CN218938336U - 集成电路综合测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路测试设备领域，尤其涉及集成电路综合测试装置。所述集成电路综合测试装置包括架体，所述架体上设有电路板检测仪和检测笔，且所述架体上设有安装框；固定组件，所述固定组件设置在安装框内，所述固定组件包括限位条，所述限位条设有若干个并均匀分布，所述限位条的底部设有固定连接的挤压板，所述挤压板的上方设有相抵并滑动连接的挤压条，所述挤压条的外壁设有连接条，且所述限位条的外壁和安装框之间均设有挤压弹簧。本实用新型提供的集成电路综合测试装置，在使用检测笔对电路板进行检测过程中，即可避免电路板出现位移的现象，进而使工作人员可稳定的进行检测作业。

Description

集成电路综合测试装置

技术领域

本实用新型涉及电路测试设备领域，尤其涉及集成电路综合测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，形成电路板，成为具有所需电路功能的微型结构，生产后的集成电路板，都需要进行检测对不合格的样品进行标记，从而避免封装成本的浪费。

在对电路板进行检测时，一般都是工作人员手握检测笔对电路板的通电状况进行检测，而现有检测装置在检测过程中，多是直接将电路板放置在所需检测的台面上，并没有对电路板进行很好的固定限位，在检测过程中，在检测笔与电路板相抵时，电路板非常容易出现移动，进而给工作人员的检测工作带来不便。

因此，有必要提供新的集成电路综合测试装置解决上述技术问题。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供集成电路综合测试装置。

本实用新型提供的集成电路综合测试装置包括：

架体，所述架体上设有电路板检测仪和检测笔，且所述架体上设有安装框；

固定组件，所述固定组件设置在安装框内，所述固定组件包括限位条，所述限位条设有若干个并均匀分布，所述限位条的底部设有固定连接的挤压板，所述挤压板的上方设有相抵并滑动连接的挤压条，所述挤压条的外壁设有连接条，且所述限位条的外壁和安装框之间均设有挤压弹簧。

优选的，若干所述连接条的上方设有同一活动连接的压框，所述压框的内壁与安装框的外壁滑动连接，每个所述挤压条内部的两侧均插设有滑动连接的导向杆，且每个所述导向杆的端部均与安装框的内壁固定连接。

优选的，所述安装框的内部设有固定连接的固定框和安装板，所述固定框位于安装板下方，且所述固定框的内部设有半导体制冷片。

优选的，所述安装板的内部设有若干风扇，所述半导体制冷片的制冷面向上，所述半导体制冷片的制热面的设有若干散热叶片，且所述散热叶片延伸至安装框底部。

优选的，所述安装框的外壁上开设有若干第一滑槽，且每个所述第一滑槽的内壁分别与对应连接条的外壁滑动连接。

优选的，所述安装框的顶部设有固定连接的顶盖，所述顶盖的顶部开设有若干通孔和第二滑槽，且每个所述第二滑槽的内壁分别与对应限位条的外壁滑动连接。

优选的，所述挤压板和挤压条的相对面均为倾斜的坡面，且所述挤压弹簧的两端分别与对应限位条的外壁和安装框的内壁固定连接。

与相关技术相比较，本实用新型提供的集成电路综合测试装置具有如下

有益效果：

1、本实用新型通过固定组件的设置，后期使用过程，当工作人员将电路板放置在若干限位条之间，并松开对连接条的挤压后，若干挤压弹簧即可通过自身的弹性作用力带动限位条移动，直至限位条的外壁与电路板的外壁相抵，即可对电路板进行固定，因此后期在使用检测笔对电路板进行检测过程中，即可避免电路板出现位移的现象，进而使工作人员可稳定的进行检测作业。

2、本实用新型由于固定组件中的限位条是活动设置的，后期使用过程，当工作人员将不同规格的电路板放置在顶盖上方后，滑动的限位条都可顺利对其外壁进行挤压固定，进而可提高本装置适用范围。

3、本实用新型通过半导体制冷片和风扇的设置，在进行电路板的测试过程中，工作的风扇，即可将半导体制冷片所产生的冷气吹向电路板的底部，对测试过程中工作的电路板进行降温散热，进而可降低，因电路板在检测过程中出现温度过高的而损坏的现象。

