CN218567528U - 一种用于芯片测试的pcb测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于芯片测试的PCB测试板，包括基座，所述基座的一侧开设有放置槽，所述基座的上表面开设有第一凹槽，所述放置槽的内壁活动连接有PCB测试板，所述PCB测试板活动连接在凹槽的内底壁，所述凹槽靠近PCB测试板上表面的内壁固定连接有测试座，所述测试座的上表面开设有第二凹槽。该用于芯片测试的PCB测试板，通过卡槽、电动伸缩杆、PCB测试板和柔软垫的设置，将待测芯片放置在卡槽中，启动电动伸缩杆带动固定板将待测芯片夹紧，待测芯片的下表面与顶针相导通，顶针将PCB测试板与检测板相导通，从而通过检测板检测待测芯片的好坏程度，可同时测试多个待测芯片，提高了工作效率，电动伸缩杆能够适用于不同尺寸的待测芯片，适用性强。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种用于芯片测试的PCB测试板。
背景技术
随着微电子器件技术的发展，各种电子设备已经广泛应用于航空航天、军工、科研、通用电子等各种领域，无论是日常的电子产品还是大型设备都需要芯片来达到自动控制与智能的目的，故芯片是电子产品最重要的一部分。
芯片制造后一般都要经过测试才可安装使用，现有的芯片多数采用直接焊接在PCB测试板上，进行芯片测试，测试后需要拆装，不仅测试效率低，且在拆装过程中，会导致芯片的损坏，现有的芯片测试一次只能测试一个芯片并且不能适应不同大小芯片的测试，适用性低，工作效率低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种用于芯片测试的PCB测试板，可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：
一种用于芯片测试的PCB测试板，包括基座，所述基座的一侧开设有放置槽，所述基座的上表面开设有第一凹槽，所述放置槽的内壁活动连接有PCB测试板，所述PCB测试板活动连接在第一凹槽的内底壁，所述第一凹槽靠近PCB测试板上表面的内壁固定连接有测试座，所述测试座的上表面开设有第二凹槽，所述第二凹槽靠下的一侧内壁开设有限位孔，所述限位孔的内底壁固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆内杆的一端固定连接有固定板，所述固定板的一侧开设有卡槽，所述卡槽的内壁设置有柔软垫；。
为了使得达到测试的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述第二凹槽的内底壁开设有顶针孔，所述顶针孔的内壁放置有顶针。
为了使得达到通电测试的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述PCB测试板的上表面设置有电接触区，所述顶针与电接触区呈电性连接。
为了使得达到连接转动的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述基座的一侧固定连接有套筒，所述套筒的内壁转动连接有转轴，所述转轴的两端固定连接有保护盖。
为了使得达到保护测试座的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述保护盖的周长大于基座的周长。
为了使得达到保护的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述保护盖的下表面开设有固定槽，所述固定槽的尺寸大小与测试座的尺寸大小相匹配。
为了使得达到缓冲的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述固定槽的内壁固定连接有橡胶缓冲垫。
为了使得达到提高工作效率的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述测试座的数量为四个，四个所述测试座以矩形阵列的方式固定连接在第二凹槽的内壁。
为了使得达到夹紧固定待测芯片的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述固定板的数量为两个，两个所述固定板对称设置活动连接在测试座的内部。
为了使得达到方便打开保护盖的目的，作为本实用新型一种用于芯片测试的PCB测试板，所述保护盖远离转轴的一侧中部固定连接有把手。
与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：
