CN218600402U - 用于曝光测量的菲林尺 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种用于曝光测量的菲林尺,包括菲林片;所述菲林片上按照不同倍数设有多组由开窗Pad图形、放大倍数的指示标识、异物对比圆点、圆点直径尺寸标识组成的对比图形组;每组所述对比图形组中的所述圆点直径尺寸标识设置于所述异物对比圆点右侧;每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形按照公差允许的范围设有内框和外框,且所述开窗Pad图形按照目标Pad间规定的中心间距成对设置;每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形和所述异物对比圆点的尺寸按照每组对比图形中所述指示标识指示的放大倍数设置,以此便于在不同放大倍数的放大倍显微镜目视检查过程中,快速判断和挑出曝光不良的缺陷板,提高经济效益。
Description
技术领域
本申请涉及印刷线路板技术领域,尤其涉及一种用于曝光测量的菲林尺。
背景技术
在PCB印制线路板中因板角位置起翘,或者板厚设定等曝光参数异常,容易导致阻焊曝光不良,具体表现为开窗尺寸偏小,严重时超出客户要求规格下限。像开窗尺寸为150-250um左右的小阻焊开窗pad和异物圆点,公差在+/-25um下,因开窗较小,在常规的45X/87X/130X放大镜倍数下,AVI的检测机器无法检测到实际的开窗尺寸是否超出客户要求,目前只能靠目视人工判断和通过3D线宽测量仪器进行逐一测量,该方案存在漏失或者生产检查效率低及目视化管理差的问题。
实用新型内容
本申请基于菲林片制作菲林尺,设计不同倍数以及对应放大尺寸的开窗pad图形和异物对比圆点,分别按照公差的上下限设计开窗pad图形的内外框,从而在不同放大倍数的放大倍显微镜的目视检查过程中,快速对曝光不良的缺陷板进行判断和挑出。
本申请提供的一种用于曝光测量的菲林尺,包括菲林片;
所述菲林片上按照不同倍数设有多组由开窗Pad图形、放大倍数的指示标识、异物对比圆点、圆点直径尺寸标识组成的对比图形组;
每组所述对比图形组中的所述圆点直径尺寸标识设置于所述异物对比圆点右侧;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形按照公差允许的范围设有内框和外框,且所述开窗Pad图形按照目标Pad间规定的中心间距成对设置;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形和所述异物对比圆点的尺寸按照每组对比图形中所述指示标识指示的放大倍数设置。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点的数量按照异物尺寸大小设置为多个。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点的数量按照异物尺寸大小设置为3个。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点按照异物尺寸由小到大依次纵向排列。
可选地,每组所述对比图形组中的3个所述异物对比圆点的圆点直径分别为30μm、50μm、100μm。
可选地,每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形、指示标识、异物对比圆点依次纵向排列。
可选地,所述多组对比图形组按照所述指示标识指示的放大倍数依次横向排列。
可选地,所述对比图形组的组数设置为5。
可选地,所述对比图形组按照所述指示标识指示的放大倍数由小到大依次横向排列。
可选地,所述5组对比图形组中所述指示标识指示的放大倍数分别为45X、57X、87X、113X、130X。
本申请提供的实施例至少具有以下有益效果:
通过在菲林片上按照不同倍数设置多组由开窗Pad图形、放大倍数的指示标识、异物对比圆点、圆点直径尺寸标识组成的对比图形组,可以对不同倍数下的印刷电路板进行曝光不良和异物大小的检测。通过对开窗Pad图形按照公差允许的范围设有内框和外框,可以增加对印刷电路板上的Pad进行判断时的可识别性。通过将开窗Pad图形按照目标Pad间规定的中心间距成对设置,可以进一步准确检测印刷电路板上的Pad的尺寸。同时,每一组对比图形组中的开窗Pad图形和异物对比圆点的尺寸按照每组对比图形中指示标识指示的放大倍数设置,便于使用者随时选用合适的对比图形组,提高检查效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本申请实施例提供的一种用于曝光测量的菲林尺的示意图。
11、菲林片;12、开窗Pad图形;13、指示标识;14、异物对比圆点;15、圆点直径尺寸标识。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
