待测试的激光器芯片的放置板顶部两侧进行抵压支撑，当需要分离抵压板与存放有待测试的激光器芯片的放置板时，只需使转动杆持续顺时针转动，直至转盘外侧的第一卡齿移动至其的另一端，直至多组第一卡齿分别与第一联动架内部前侧的第二卡齿和第二联动架内部前侧的第三卡齿啮合连接，并对位于第一联动架内部前侧的第二卡齿和位于第二联动架内部前侧的第三卡齿产生向下的拨动力，从而即可使第一联动架和第二联动架同时携带其底部的活动架和联动件上移，实现抵压板与存放有待测试的激光器芯片的放置板之间的分离，同时又能降低了原有的正反电机驱动时，正转与反转之间的强行制动时对正反电机输出端造成的制动影响，从而在一定程度上提高了正反电机的使用寿命。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的局部立体图；

图3为本实用新型拨动板的结构示意图；

图4为本实用新型图1中A的放大图；

图5为本实用新型图1中B的放大图；

图6为本实用新型图1中C的放大图；

图7为本实用新型放置组件的结构示意图；

图8为本实用新型图1中D的放大图。

图中：1、测试用支撑组件；101、底板；102、滑槽；103、活动杆；104、电磁滑块；105、框架；2、活动组件；201、电机；202、转动杆；203、转盘；204、第一卡齿；205、第一联动架；206、活动架；207、套筒；208、第一弹性件；209、抵压板；2010、套杆；2011、第二卡齿；3、联动组件；301、第二联动架；302、联动件；303、磁块；304、第二弹性件；305、联动块；306、联动杆；307、限位块；308、移动块；309、第三卡齿；4、拨动组件；401、拨动杆；402、拨动板；403、插孔；404、把手；5、插杆；6、铁块；7、放置组件；701、放置架；702、放置板；703、存放孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。下面根据本实用新型的整体结构，对其实施例进行说明。

请参阅图1～8，本实用新型实施例中，一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，包括：

测试用支撑组件1，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；

活动组件2，位于测试用支撑组件1内部的顶端；

联动组件3，位于测试用支撑组件1内部的一侧且与活动组件2活动连接；

拨动组件4，位于联动组件3的一侧且与联动组件3转动连接；

插杆5，位于拨动组件4一侧的顶端且与拨动组件4可拆卸连接；

放置组件7，位于测试用支撑组件1内侧的底端位置处；

联动组件3包括第二联动架301，第二联动架301内部的两端皆设置有第三卡齿309，第二联动架301的底部设置有联动件302，联动件302一侧的中间位置处设置有磁块303，第二联动架301内侧的底端设置有第二弹性件304，第二弹性件304的顶部设置有联动块305，联动块305远离插杆5的一侧设置有联动杆306，联动杆306的一端均匀设置有多组移动块308，联动杆306的一端靠近联动件302的一侧设置有限位块307，放置组件7的数目为六组，且六组放置组件7皆包括放置架701，放置架701的顶部皆放置有放置板702，放置板702的顶部均匀设置有多组存放孔703，存放孔703的内切面呈“T”型结构。

请着重参阅图1，测试用支撑组件1底板101，底板101顶部的两侧皆设置有滑槽102，滑槽102的顶部皆设置有活动杆103，活动杆103的底部皆安装有与滑槽102相匹配的电磁滑块104，活动杆103的顶部设置有框架105。

请着重参阅图1、2和4，活动组件2包括电机201，电机201的输出端设置有转动杆202，转动杆202的外部均匀设置有多组转盘203，转盘203的一端均匀设置有多组第一卡齿204，转盘203的数目为七组，其中六组转盘203的外侧均匀设置有多组第一联动架205，第一联动架205内部的两端皆均匀设置有多组第二卡齿2011，第一联动架205的底部皆设置有延伸至框架105下方的活动架206，活动架206底部的两侧皆设置有套筒207，套筒207的底部皆设置有延伸至套筒207内部底端的套杆2010，套杆2010的顶部皆设置有第一弹性件208，且第一弹性件208皆位于套筒207内部的顶端，套杆2010的底部设置有抵压板209，限位块307皆位于套筒207内部的顶端，当需要分离抵压与激光器芯片时，只需使转动杆202持续顺时针转动，直至转盘203外侧的第一卡齿204移动至其的另一端，直至多组第一卡齿204分别与第一联动架205内部前侧的第二卡齿2011和第二联动架301内部前侧的第三卡齿309啮合连接，并对位于第一联动架205内部前侧的第二卡齿2011和位于第二联动架301内部前侧的第三卡齿309产生向下的拨动力，从而即可使第一联动架205和第二联动架301同时携带其底部的活动架206和联动件302上移，实现抵压板209与激光器芯片之间的分离，同时又能降低了原有的正反电机驱动时，正转与反转之间的强行制动时对正反电机输出端造成的制动影响，从而在一定程度上提高了正反电机的使用寿命。

