CN218411634U - 一种光器件多通道低成本高低温te测试台 - Google Patents

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王苗庆
徐华良
黄成龙
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Shaoxing Zktel Equipment Co ltd
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Abstract

本实用新型属于光模块测试领域,尤其涉及一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,包括底座,底座上设有加热台,底座上设有若干测试工位,所述测试工位包括转运机构,转运机构的转运部上设有光器件夹具,所述旋转机构用于转运光器件夹具靠近或远离加热台,优点在于:采用马达作为旋转机构,实现光器件在常温和高温状态下的切换测试,大大提高了测试效率和测试安全性。

Description

一种光器件多通道低成本高低温TE测试台
技术领域
本实用新型属于光模块测试领域,尤其涉及一种光器件多通道低成本高低温TE测试台。
背景技术
光器件产品需要测试常温及高温光电性能,在高温时,取常温的背光值的条件下,高温光输出功率与常温输出功率的比值,即TE=10log(Pf(TC)/Pf(25℃)) 。
目前,在批量测试光器件TE指标(跟踪误差Tracking Error)时,主要采用加热台+固定夹具的测试台,如图1所示为现有测试台的结构示意图,该测试台存在以下缺陷:在光器件产品测试完常温光电能性后,需要手动将产品放入至高温台上的夹具上,由于为手动操作,会很大程度上影响产品测试效率(工时)。而且夹具处于高温状态,也容易使作业人员烫伤。
基于此,本案由此提出。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、组装方便并能够有效解决测试测试效率和大幅度降低作业人员烫伤的新式多通道低成本高低温TE测试台。
为了实现上述目的,本实用新型的技术方案如下:
一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,包括底座,底座上设有加热台,底座上设有若干测试工位,所述测试工位包括转运机构,转运机构的转运部上设有光器件夹具,所述旋转机构用于转运光器件夹具靠近或远离加热台。
进一步的,所述光器件夹具包括支撑座,支撑座上设有管芯加电座。
进一步的,所述加热台上设有若干与测试工位一一对应的导热块,当转运机构将光器件夹具转运至靠近加热台状态时,光器件夹具上的光器件外壳与导热块贴合。
进一步的,所述转运机构采用马达。
本实用新型的优点在于:采用马达作为旋转机构,实现光器件在常温和高温状态下的切换测试,大大提高了测试效率和测试安全性。
附图说明
图1为背景技术中测试台的三维构造示意图;
图2为实施例中侧视图的三维构造示意图;
图3为图2的俯视示意图;
图4为图2的侧视示意图;
图5为图2中光器件产品与导热块贴合的状态示意图;
标号说明
加热台1,马达2,支撑座3,管芯加电座4,光器件产品5,导热块6,光器件夹具7。
具体实施方式
以下结合实施例对本实用新型作进一步详细描述。
本实施例提出一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,如图2至5所示,包括底座,底座顶面通过螺柱固定有加热台1,底座两侧的侧壁上通过支架共固定有6个测试工位。每个测试工位均包括90°旋转马达2,马达2的输出轴上固定有支撑座3,支撑座3上设有光器件夹具7,光器件夹具7至少包括管芯加电座4,所述加热台1上设有若干与测试工位一一对应的导热块6。
本实施例装置的使用原理如下所述:
在常温状态下,马达2处于初始位置,此时支撑座3上的光器件夹具7处于远离加热台1的状态,将光器件产品5插入到夹具7上的管芯加电座4中,即可完成常温光电性能测试。此时,若需进行高温测试,控制马达2旋转90°,使得光器件产品5外壳与该测试工位一侧的导热块6贴合,当达到测试温度条件下,自动完成高温测试,并将马达2归位至初始状态。
上述实施例仅用于解释说明本发明的构思,而非对本发明权利保护的限定,凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动,均应落入本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,包括底座,底座上设有加热台,其特征在于:底座上设有若干测试工位,所述测试工位包括转运机构,转运机构的转运部上设有光器件夹具,所述转运机构用于转运光器件夹具靠近或远离加热台。
2.如权利要求1所述的一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,其特征在于:所述光器件夹具包括支撑座,支撑座上设有管芯加电座。
3.如权利要求1所述的一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,其特征在于:所述加热台上设有若干与测试工位一一对应的导热块,当转运机构将光器件夹具转运至靠近加热台状态时,光器件夹具上的光器件外壳与导热块贴合。
4.如权利要求1所述的一种光器件多通道低成本高低温TE测试台,其特征在于:所述转运机构采用马达。
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