CN218470900U - 一种二极管耐压检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及二极管耐压检测技术领域，具体为一种二极管耐压检测装置,包括：二极管耐压检测装置主体的一侧设置有检测台架，检测台架的表面开设有移动槽，移动槽的内部设置有定位条和极片；二号检测支架设置于移动槽的内部，二号检测支架的表面开设有压块槽；压块插接于压块槽的内部，压块的表面连有顶持杆，顶持杆远离压块的一端设置有定位块；有益效果为：将二极管对应一号检测支架的一端的引脚放置到一号检测支架顶端的一号放置槽内，将二号检测支架移动到与二极管的另一端引脚对应的位置，使二极管另一端的引脚放置到二号检测支架顶端的二号放置槽内，对二号检测支架的位置的固定，此时即可对二极管进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及二极管耐压检测技术领域，具体为一种二极管耐压检测装置。
背景技术
二极管是用半导体材料制成的一种电子器件，它具有单向导电性能，即给二极管阳极加上正向电压时，二极管导通，当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止，在二极管的生产检验阶段，需要通过耐压检测装置对功率类二极管进行耐压检测；
现有的二极管耐压检测装置，是将二极管的两端引脚放置在检测装置对应的检测支架上，检测装置通过检测支架给二极管加反向可调电压，通过检测装置显示器读取检测数据；
但是二极管的型号各异，引脚长度长短不一，而检测装置的检测支架之间的距离是固定的，不便于对不同型号的二极管进行检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种二极管耐压检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种二极管耐压检测装置，所述二极管耐压检测装置包括：
二极管耐压检测装置主体，二极管耐压检测装置主体的一侧设置有检测台架，检测台架的表面开设有移动槽，移动槽的内部设置有定位条和极片；
二号检测支架，二号检测支架设置于移动槽的内部，二号检测支架的表面开设有压块槽，二号检测支架的底部设置有极柱；
压块，压块插接于压块槽的内部，压块的表面连有顶持杆，顶持杆远离压块的一端设置有定位块。
优选的，所述二极管耐压检测装置主体的背部设置有电源插口，二极管耐压检测装置主体的表面设置有显示组件及控制面板，二极管耐压检测装置主体与检测台架固定连接，二极管耐压检测装置主体的内部组件与检测台架的内部组件电性连接。
优选的，所述检测台架的表面固定安装有一号检测支架，一号检测支架的顶端开设有一号放置槽，一号放置槽内设置有导电触点，且一号放置槽内的导电触点与检测台架的内部组件电性连接，一号检测支架顶端的一号放置槽内放置有二极管一端的引脚。
优选的，所述定位条设置有两组，两组定位条对称设置于移动槽的两侧内壁，极片固定安装于移动槽的内壁底部，极片与检测台架的内部组件电性连接。
优选的，所述二号检测支架与移动槽的内壁滑动设置，且二号检测支架与定位条的表面滑动设置，二号检测支架的顶端开设有二号放置槽，二号放置内设置有导电触点，且二号放置槽内的导电触点与极柱电性连接，二号检测支架顶端的二号放置槽内放置有二极管另一端的引脚，极柱与极片相贴，且极柱与极片滑动设置。
优选的，所述压块槽开设于二号检测支架远离移动槽的一面，压块槽靠近移动槽的一端开设有伸缩孔，伸缩孔贯穿压块槽的内壁与二号检测支架的表面。
优选的，所述压块与压块槽的内壁滑动设置，压块通过螺栓与顶持杆固定连接，顶持杆滑动插接于伸缩孔的内部，压块与压块槽的内壁之间设置有复位弹簧，复位弹簧套设于顶持杆的表面。
优选的，所述定位块呈“凸”字形块状结构，定位块设置于定位块靠近极片的一端，定位块与顶持杆为整体结构，定位块的侧壁与移动槽的侧壁滑动设置，定位块靠近定位条的一侧表面设置有防滑面，且定位条靠近防滑面的一面设置为磨砂面。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型提出的一种二极管耐压检测装置，将二极管对应一号检测支架的一端的引脚放置到一号检测支架顶端的一号放置槽内，将二号检测支架移动到与二极管的另一端引脚对应的位置，使二极管另一端的引脚放置到二号检测支架顶端的二号放置槽内，对二号检测支架的位置的固定，此时即可对二极管进行检测，避免了检测装置的检测支架之间的距离是固定的，不便于对不同型号的二极管进行检测的问题。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型图1中A处放大结构示意图；
