CN215986351U - 测试机构及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试机构及测试装置，涉及电参数测试的技术领域。第一导电件包括第一段和第二段，第一段与第二段呈夹角设置，并形成第一夹角，第一夹角为非钝角；第二导电件包括第三段和第四段，第三段与第四段呈夹角设置，并形成第二夹角，第二夹角为非钝角；第一夹角和第二夹角相对设置，第一弹性件两侧分别与第二段和第四段固定连接，以形成开口，以使电子元件能够抵接于第二段和第四段表面，第一弹性件能够在电子元件受向第一弹性件下压力时，使第一段和第三段相互靠近，进而能够使第一段和第三段与电子元件贴合。本实用新型解决了在大电流测试时易出现打火而损坏的技术问题。

Description

测试机构及测试装置

技术领域

本实用新型涉及电参数测试的技术领域，尤其涉及一种测试机构及测试装置。

背景技术

目前一些电子元件例如二极管在封装应用之前需要经过专业的电参数测试，如测试电流、电阻等电参数，现有由于电子元件的引线尺寸较小，一般采用的测试工具为测笔，但是此种测试方式为点接触测试，在进行大电流测试时，易出现打火现象，进而造成电子元件的损坏。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供了一种测试机构及测试装置，用于解决现有技术中电子元件在进行大电流测试时易出现打火而损坏的技术问题。

一种测试机构，包括用于测试电子元件的测试组件，所述测试组件设有用于接收所述电子元件的开口，所述测试组件包括第一导电件、第二导电件和第一弹性件；

所述第一导电件包括第一段和第二段，所述第一段与所述第二段呈夹角设置，并形成第一夹角，所述第一夹角为非钝角；

所述第二导电件包括第三段和第四段，所述第三段与所述第四段呈夹角设置，并形成第二夹角，所述第二夹角为非钝角；

所述第一夹角和所述第二夹角相对设置，所述第一弹性件两侧分别与所述第二段和所述第四段固定连接，以形成所述开口，以使所述电子元件能够抵接于所述第二段和所述第四段表面，所述第一弹性件能够在所述电子元件受向所述第一弹性件下压力时，使所述第一段和所述第三段相互靠近，进而能够使所述第一段和所述第三段与所述电子元件贴合。

在所述测试机构的一些实施例中，所述第二段和所述第四段长度相同。

在所述测试机构的一些实施例中，所述测试机构还包括复位组件，所述复位组件与所述测试组件相连接，并用于驱动所述测试组件复位。

在所述测试机构的一些实施例中，所述复位组件连接于所述测试机构远离所述开口一侧；所述复位组件包括第一连接件、第二连接件和第二弹性件，所述第一连接件和所述第二连接件相对设于所述第二弹性件两侧，并分别与所述第二弹性件固定连接；

所述第一连接件卡接于所述第一导电件，所述第二连接件卡接于所述第二导电件；在所述电子元件受所述下压力时，所述第一连接件和所述第二连接件相互远离，使所述第二弹性件被拉伸，并能够在所述下压力卸载后，通过所述第二弹性件恢复力驱动所述第一连接件和所述第二连接件相互靠近，以带动所述第一导电件和所述第二导电件复位。

在所述测试机构的一些实施例中，所述第一连接件包括第五段和第六段，所述第五段与所述第六段呈夹角设置，并形成第三夹角，所述第三夹角卡接于所述第一段与所述第二段连接处。

在所述测试机构的一些实施例中，所述第二连接件包括第七段和第八段，所述第七段与所述第八段呈夹角设置，并形成第四夹角，所述第四夹角卡接于所述第三段与所述第四段连接处。

在所述测试机构的一些实施例中，所述第六段和所述第八段长度相同。

在所述测试机构的一些实施例中，所述第一弹性件原长与所述第二弹性件原长长度相同。

一种测试装置，包括上述实施例中的测试机构。

在所述测试装置的一些实施例中，所述测试装置还包括吸附件，所述吸附件用于吸附所述电子元件，以将所述电子元件传送至所述开口内，并能够接收所述下压力，以驱动所述电子元件朝向所述第一弹性件下压。

