CN218896622U - 一种半导体生产晶体强度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体生产晶体强度检测装置，包括机座、检测机构和支架，支架固定在机座上端后侧，检测机构安装在支架上部，机座前部安装有控制面板；机座上端开有滑道，滑道内部两侧均滑动连接有滑块，滑块上部延伸出滑道，滑块上部均安装有夹持机构，夹持机构之间相互连接。该半导体生产晶体强度检测装置，通过将两个需要检测的晶体放在两个夹持台上夹持好，然后对其中一个晶体检测完后，压板在上升的过程中，使另一个夹持台带动晶体移动至位于压板下方就可，之后再使压板下移，此时就可取出检测好的晶体，这样在对多个晶体进行检测时，操作较为方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体生产技术领域，具体涉及一种半导体生产晶体强度检测装置。
背景技术
在半导体生产过程中，需要对晶体进行各种各样的检测，其中就有对晶体抽样进行强度检测，在对晶体抽样进行强度检测时，一般需要用到晶体强度检测装置。
现如今在对晶体进行检测时，一般通过压板下压进行检测晶体的强度，而如今在对多个晶体进行检测时，因为需要先拿出检测好的晶体，再将未检测的晶体放好，所以这样操作较为麻烦。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种半导体生产晶体强度检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
一种半导体生产晶体强度检测装置，包括机座、检测机构和支架，所述支架固定在机座上端后侧，所述检测机构安装在支架上部，所述机座前部安装有控制面板；
所述机座上端开有滑道，所述滑道内部两侧均滑动连接有滑块，所述滑块上部延伸出滑道，所述滑块上部均安装有夹持机构，所述夹持机构之间相互连接，所述机座左右两端均固定有收卷盒，所述收卷盒内部转动连接有绳轮，所述绳轮表面缠绕有拉绳，所述拉绳末端贯穿至滑道内部且与同侧的所述滑块固定，所述收卷盒前端安装有电机，所述电机的输出轴贯穿至收卷盒内部且与绳轮连接。
优选的，所述滑块底部开有滚动槽，所述滚动槽内部滚动连接有滚轮，所述滚轮与滑道内底部滚动连接。
优选的，所述夹持机构包括夹持台、夹板、齿轮、齿条、连接杆、连接板、弹簧以及轴杆，所述夹持台与滑块顶部固定，所述夹持台之间相互固定，所述夹持台上端开有滑口，所述夹板有一对且分别滑动连接在夹持台上端两侧，所述夹板下部沿着滑口延伸入夹持台内部。
优选的，所述连接杆固定在夹板下部，所述齿条和连接板分别固定在连接杆首末两端，所述轴杆位于齿条之间且轴承连接在夹持台内底部，所述齿轮固定在轴杆上部且与齿条啮合连接。
优选的，所述弹簧连接在连接板外端与夹持台内壁之间。
优选的，所述检测机构包括电动推杆、压板以及压力传感器，所述电动推杆固定安装在支架顶部，所述压板安装在电动推杆底部，所述压力传感器嵌入安装在压板底部。
该半导体生产晶体强度检测装置，通过将两个需要检测的晶体放在两个夹持台上夹持好，然后对其中一个晶体检测完后，压板在上升的过程中，使另一个夹持台带动晶体移动至位于压板下方就可，之后再使压板下移，此时就可取出检测好的晶体，这样在对多个晶体进行检测时，操作较为方便。
附图说明
图1为本实用新型整体主视示意图；
图2为本实用新型整体主视剖面示意图；
图3为本实用新型夹持机构俯视示意图；
图4为本实用新型夹持机构俯视剖面示意图。
图中：1-机座、2-收卷盒、3-电机、4-控制面板、5-夹持机构、51-夹持台、52-夹板、53-滑口、54-齿轮、55-齿条、56-连接杆、57-连接板、58-弹簧、59-轴杆、6-检测机构、61-电动推杆、62-压板、63-压力传感器、7-支架、8-绳轮、9-拉绳、10-滑道、11-滑块、12-滚轮。
具体实施方式
请参阅图1至图4，一种半导体生产晶体强度检测装置，包括机座1、检测机构6和支架7，所述支架7固定在机座1上端后侧，所述检测机构6安装在支架7上部，所述机座1前部安装有控制面板4；
所述机座1上端开有滑道10，所述滑道10内部两侧均滑动连接有滑块11，所述滑块11上部延伸出滑道10，所述滑块11上部均安装有夹持机构5，所述夹持机构5之间相互连接，所述机座1左右两端均固定有收卷盒2，所述收卷盒2内部转动连接有绳轮8，所述绳轮8表面缠绕有拉绳9，所述拉绳9末端贯穿至滑道10内部且与同侧的所述滑块11固定，所述收卷盒2前端安装有电机3，所述电机3的输出轴贯穿至收卷盒2内部且与绳轮8连接，通过控制面板4，可以控制电机3正转或反转，这样利用电机3驱动绳轮8转动，可使绳轮8放卷或收卷拉绳9，当左侧的绳轮8收卷拉绳9时，右侧的绳轮8会放卷拉绳9，可以利用左侧的拉绳9拉着左侧的滑块11往左滑动，而右侧的拉绳9则从右侧的绳轮8外部放卷出，当右侧的绳轮8收卷拉绳9时，左侧的绳轮8会放卷拉绳9，可以利用右侧的拉绳9拉着右侧的滑块11往右滑动，而左侧的拉绳9则从左侧的绳轮8外部放卷出；
所述滑块11底部开有滚动槽，所述滚动槽内部滚动连接有滚轮12，所述滚轮12与滑道10内底部滚动连接，当滑块11沿着滑道10往左或往右滑动时，可以使滚轮12与滑道10滚动，这样利于滑块11在滑道10内部滑动；