请参照图1,本申请提供的一种用于曝光测量的菲林尺,包括菲林片11;
所述菲林片11上按照不同倍数设有多组由开窗Pad图形12、放大倍数的指示标识13、异物对比圆点14、圆点直径尺寸标识15组成的对比图形组;
每组所述对比图形组中的所述圆点直径尺寸标识15设置于所述异物对比圆点14右侧;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形12按照公差允许的范围设有内框和外框,且所述开窗Pad图形12按照目标Pad间规定的中心间距成对设置;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形12和所述异物对比圆点14的尺寸按照每组对比图形中所述指示标识13指示的放大倍数设置。
需要说明的是,本申请中的菲林尺可以根据客户需求定制。菲林片11的厚度优选为1.0mm。菲林尺上的开窗Pad图形12、放大倍数的指示标识13、异物对比圆点14、圆点直径尺寸标识15根据客户指定的监控尺寸设计。开窗Pad图形12的内框和外框由虚线框构成。在具体的实施过程中,比如要检测的PCB上的目标为150um*180um的SMD pad,公差为+/-25um,两pad中心间距为300um,则可以按照表1中的尺寸制作本申请中的菲林尺。
表1、SMD Pad尺寸设计表
对于异物对比圆点14的设计可以按照表2中的尺寸制作。
表2、异物圆点尺寸设计表
根据表1提供的SMD Pad尺寸设计表,以倍率对应的放大倍数为45X为例,开窗Pad图形12的内框尺寸对应表1中3.28mm×4.06mm,开窗Pad图形12的外框尺寸对应表1中4.59mm×5.37mm进行制作。成对的两个开窗Pad图形12之间的中心距离为7.87mm。内框和外框由0.11mm线宽的虚线框构成,便于目视化检查。对于倍率对应的其他放大倍数的开窗Pad图形12的设计方式和45X倍率下的开窗Pad图形12的设计方式相同。在检查PCB板过程中,对目标板按照45X的放大倍数放大,即可通过本申请中的菲林尺上的放大倍数为45X的开窗Pad图形12对放大的SMD Pad进行比照,从而确定PCB板上的SMD Pad是否存在曝光不良的问题。
根据表2提供的异物圆点尺寸设计表,以倍率对应的放大倍数为45X为例,异物对比圆点14对应30μm、50μm、100μm三个圆点直径,对应到菲林片11上制作的异物对比圆点14的粒径分别为0.79mm、1.31mm、2.63mm,其他倍数按表2对应进行设计。这里的30μm、50μm、100μm对应为PCB上异物圆点大小的直径。在检查PCB板过程中,通过对目标板进行45X的放大倍数放大,即可通过本申请设计的菲林尺上的放大倍数为45X的异物对比圆点14对放大的异物圆点进行比照,从而确定PCB板上异物圆点尺寸大小。
在通过常规的放大倍显微镜(倍数如45X,57X,87X,113X,130X)对PCB板进行检查和测量曝光不良问题板的过程中,可以配合本申请中的用于测量曝光不良和异物大小的菲林尺,从而快速目视化检查和筛选出曝光不良和油墨表面异物的异常品,避免异常品流出,提高生产检查效率,节省人工成本和报废成本。在具体的实施过程中,比如在45X或者87X目视检查中,将本申请中的菲林尺放在屏幕上,对应放置相同倍数下的SMD pad尺寸进行比对,如放大的成对的开窗SMD pad尺寸没有超出菲林尺上成对的开窗Pad图形12的内外框,则判断为符合客户要求的开窗,为合格品。在检查发现曝光不良问题板时,可使用对应倍数下菲林尺的开窗Pad图形12进行匹对,比如:放大的PCB板上的开窗图比开窗Pad图形12的内框小,代表尺寸不符合客户要求,尺寸超下限,为不合格品;放大的PCB板上的开窗图比开窗Pad图形12的外框大,代表尺寸不符合客户要求,尺寸超上限,为不合格品。
在对PCB板上的异物直径进行判断时,可以采用本申请中的菲林尺上的异物对比圆点14进行比对。比如在放大倍数为45X的检查PCB板的过程中,如果异物大小比30um对应的异物对比圆点14的尺寸标准要大,而比50um对应的异物对比圆点14的尺寸的标准要小,进而可以对异物进行分级别处理,目视化检查更为方便清晰。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点14的数量按照异物尺寸大小设置为多个。
需要说明的是,异物对比圆点14的数量可以根据使用场景中的异物尺寸级别确定。比如,在PCB异物直径检测中,将异物直径为30μm以下的异物圆点定位第一级,将异物直径为30μm-50μm的异物圆点定位第二级,将异物直径为50μm-100μm的异物圆点定位第三级,将异物直径为100μm-200μm的异物圆点定位第四级,将异物直径为200μm以上的异物圆点定位第五级则,则本申请中的异物对比圆点14可以按照异物尺寸级别设置为30μm、50μm、100μm、200μm等4个尺寸。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点14的数量按照异物尺寸大小设置为3个。
