CN218847832U - 银分子筛颗粒强度检测仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及分子筛检测设备技术领域，银分子筛颗粒强度检测仪，包括检测仪主体、设置在检测仪主体上用于放置分子筛的检测台以及压碎组件，所述检测台设置有至少两个，检测仪主体上设置有驱动组件，压碎组件传动设置在驱动组件上，压碎组件上设置有清洁组件，驱动驱动压碎组件和清洁组件靠近或远离两检测台，本实用新型具有多个检测工位，且可自动多个工位对应压碎检测，并自动清理压碎的分子筛，无需停机等待清理，可交替放料检测，操作简单，检测连续性好，工作效率更高。

Description

银分子筛颗粒强度检测仪

技术领域

本实用新型属于分子筛检测设备技术领域，具体为银分子筛颗粒强度检测仪。

背景技术

银分子筛是一种具有优良性能的低温真空设备脱除氢的合成银离子交换分子筛，同时也具有从气体中选择性地脱除卤素和氢/氧催化反应的功能，现有银分子筛在制作完成后都需要通过颗粒料抗压碎强度测定，现有的分子少颗粒强度检测仪有工作人员先放置待检测分子筛后，再进行压碎测定数值，然后手动清理掉被压碎的分子筛再重新进行测定，其过程中每次都要停机清理等待，其工作连续性差，需要进行多批次的检测时，工作效率低下，工作人员操作步骤繁杂。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对上述缺陷，提供一种银分子筛颗粒强度检测仪，具有多个检测工位，且可自动多个工位对应压碎检测，并自动清理，检测连续性好，工作效率更高。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案如下：银分子筛颗粒强度检测仪，包括检测仪主体、设置在检测仪主体上用于放置分子筛的检测台以及压碎组件，所述检测台设置有至少两个，所检测仪主体上设置有驱动组件，所述压碎组件传动设置在驱动组件上，所述压碎组件上设置有清洁组件，所述驱动组件驱动压碎组件和清洁组件靠近或远离两所述检测台。

进一步的，所述驱动组件包括丝杆、滑杆、安装块、驱动电机、第一滑块、第二滑块和横梁，所述丝杆设置在检测台一侧，所述滑杆设置在检测台另一侧，所述安装块设置在丝杆和滑杆的两端，所述驱动电机设置在安装块远离丝杆的一端，所述驱动电机的驱动端与丝杆传动连接，所述第一滑块螺纹连接在丝杆上，所述第二滑块滑动设置在滑杆上，所述横梁的一端与第二滑块的顶端连接，另一端与第二滑块的顶端连接。

进一步的，所述压碎组件包括设置在横梁顶部的第一驱动件、设置在第一驱动件输出端的压杆和设置在压杆底端的压头。

进一步的，所述清洁组件包括设置在横梁前端面或后端面的安装板、设置在安装板上一侧的第二驱动件、设置在安装板上另一侧的吸尘箱、设置在安装板底部与检测台相匹配的吸尘口，所述第二驱动件的驱动端与吸尘口顶部连接，所述吸尘口顶部通过管路与吸尘箱相连通。

进一步的，所述吸尘口可封闭所述检测台，所述吸尘口与检测台处在同一中心线上

本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过驱动组件、压碎组件、清洁组件、两检测台的配合设置，驱动组件带动压碎组件与检测台进行对应，并进行压碎检测，驱动组件再带动压碎组件上的清洁组件与检测台对应，进行清洁，工作人员只需在两检测台上放置待检测的银分子筛，在两检测台之间重复压碎检测再清洁，交替放料，无需停机等待，工作人员操作简单，检测连续性好，工作效率更高。

附图说明

通过下面结合附图的详细描述，本实用新型前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。

图1为本实用新型正视图。

图2为本实用新型俯视图。

其中：1、检测仪主体；2、检测台；301、丝杆；302、滑杆；303、安装块；304、驱动电机；305、第一滑块；306、第二滑块；307、横梁；4、第一驱动件；5、压杆；6、压头；7、安装板；8、第二驱动件；9、吸尘箱；10、吸尘口；11、管路。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步说明。

参照图1-2所示，银分子筛颗粒强度检测仪，包括检测仪主体1、设置在检测仪主体1上用于放置分子筛的检测台2以及压碎组件，检测台2设置有至少两个，两个检测台2，在压碎组件压碎检测并且清理完成后，压碎组件去往另一侧检测台2，工作人员可以了交替放料，无需停机等待，工作连续性更好，检测仪主体1上设置有驱动组件，压碎组件传动设置在驱动组件上，压碎组件上设置有清洁组件，驱动驱动压碎组件和清洁组件靠近或远离两所述检测台2，驱动组件率先带动压碎组件与一个检测台2对应且对其进行检测，完成后，驱动组件使压碎组件上的清洁组件对压碎的银分子筛进行清理，驱动组件再带动压碎组件和清理组件移动至另一个检测台2处，工作人员在在前一个检测台2上继续放置物料，等待下次往复循环的检测，工作人员只需放料，操作简单，检测连续性好，工作效率更高。

