CN218726598U - 一种具有角度调节装置的芯片测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台，所述工作台的顶部设置有芯片固定结构，所述芯片固定结构包括转盘、固定架、第一固定盘、第一电机、芯片固定盘、转杆和第二电机，所述工作台的顶部转动连接有转盘，所述转盘的顶部固定安装有固定架。该具有角度调节装置的芯片测试机，通过旋转转杆，控制芯片固定盘在前后方向上进行旋转，便于对芯片固定盘上电子芯片的纵向角度进行调节，并且，通过第二电机驱动整个转盘水平进行旋转，对芯片固定盘上电子芯片的横向水平角度进行调节，使得在对芯片进行检测时，检测人员无需频繁移动位置，站起或者坐下，降低了芯片检测的工作强度，提高了芯片检测效率。

Description

一种具有角度调节装置的芯片测试机

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，具体为一种具有角度调节装置的芯片测试机。

背景技术

电子芯片是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，电子芯片包含晶圆芯片和封装芯片，相应电子芯片生产线由晶圆生产线和封装生产线两部分组成，电子芯片在生产完成以后，都需要进行检测，从而保证电子芯片的生产质量，通过芯片测试机对芯片进行固定，然后通过工业相机和工业显微镜，对芯片进行视觉检测。

经检索，根据中国专利号为CN211841883U的实用新型专利公开的一种电子芯片多角度翻转机构，该实用新型只能带动电子芯片进行翻转，无法从横向和纵向上对电子芯片的角度进行调节，导致在对芯片进行检测时，芯片的角度调节较为不便，需要检测人员移动位置，站起或者坐下，增加了芯片检测的工作强度，降低了芯片检测效率，故而提出了一种具有角度调节装置的芯片测试机来解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种具有角度调节装置的芯片测试机，具备能够对芯片测试机进行多个角度的调节的优点，解决了只能带动电子芯片进行翻转，无法从横向和纵向上对电子芯片的角度进行调节，导致在对芯片进行检测时，芯片的角度调节较为不便，需要检测人员移动位置，站起或者坐下，增加了芯片检测的工作强度，降低了芯片检测效率的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台，所述工作台的顶部固定安装有防护罩，所述工作台的顶部设置有芯片固定结构，所述防护罩的内顶壁设置有视觉检测结构；

所述芯片固定结构包括转盘、固定架、第一固定盘、第一电机、芯片固定盘、转杆和第二电机，所述工作台的顶部转动连接有转盘，所述转盘的顶部固定安装有固定架，所述固定架的内部转动连接有第一固定盘，所述第一固定盘的背面固定安装有第一电机，所述第一固定盘的正面转动连接有芯片固定盘，所述固定架的右侧转动连接有转杆，所述工作台的底部固定安装有第二电机。

进一步，所述工作台的顶部开设有第一滑圈，所述转盘的底部固定安装有数量为两个的第一滑块，所述转盘通过两个第一滑块与第一滑圈滑动连接，所述视觉检测结构包括电动滑轨、连接杆、连接板、工业相机检测器和工业显微镜检测器，所述防护罩的内顶壁固定安装有电动滑轨，所述电动滑轨的底部滑动连接有连接杆，所述连接杆的底部固定安装有连接板，所述连接板的底部固定安装有工业相机检测器，所述连接板的底部固定安装有工业显微镜检测器。

进一步，所述第一固定盘的左右两侧均固定安装有连接杆，所述第一固定盘通过两个连接杆分别与固定架的内左壁和内右壁转动连接，所述转杆贯穿固定架的右侧并与其中一个连接杆固定连接。

进一步，所述第一固定盘的正面开设有第二滑圈，所述芯片固定盘的背面固定安装有数量为两个的第二滑块，所述芯片固定盘通过两个第二滑块与第二滑圈滑动连接。

进一步，所述芯片固定盘的正面开设有数量为十个的芯片固定槽，所述芯片固定盘的外部固定安装有数量为四个的螺纹座，所述芯片固定盘的正面活动安装有透明亚克力罩，所述透明亚克力罩的内部活动安装有数量为四个的螺纹杆，四个所述螺纹杆分别与四个螺纹座螺纹连接。

进一步，所述转杆的右侧固定安装有转把，所述转把的左侧固定安装有弹簧，所述弹簧的内部套接有限位杆，所述限位杆的外部固定安装有限位圈，所述弹簧的左侧与限位圈固定连接，所述固定架的右侧固定安装有限位圈，所述限位杆的左侧与限位圈插接。

进一步，所述第一电机的输出轴贯穿第一固定盘并与芯片固定盘固定连接，所述第二电机的输出轴贯穿工作台的底部并与转盘固定连接。

有益效果

与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：

该具有角度调节装置的芯片测试机，通过设置芯片固定结构，除了能够通过启动第一电机，控制芯片固定盘自身进行旋转以后，还可以通过旋转转杆，控制芯片固定盘在前后方向上进行旋转，便于对芯片固定盘上电子芯片的纵向角度进行调节，并且，通过第二电机驱动整个转盘水平进行旋转，对芯片固定盘上电子芯片的横向水平角度进行调节，使得在对芯片进行检测时，能够从多个角度对芯片的角度进行调节，检测人员无需频繁移动位置，站起或者坐下，降低了芯片检测的工作强度，提高了芯片检测效率。

附图说明

图1为本实用新型三维示意图；

图2为本实用新型剖视示意图；

图3为本实用新型芯片固定结构示意图；

图4为本实用新型局部侧视示意图；

图5为本实用新型图2中的A处放大示意图。

图中：1、工作台；2、防护罩；3、芯片固定结构；301、转盘；302、固定架；303、第一固定盘；304、第一电机；305、芯片固定盘；306、转杆；307、第二电机；4、视觉检测结构。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实施例中的一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台1，工作台1的顶部固定安装有防护罩2，工作台1的顶部设置有芯片固定结构3；

