CN111123069A - 一种主板的高效测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种主板的高效测试装置，包括支撑底座；主板托盘，所述主板托盘固设于支撑底座上；升降装置，所述升降装置的底部固设于支撑底座上，且使所述升降装置位于主板托盘的上方；CPU固定机构，所述CPU固定机构与升降装置的活动端固定连接；外接测试设备，所述外接测试设备设于支撑底座上；在测试时，将待测主板置于主板托盘上，将所述外接测试设备与待测主板相连接；通过升降装置联动CPU固定机构上的CPU与待测主板上的CPU槽进行接触测试；测试结束后，通过升降装置联动CPU固定机构上的CPU离开待测主板上的CPU槽。本发明优点：提高了调试生产效率，降低了高价值CPU处理器芯片在生产测试过程中的损耗成本。

Description

一种主板的高效测试装置
技术领域
本发明涉及主板测试领域，特别涉及一种主板的高效测试装置。
背景技术
当前，Intel酷睿CPU处理器更新迭代十分迅猛。一方面针对不同场景的客户应用中，CPU处理器的配置需求千差万别；另一方面由于LGA封装插槽针脚过于脆弱，维护难度高；以上两方面问题始终困扰着PC终端厂商的生产计划。若直接带CPU生产主板，后续难免由于客户不同配置需求所带来的大批量整改更换CPU操作，既浪费了产能，又大幅提高了插槽针脚损伤的风险；若仅生产不带CPU的裸板，则在主板调试过程需要由人工取放CPU，不仅生产效率低下，也提高了针脚损伤的风险。
鉴于目前PC终端行业中生产酷睿LGA封装主板的调试方案都是采用人工取放CPU来进行性能测试，导致生产效率低的同时，还存在CPU槽针脚损伤的风险；且该困扰始终存在于整个PC终端行业，即便是富士康等世界500强的PC主板生产领军者也未在调试方案上有所突破。
发明内容
本发明要解决的技术问题，在于提供一种主板的高效测试装置，解决现有技术在对CPU进行性能测试时，存在生产效率低和CPU槽针脚受损的问题。
本发明提供了一种主板的高效测试装置，所述装置包括：
一支撑底座；
一主板托盘，所述主板托盘固设于所述支撑底座上；
一升降装置，所述升降装置的底部固设于所述支撑底座上，且使所述升降装置位于所述主板托盘的上方；
一CPU固定机构，所述CPU固定机构与所述升降装置的活动端固定连接；
一外接测试设备，所述外接测试设备设于所述支撑底座上；
在测试时，将待测主板置于所述主板托盘上，将所述外接测试设备与待测主板相连接；通过所述升降装置联动所述CPU固定机构上的CPU与待测主板上的CPU槽进行接触测试；测试结束后，通过所述升降装置联动所述CPU固定机构上的CPU离开待测主板上的CPU槽。
进一步的，所述装置还包括：
一散热器，所述散热器固设于所述升降装置的活动端，且使所述散热器位于所述CPU固定机构的正上方；所述散热器的四个边角处各设置有一固定支架；将待测主板上CPU槽的四个边角的第一通孔作为散热器定位孔，在测试时，将四根所述固定支架分别插设于待测主板的四个所述散热器定位孔中。
进一步的，所述装置还包括：
复数个测试插头，各所述测试插头均固设于所述升降装置上，各所述测试插头与所述CPU固定机构上的CPU相连接；在测试时，使各所述测试插头与待测主板上的各顶针插接在一起。
进一步的，所述装置还包括：
一滑动调节组件，所述主板托盘通过所述滑动调节组件与所述支撑底座相连接，并通过所述滑动调节组件实现所述主板托盘的位置调节。
进一步的，所述升降装置包括：
四根滑动杆，四根所述滑动杆的底部固设于所述支撑底座上；
一滑动板，所述滑动板与四根所述滑动杆滑动连接，所述散热器以及CPU固定机构均与所述滑动板固定连接；
一第一固定板，所述第一固定板固设于四根所述滑动杆的顶部；
一上下运动机构，所述上下运动机构固设于所述第一固定板上，所述上下运动机构的活动端与所述滑动板固定连接，且通过所述上下运动机构联动所述滑动板进行上下运动。
进一步的，所述CPU固定机构包括：
四根浮动杆，四根所述浮动杆的上端均与所述滑动板固定连接；
四个弹簧，每所述弹簧均套设于一所述浮动杆上，且各所述弹簧的上端均与所述滑动板固定连接；
一第二固定板，所述第二固定板的四个边角处均开设有一第二通孔，每所述浮动杆的下端均插设于一所述第二通孔内；各所述弹簧的下端均与所述第二固定板固定连接；
一铜块，所述铜块固设于所述第二固定板的底部，所述铜块的底部开设有一凹槽，CPU的背面固接于所述凹槽上。
进一步的，所述滑动板以及第一固定板均为亚克力板。
进一步的，所述主板托盘的一端设置有一拉耳。