1.本实用新型中，通过卡槽、电动伸缩杆、PCB测试板和柔软垫的设置，将待测芯片放置在卡槽中，启动电动伸缩杆带动固定板将待测芯片夹紧，待测芯片的下表面与顶针相导通，顶针将PCB测试板与检测板相导通，从而通过检测板检测待测芯片的好坏程度，可同时测试多个待测芯片，提高了工作效率，电动伸缩杆能够适用于不同尺寸的待测芯片，适用性强。
2.本实用新型中，通过柔软垫、保护盖、基座、橡胶缓冲垫和测试座的设置，柔软垫能够避免待测芯片的损坏，保护盖的周长大于基座的周长，从而保护盖能够起到保护的作用，避免灰尘的进入，橡胶缓冲垫能够避免损坏测试座，起到防护的作用，四个测试座能够同时测试四个待测芯片，提高了工作效率，节省时间。
附图说明
图1为本实用新型实施例1的正视结构示意图；
图2为本实用新型实施例1的第一凹槽结构示意图；
图3为本实用新型实施例1的顶针孔结构示意图；
图4为本实用新型实施例1的柔软垫结构示意图；
图5为本实用新型实施例2把手结构示意图。
图中：1、基座；2、放置槽；3、第一凹槽；4、PCB测试板；5、测试座；6、第二凹槽；7、限位孔；8、电动伸缩杆；9、固定板；10、卡槽；11、柔软垫；12、顶针孔；13、顶针；14、电接触区；15、套筒；16、转轴；17、保护盖；18、固定槽；19、橡胶缓冲垫；20、把手。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例1
如图1-4所示，一种用于芯片测试的PCB测试板，包括基座1，基座1的一侧开设有放置槽2，基座1的上表面开设有第一凹槽3，放置槽2的内壁活动连接有PCB测试板4，PCB测试板4活动连接在第一凹槽3的内底壁，第一凹槽3靠近PCB测试板4上表面的内壁固定连接有测试座5，测试座5的上表面开设有第二凹槽6；
在本实施例中，第二凹槽6靠下的一侧内壁开设有限位孔7，限位孔7的内底壁固定连接有电动伸缩杆8，电动伸缩杆8内杆的一端固定连接有固定板9，固定板9的一侧开设有卡槽10，卡槽10的内壁设置有柔软垫11。
具体使用时，先对PCB测试板4进行测试，测试完毕后将PCB测试板4通过靠近放置槽2一侧的排线孔与外部的检测板相连接，然后将待测芯片放置在卡槽10的内部，通过电动伸缩杆8带动固定板9将待测芯片进行夹紧固定，待测芯片的下表面与顶针13相导通，然后顶针13将PCB测试板4与检测板相导通，从而通过检测板检测待测芯片的好坏程度，可同时测试多个待测芯片，提高了工作效率，节省了时间，并且方便安装与拆卸，柔软垫11的设置能够避免待测芯片的损坏，电动伸缩杆8能够适用于不同尺寸的待测芯片，安装固定简单。
在本实施例中，第二凹槽6的内底壁开设有顶针孔12，顶针孔12的内壁放置有顶针13。
具体使用时，将顶针13放置在顶针孔12的内壁，顶针13能够与待测芯片相导通连接。
在本实施例中，PCB测试板4的上表面设置有电接触区14，顶针13与电接触区14呈电性连接。
具体使用时，顶针13与电接触区14电性连接，从而顶针13的一端连接待测芯片，顶针13的另一端连接PCB测试板4，从而测试待测芯片的好坏程度。
在本实施例中，基座1的一侧固定连接有套筒15，套筒15的内壁转动连接有转轴16，转轴16的两端固定连接有保护盖17。
具体使用时，保护盖17与基座1呈活动连接，需要打开保护盖17时，向上掀动保护盖17从而保护盖17带动转轴16在套筒15的内壁转动从而将保护盖17打开，操作简单，使用方便，套筒15与转轴16起到连接的作用。
在本实施例中，保护盖17的周长大于基座1的周长。
具体使用时，保护盖17的周长大于基座1的周长，从而保护盖17能够起到保护的作用，避免灰尘的进入。
在本实施例中，保护盖17的下表面开设有固定槽18，固定槽18的尺寸大小与测试座5的尺寸大小相匹配。
具体使用时，开设固定槽18，在保护盖17向下盖上时，固定槽18能够将测试座5包裹在内部，起到保护测试座5的作用。
在本实施例中，固定槽18的内壁固定连接有橡胶缓冲垫19。
具体使用时，设置橡胶缓冲垫19能够避免损坏测试座5，起到防护的作用。
在本实施例中，测试座5的数量为四个，四个测试座5以矩形阵列的方式固定连接在第二凹槽6的内壁。
具体使用时，设置四个测试座5能够同时测试四个待测芯片，提高了工作效率，节省时间。
在本实施例中，固定板9的数量为两个，两个固定板9对称设置活动连接在测试座5的内部。
具体使用时，设置两个固定板9能够将待测芯片夹紧固定的更牢固，并且更加方便。
工作原理：先对PCB测试板4进行测试，测试完毕后将PCB测试板4通过靠近放置槽2一侧的排线孔与外部的检测板相连接，然后向上掀动保护盖17从而保护盖17带动转轴16在套筒15的内壁转动从而将保护盖17打开，将待测芯片放置在卡槽10的内部，通过电动伸缩杆8带动固定板9将待测芯片进行夹紧固定，待测芯片的下表面与顶针13相导通，顶针13的一端与待测芯片相接触连通，顶针13的另一端连接PCB测试板4，PCB测试板4与检测板相导通，从而通过检测板检测待测芯片的好坏程度，可同时测试多个待测芯片，提高了工作效率，节省了时间，并且方便安装与拆卸，柔软垫11的设置能够避免待测芯片的损坏，电动伸缩杆8能够适用于不同尺寸的待测芯片，安装固定简单。
