CN218455649U

CN218455649U - 一种用于集成电路芯片的测试装置

Info

Publication number: CN218455649U
Application number: CN202222752070.5U
Authority: CN
Inventors: 胡建平
Original assignee: Shaanxi Anzhuopu Electronics Co ltd
Current assignee: Shaanxi Anzhuopu Electronics Co ltd
Priority date: 2022-10-19
Filing date: 2022-10-19
Publication date: 2023-02-07
Anticipated expiration: 2032-10-19

Abstract

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的测试装置，包括安装架，安装架底端中心位置固定连接有液压缸，液压缸输出端固定连接有安装板，安装板与安装架之间固定连接有若干伸缩杆；安装架两侧壁上均设有导槽，安装板两侧分别与两个导槽滑动连接，安装板底端一侧通过安装座固定连接有电机，电机输出端固定连接有第一连接杆，第一连接杆一端连接有清理机构，本实用新型通过往复丝杆带动移动块来回反复移动，从而带动清理刷来回移动，对治具上芯片上的灰尘进行清理，同时，第二连接杆还会同步带动风扇转动，通过风扇吹出的气流将芯片上的灰尘吹出，从而保证芯片表面的整洁效果，进而保证对芯片的测试效果，防止出现误检现象。

Description

一种用于集成电路芯片的测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于集成电路芯片的测试装置，属于集成电路芯片测试技术领域。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，电路形成于硅基板上，电路具有至少一输出/输入垫。固定封环形成于硅基板上，并围绕电路及输出/输入垫。接地环形成于硅基板及输出/输入垫之间，并与固定封环电连接。防护环设置于硅基板之上，并围绕输出/输入垫，用以与固定封环电连接。

专利号CN212341374U公开了一种多功能集成电路芯片测试机，包括主支架，其特征在于，还包括传送机构、测试机构、标记机构、治具以及CCD相机，所述传送机构设置在所述主支架上，用于对装载有集成电路芯片的治具进行传送。通过驱动机构带动装载有集成电路芯片的治具移动到测试工位时，所述第一气缸通过橡胶定位块对治具进行定位，所述第二气缸带动所述探针卡板向前移动，通过弹性探针与探针母板电连接，进而通过相应的测试元件对芯片进行测试，当检测到有不合格产品时，驱动组件带动激光打码装置移动到相应位置，在相应的打标板上打码标记，方便对装载工位上的芯片进行分拣，避免分拣混乱。

但在实际测试过程中，一旦积有较多灰尘的电路芯片在测试时，由于灰尘和妨碍，容易出现接触不良的现象，从而会导致出现误检的情况，每当检测一个电路芯片时就要人工清理灰尘时会比较麻烦，浪费人力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于集成电路芯片的测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于集成电路芯片的测试装置，包括安装架，所述安装架底端中心位置固定连接有液压缸，所述液压缸输出端固定连接有安装板，所述安装板与安装架之间固定连接有若干伸缩杆；所述安装架两侧壁上均设有导槽，所述安装板两侧分别与两个导槽滑动连接，所述安装板底端一侧通过安装座固定连接有电机，所述电机输出端固定连接有第一连接杆，所述第一连接杆一端连接有清理机构，所述清理机构远离第一连接杆的一侧连接有第二连接杆，所述第二连接杆上端设有吹风机构。

优选的，所述清理机构包括两个侧板、往复丝杆、导杆、移动块、安装块和清理刷，两个所述侧板均固定连接在安装板底端，所述导杆固定连接在两个侧板之间，所述往复丝杆一端与第一连接杆固定连接，所述往复丝杆另一端与第二连接杆固定连接，所述第一连接杆和第二连接杆分别与两个侧板转动连接，所述移动块与导杆活动套接，所述移动块与往复丝杆螺纹连接，所述移动块底端固定连接有安装块，所述安装块底端固定连接有清理刷。

优选的，所述吹风机构包括固定板、风扇和导风筒，所述固定板垂直固定在安装板底端一侧，所述固定板与第二连接杆转动连接，所述第二连接杆外侧固定套接有风扇，所述风扇外围套设有导风筒，所述导风筒固定连接在固定板上。

优选的，所述安装块设为“凹”形状，所述安装块与移动块之间通过螺栓连接。

优选的，所述导风筒倾斜设置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过往复丝杆带动移动块来回反复移动，从而带动清理刷来回移动，对治具上芯片上的灰尘进行清理，同时，第二连接杆还会同步转动，第二连接杆带动风扇转动，通过风扇吹出的气流将芯片上的灰尘吹出，从而保证芯片表面的整洁效果，进而保证对芯片的测试效果，防止出现误检现象。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型的外观结构示意图；