本发明实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：1、通过将取放CPU的工艺由人工取放变为自动化操作，不仅提高了酷睿LGA封装系列主板的调试生产效率，而且极大的降低了高价值CPU处理器芯片在生产测试过程中的损耗成本；根据实际使用发现，通过采用本发明的技术方案，每块主板的生产测试成本可以降低1元以上，能够大幅降低企业的生产成本。2、采用焊接定位方式，具有准确率高、不受环境影响、使用寿命长、维护性强等优点；且具有较强的可移植性，能够适用于所有LGA、PGA等封装主板的生产。3、传统的酷睿主板由于CPU配置的不同，导致主板料号、散热器物料、调试程序等生产相关工艺的差异，因此无法统一排产，导致生产管理成本增加；而本发明的技术方案可实现统一排产及备货，降低了工厂生产管理成本。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。
图1为本发明一种主板的高效测试装置的结构示意图；
图2为本发明一种主板的高效测试装置在测试时的对接示意图；
图3为本发明中待测主板的结构示意图。
图4为本发明中主板托盘与滑动调节组件连接结构示意图。
图5为本发明中铜块的仰视图。
附图标记说明：
100-装置，200-待测主板，201-CPU槽，202-第一通孔，203-顶针，300-外接测试设备，1-支撑底座，2-主板托盘，21-拉耳，3-升降装置，31-滑动杆，32-滑动板，33-第一固定板，34-上下运动机构，4-CPU固定机构，41-浮动杆，42-弹簧，43-第二固定板，431-第二通孔，44-铜块，441-凹槽，5-CPU，6-散热器，61-散热器定位孔，7-固定支架，8-测试插头，9-滑动调节组件，91-调节轨道，911-调节孔，92-滑动块，93-锁付件。
具体实施方式
本申请实施例通过提供一种主板的高效测试装置，解决了现有技术在对CPU进行性能测试时，存在生产效率低和CPU槽针脚受损的问题，实现了提高调试生产效率、降低CPU在生产测试过程中的损耗成本的技术效果。
本发明实施例中的技术方案为解决上述问题，总体思路如下：利用CPU背面保护盖的可焊接性，将CPU平整的焊接一个铜块的底部；同时，在CPU的正下方设置主板托盘，并使待测主板在放置到主板托盘上后，待测主板上的CPU槽与CPU精准对齐；在需要进行测试时，通过升降装置联动CPU向下运动，使CPU与CPU槽精准接触，从而实现对待测主板的测试；在测试结束后，通过升降装置联动CPU向上运动，使CPU与CPU槽分离，并将测试后的主板从主板托盘上取下即可。由上述可知，本发明的技术方案通过将取放CPU的工艺由人工取放变为自动化操作，不仅提高了酷睿LGA封装系列主板的调试生产效率，而且极大的降低了高价值CPU处理器芯片在生产测试过程中的损耗成本。
为了更好地理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
请参阅图1至图5所示，本发明一种主板的高效测试装置100的较佳实施例，所述装置100包括：
一支撑底座1，所述支撑底座1可以采用铁质底座，以使整个所述支撑底座1更加稳定；
一主板托盘2，所述主板托盘2固设于所述支撑底座1上，所述主板托盘2用于放置待测主板200，以对待测主板200进行测试操作；
一升降装置3，所述升降装置3的底部固设于所述支撑底座1上，且使所述升降装置3位于所述主板托盘2的上方；
一CPU固定机构4，所述CPU固定机构4与所述升降装置3的活动端固定连接，在使用时，可通过所述升降装置3来联动所述CPU固定机构4进行上下运动；
一外接测试设备300，所述外接测试设备300设于所述支撑底座1上，该外接测试设备300用于对待测主板200进行测试，在具体实施时，所述外接测试设备300上根据测试需要设置有多个对接接头(未图示)，在对待测主板200进行测试时，需要将各对接接头与待测主板200上对应的插口(未图示)对接在一起；
在测试时，将待测主板200置于所述主板托盘2上，将所述外接测试设备300与待测主板200相连接，以通过所述外接测试设备300对所述待测主板200进行测试；通过所述升降装置3联动所述CPU固定机构4上的CPU5与待测主板200上的CPU槽201进行接触测试，即通过所述升降装置3联动CPU5精准的落入到CPU槽201中进行接触测试；测试结束后，通过所述升降装置3联动所述CPU固定机构4上的CPU5离开待测主板200上的CPU槽201。
在本实施例中，所述装置100还包括：