请着重参阅图1、2和3，拨动组件4包括把手404，把手404的一侧设置有拨动杆401，拨动杆401的外侧套设有拨动板402，拨动板402一侧的顶部均匀设置有多组插孔403，拨动板402的一侧设置有弧形面，且弧形面与拨动杆401之间的距离从下到上依次递增，且拨动杆401通过轴承座与联动件302的一侧转动连接，利用轴承座使拨动杆401与联动件302转动连接，从而使其的转动更为省力，降低了转动时产生的摩擦阻力。

请着重参阅图1和6，插杆5的一侧设置有与磁块303相匹配的铁块6，插杆5通过磁块303、铁块6和插孔403的相互配合与联动件302和拨动板402可拆卸连接，利用磁块303、铁块6和插孔403的相互配合，使插杆5与联动件302和拨动板402可拆卸连接，从而即可使用插杆5对转动后的拨动板402进行限位固定。

请着重参阅图1和5，框架105顶部均匀设置有多组对接孔，框架105的顶部靠近插杆5的一侧设置有活动孔，活动架206皆通过对接孔与框架105活动连接，第二联动架301通过活动孔与框架105活动连接。

请着重参阅图1、2和5，其中一组转盘203外侧的第一卡齿204与第三卡齿309啮合连接，剩余几组转盘203外侧的第一卡齿204皆与多组第二卡齿2011啮合连接。

本实用新型的工作原理是：使用时，预先将多组待测试的激光器芯片均匀放置在设置有放置板702上的存放孔703内部(存放孔703的大小根据待测试的激光器芯片大小进行设置，使其匹配待测试的激光器芯片尺寸)，并使待测试的激光器芯片抵在“T”型结构的存放孔703的内部，然后将存放有待测试的激光器芯片的放置板702放置在放置架701的顶部，若激光器芯片自动测试设备对存放有待测试的激光器芯片的放置板702的抵压出现松动的现象后，只需顺时针拨动把手404，使把手404携带拨动杆401和其外部的拨动板402顺时针转动，使转动中的拨动板402后侧的弧形面在转动的同时对联动块305的顶部产生抵压力，由于拨动板402后侧的弧形面与拨动杆401之间的距离从下到上依次递增，从而即可使顺时针转动中的拨动板402会缓缓对联动块305产生向下的拨动力，使联动块305携带联动块305、限位块307，沿着套筒207前端的条形缺口缓缓向下移动，并对位于套筒207内部底端的第一弹性件208产生向下的挤压力，使第一弹性件208的长度被缩短，且其受力上下变形的范围缩短，从而即可使其的弹性势能增加，从而即可对抵压板209和套杆2010对套筒207产生的弹性势能的大小进行调整，然后将插杆5经过相应的插孔403塞至拨动板402的左侧位置处，直至插杆5左侧的铁块6与联动件302右侧的磁块303接触并磁吸连接，从而即可对拨动板402进行固定连接，保证了后续移动块308上下位置调整后的稳定性，同时又能对套杆2010与套筒207之间的伸缩范围进行调整，从而即可保证抵压板209对存放有待测试的激光器芯片的放置板702的夹持力度的调整，更好的对夹持的力度进行调整，在一定程度上降低了工作的难度，且电机201的输出端在电力作用下带动转动杆202顺时针转动，并使转动杆202携带其外部的转盘203和第一卡齿204顺时针转动，同时由于多组第一卡齿204分别与第一联动架205内部后侧的第二卡齿2011和第二联动架301内部后侧的第三卡齿309啮合连接，从而即可使转动中的转盘203对位于第一联动架205内部后侧的第二卡齿2011和位于第二联动架301内部后侧的第三卡齿309产生向下的拨动力，从而即可使第一联动架205和第二联动架301同时携带其底部的活动架206和联动件302下移，直至第一联动架205底部的套筒207、套杆2010和抵压板209对位于底板顶部存放有待测试的激光器芯片的放置板顶部两侧进行抵压支撑，当需要分离抵压板209与存放有待测试的激光器芯片的放置板702时，只需使转动杆202持续顺时针转动，直至转盘203外侧的第一卡齿204移动至其的另一端，直至多组第一卡齿204分别与第一联动架205内部前侧的第二卡齿2011和第二联动架301内部前侧的第三卡齿309啮合连接，并对位于第一联动架205内部前侧的第二卡齿2011和位于第二联动架301内部前侧的第三卡齿309产生向下的拨动力，从而即可使第一联动架205和第二联动架301同时携带其底部的活动架206和联动件302上移，实现抵压板209与存放有待测试的激光器芯片的放置板702之间的分离，同时又能降低了原有的正反电机驱动时，正转与反转之间的强行制动时对正反电机输出端造成的制动影响，从而在一定程度上提高了正反电机的使用寿命。

