CN218298295U - 一种芯片测试机测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试机测试座，包括底座、放置槽、上盖板、蓄电池和电磁条，底座的顶端转动连接有转轴，转轴的表面固定连接有上盖板，上盖板的后端固定连接有电池槽，电池槽的内部电性连接有蓄电池，蓄电池的一端电性连接有开关，上盖板靠近底座的一端固定连接有固定架，固定架的一端与电磁条的一端电性连接，上盖板的内部固定连接有绝缘板，绝缘板的一端与电磁条的一端固定连接，底座的顶端中部开设有放置槽，放置槽内部的四个拐角处固定连接有检测组件，通过这样的方式则不用再使用镊子去夹取芯片，并且在多次检测实验使可以对芯片的表面进行保护，延长芯片的使用寿命。

Description

一种芯片测试机测试座

技术领域

本实用新型涉及测试座术领域，尤其涉及一种芯片测试机测试座。

背景技术

芯片测试机测试座的作用是让芯片放置在测试座上，然后使用测试机通过与主板连接并且芯片与主板电性连接后，使用测试机对芯片进行检测，而测试座的作用就是限位芯片和主板，并且闭合测试座，使芯片在测试时更为稳定，而在测试芯片时需要多次拿取芯片来完成不同数据的提取，而在这过程中，因芯片较小所以都需要人们使用镊子去夹取芯片，但是芯片较为脆弱，多次通过镊子去夹取芯片会导致芯片的表面进行划伤，从而对芯片造成损伤，对此提出一种芯片测试机测试座。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出 一种芯片测试机测试座，为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：包括底座、放置槽、上盖板、蓄电池和电磁条，所述底座的顶端转动连接有转轴，所述转轴的表面固定连接有上盖板，所述上盖板的后端固定连接有电池槽，所述电池槽的内部电性连接有蓄电池，所述蓄电池的一端电性连接有开关，所述上盖板靠近底座的一端固定连接有固定架，所述固定架的一端与电磁条的一端电性连接，所述上盖板的内部固定连接有绝缘板，所述绝缘板的一端与电磁条的一端固定连接，所述底座的顶端中部开设有放置槽，所述放置槽内部的四个拐角处固定连接有检测组件。

优选的，所述上盖板的顶端固定连接有嵌合块，所述嵌合块的内部呈圆弧形设置，所述嵌合块采用弹性塑料材料，嵌合块呈圆弧形设置，方便嵌合块和连接杆之间的嵌合连接，所以上盖板和底座之间的连接是通过嵌合块和连接杆之间嵌合连接。

优选的，所述底座的表面固定连接有连接杆，所述连接杆的表面与嵌合块的底端嵌合连接，所述连接杆的直径与嵌合块的底端尺寸相匹配，向下拉动嵌合块，这时嵌合块和连接杆之间接触，从而使上盖板和底座嵌合连接，这样在对芯片进行检测时需要来回拿取芯片，这样通过嵌合连接的方式，使来回拿取芯片时更为方便。

优选的，所述检测组件的底端电性连接有PVB板，所述PVB板和检测组件的上端放置有芯片，所述放置槽的开设尺寸大于芯片的尺寸，因芯片需要在主板上（也就是PVB板）才能实现芯片的工作，而检测芯片时则必须使用到PVB板，而检测组件是现有技术，并且检测组件的作用是承上启下的作用，通过检测组件将芯片和主板电性连接起来，并且可以使芯片和主板进行连接。

优选的，所述底座的底端四个拐角处固定连接有支撑腿，所述支撑腿的采用绝缘材料制成，因为芯片和主板之间工作时，放置主板漏电，所以支撑腿采用绝缘材料制成。

优选的，所述支撑腿的一端固定连接有限位块，所述限位块的内部固定连接有摩擦凸起，所述摩擦凸起采用软质橡胶材料制成，摩擦凸起使为了使主板放置在限位块的内部时不让主板随意滑动，从而给主板增加了摩擦力。

优选的，所述限位块的内部与PVB板的表面滑动连接，所述PVB板的表面与摩擦凸起的表面活动连接。

本实用新型至少具备以下有益效果：

1、本实用新型中蓄电池通电会带动电池槽通电，可以带动电磁条通电，在电磁条通电后，电磁条的磁性会吸附住放置在放置槽上的芯片，然后再转动上盖板使嵌合块和连接杆分离，使电磁条带动芯片在上盖板上转动出来，这样会则会使芯片和主板之间发生分离，转动出来后，再关闭开关，这样芯片会和电磁条发生分离，然后手部再去接住芯片，通过这样的方式则不用再使用镊子去夹取芯片，并且在多次检测实验使可以对芯片的表面进行保护，延长芯片的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型轴视结构示意图；