实施本实用新型实施例，将具有如下有益效果：

上述测试机构应用于测试装置，除了使测试装置能够增大电子元件与测试机构的接触面积效果，其自身还具有能够在电子元件下压时改变开口大小，使得第一导电件和第二导电件能够接触到电子元件的侧面的效果，具体而言，测试机构包括用于测试电子元件的测试组件，测试组件包括第一导电件、第二导电件和第一弹性件，第一导电件包括呈夹角设置的第一段和第二段，第二导电件包括呈夹角设置的第三段和第四段，且第二段和第四段分别固定连接于第一弹性件的两侧，从而使得第一导电件、第一弹性件和所述导电件形成开口，以能够接收电子元件，并使电子元件相对第二弹性件一侧表面上的引线极片与第二段和第四段的表面，并能够通过将电子元件朝向第一弹性件下压时，使第一段和第三段能够贴合于电子元件，从而能够改变现在的点接触测试方式，将点接触变为双面接触，从而能够更好地贴合住电子元件的引线极片，能够充分接触电子元件的引线极片，解决了在大电流测试时易出现打火而损坏的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中测试装置的初始状态示意图；

图2为一个实施例中测试装置测试的电子元件下压状态示意图。

其中：1、测试组件；11、第一导电件；111、第一段；112、第二段；12、第二导电件；121、第三段；122、第四段；13、第一弹性件；14、开口；2、复位组件；21、第一连接件；211、第五段；212、第六段；22、第二连接件；221、第七段；222、第八段；23、第二弹性件；3、吸附件；100、电子元件；101、引线极片。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以通过许多其他不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

目前一些电子元件例如二极管在封装应用之前需要经过专业的电参数测试，如测试电流、电阻等电参数，现有由于电子元件的引线尺寸较小，一般采用的测试工具为测笔，但是此种测试方式为点接触测试，在进行大电流测试时，易出现打火现象，进而造成电子元件的损坏。

结合图1和图2所示，在一种测试机构实施例中，包括用于测试电子元件100的测试组件1，测试组件1设有用于接收电子元件100的开口14，测试组件1包括第一导电件11、第二导电件12和第一弹性件13。第一导电件11包括第一段111和第二段112，第一段111与第二段112呈夹角设置，并形成第一夹角，第一夹角为非钝角。第二导电件12包括第三段121和第四段122，第三段121与第四段122呈夹角设置，并形成第二夹角，第二夹角为非钝角。第一夹角和第二夹角相对设置，第一弹性件13两侧分别与第二段112和第四段122固定连接，以形成开口14，以使电子元件100能够抵接于第二段112和第四段122，第一弹性件13能够在电子元件100受向第一弹性件13下压力时，使第一段111和第三段121相互靠近，进而能够使第一段111和第三段121与电子元件100贴合。

在本实施例中，第一导电件11、第一弹性件13和所述导电件形成开口14，以能够接收电子元件100，并使电子元件100相对第二弹性件23一侧表面上的引线极片101与第二段112和第四段122的表面，并能够通过将电子元件100朝向第一弹性件13下压时，使得第一段111和第三段121能够贴合于电子元件100，从而能够改变现在的点接触测试方式，将点接触变为双面接触，从而能够更好地贴合住电子元件100的引线极片101，能够充分接触电子元件100的引线极片101，解决了在大电流测试时易出现打火而损坏的技术问题。

在一种测试机构实施例中，第二段112和第四段122长度相同。

具体地，在本实施例中，第一导电件11和第二导电件12可为相同的形状，可均为L形板状结构，从而能够相对生成开口14，通过将第一导电件11的第二段112和第二导电件12的第四段122设置成相同的长度大小，能够让第一弹性件13居于中间，使第一导电件11和第二导电件12相对称，从而能够便于接收和放置电子元件100。

