CN218822011U - 一种用于三孔行星架类零件的综合检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于三孔行星架类零件的综合检具，该综合检具包括：底座，其具有底座本体、以及可穿过所述第一通孔的定位柱；检具模板，其中心位置具有与所述第一通孔对应连通的第二通孔，在检具模板上还分布有三个与所述圆周均布孔位置对应并相连通的检测孔；用于穿过所述检测孔并插入所述圆周均布孔内进行检测的检测销轴。与现有技术相比，本实用新型可以实现对三孔行星架类零件的检测效率与质量等。

Description

一种用于三孔行星架类零件的综合检具

技术领域

本实用新型属于零件尺寸检测技术领域，涉及一种用于三孔行星架类零件的综合检具。

背景技术

对于如图7至图10所示的三孔行星架类零件，其中心位置具有贯穿的通孔，侧壁具有3个直径18.2+0.041/+0.020mm的圆周均布孔形位，公差位置度要求0.06，由于该精度较高，在装配过程中，经常能发现由于行星架位置度精度问题导致出现噪声，然后再拆下更换别的行星架，有时需要反复更换多次，这样返工十分麻烦，也增加了工人的劳动强度，影响装配的效率。另外使用三座标进行检测效率也非常低，而且对设备投入要求较高，对检测人员技能也有较高要求，不适合现场进行快速检测。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了提供一种用于三孔行星架类零件的综合检具，以提高对三孔行星架类零件的检测效率与质量等。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种用于三孔行星架类零件的综合检具，该三孔行星架类零件的中心位置具有贯穿的第一通孔，其侧壁均匀间隔布置有三个空腔，在三孔行星架类零件上还设有分别对应贯穿三个空腔的圆周均布孔，该圆周均布孔的一端贯穿所述空腔的底端面，另一端则伸入所述空腔的顶端面内，该综合检具包括：

底座，其具有底座本体、以及可穿过所述第一通孔的定位柱；

检具模板，其中心位置具有与所述第一通孔对应连通的第二通孔，在检具模板上还分布有三个与所述圆周均布孔位置对应并相连通的检测孔；

用于穿过所述检测孔并插入所述圆周均布孔内进行检测的检测销轴。

进一步的，所述第一通孔与第二通孔的尺寸相同，并与所述定位柱相匹配。

更进一步的，当所述定位柱伸入所述第一通孔与第二通孔中时，所述检具模板与所述三孔行星架类零件同轴。

进一步的，所述检测孔的尺寸大于所述圆周均布孔。

更进一步的，所述检测销轴包括依次连接并一体成型的销轴基座、第一销轴段和第二销轴段，所述第一销轴段和第二销轴段的直径分别匹配所述检测孔与所述圆周均布孔。更优选的，所述第一销轴段的长度与所述检测孔的高度相同，所述第二销轴段的长度不大于所述圆周均布孔的高度，且第二销轴段的长度大于空腔高度与其底端面的厚度之和。

进一步的，所述检测孔围绕所述第二通孔等间距布置，且所有检测孔的中心位于同一圆周线上。

进一步的，所述定位柱的外径小于所述底座本体的外径。更进一步的，所述底座本体呈台阶状。

进一步的，所述检测销轴设有三个。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

(1)检测效率高，容易在现场快速做出判断。

(2)简单易上手：对员工技能水平要求不高，掌握基础检测技能即可独立完成检验。

(3)提高装配返工效率：用该检具验测合格后的零件，在转入装配工序使用，没有因为质量问题而产生噪声的问题发生，大大提高了装配效率。

附图说明

图1为本实用新型的综合检具在检测时的爆炸示意图；

图2为综合检具在检测时的组装示意图；

图3为综合检具在检测时的另一个视角的示意图；

图4为检具模板的主视示意图；

图5为检具模板的侧面视角的示意图；

图6为检测销轴的结构示意图；

图7为三孔行星架类零件的结构示意图；

图8为三孔行星架类零件的主视示意图；

图9为图8的A-A剖视示意图；

图10为图8的B-B剖视示意图；

图中标记说明：

1-检测销轴，11-销轴基座，12-第一销轴段，13-第二销轴段；

2-三孔行星架类零件，21-第一通孔，22-空腔，23-圆周均布孔；

3-底座，31-底座本体，32-定位柱；

4-检具模板，41-第二通孔，42-检测孔。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。本实施例以本实用新型技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本实用新型的保护范围不限于下述的实施例。