附图说明

图1为本实用新型提供的集成电路综合测试装置的较佳实施例的结构示意图；

图2为图1所示安装框内部剖面的结构示意图；

图3为图2所示固定组件的结构示意图；

图4为图3所示固定组件中挤压条与各部件连接的结构示意图；

图5为图1所示安装板和固定框的结构示意图；

图6为图1所示安装框的结构示意图。

图中标号：1、架体；11、电路板检测仪；12、检测笔；2、安装框；21、第一滑槽；22、顶盖；23、通孔；24、第二滑槽；3、固定组件；31、压框；32、限位条；321、挤压板；322、挤压条；323、连接条；33、导向杆；34、挤压弹簧；4、安装板；41、风扇；5、固定框；51、半导体制冷片；52、散热叶片。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，若出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，若出现术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，若出现术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以下结合具体实施例对本实用新型的具体实现进行详细描述。

请参阅图1至图6，本实用新型实施例提供的集成电路综合测试装置，所述集成电路综合测试装置包括：架体1和固定组件3，所述架体1上设有电路板检测仪11和检测笔12，且所述架体1上设有安装框2。

在本实用新型的实施例中，请参阅图1、图2、图3和图4，所述固定组件3设置在安装框2内，所述固定组件3包括限位条32，所述限位条32设有若干个并均匀分布，所述限位条32的底部设有固定连接的挤压板321，所述挤压板321的上方设有相抵并滑动连接的挤压条322，所述挤压条322的外壁设有连接条323，且所述限位条32的外壁和安装框2之间均设有挤压弹簧34，若干所述连接条323的上方设有同一活动连接的压框31，所述压框31的内壁与安装框2的外壁滑动连接，每个所述挤压条322内部的两侧均插设有滑动连接的导向杆33，且每个所述导向杆33的端部均与安装框2的内壁固定连接，所述挤压板321和挤压条322的相对面均为倾斜的坡面，且所述挤压弹簧34的两端分别与对应限位条32的外壁和安装框2的内壁固定连接。

需要说明的是：由于挤压板321和挤压条322的相对面均为倾斜的坡面，因此在工作人员通过压框31和连接条323带动挤压条322向下移动时，挤压条322对挤压板321的挤压即可使挤压板321进行水平方向的滑动，进而可顺利的带动与其连接的限位条32向安装框2的外部进行滑动展开；

当工作人员松开对压框31的压力使，挤压弹簧34即可通过自身的挤压力带动限位条32向安装框2的中部进行滑动时，进而当限位条32的外壁与放置在顶盖22中部电路板的外壁相抵时，即可顺利完成对电路板的固定，同时因为电路板为活动连接的，进而可顺利的相对较多规格的电路板进行固定限位，因此后期在使用检测笔12对电路板进行检测过程中，即可避免电路板出现位移的现象，进而使工作人员可稳定的进行检测作业；

通过导向杆33的设置，且因为导向杆33的外壁与限位条32的内壁滑动连接，当限位条32进行移动时，导向杆33可对限位条32的移动轨迹进行限位，进而使限位条32后期的移动可更加稳定，降低限位条32在移动时，底部出现倾斜翘起的现象。

在本实用新型的实施例中，请参阅图2和图5，所述安装框2的内部设有固定连接的固定框5和安装板4，所述固定框5位于安装板4下方，且所述固定框5的内部设有半导体制冷片51，所述安装板4的内部设有若干风扇41，所述半导体制冷片51的制冷面向上，所述半导体制冷片51的制热面的设有若干散热叶片52，且所述散热叶片52延伸至安装框2底部。

需要说明的是：在对电路板进行检测过程中，工作的风扇41，即可将半导体制冷片51所产生的冷气吹向电路板的底部，对测试过程中工作的电路板进行降温散热，进而可降低，因电路板在检测过程中出现温度过高的而损坏的现象；

通过散热叶片52的设置，即可增加半导体制冷片51制热面与空气的接触面积，进而可对半导体制冷片51工作时自身所产生的热量进行扩散。

在本实用新型的实施例中，请参阅图2和图6，所述安装框2的外壁上开设有若干第一滑槽21，且每个所述第一滑槽21的内壁分别与对应连接条323的外壁滑动连接，所述安装框2的顶部设有固定连接的顶盖22，所述顶盖22的顶部开设有若干通孔23和第二滑槽24，且每个所述第二滑槽24的内壁分别与对应限位条32的外壁滑动连接。