可选地,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点14按照异物尺寸由小到大依次纵向排列。
可选地,每组所述对比图形组中的3个所述异物对比圆点14的圆点直径分别为30μm、50μm、100μm。
需要说明的是,在PCB异物直径检测中,异物直径一般按30μm、50μm、100μm分为4个等级。将菲林尺上的异物对比圆点14的圆点直径分别设置为30μm、50μm、100μm,可以基本覆盖常用的异物直径等级,便于推广使用。
可选地,每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形12、指示标识13、异物对比圆点14依次纵向排列。
可选地,所述多组对比图形组按照所述指示标识13指示的放大倍数依次横向排列。
可选地,所述对比图形组的组数设置为5。
需要指出的是,在PCB板的曝光测量检查中,一般需要使用放大倍显微镜对目标PCB板进行放大显示。将菲林尺上的对比图形组的组数设置为5,基本上可以覆盖放大倍显微镜的常用放大倍率,避免菲林尺上存在过多无用的对比图形组,有助于降低成本。
可选地,所述对比图形组按照所述指示标识13指示的放大倍数由小到大依次横向排列。
可以理解的是,将对比图形组按照放大倍数由小到大依次横向排列,便于使用者挑选相应的放大倍数进行图形的对比,提高工作效率。
可选地,所述5组对比图形组中所述指示标识13指示的放大倍数分别为45X、57X、87X、113X、130X。
需要说明的是,常规的放大倍显微镜一般的倍数为45X、57X、87X、113X、130X。通过在本申请中的菲林尺上设计常用的5种放大倍数的对比图形组,在日常使用时,更加方便,不需额外的检测工具。在将本申请中的菲林尺运用到检查和测量曝光不良和油上异物问题板的过程中,可以快速目视化检查和筛选出曝光不良和油墨表面异物的异常品,避免异常品流出,提高了生产检查效率,节省了人工成本和报废成本。通过运用本申请中的菲林尺,可以避免使用线宽测量仪在确认位置和测量尺寸时的繁琐,生产检查和筛选效率要高,更加适用于批量生产的使用。采用本申请中的菲林尺进行检查和监控SMD Pad开窗尺寸、Pad中心间距、异物大小,曝光不良报废率从0.3%降低到0.1%,客户端因异物投诉的DPPM从原来的100-200,下降到50以下,改善效果非常显著,提高了经济效益。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种用于曝光测量的菲林尺,其特征在于,包括菲林片;
所述菲林片上按照不同倍数设有多组由开窗Pad图形、放大倍数的指示标识、异物对比圆点、圆点直径尺寸标识组成的对比图形组;
每组所述对比图形组中的所述圆点直径尺寸标识设置于所述异物对比圆点右侧;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形按照公差允许的范围设有内框和外框,且所述开窗Pad图形按照目标Pad间规定的中心间距成对设置;
每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形和所述异物对比圆点的尺寸按照每组对比图形中所述指示标识指示的放大倍数设置。
2.根据权利要求1所述的菲林尺,其特征在于,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点的数量按照异物尺寸大小设置为多个。
3.根据权利要求2所述的菲林尺,其特征在于,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点的数量按照异物尺寸大小设置为3个。
4.根据权利要求3所述的菲林尺,其特征在于,每组所述对比图形组中的所述异物对比圆点按照异物尺寸由小到大依次纵向排列。
5.根据权利要求3所述的菲林尺,其特征在于,每组所述对比图形组中的3个所述异物对比圆点的圆点直径分别为30μm、50μm、100μm。
6.根据权利要求1所述的菲林尺,其特征在于,每组所述对比图形组中的所述开窗Pad图形、指示标识、异物对比圆点依次纵向排列。
7.根据权利要求1所述的菲林尺,其特征在于,所述多组对比图形组按照所述指示标识指示的放大倍数依次横向排列。
8.根据权利要求7所述的菲林尺,其特征在于,所述对比图形组的组数设置为5。
9.根据权利要求8所述的菲林尺,其特征在于,所述对比图形组按照所述指示标识指示的放大倍数由小到大依次横向排列。
10.根据权利要求8所述的菲林尺,其特征在于,所述5组对比图形组中所述指示标识指示的放大倍数分别为45X、57X、87X、113X、130X。
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