图3为本实用新型局部剖视结构示意图；
图4为本实用新型二号检测支架结构示意图；
图5为本实用新型定位块结构示意图。
图中：二极管耐压检测装置主体1、检测台架2、移动槽21、定位条22、极片23、一号检测支架3、二号检测支架4、压块槽41、伸缩孔42、极柱43、压块5、顶持杆51、定位块52、防滑面53、复位弹簧54、二极管6。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案进行清楚、完整地描述，及优点更加清楚明白，以下结合附图对本发明实施例进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，仅仅用以解释本发明实施例，并不用于限定本发明实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
请参阅图1-图5，本实用新型提供一种技术方案：
一种二极管耐压检测装置，所述二极管耐压检测装置包括：二极管耐压检测装置主体1的一侧设置有检测台架2，检测台架2的表面开设有移动槽21，移动槽21的内部设置有定位条22和极片23；二号检测支架4设置于移动槽21的内部，二号检测支架4的表面开设有压块槽41，二号检测支架4的底部设置有极柱43；压块5插接于压块槽41的内部，压块5的表面连有顶持杆51，顶持杆 51远离压块5的一端设置有定位块52；二极管耐压检测装置主体1的背部设置有电源插口，二极管耐压检测装置主体1的表面设置有显示组件及控制面板，二极管耐压检测装置主体1与检测台架2固定连接，二极管耐压检测装置主体1 的内部组件与检测台架2的内部组件电性连接；检测台架2的表面固定安装有一号检测支架3，一号检测支架3的顶端开设有一号放置槽，一号放置槽内设置有导电触点，且一号放置槽内的导电触点与检测台架2的内部组件电性连接，一号检测支架3顶端的一号放置槽内放置有二极管6一端的引脚；将二极管6对应一号检测支架3的一端的引脚放置到一号检测支架3顶端的一号放置槽内，然后按压压块5，将二号检测支架4移动到与二极管6的另一端引脚对应的位置，松开压块5对二号检测支架4的位置进行固定，此时即可对二极管6进行检测。
实施例二
在实施例一的基础上，为实现二号检测支架4的移动，定位条22设置有两组，两组定位条22对称设置于移动槽21的两侧内壁，极片23固定安装于移动槽21的内壁底部，极片23与检测台架2的内部组件电性连接；二号检测支架4 与移动槽21的内壁滑动设置，且二号检测支架4与定位条22的表面滑动设置，二号检测支架4的顶端开设有二号放置槽，二号放置内设置有导电触点，且二号放置槽内的导电触点与极柱43电性连接，二号检测支架4顶端的二号放置槽内放置有二极管6另一端的引脚，极柱43与极片23相贴，且极柱43与极片23滑动设置；由于二号检测支架4与移动槽21内壁滑动设置，且二号检测支架4 与定位条22的表滑动设置，因此推动二号检测支架4时，可实现二号检测支架 4沿移动槽21移动，同时二号检测支架4带动极柱43在极片23的表面滑动。
实施例三
在实施例二的基础上，为实现二号检测支架4的位置的固定，压块槽41开设于二号检测支架4远离移动槽21的一面，压块槽41靠近移动槽21的一端开设有伸缩孔42，伸缩孔42贯穿压块槽41的内壁与二号检测支架4的表面；压块5与压块槽41的内壁滑动设置，压块5通过螺栓与顶持杆51固定连接，顶持杆51滑动插接于伸缩孔42的内部，压块5与压块槽41的内壁之间设置有复位弹簧54，复位弹簧54套设于顶持杆51的表面；定位块52呈“凸”字形块状结构，定位块52设置于定位块52靠近极片23的一端，定位块52与顶持杆51为整体结构，定位块52的侧壁与移动槽21的侧壁滑动设置，定位块52靠近定位条22的一侧表面设置有防滑面53，且定位条22靠近防滑面53的一面设置为磨砂面；按压压块5带动顶持杆51对定位块52顶持，压块5对复位弹簧54形成挤压，使定位块52的表面与定位条22的表面分离，此时可控制二号检测支架4 进行移动，将二号检测支架4移动到指定位置后，松开压块5，复位弹簧54的回弹力通过压块5和顶持杆51带动定位块52贴紧在定位条22的表面，使防滑面53与定位条22的磨砂面贴合，实现对二号检测支架4的位置的固定。