芯片固定结构3包括转盘301、固定架302、第一固定盘303、第一电机304、芯片固定盘305、转杆306和第二电机307，工作台1的顶部转动连接有转盘301，转盘301的顶部固定安装有固定架302，固定架302的内部转动连接有第一固定盘303，第一固定盘303的背面固定安装有第一电机304，第一固定盘303的正面转动连接有芯片固定盘305，固定架302的右侧转动连接有转杆306，工作台1的底部固定安装有第二电机307。

根据图1和图2所示，在对芯片进行检测时，通过芯片固定结构3对芯片进行固定，然后通过视觉检测结构4内部的工业相机检测器和工业显微镜检测器，工业显微镜检测器可以显示芯片的更多细节，而工业相机检测器可以将芯片放大以后的图片传输给检测人员，检测人员对芯片进行视觉检测，在芯片的视觉检测的过程中，通过旋转转杆306、启动第一电机304和第二电机307，即可对芯片的检测角度进行调节。

根据图3所示，在固定芯片时，先将芯片放置在芯片固定盘305正面的芯片固定槽中，然后将透明亚克力罩与芯片固定盘305贴合，对芯片进行固定，然后将四个螺纹杆贯穿透明亚克力罩，并分别与四个螺纹座螺纹连接，芯片的固定即可完成。

根据图3和图5所示，在旋转转杆306时，先向右拉动限位杆，弹簧收缩，使得限位杆的左侧与限位圈脱离，即可旋转转杆306，旋转完成以后，松开限位杆，弹簧伸展，使得限位杆的左侧与限位圈再次插接，即可对转杆306进行限位。

综上所述，该具有角度调节装置的芯片测试机，通过设置芯片固定结构3，除了能够通过启动第一电机304，控制芯片固定盘305自身进行旋转以后，还可以通过旋转转杆306，控制芯片固定盘305在前后方向上进行旋转，便于对芯片固定盘305上电子芯片的纵向角度进行调节，并且，通过第二电机307驱动整个转盘301水平进行旋转，对芯片固定盘305上电子芯片的横向水平角度进行调节，使得在对芯片进行检测时，能够从多个角度对芯片的角度进行调节，检测人员无需频繁移动位置，站起或者坐下，降低了芯片检测的工作强度，提高了芯片检测效率，解决了只能带动电子芯片进行翻转，无法从横向和纵向上对电子芯片的角度进行调节，导致在对芯片进行检测时，芯片的角度调节较为不便，需要检测人员移动位置，站起或者坐下，增加了芯片检测的工作强度，降低了芯片检测效率的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种具有角度调节装置的芯片测试机，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部固定安装有防护罩(2)，所述工作台(1)的顶部设置有芯片固定结构(3)，所述防护罩(2)的内顶壁设置有视觉检测结构(4)；

所述芯片固定结构(3)包括转盘(301)、固定架(302)、第一固定盘(303)、第一电机(304)、芯片固定盘(305)、转杆(306)和第二电机(307)，所述工作台(1)的顶部转动连接有转盘(301)，所述转盘(301)的顶部固定安装有固定架(302)，所述固定架(302)的内部转动连接有第一固定盘(303)，所述第一固定盘(303)的背面固定安装有第一电机(304)，所述第一固定盘(303)的正面转动连接有芯片固定盘(305)，所述固定架(302)的右侧转动连接有转杆(306)，所述工作台(1)的底部固定安装有第二电机(307)。

2.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述工作台(1)的顶部开设有第一滑圈，所述转盘(301)的底部固定安装有数量为两个的第一滑块，所述转盘(301)通过两个第一滑块与第一滑圈滑动连接，所述视觉检测结构(4)包括电动滑轨、连接杆、连接板、工业相机检测器和工业显微镜检测器，所述防护罩(2)的内顶壁固定安装有电动滑轨，所述电动滑轨的底部滑动连接有连接杆，所述连接杆的底部固定安装有连接板，所述连接板的底部固定安装有工业相机检测器，所述连接板的底部固定安装有工业显微镜检测器。

3.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述第一固定盘(303)的左右两侧均固定安装有连接杆，所述第一固定盘(303)通过两个连接杆分别与固定架(302)的内左壁和内右壁转动连接，所述转杆(306)贯穿固定架(302)的右侧并与其中一个连接杆固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述第一固定盘(303)的正面开设有第二滑圈，所述芯片固定盘(305)的背面固定安装有数量为两个的第二滑块，所述芯片固定盘(305)通过两个第二滑块与第二滑圈滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述芯片固定盘(305)的正面开设有数量为十个的芯片固定槽，所述芯片固定盘(305)的外部固定安装有数量为四个的螺纹座，所述芯片固定盘(305)的正面活动安装有透明亚克力罩，所述透明亚克力罩的内部活动安装有数量为四个的螺纹杆，四个所述螺纹杆分别与四个螺纹座螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述转杆(306)的右侧固定安装有转把，所述转把的左侧固定安装有弹簧，所述弹簧的内部套接有限位杆，所述限位杆的外部固定安装有限位圈，所述弹簧的左侧与限位圈固定连接，所述固定架(302)的右侧固定安装有限位圈，所述限位杆的左侧与限位圈插接。

7.根据权利要求1所述的一种具有角度调节装置的芯片测试机，其特征在于：所述第一电机(304)的输出轴贯穿第一固定盘(303)并与芯片固定盘(305)固定连接，所述第二电机(307)的输出轴贯穿工作台(1)的底部并与转盘(301)固定连接。

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