所述夹持机构5包括夹持台51、夹板52、齿轮54、齿条55、连接杆56、连接板57、弹簧58以及轴杆59，所述夹持台51与滑块11顶部固定，所述夹持台51之间相互固定，所述夹持台51上端开有滑口53，所述夹板52有一对且分别滑动连接在夹持台51上端两侧，所述夹板52下部沿着滑口53延伸入夹持台51内部，所述连接杆56固定在夹板52下部，所述齿条55和连接板57分别固定在连接杆56首末两端，所述轴杆59位于齿条55之间且轴承连接在夹持台51内底部，所述齿轮54固定在轴杆59上部且与齿条55啮合连接，所述弹簧58连接在连接板57外端与夹持台51内壁之间，通过拉动其中一块夹板52，夹板52利用连接杆56带动齿条55和连接板57同时滑动，使连接板57挤压弹簧58，这样齿条55会带动齿轮54转动，使齿轮54带动另一根齿条55反向移动，这样可使两块夹板52拉开之间的间距，然后将晶体放在夹持台51上的夹板52之间，松开夹板52，此时通过弹簧58复位，而使连接板57带动连接杆56复位，同时连接杆56带动夹板52夹持住夹持台51上的晶体；
所述检测机构6包括电动推杆61、压板62以及压力传感器63，所述电动推杆61固定安装在支架7顶部，所述压板62安装在电动推杆61底部，所述压力传感器63嵌入安装在压板62底部；
综上所述，在将两个晶体分别夹持在两个夹持台51上后，通过启动电机3，使其中一个夹持台51移动至位于压板62正下方，且其中一个夹持台51移动的同时，会带动另一个夹持台51同步移动，然后通过控制面板4使电动推杆61带动压板62下移，这样压板62会下压晶体，同时压力传感器63对晶体进行挤压，从而根据压力传感器63的检测数值来测出晶体的强度，且控制面板4前面设有显示屏，检测的数值会从控制面板4的显示屏显示出来，检测完后，使压板62上移的过程中，再使另一个夹持台51移动至位于压板62正下方，然后使压板62下压晶体，此时就可取出检测好的晶体，同时还在进行另一个晶体的检测工作，这样在对多个晶体进行检测时，操作较为方便。
Claims (6)
1.一种半导体生产晶体强度检测装置，包括机座（1）、检测机构（6）和支架（7），所述支架（7）固定在机座（1）上端后侧，所述检测机构（6）安装在支架（7）上部，所述机座（1）前部安装有控制面板（4），其特征在于：
所述机座（1）上端开有滑道（10），所述滑道（10）内部两侧均滑动连接有滑块（11），所述滑块（11）上部延伸出滑道（10），所述滑块（11）上部均安装有夹持机构（5），所述夹持机构（5）之间相互连接，所述机座（1）左右两端均固定有收卷盒（2），所述收卷盒（2）内部转动连接有绳轮（8），所述绳轮（8）表面缠绕有拉绳（9），所述拉绳（9）末端贯穿至滑道（10）内部且与同侧的所述滑块（11）固定，所述收卷盒（2）前端安装有电机（3），所述电机（3）的输出轴贯穿至收卷盒（2）内部且与绳轮（8）连接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体生产晶体强度检测装置，其特征在于：所述滑块（11）底部开有滚动槽，所述滚动槽内部滚动连接有滚轮（12），所述滚轮（12）与滑道（10）内底部滚动连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体生产晶体强度检测装置，其特征在于：所述夹持机构（5）包括夹持台（51）、夹板（52）、齿轮（54）、齿条（55）、连接杆（56）、连接板（57）、弹簧（58）以及轴杆（59），所述夹持台（51）与滑块（11）顶部固定，所述夹持台（51）之间相互固定，所述夹持台（51）上端开有滑口（53），所述夹板（52）有一对且分别滑动连接在夹持台（51）上端两侧，所述夹板（52）下部沿着滑口（53）延伸入夹持台（51）内部。
4.根据权利要求3所述的一种半导体生产晶体强度检测装置，其特征在于：所述连接杆（56）固定在夹板（52）下部，所述齿条（55）和连接板（57）分别固定在连接杆（56）首末两端，所述轴杆（59）位于齿条（55）之间且轴承连接在夹持台（51）内底部，所述齿轮（54）固定在轴杆（59）上部且与齿条（55）啮合连接。
5.根据权利要求4所述的一种半导体生产晶体强度检测装置，其特征在于：所述弹簧（58）连接在连接板（57）外端与夹持台（51）内壁之间。
6.根据权利要求1所述的一种半导体生产晶体强度检测装置，其特征在于：所述检测机构（6）包括电动推杆（61）、压板（62）以及压力传感器（63），所述电动推杆（61）固定安装在支架（7）顶部，所述压板（62）安装在电动推杆（61）底部，所述压力传感器（63）嵌入安装在压板（62）底部。
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| CN202221902428.1U CN218896622U (zh) | 2022-07-23 | 2022-07-23 | 一种半导体生产晶体强度检测装置 |
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| CN218896622U true CN218896622U (zh) | 2023-04-21 |
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ID=86002002
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| CN202221902428.1U Active CN218896622U (zh) | 2022-07-23 | 2022-07-23 | 一种半导体生产晶体强度检测装置 |
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