以下各实施方式或实施例中，如无特别说明的功能部件或结构，则表明其均为本领域为实现对应功能而采用的常规部件或常规结构。

为提高对如图7至图10所示的三孔行星架类零件2的检测效率与质量等，本实用新型提供了一种用于三孔行星架类零件2的综合检具，该三孔行星架类零件2的中心位置具有贯穿的第一通孔21，其侧壁均匀间隔布置有三个空腔22，在三孔行星架类零件2上还设有分别对应贯穿三个空腔22的圆周均布孔23，该圆周均布孔23的一端贯穿所述空腔22的底端面，另一端则伸入所述空腔22的顶端面内，该综合检具的结构可参见图1至图6所示，具体包括：

底座3，其具有底座本体31、以及可穿过所述第一通孔21的定位柱32；

检具模板4，其中心位置具有与所述第一通孔21对应连通的第二通孔41，在检具模板4上还分布有三个与所述圆周均布孔23位置对应并相连通的检测孔42；

用于穿过所述检测孔42并插入所述圆周均布孔23内进行检测的检测销轴1。

在一些具体的实施方式中，所述第一通孔21与第二通孔41的尺寸相同，并与所述定位柱32相匹配。

更具体的实施方式中，当所述定位柱32伸入所述第一通孔21与第二通孔41中时，所述检具模板4与所述三孔行星架类零件2同轴。

在一些具体的实施方式中，所述检测孔42的尺寸大于所述圆周均布孔23。

更具体的实施方式中，所述检测销轴1包括依次连接并一体成型的销轴基座11、第一销轴段12和第二销轴段13，所述第一销轴段12和第二销轴段13的直径分别匹配所述检测孔42与所述圆周均布孔23。更优选的，所述第一销轴段12的长度与所述检测孔42的高度相同，所述第二销轴段13的长度不大于所述圆周均布孔23的高度。

在一些具体的实施方式中，所述检测孔42围绕所述第二通孔41等间距布置，且所有检测孔42的中心位于同一圆周线上。

在一些具体的实施方式中，所述定位柱32的外径小于所述底座本体31的外径。更进一步的，所述底座本体31呈台阶状。

在一些具体的实施方式中，所述检测销轴1设有三个。

以上各实施方式可以任一单独实施，也可以任意两两组合或更多的组合实施。

下面结合具体实施例来对上述实施方式进行更详细的说明。

实施例1：

为提高对如图7至图10所示的三孔行星架类零件2的检测效率与质量等，本实施例提供了一种用于三孔行星架类零件2的综合检具，该三孔行星架类零件2的中心位置具有贯穿的第一通孔21，其侧壁均匀间隔布置有三个空腔22，每个空腔22对应的圆弧夹角为60°，在三孔行星架类零件2上还设有分别对应贯穿三个空腔22的圆周均布孔23，该圆周均布孔23的一端贯穿所述空腔22的底端面，另一端则伸入所述空腔22的顶端面内，该综合检具的结构可参见图1至图6所示，具体包括：

底座3，其具有底座本体31、以及可穿过所述第一通孔21的定位柱32；

检具模板4，其中心位置具有与所述第一通孔21对应连通的第二通孔41，在检具模板4上还分布有三个与所述圆周均布孔23位置对应并相连通的检测孔42；

用于穿过所述检测孔42并插入所述圆周均布孔23内进行检测的检测销轴1。

本实施例中，所述第一通孔21与第二通孔41的尺寸相同，并与所述定位柱32相匹配。当所述定位柱32伸入所述第一通孔21与第二通孔41中时，所述检具模板4与所述三孔行星架类零件2同轴。