驱动组件包括丝杆301、滑杆302、安装块303、驱动电机304、第一滑块305、第二滑块306和横梁307，丝杆301设置在检测台2一侧，滑杆302设置在检测台2另一侧，安装块303设置在丝杆301和滑杆302的两端，安装块303用于丝杆301和滑杆302的安装及限位，放置第一滑块305和第二滑块306脱离丝杆301和滑杆302，驱动电机304设置在安装块303远离丝杆301的一端，驱动电机304的驱动端与丝杆301传动连接，第一滑块305螺纹连接在丝杆301上，第二滑块306滑动设置在滑杆302上，横梁307的一端与第二滑块306的顶端连接，另一端与第二滑块306的顶端连接，驱动电机304带动丝杆301转动，由于第一滑块305与丝杆301螺纹连接，第二滑块306余滑杆302滑动连接，又由于横梁307连接第一滑块305和第二滑块306，继而带动横梁307以及上部的压碎组件和清洁组件往复移动，靠近或远离检测台2。

优选的，压碎组件包括设置在横梁307顶部的第一驱动件4、设置在第一驱动件4输出端的压杆5和设置在压杆5底端的压头6，第一驱动件4可以为液压缸、电动缸等，第一驱动件4带动压杆5和压头6上下移动，靠近或远离待检测银分子筛。

清洁组件包括设置在横梁307前端面或后端面的安装板7、设置在安装板7上一侧的第二驱动件8、设置在安装板7上另一侧的吸尘箱9、设置在安装板7底部与检测台2相匹配的吸尘口10，第二驱动件8的驱动端与吸尘口10顶部连接，吸尘口10顶部通过管路11与吸尘箱9相连通，第二驱动件8可以为电动缸，带动吸尘口10靠近或远离检测台2，并可对检测台2顶部形成包围，该结构使清洁效果更好，吸尘箱9内部有吸气装置，为现有技术，通过管理和吸尘口10将压碎的银分子筛吸入吸尘箱10内部。

优选的，吸尘口10可封闭所述检测台2，该结构清洁效果更好，吸尘口(10)与检测台2处在同一中心线上。

本实用新型工作过程，驱动组件带动压碎组件移动至第一个检测台2上方，第一驱动件4驱动压杆5和压头6对检测台2上的银分子筛压碎，检测其强度，第一驱动件4带动压杆5和压头6复位，驱动组件带动吸尘口10移动至检测台2正上方，第二驱动件8带动吸尘口10与检测台2抵触，形成封闭，吸尘箱9内的吸气装置工作，将压碎的银分子筛通过吸尘口10和管路11进入吸尘箱9内部，再复位，驱动组件在带动压碎组件和清洁组件移动至下一个检测台2，重复此操作，工作人员在清洁过后的检测台2上继续放置待检测的银分子筛。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质上对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.银分子筛颗粒强度检测仪，其特征在于：包括检测仪主体(1)、设置在检测仪主体(1)上用于放置分子筛的检测台(2)以及压碎组件，所述检测台(2)设置有至少两个，所检测仪主体(1)上设置有驱动组件，所述压碎组件传动设置在驱动组件上，所述压碎组件上设置有清洁组件，所述驱动组件驱动压碎组件和清洁组件靠近或远离两所述检测台(2)。

2.根据权利要求1所述的银分子筛颗粒强度检测仪，其特征在于：所述驱动组件包括丝杆(301)、滑杆(302)、安装块(303)、驱动电机(304)、第一滑块(305)、第二滑块(306)和横梁(307)，所述丝杆(301)设置在检测台(2)一侧，所述滑杆(302)设置在检测台(2)另一侧，所述安装块(303)设置在丝杆(301)和滑杆(302)的两端，所述驱动电机(304)设置在安装块(303)远离丝杆(301)的一端，所述驱动电机(304)的驱动端与丝杆(301)传动连接，所述第一滑块(305)螺纹连接在丝杆(301)上，所述第二滑块(306)滑动设置在滑杆(302)上，所述横梁(307)的一端与第二滑块(306)的顶端连接，另一端与第二滑块(306)的顶端连接。

3.根据权利要求2所述的银分子筛颗粒强度检测仪，其特征在于：所述压碎组件包括设置在横梁(307)顶部的第一驱动件(4)、设置在第一驱动件(4)输出端的压杆(5)和设置在压杆(5)底端的压头(6)。

4.根据权利要求2所述的银分子筛颗粒强度检测仪，其特征在于：所述清洁组件包括设置在横梁(307)前端面或后端面的安装板(7)、设置在安装板(7)上一侧的第二驱动件(8)、设置在安装板(7)上另一侧的吸尘箱(9)、设置在安装板(7)底部与检测台(2)相匹配的吸尘口(10)，所述第二驱动件(8)的驱动端与吸尘口(10)顶部连接，所述吸尘口(10)顶部通过管路(11)与吸尘箱(9)相连通。

5.根据权利要求4所述的银分子筛颗粒强度检测仪，其特征在于：所述吸尘口(10)可封闭所述检测台(2)，所述吸尘口(10)与检测台(2)处在同一中心线上。

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