在一种测试机构实施例中，测试机构还包括复位组件2，复位组件2与测试组件1相连接，并用于驱动测试组件1复位。

在本实施例中，本实用新型还包括复位组件2，通过将复位组件2能够在电子元件100被测试组件1测试完毕后，即卸载下压力后，将开口14恢复到初始状态。

具体地，第一弹性件13为硅橡胶材质，质地较软，具有延展性，能够便于第一导电件11和第二导电件12的相互靠近或远离，即能够让开口14合拢和张开，在初始状态时，第一弹性件13为原长，未发生弯曲；当电子元件100下压时，第一弹性件13向远离电子元件100方向拱起，从而能够使得第一段111和第三段121相互靠近，合拢了开口14。但第一弹性件13的恢复性并不及时，通过增设复位组件2，能够在下压力卸载后，快速地将开口14恢复到初始状态，便于接收下一个待测的电子元件100。

在一种测试机构实施例中，复位组件2连接于测试机构远离开口14一侧；复位组件2包括第一连接件21、第二连接件22和第二弹性件23，第一连接件21和第二连接件22相对设于第二弹性件23两侧，并分别与第二弹性件23固定连接。

第一连接件21卡接于第一导电件11，第二连接件22卡接于第二导电件12；在电子元件100受下压力时，第一连接件21和第二连接件22相互远离，使第二弹性件23被拉伸，以能够在下压力卸载后，通过第二弹性件23恢复力驱动第一连接件21和第二连接件22相互靠近，以带动第一导电件11和第二导电件12复位。

第一连接件21包括第五段211和第六段212，第五段211与第六段212呈夹角设置，并形成第三夹角，第三夹角卡接于第一段111与第二段112连接处。

第二连接件22包括第七段221和第八段222，第七段221与第八段222呈夹角设置，并形成第四夹角，第四夹角卡接于第三段121与第四段122连接处。

在一种测试机构实施例中，第六段212和第八段222长度相同。

在本实施例中，具体地，第一连接件21为L形结构，第二连接件22为L形结构。优选地，第一连接件21的内壁与第一导电件11的外侧壁形状相匹配，第二连接件22的内壁与第二导电件12的外侧壁形状相匹配，从而能够使得第三夹角卡接于第一段111与第二段112连接处，及第四夹角卡接于第三段121与第四段122连接处，优选地，第一夹角、第二夹角、第三夹角和第四夹角均为90度，且可通过可拆卸的固定方式，如螺栓、螺钉等固定件将第一连接件21和第一导电件11固定，及将第二连接件22和第二导电件12固定，从而能够避免第一连接件21和第二连接件22的卡接失效。

在一种测试机构实施例中，第一弹性件13原长与第二弹性件23原长长度相同。

在本实施例中，第六段212远离第五段211的端面与第二段112远离第一段111的端面相平，第八段222远离第七段221的端面与第四段122远离第三段121的端面相平，从而能够使得第一弹性件13的原长与第二弹性件23的原长相同，优选地，第二弹性件23可为弹簧，第二弹性件23一端固定连接于第六段212，另一端固定连接于第八段222，第二弹性件23选用弹簧，能够提供恢复力，使得第一连接件21和第二连接件22能够第二弹性件23的驱动下，快速复原到初始状态，进而能够通过第三夹角和第四夹角带动第一导电件11和第二导电件12复原到初始状态。

另外，第一连接件21和第二连接件22可选用特氟伦制成的L形块，能够更好地贴合和卡接住第一导电件11和第二导电件12。

在一种测试机构的实施例中，还包括支撑件。支撑件可为圆环形结构，用于支撑复位组件2，具体地，用于支撑第六段212和第八段222。支撑件的内环对应设于第一弹性件13和第二弹性件23朝向支撑件的正投影位置处，优选地，下压力的方向与所述支撑件的轴线方向相重合，通过设置支撑件，支撑件的内壁能够形成支点，供第二段112、第四段122、第六段212和第八段222在电子元件100受到下压力时转动。优选地，支撑件可由弹性材质制成，如硅胶、橡胶等。