以上的，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，包括：

测试用支撑组件(1)，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；

活动组件(2)，位于测试用支撑组件(1)内部的顶端；

联动组件(3)，位于测试用支撑组件(1)内部的一侧且与活动组件(2)活动连接；

拨动组件(4)，位于联动组件(3)的一侧且与联动组件(3)转动连接；

插杆(5)，位于拨动组件(4)一侧的顶端且与拨动组件(4)可拆卸连接；

放置组件(7)，位于测试用支撑组件(1)内侧的底端位置处；

其特征在于，所述联动组件(3)包括第二联动架(301)，所述第二联动架(301)内部的两端皆设置有第三卡齿(309)，所述第二联动架(301)的底部设置有联动件(302)，联动件(302)一侧的中间位置处设置有磁块(303)，所述第二联动架(301)内侧的底端设置有第二弹性件(304)，所述第二弹性件(304)的顶部设置有联动块(305)，所述联动块(305)远离插杆(5)的一侧设置有联动杆(306)，所述联动杆(306)的一端均匀设置有多组移动块(308)，所述联动杆(306)的一端靠近联动件(302)的一侧设置有限位块(307)，所述放置组件(7)的数目为六组，且六组所述放置组件(7)皆包括放置架(701)，所述放置架(701)的顶部皆放置有放置板(702)，所述放置板(702)的顶部均匀设置有多组存放孔(703)，所述存放孔(703)的内切面呈“T”型结构。

2.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述测试用支撑组件(1)底板(101)，所述底板(101)顶部的两侧皆设置有滑槽(102)，滑槽(102)的顶部皆设置有活动杆(103)，所述活动杆(103)的底部皆安装有与滑槽(102)相匹配的电磁滑块(104)，所述活动杆(103)的顶部设置有框架(105)。

3.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述活动组件(2)包括电机(201)，所述电机(201)的输出端设置有转动杆(202)，所述转动杆(202)的外部均匀设置有多组转盘(203)，所述转盘(203)的一端均匀设置有多组第一卡齿(204)，所述转盘(203)的数目为七组，其中六组所述转盘(203)的外侧均匀设置有多组第一联动架(205)，所述第一联动架(205)内部的两端皆均匀设置有多组第二卡齿(2011)，所述第一联动架(205)的底部皆设置有延伸至框架(105)下方的活动架(206)，所述活动架(206)底部的两侧皆设置有套筒(207)，所述套筒(207)的底部皆设置有延伸至套筒(207)内部底端的套杆(2010)，所述套杆(2010)的顶部皆设置有第一弹性件(208)，且所述第一弹性件(208)皆位于套筒(207)内部的顶端，套杆(2010)的底部设置有抵压板(209)，所述限位块(307)皆位于套筒(207)内部的顶端，所述活动架(206)皆通过对接孔与框架(105)活动连接，所述第二联动架(301)通过活动孔与框架(105)活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述拨动组件(4)包括把手(404)，所述把手(404)的一侧设置有拨动杆(401)，所述拨动杆(401)的外侧套设有拨动板(402)，所述拨动板(402)一侧的顶部均匀设置有多组插孔(403)，所述拨动板(402)的一侧设置有弧形面，且所述弧形面与拨动杆(401)之间的距离从下到上依次递增，所述拨动杆(401)通过轴承座与联动件(302)的一侧转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述插杆(5)的一侧设置有与磁块(303)相匹配的铁块(6)，所述插杆(5)通过磁块(303)、铁块(6)和插孔(403)的相互配合与联动件(302)和拨动板(402)可拆卸连接。

6.根据权利要求2所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述框架(105)顶部均匀设置有多组对接孔，所述框架(105)的顶部靠近插杆(5)的一侧设置有活动孔。

7.根据权利要求3所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，其中一组所述转盘(203)外侧的第一卡齿(204)与第三卡齿(309)啮合连接，剩余几组所述转盘(203)外侧的第一卡齿(204)皆与多组第二卡齿(2011)啮合连接。

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