请再参见图6等所示，所述检测孔42的尺寸大于所述圆周均布孔23，本实施例中，检测孔42的孔径为20mm，圆周均布孔23的孔径则为18.2mm，所述检测销轴1包括依次连接并一体成型的销轴基座11、第一销轴段12和第二销轴段13，所述第一销轴段12和第二销轴段13的直径分别匹配所述检测孔42与所述圆周均布孔23。所述第一销轴段12的长度与所述检测孔42的高度相同，均为19mm，所述第二销轴段13的长度不大于所述圆周均布孔23的高度。所述检测孔42围绕所述第二通孔41等间距布置，且所有检测孔42的中心位于同一圆周线上。所述定位柱32的外径小于所述底座本体31的外径。更进一步的，所述底座本体31呈台阶状。所述检测销轴1设有三个。

本实施例的工作原理如下：

先将行星架产品(即三孔行星架类零件2)装到底座3上面，依靠第一通孔21以及其大端面(即与底座本体31接触的端面)定位，然后将检具模板4顺着底座3的定位柱32插入，并紧贴行星架产品，检具模板4的端面与行星架的端面一定要完全接触才为合格产品，检测销轴1与行星架产品采用过盈配合H7/p6，检测销轴1的工作部分(即第二销轴段13)公差的选择是很重要的，选择过大，要求过于苛刻，不符合成本管控要求，选择过小，容易产生判断失误，即把不合格的产品当成合格的产品处理，依据加工公差及形位公差的要求，把这一尺寸定位18.05-0.02mm。在机床稳定的情况下，不需要所有产品全检，只需要加工一定数量下进行复检，非特殊情况下不会发生变化，这样下来检测每件只需很短时间即完成，大大缩短了检测时间，相对于三坐标检测仪来说，该实用新型也具有更佳的经济性，节省了更多的的仪器检测资源。

上述的对实施例的描述是为便于该技术领域的普通技术人员能理解和使用实用新型。熟悉本领域技术的人员显然可以容易地对这些实施例做出各种修改，并把在此说明的一般原理应用到其他实施例中而不必经过创造性的劳动。因此，本实用新型不限于上述实施例，本领域技术人员根据本实用新型的揭示，不脱离本实用新型范畴所做出的改进和修改都应该在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于三孔行星架类零件的综合检具，该三孔行星架类零件的中心位置具有贯穿的第一通孔，其侧壁均匀间隔布置有三个空腔，在三孔行星架类零件上还设有分别对应贯穿三个空腔的圆周均布孔，该圆周均布孔的一端贯穿所述空腔的底端面，另一端则伸入所述空腔的顶端面内，其特征在于，该综合检具包括：

底座，其具有底座本体、以及可穿过所述第一通孔的定位柱；

检具模板，其中心位置具有与所述第一通孔对应连通的第二通孔，在检具模板上还分布有三个与所述圆周均布孔位置对应并相连通的检测孔；

用于穿过所述检测孔并插入所述圆周均布孔内进行检测的检测销轴。

2.根据权利要求1所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述第一通孔与第二通孔的尺寸相同，并与所述定位柱相匹配。

3.根据权利要求2所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，当所述定位柱伸入所述第一通孔与第二通孔中时，所述检具模板与所述三孔行星架类零件同轴。

4.根据权利要求1所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述检测孔的尺寸大于所述圆周均布孔。

5.根据权利要求4所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述检测销轴包括依次连接并一体成型的销轴基座、第一销轴段和第二销轴段，所述第一销轴段和第二销轴段的直径分别匹配所述检测孔与所述圆周均布孔。

6.根据权利要求5所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述第一销轴段的长度与所述检测孔的高度相同，所述第二销轴段的长度不大于所述圆周均布孔的高度。

7.根据权利要求1所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述检测孔围绕所述第二通孔等间距布置，且所有检测孔的中心位于同一圆周线上。

8.根据权利要求1所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述定位柱的外径小于所述底座本体的外径。

9.根据权利要求8所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述底座本体呈台阶状。

10.根据权利要求1所述的一种用于三孔行星架类零件的综合检具，其特征在于，所述检测销轴设有三个。

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