图3为本实用新型的清理机构结构示意图；

图4为本实用新型的安装块结构示意图。

图中：1、安装架；2、液压缸；3、伸缩杆；4、安装板；5、安装座；6、导槽；7、清理机构；71、往复丝杆；72、导杆；73、侧板；74、移动块；75、安装块；76、清理刷；8、吹风机构；81、固定板；82、风扇；83、导风筒；9、电机；10、第一连接杆；11、第二连接杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种用于集成电路芯片的测试装置，包括安装架1，安装架1底端中心位置固定连接有液压缸2，液压缸2输出端固定连接有安装板4，安装板4与安装架1之间固定连接有若干伸缩杆3；安装架1两侧壁上均设有导槽6，安装板4两侧分别与两个导槽6滑动连接，安装板4底端一侧通过安装座5固定连接有电机9，电机9输出端固定连接有第一连接杆10，第一连接杆10一端连接有清理机构7，清理机构7远离第一连接杆10的一侧连接有第二连接杆11，第二连接杆11上端设有吹风机构8，通过往复丝杆71带动移动块74来回反复移动，从而带动清理刷76来回移动，对治具上芯片上的灰尘进行清理，同时，第二连接杆11还会同步带动风扇82转动，通过风扇82吹出的气流将芯片上的灰尘吹出，从而保证芯片表面的整洁效果，进而保证对芯片的测试效果，防止出现误检现象。

清理机构7包括两个侧板73、往复丝杆71、导杆72、移动块74、安装块75和清理刷76，两个侧板73均固定连接在安装板4底端，导杆72固定连接在两个侧板73之间，往复丝杆71一端与第一连接杆10固定连接，往复丝杆71另一端与第二连接杆11固定连接，第一连接杆10和第二连接杆11分别与两个侧板73转动连接，移动块74与导杆72活动套接，移动块74与往复丝杆71螺纹连接，移动块74底端固定连接有安装块75，安装块75底端固定连接有清理刷76，往复丝杆71带动移动块74来回反复移动，从而带动清理刷76来回移动，对治具上芯片上的灰尘进行清理；吹风机构8包括固定板81、风扇82和导风筒83，固定板81垂直固定在安装板4底端一侧，固定板81与第二连接杆11转动连接，第二连接杆11外侧固定套接有风扇82，风扇82外围套设有导风筒83，导风筒83固定连接在固定板81上，第二连接杆11会同步转动，第二连接杆11带动风扇82转动，通过风扇82吹出的气流将芯片上的灰尘吹出，从而保证芯片表面的整洁效果；安装块75设为“凹”形状，安装块75与移动块74之间通过螺栓连接，便于对清理刷76进行安装和拆卸；导风筒83倾斜设置，保证风扇82吹出的气流能够对芯片上的灰尘进行吹散。

具体的，本实用新型使用时，将整个装置安装在主支架上端，并且位于CCD相机一侧，液压缸2和电机9均通过控制器与外部电源连接，CCD相机对治具的位置进行确定后，液压缸2推动安装板4下移，从而推动清理机构7和吹风机构8下移，下移完成后电机9通过第一连接杆10带动往复丝杆71转动，往复丝杆71带动移动块74来回反复移动，从而带动清理刷76来回移动，对治具上芯片上的灰尘进行清理，同时，第二连接杆11还会同步转动，第二连接杆11带动风扇82转动，通过风扇82吹出的气流将芯片上的灰尘吹出，从而保证芯片表面的整洁效果，进而保证对芯片的测试效果，防止出现误检现象。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims

1.一种用于集成电路芯片的测试装置，包括安装架（1），其特征在于：所述安装架（1）底端中心位置固定连接有液压缸（2），所述液压缸（2）输出端固定连接有安装板（4），所述安装板（4）与安装架（1）之间固定连接有若干伸缩杆（3）；所述安装架（1）两侧壁上均设有导槽（6），所述安装板（4）两侧分别与两个导槽（6）滑动连接，所述安装板（4）底端一侧通过安装座（5）固定连接有电机（9），所述电机（9）输出端固定连接有第一连接杆（10），所述第一连接杆（10）一端连接有清理机构（7），所述清理机构（7）远离第一连接杆（10）的一侧连接有第二连接杆（11），所述第二连接杆（11）上端设有吹风机构（8）。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试装置，其特征在于：所述清理机构（7）包括两个侧板（73）、往复丝杆（71）、导杆（72）、移动块（74）、安装块（75）和清理刷（76），两个所述侧板（73）均固定连接在安装板（4）底端，所述导杆（72）固定连接在两个侧板（73）之间，所述往复丝杆（71）一端与第一连接杆（10）固定连接，所述往复丝杆（71）另一端与第二连接杆（11）固定连接，所述第一连接杆（10）和第二连接杆（11）分别与两个侧板（73）转动连接，所述移动块（74）与导杆（72）活动套接，所述移动块（74）与往复丝杆（71）螺纹连接，所述移动块（74）底端固定连接有安装块（75），所述安装块（75）底端固定连接有清理刷（76）。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试装置，其特征在于：所述吹风机构（8）包括固定板（81）、风扇（82）和导风筒（83），所述固定板（81）垂直固定在安装板（4）底端一侧，所述固定板（81）与第二连接杆（11）转动连接，所述第二连接杆（11）外侧固定套接有风扇（82），所述风扇（82）外围套设有导风筒（83），所述导风筒（83）固定连接在固定板（81）上。

4.根据权利要求2所述的一种用于集成电路芯片的测试装置，其特征在于：所述安装块（75）设为“凹”形状，所述安装块（75）与移动块（74）之间通过螺栓连接。

5.根据权利要求3所述的一种用于集成电路芯片的测试装置，其特征在于：所述导风筒（83）倾斜设置。