图2是本实用新型第一视角结构示意图；

图3是本实用新型第二视角结构示意图；

图4是本实用新型第三视角结构示意图。

图中：1、底座；2、检测组件；3、放置槽；4、转轴；5、上盖板；6、连接杆；7、PVB板；8、限位块；9、摩擦凸起；10、支撑腿；11、固定架；12、绝缘板；13、嵌合块；14、电池槽；15、蓄电池；16、电磁条；17、开关。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参照图1-4，一种芯片测试机测试座，包括底座1、放置槽3、上盖板5、蓄电池15和电磁条16，底座1的顶端转动连接有转轴4，转轴4的表面固定连接有上盖板5，上盖板5的后端固定连接有电池槽14，电池槽14的内部电性连接有蓄电池15，蓄电池15的一端电性连接有开关17，上盖板5靠近底座1的一端固定连接有固定架11，固定架11的一端与电磁条16的一端电性连接，上盖板5的内部固定连接有绝缘板12，绝缘板12的一端与电磁条16的一端固定连接，底座1的顶端中部开设有放置槽3，放置槽3内部的四个拐角处固定连接有检测组件2。

可选地，在本实施例中，上盖板5的顶端固定连接有嵌合块13，嵌合块13的内部呈圆弧形设置，嵌合块13采用弹性塑料材料，底座1的表面固定连接有连接杆6，连接杆6的表面与嵌合块13的底端嵌合连接，连接杆6的直径与嵌合块13的底端尺寸相匹配。

检测组件2的底端固定连接有PVB板7，PVB板7和检测组件2的上端放置有芯片，放置槽3的开设尺寸大于芯片的尺寸，底座1的底端四个拐角处固定连接有支撑腿10，支撑腿10的采用绝缘材料制成。

支撑腿10的一端固定连接有限位块8，限位块8的内部固定连接有摩擦凸起9，摩擦凸起9采用软质橡胶材料制成，限位块8的内部与PVB板7的表面滑动连接，PVB板7的表面与摩擦凸起9的表面活动连接。

本实用新型工作原理：

首先将芯片放置在放置槽3中，放置槽3中设备的检测组件2可以带动一定的磁性，不光可以对芯片吸附住并且也可以和芯片电性连接，并且检测组价和PVB板7电性连接，芯片可以通过检测组件2（检测组件2为现有技术）和PVB板7电性连接，则可以对芯片进行检测，然后通过开关17关闭蓄电池15，使蓄电池15不会通电，然后转动上盖板5，转轴4和底座1之间转动连接，所以可以带动上盖板5转动到底座1上，并且通过连接杆6和嵌合块13的嵌合连接，则使底座1和上盖板5闭合，并且使电磁条16会紧贴芯片，从而进一步对芯片进行固定。

再检测完成后，需要对芯片取出时，则通过开关17接通蓄电池15，使蓄电池15通电，蓄电池15通电会带动电池槽14通电，电池槽14和固定架11是电性连接的，则固定架11不光起到固定电磁条16的作用，并且可以带动电磁条16通电，在电磁条16通电后，则电磁条16会产生磁性，电磁条16的磁性会吸附住放置在放置槽3上的芯片，并且检测组件2和芯片之间的磁性小于电磁条16的磁性，然后再转动上盖板5使嵌合块13和连接杆6分离，使电磁条16带动芯片在上盖板5上转动出来，这样会则会使芯片和主板之间发生分离，转动出来后，再关闭开关17，这样芯片会和电磁条16发生分离，然后手部再去接住芯片，这样则不用再使用镊子去夹取芯片。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种芯片测试机测试座，包括底座（1）、放置槽（3）、上盖板（5）、蓄电池（15）和电磁条（16），其特征在于：所述底座（1）的顶端转动连接有转轴（4），所述转轴（4）的表面固定连接有上盖板（5），所述上盖板（5）的后端固定连接有电池槽（14），所述电池槽（14）的内部电性连接有蓄电池（15），所述蓄电池（15）的一端电性连接有开关（17），所述上盖板（5）靠近底座（1）的一端固定连接有固定架（11），所述固定架（11）的一端与电磁条（16）的一端电性连接，所述上盖板（5）的内部固定连接有绝缘板（12），所述绝缘板（12）的一端与电磁条（16）的一端固定连接，所述底座（1）的顶端中部开设有放置槽（3），所述放置槽（3）内部的四个拐角处固定连接有检测组件（2）。

2.根据权利要求1所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述上盖板（5）的顶端固定连接有嵌合块（13），所述嵌合块（13）的内部呈圆弧形设置，所述嵌合块（13）采用弹性塑料材料。

3.根据权利要求1所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述底座（1）的表面固定连接有连接杆（6），所述连接杆（6）的表面与嵌合块（13）的底端嵌合连接，所述连接杆（6）的直径与嵌合块（13）的底端尺寸相匹配。

4.根据权利要求1所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述检测组件（2）的底端电性连接有PVB板（7），所述PVB板（7）和检测组件（2）的上端放置有芯片，所述放置槽（3）的开设尺寸大于芯片的尺寸。

5.根据权利要求1所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述底座（1）的底端四个拐角处固定连接有支撑腿（10），所述支撑腿（10）的采用绝缘材料制成。

6.根据权利要求5所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述支撑腿（10）的一端固定连接有限位块（8），所述限位块（8）的内部固定连接有摩擦凸起（9），所述摩擦凸起（9）采用软质橡胶材料制成。

7.根据权利要求6所述一种芯片测试机测试座，其特征在于：所述限位块（8）的内部与PVB板（7）的表面滑动连接，所述PVB板（7）的表面与摩擦凸起（9）的表面活动连接。

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