需要说明的是：通过第一滑槽21和第二滑槽24的开设，后期当工作人员控制压框31对连接条323进行按压时，即可使连接条323顺利的在安装框2内部进行滑动，同时在连接通过挤压板321和挤压条322带动限位条32进行移动时，也可使限位条32顺利的在顶盖22内部进行滑动；

同时通过通孔23的开设，当风扇41将半导体制冷片51所产生的冷气向上吹动时，可使气体顺利的通过通孔23流向电路板的底部对电路板进行降温。

本实用新型提供的集成电路综合测试装置的工作原理如下：

后期在使用本装置时，工作人员首先可通过压框31对固定组件3中的若干连接条323向下按压，即可使若干连接条323在安装框2的内壁向下滑动，此时向下移动的连接条323即可顺利的带动端部的挤压条322对下方的挤压板321进行挤压，由于挤压条322与挤压板321相对面均为倾斜的坡面，因此挤压过程中，挤压板321即可顺利的带动顶部与其连接的限位条32向外滑动，即可使若干限位条32展开；

此时工作人员即可将电路板放置在若干限位条32之间，并松开对连接条323的挤压后，若干挤压弹簧34即可通过自身的弹性作用力带动限位条32移动，直至限位条32的外壁与电路板的外壁相抵，即可对电路板进行固定；

此时工作人员即可对电路板进行通电，并通过检测笔12对电路板的电流电压状况进行检测；

而在进行电路板的测试过程中，位于安装框2内工作的风扇41，即可将半导体制冷片51所产生的冷气吹向电路板的底部，对测试过程中工作的电路板进行降温散热，进而可降低，因电路板在检测过程中出现温度过高的而损坏的现象；

在完成电路板的检测后，即可重新对通过压框31对连接条323进行按压，使限位条32分离，并将电路板取出，并循环此工作流程即可完成本装置的使用。

本实用新型中涉及的电路以及控制均为现有技术，在此不进行过多赘述。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.集成电路综合测试装置，其特征在于，包括：

架体(1)，所述架体(1)上设有电路板检测仪(11)和检测笔(12)，且所述架体(1)上设有安装框(2)；

固定组件(3)，所述固定组件(3)设置在安装框(2)内，所述固定组件(3)包括限位条(32)，所述限位条(32)设有若干个并均匀分布，所述限位条(32)的底部设有固定连接的挤压板(321)，所述挤压板(321)的上方设有相抵并滑动连接的挤压条(322)，所述挤压条(322)的外壁设有连接条(323)，且所述限位条(32)的外壁和安装框(2)之间均设有挤压弹簧(34)。

2.根据权利要求1所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，若干所述连接条(323)的上方设有同一活动连接的压框(31)，所述压框(31)的内壁与安装框(2)的外壁滑动连接，每个所述挤压条(322)内部的两侧均插设有滑动连接的导向杆(33)，且每个所述导向杆(33)的端部均与安装框(2)的内壁固定连接。

3.根据权利要求1所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，所述安装框(2)的内部设有固定连接的固定框(5)和安装板(4)，所述固定框(5)位于安装板(4)下方，且所述固定框(5)的内部设有半导体制冷片(51)。

4.根据权利要求3所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，所述安装板(4)的内部设有若干风扇(41)，所述半导体制冷片(51)的制冷面向上，所述半导体制冷片(51)的制热面的设有若干散热叶片(52)，且所述散热叶片(52)延伸至安装框(2)底部。

5.根据权利要求1所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，所述安装框(2)的外壁上开设有若干第一滑槽(21)，且每个所述第一滑槽(21)的内壁分别与对应连接条(323)的外壁滑动连接。

6.根据权利要求5所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，所述安装框(2)的顶部设有固定连接的顶盖(22)，所述顶盖(22)的顶部开设有若干通孔(23)和第二滑槽(24)，且每个所述第二滑槽(24)的内壁分别与对应限位条(32)的外壁滑动连接。

7.根据权利要求1所述的集成电路综合测试装置，其特征在于，所述挤压板(321)和挤压条(322)的相对面均为倾斜的坡面，且所述挤压弹簧(34)的两端分别与对应限位条(32)的外壁和安装框(2)的内壁固定连接。

Images