一散热器6，所述散热器6固设于所述升降装置3的活动端，且使所述散热器6位于所述CPU固定机构4的正上方；所述散热器6的四个边角处各设置有一固定支架7；将待测主板200上CPU槽201的四个边角的第一通孔202作为散热器定位孔61(即在待测主板200上CPU槽201的四周开设有四个第一通孔202，并将第一通孔202作为散热器定位孔61)，在测试时，将四根所述固定支架7分别插设于待测主板200的四个所述散热器定位孔61中。由于CPU5和待测主板200在工作的过程中会产生热量，通过在所述CPU固定机构4的正上方设置散热器6，可很好的实现对CPU5和待测主板200进行散热。各所述固定支架7一方面可以对所述散热器起到支撑的作用，另一方面可以对待测主板200起到定位的作用。
在本实施例中，所述装置100还包括：
复数个测试插头8，各所述测试插头8均固设于所述升降装置3上，各所述测试插头8与所述CPU固定机构4上的CPU5相连接；在测试时，使各所述测试插头8与待测主板200上的各顶针203插接在一起。
在本实施例中，所述装置100还包括：
一滑动调节组件9，所述主板托盘2通过所述滑动调节组件9与所述支撑底座1相连接，并通过所述滑动调节组件9实现所述主板托盘2的位置调节。在具体实施时，所述滑动调节组件9可以设置为包括两调节轨道91、两滑动块92以及至少两个锁付件93；两所述调节轨道91的底部分别固设于所述支撑底座1上，每所述调节轨道91的上表面均开设有复数个调节孔911；两所述滑动块92分别固设于所述主板托盘2的底部，每所述滑动块92上均开设有一穿过所述主板托盘2底部的锁付孔(未图示)，并通过所述锁付件93将所述滑动块92与所述调节轨道91锁付在一起，所述锁付件93可以采用螺丝、螺栓等。
在本实施例中，所述升降装置3包括：
四根滑动杆31，四根所述滑动杆31的底部固设于所述支撑底座1上；
一滑动板32，所述滑动板32与四根所述滑动杆31滑动连接，所述散热器6以及CPU固定机构4均与所述滑动板32固定连接，以通过所述滑动板32带动所述散热器6以及CPU固定机构4进行上下运动；
一第一固定板33，所述第一固定板33固设于四根所述滑动杆31的顶部；
一上下运动机构34，所述上下运动机构34固设于所述第一固定板33上，所述上下运动机构34的活动端与所述滑动板32固定连接，且通过所述上下运动机构34联动所述滑动板32进行上下运动。在具体实施时，所述上下运动机构34可以采用升降电机、连杆机构等，只要能够联动所述滑动板32进行上下运动即可。
在本实施例中，所述CPU固定机构4包括：
四根浮动杆41，四根所述浮动杆41的上端均与所述滑动板32固定连接；
四个弹簧42，每所述弹簧42均套设于一所述浮动杆41上，且各所述弹簧42的上端均与所述滑动板32固定连接；
一第二固定板43，所述第二固定板43的四个边角处均开设有一第二通孔431，每所述浮动杆41的下端均插设于一所述第二通孔431内；各所述弹簧42的下端均与所述第二固定板43固定连接；
一铜块44，所述铜块44固设于所述第二固定板43的底部，所述铜块44的底部开设有一凹槽441，CPU5的背面固接于所述凹槽441上，在具体实施时，可将CPU5的背面焊接于所述凹槽441内，在焊接时，需要注意使整块CPU5平整的位于所述凹槽441内。
所述滑动板32以及第一固定板33均为亚克力板。
为了方便对所述主板托盘2进行推拉操作，所述主板托盘2的一端设置有一拉耳21。
本发明装置100的工作原理如下：
在使用该装置100对待测主板200进行测试时，首先，需要通过滑动调节组件9将主板托盘2调节至CPU5的正下方，并使CPU5与放置到主板托盘2上的待测主板200的CPU槽201精准对齐；然后，通过升降装置3联动CPU5向下慢慢运动，使四根固定支架7的下端分别插入到待测主板200的四个散热器定位孔61中进行定位，使各测试插头8与待测主板200上的各顶针(未图示)插接在一起，当下降至CPU5与CPU槽201精准接触后，停止继续向下运动；接着，将外接测试设备300的各对接接头与待测主板200上对应的插口对接在一起，就可以一键启动电源进行自动测试了；最后，在测试结束后，通过升降装置3联动CPU5向上慢慢运动，使CPU5与CPU槽201分离，并将测试后的主板从主板托盘2上取下即可。
综上所述，本发明实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
1、通过将取放CPU的工艺由人工取放变为自动化操作，不仅提高了酷睿LGA封装系列主板的调试生产效率，而且极大的降低了高价值CPU处理器芯片在生产测试过程中的损耗成本；根据实际使用发现，通过采用本发明的技术方案，每块主板的生产测试成本可以降低1元以上，能够大幅降低企业的生产成本。