实施例2
如图5所示，本实施例区别实施例1的区别特征是：保护盖17远离转轴16的一侧中部固定连接有把手20。
具体使用时，安装把手20，需要打开保护盖17将待测芯片放入时，手放置在把手20上向上掀动即可将保护盖17打开，把手20的设置比较方便将保护盖17打开，操作简单。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (10)
1.一种用于芯片测试的PCB测试板，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)的一侧开设有放置槽(2)，所述基座(1)的上表面开设有第一凹槽(3)，所述放置槽(2)的内壁活动连接有PCB测试板(4)，所述PCB测试板(4)活动连接在第一凹槽(3)的内底壁，所述第一凹槽(3)靠近PCB测试板(4)上表面的内壁固定连接有测试座(5)，所述测试座(5)的上表面开设有第二凹槽(6)；
所述第二凹槽(6)靠下的一侧内壁开设有限位孔(7)，所述限位孔(7)的内底壁固定连接有电动伸缩杆(8)，所述电动伸缩杆(8)内杆的一端固定连接有固定板(9)，所述固定板(9)的一侧开设有卡槽(10)，所述卡槽(10)的内壁设置有柔软垫(11)。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述第二凹槽(6)的内底壁开设有顶针孔(12)，所述顶针孔(12)的内壁放置有顶针(13)。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述PCB测试板(4)的上表面设置有电接触区(14)，所述顶针(13)与电接触区(14)呈电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述基座(1)的一侧固定连接有套筒(15)，所述套筒(15)的内壁转动连接有转轴(16)，所述转轴(16)的两端固定连接有保护盖(17)。
5.根据权利要求4所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述保护盖(17)的周长大于基座(1)的周长。
6.根据权利要求4所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述保护盖(17)的下表面开设有固定槽(18)，所述固定槽(18)的尺寸大小与测试座(5)的尺寸大小相匹配。
7.根据权利要求6所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述固定槽(18)的内壁固定连接有橡胶缓冲垫(19)。
8.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述测试座(5)的数量为四个，四个所述测试座(5)以矩形阵列的方式固定连接在第二凹槽(6)的内壁。
9.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述固定板(9)的数量为两个，两个所述固定板(9)对称设置活动连接在测试座(5)的内部。
10.根据权利要求4所述的一种用于芯片测试的PCB测试板，其特征在于：所述保护盖(17)远离转轴(16)的一侧中部固定连接有把手(20)。
Priority Applications (1)
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| CN202222441242.7U CN218567528U (zh) | 2022-09-15 | 2022-09-15 | 一种用于芯片测试的pcb测试板 |
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| CN218567528U true CN218567528U (zh) | 2023-03-03 |
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| CN202222441242.7U Active CN218567528U (zh) | 2022-09-15 | 2022-09-15 | 一种用于芯片测试的pcb测试板 |
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