实际使用时，将二极管6对应一号检测支架3的一端的引脚放置到一号检测支架3顶端的一号放置槽内，按压压块5带动顶持杆51对定位块52顶持，压块 5对复位弹簧54形成挤压，使定位块52的表面与定位条22的表面分离，此时可控制二号检测支架4进行移动，将二号检测支架4移动到与二极管6的另一端引脚对应的位置，使二极管6另一端的引脚放置到二号检测支架4顶端的二号放置槽内，松开压块5，复位弹簧54的回弹力通过压块5和顶持杆51带动定位块 52贴紧在定位条22的表面，使防滑面53与定位条22的磨砂面贴合，实现对二号检测支架4的位置的固定，此时即可对二极管6进行检测。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述二极管耐压检测装置包括：
二极管耐压检测装置主体(1)，二极管耐压检测装置主体(1)的一侧设置有检测台架(2)，检测台架(2)的表面开设有移动槽(21)，移动槽(21)的内部设置有定位条(22)和极片(23)；
二号检测支架(4)，二号检测支架(4)设置于移动槽(21)的内部，二号检测支架(4)的表面开设有压块槽(41)，二号检测支架(4)的底部设置有极柱(43)；
压块(5)，压块(5)插接于压块槽(41)的内部，压块(5)的表面连有顶持杆(51)，顶持杆(51)远离压块(5)的一端设置有定位块(52)。
2.根据权利要求1所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述二极管耐压检测装置主体(1)的背部设置有电源插口，二极管耐压检测装置主体(1)的表面设置有显示组件及控制面板，二极管耐压检测装置主体(1)与检测台架(2)固定连接，二极管耐压检测装置主体(1)的内部组件与检测台架(2)的内部组件电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述检测台架(2)的表面固定安装有一号检测支架(3)，一号检测支架(3)的顶端开设有一号放置槽，一号放置槽内设置有导电触点，且一号放置槽内的导电触点与检测台架(2)的内部组件电性连接，一号检测支架(3)顶端的一号放置槽内放置有二极管(6)一端的引脚。
4.根据权利要求3所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述定位条(22)设置有两组，两组定位条(22)对称设置于移动槽(21)的两侧内壁，极片(23)固定安装于移动槽(21)的内壁底部，极片(23)与检测台架(2)的内部组件电性连接。
5.根据权利要求4所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述二号检测支架(4)与移动槽(21)的内壁滑动设置，且二号检测支架(4)与定位条(22)的表面滑动设置，二号检测支架(4)的顶端开设有二号放置槽，二号放置内设置有导电触点，且二号放置槽内的导电触点与极柱(43)电性连接，二号检测支架(4)顶端的二号放置槽内放置有二极管(6)另一端的引脚，极柱(43)与极片(23)相贴，且极柱(43)与极片(23)滑动设置。
6.根据权利要求5所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述压块槽(41)开设于二号检测支架(4)远离移动槽(21)的一面，压块槽(41)靠近移动槽(21)的一端开设有伸缩孔(42)，伸缩孔(42)贯穿压块槽(41)的内壁与二号检测支架(4)的表面。
7.根据权利要求6所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述压块(5)与压块槽(41)的内壁滑动设置，压块(5)通过螺栓与顶持杆(51)固定连接，顶持杆(51)滑动插接于伸缩孔(42)的内部，压块(5)与压块槽(41)的内壁之间设置有复位弹簧(54)，复位弹簧(54)套设于顶持杆(51)的表面。
8.根据权利要求7所述的一种二极管耐压检测装置，其特征在于：所述定位块(52)呈“凸”字形块状结构，定位块(52)设置于定位块(52)靠近极片(23)的一端，定位块(52)与顶持杆(51)为整体结构，定位块(52)的侧壁与移动槽(21)的侧壁滑动设置，定位块(52)靠近定位条(22)的一侧表面设置有防滑面(53)，且定位条(22)靠近防滑面(53)的一面设置为磨砂面。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN116338412A (zh) * | 2023-05-26 | 2023-06-27 | 深圳市国王科技有限公司 | 一种可控硅的测试方法及装置 |
| CN117420409A (zh) * | 2023-11-09 | 2024-01-19 | 苏州星测半导体有限公司 | 一种用于半导体生产用的自动化测试装置 |
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