本实用新型还提出了一种测试装置，包括上述实施例中的测试机构。

在本实施例中，通过将上述实施例中的测试机构应用于测试装置上，能够增大测试机构与待测的电子元件100的接触面积，以充分接触电子元件100的引线极片101，进而能够避免在进行大电流测试时出现打火损坏电子元件100的问题。电子元件100可为贴片二极管。

在一种测试装置的实施例中，测试装置还包括吸附件3，吸附件3用于吸附电子元件100，以将电子元件100传送至开口14内，并能够接收下压力，以驱动电子元件100朝向第一弹性件13下压。

在本实施例中，测试装置还包括吸附件3，吸附件3可为真空吸笔，通过吸附件3拾取吸附住待测的电子元件100，并将电子元件100送至开口14内，可通过向吸附件3施加朝向第一弹性件13方向的力，从而能够使得电子元件100两侧的第一导电件11和第二导电件12朝向电子元件100方向靠近，使得第一导电件11和第二导电件12与电子元件100的侧面和底部均接触。向真空吸笔的施力体可为机械或人。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试机构，其特征在于：包括用于测试电子元件的测试组件，所述测试组件设有用于接收所述电子元件的开口，所述测试组件包括第一导电件、第二导电件和第一弹性件；

所述第一导电件包括第一段和第二段，所述第一段与所述第二段呈夹角设置，并形成第一夹角，所述第一夹角为非钝角；

所述第二导电件包括第三段和第四段，所述第三段与所述第四段呈夹角设置，并形成第二夹角，所述第二夹角为非钝角；

所述第一夹角和所述第二夹角相对设置，所述第一弹性件两侧分别与所述第二段和所述第四段固定连接，以形成所述开口，以使所述电子元件能够抵接于所述第二段和所述第四段表面，所述第一弹性件能够在所述电子元件受向所述第一弹性件下压力时，使所述第一段和所述第三段相互靠近，进而能够使所述第一段和所述第三段与所述电子元件贴合。

2.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：所述第二段和所述第四段长度相同。

3.如权利要求1或2所述的测试机构，其特征在于：所述测试机构还包括复位组件，所述复位组件与所述测试组件相连接，并用于驱动所述测试组件复位。

4.如权利要求3所述的测试机构，其特征在于：所述复位组件连接于所述测试机构远离所述开口一侧；所述复位组件包括第一连接件、第二连接件和第二弹性件，所述第一连接件和所述第二连接件相对设于所述第二弹性件两侧，并分别与所述第二弹性件固定连接；

所述第一连接件卡接于所述第一导电件，所述第二连接件卡接于所述第二导电件；在所述电子元件受所述下压力时，所述第一连接件和所述第二连接件相互远离，使所述第二弹性件被拉伸，并能够在所述下压力卸载后，通过所述第二弹性件恢复力驱动所述第一连接件和所述第二连接件相互靠近，以带动所述第一导电件和所述第二导电件复位。

5.如权利要求4所述的测试机构，其特征在于：所述第一连接件包括第五段和第六段，所述第五段与所述第六段呈夹角设置，并形成第三夹角，所述第三夹角卡接于所述第一段与所述第二段连接处。

6.如权利要求5所述的测试机构，其特征在于：所述第二连接件包括第七段和第八段，所述第七段与所述第八段呈夹角设置，并形成第四夹角，所述第四夹角卡接于所述第三段与所述第四段连接处。

7.如权利要求6所述的测试机构，其特征在于：所述第六段和所述第八段长度相同。

8.如权利要求7所述的测试机构，其特征在于：所述第一弹性件原长与所述第二弹性件原长长度相同。

9.一种测试装置，其特征在于：包括如权利要求1-8任一项所述的测试机构。

10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括吸附件，所述吸附件用于吸附所述电子元件，以将所述电子元件传送至所述开口内，并能够接收所述下压力，以驱动所述电子元件朝向所述第一弹性件下压。

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