2、采用焊接定位方式，具有准确率高、不受环境影响、使用寿命长、维护性强等优点；且具有较强的可移植性，能够适用于所有LGA、PGA等封装主板的生产。
3、传统的酷睿主板由于CPU配置的不同，导致主板料号、散热器物料、调试程序等生产相关工艺的差异，因此无法统一排产，导致生产管理成本增加；而本发明的技术方案可实现统一排产及备货，降低了工厂生产管理成本。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本发明的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本发明的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本发明的权利要求所保护的范围内。

Claims (8)

1.一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述装置包括：
一支撑底座；
一主板托盘，所述主板托盘固设于所述支撑底座上；
一升降装置，所述升降装置的底部固设于所述支撑底座上，且使所述升降装置位于所述主板托盘的上方；
一CPU固定机构，所述CPU固定机构与所述升降装置的活动端固定连接；
一外接测试设备，所述外接测试设备设于所述支撑底座上；
在测试时，将待测主板置于所述主板托盘上，将所述外接测试设备与待测主板相连接；通过所述升降装置联动所述CPU固定机构上的CPU与待测主板上的CPU槽进行接触测试；测试结束后，通过所述升降装置联动所述CPU固定机构上的CPU离开待测主板上的CPU槽。
2.根据权利要求1所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述装置还包括：
一散热器，所述散热器固设于所述升降装置的活动端，且使所述散热器位于所述CPU固定机构的正上方；所述散热器的四个边角处各设置有一固定支架；将待测主板上CPU槽的四个边角的第一通孔作为散热器定位孔，在测试时，将四根所述固定支架分别插设于待测主板的四个所述散热器定位孔中。
3.根据权利要求1所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述装置还包括：
复数个测试插头，各所述测试插头均固设于所述升降装置上，各所述测试插头与所述CPU固定机构上的CPU相连接；在测试时，使各所述测试插头与待测主板上的各顶针插接在一起。
4.根据权利要求1所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述装置还包括：
一滑动调节组件，所述主板托盘通过所述滑动调节组件与所述支撑底座相连接，并通过所述滑动调节组件实现所述主板托盘的位置调节。
5.根据权利要求2所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述升降装置包括：
四根滑动杆，四根所述滑动杆的底部固设于所述支撑底座上；
一滑动板，所述滑动板与四根所述滑动杆滑动连接，所述散热器以及CPU固定机构均与所述滑动板固定连接；
一第一固定板，所述第一固定板固设于四根所述滑动杆的顶部；
一上下运动机构，所述上下运动机构固设于所述第一固定板上，所述上下运动机构的活动端与所述滑动板固定连接，且通过所述上下运动机构联动所述滑动板进行上下运动。
6.根据权利要求5所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述CPU固定机构包括：
四根浮动杆，四根所述浮动杆的上端均与所述滑动板固定连接；
四个弹簧，每所述弹簧均套设于一所述浮动杆上，且各所述弹簧的上端均与所述滑动板固定连接；
一第二固定板，所述第二固定板的四个边角处均开设有一第二通孔，每所述浮动杆的下端均插设于一所述第二通孔内；各所述弹簧的下端均与所述第二固定板固定连接；
一铜块，所述铜块固设于所述第二固定板的底部，所述铜块的底部开设有一凹槽，CPU的背面固接于所述凹槽上。
7.根据权利要求5所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述滑动板以及第一固定板均为亚克力板。
8.根据权利要求1所述的一种主板的高效测试装置，其特征在于：所述主板托盘的一端设置有一拉耳。
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