CN218099768U - 用于显微镜观察的试样调平装置 - Google Patents

用于显微镜观察的试样调平装置 Download PDF

Info

Publication number
CN218099768U
CN218099768U CN202222788974.3U CN202222788974U CN218099768U CN 218099768 U CN218099768 U CN 218099768U CN 202222788974 U CN202222788974 U CN 202222788974U CN 218099768 U CN218099768 U CN 218099768U
Authority
CN
China
Prior art keywords
sample
leveling device
point contact
elastic
observation according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202222788974.3U
Other languages
English (en)
Inventor
彭德民
吕闯
谢高峰
王馨郁
田谱
禹林
何祖海
刘托剑
张聪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hunan Zhongji Shenyi Testing Technology Co ltd
Original Assignee
Hunan Zhongji Shenyi Testing Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hunan Zhongji Shenyi Testing Technology Co ltd filed Critical Hunan Zhongji Shenyi Testing Technology Co ltd
Priority to CN202222788974.3U priority Critical patent/CN218099768U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN218099768U publication Critical patent/CN218099768U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

本申请实施例公开了用于显微镜观察的试样调平装置,包括:下底座,上端具有凸起的点接触结构,点接触结构用于与试样底面点接触;上压板套,具有供试样嵌入的嵌入空间,与下底座可拆卸连接;弹性压件,连接于上压板套上端,部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样上表面弹性接触。本申请通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触,能实现对试样固定;利用试样底面与点接触结构点接触可实现试样的旋转活动,再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触,实现对试样上表面的调平,避免与试样上下表面的面接触,调平效果好,操作简单。

Description

用于显微镜观察的试样调平装置
技术领域
本申请实施例涉及显微观测领域,尤其涉及用于显微镜观察的试样调平装置。
背景技术
随着科技的发展,在生产或科研活动中,常需要利用光学显微镜进行观测。而光学显微镜工作时,需要观察的平面与显微镜镜头垂直时,才能起到比较好的观察效果,为此常需要对试样放置时进行调平。
现有调平装置通过在试样底下垫一块橡皮泥,然后手压活塞压杆压平试样。为了避免试样上表面中心受到污染,上压板跟试样上表面之间通常需要放一块干净的白纸隔开,操作繁琐且无法彻底避免试样上表面中心受到污染;试样上表面为需要观察的面,通过磨抛非常容易不水平,使得调平效果不佳,可能需要多次调试。
实用新型内容
本申请实施例提供一种用于显微镜观察的试样调平装置,以至少解决上述技术问题之一。
本申请实施例是通过以下的技术方案实现的:
用于显微镜观察的试样调平装置,包括:下底座,上端具有凸起的点接触结构,所述点接触结构用于与试样底面点接触;上压板套,具有供试样嵌入的嵌入空间,与下底座可拆卸连接;弹性压件,连接于上压板套上端,部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样上表面弹性接触。
进一步地,所述点接触结构上端具有球面,所述球面的中心位于所述竖向轴线上。
进一步地,所述下底座上端设有螺纹圆柱,所述螺纹圆柱周壁设有外螺纹,所述嵌入空间周壁设有与螺纹圆柱适配的内螺纹,所述上压板套与螺纹圆柱螺纹连接,所述点接触结构凸起于螺纹圆柱的上端面。
进一步地,所述弹性压件包括连接部和与连接部连接的弹性接触部,所述连接部与上压板套上端固定连接,所述弹性接触部伸入嵌入空间或嵌入空间上方,所述弹性接触部能相对连接部弹性变形以与试样上表面弹性接触。
进一步地,所述弹性接触部相对连接部朝下弯折设置。
进一步地,所述弹性接触部外端朝上弯曲翘起。
进一步地,所述上压板套上端面具有供连接部嵌入的嵌槽。
进一步地,所述连接部与嵌槽内壁设有对应的孔位以通过紧固件连接固定。
进一步地,所述连接部与嵌槽内壁通过焊接连接固定。
进一步地,所述连接部与嵌槽的宽度适配。
有益效果是:
与现有技术相比,本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置,通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触,能实现对试样固定;利用试样底面与点接触结构点接触可实现试样的旋转活动,再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触,实现对试样上表面的调平,避免与试样上下表面的面接触,调平效果好,操作简单;且不需要借助白纸将试样隔开,多个弹性压件接触在试样周侧,避免污染试样的中心区域。
附图说明
以下结合附图对本申请实施例的具体实施方式作进一步的详细说明,其中:
图1为本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置的内部剖视图;
图2为本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置的分解状态结构示意图;
图3为本申请实施例的上压板套、弹性压件的分解状态结构示意图;
图4为本申请实施例的弹性压件的结构示意图。
具体实施方式
为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例的技术方案,下面结合附图对本申请实施例进行详细描述,本部分的描述仅是示范性和解释性,不应对本申请实施例的保护范围有任何的限制作用。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是本申请实施例的产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外,术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂,而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平,并不是表示该结构一定要完全水平,而是可以稍微倾斜。
在本申请实施例的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
如图1至图2所示,本实用新型提供的用于显微镜观察的试样调平装置,包括下底座100、上压板套200、弹性压件300。用于对试样400进行调平,然后再放到显微镜上进行观测。
下底座100上端具有凸起的点接触结构110,点接触结构110用于与试样400底面点接触,使得实现试样400能旋转活动,提供调平的自由度。
上压板套200具有供试样400嵌入的嵌入空间201,上压板套200与下底座100可拆卸连接;弹性压件300连接于上压板套200上端,弹性压件300部分伸入嵌入空间201或嵌入空间201上方,弹性压件300沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样400上表面弹性接触。在本实施例中,弹性压件300部分伸入嵌入空间201,弹性压件300均匀环绕排列有三个。
本实用新型提供的用于显微镜观察的试样调平装置,通过试样400上表面与多个弹性压件300弹性接触,能实现对试样固定;利用试样400底面与点接触结构110的点接触可实现试样400的旋转活动,再配合多个弹性压件300与试样400上表面的多个位置的弹性接触,实现对试样400上表面的调平,且避免与试样400上下表面的面接触,调平效果好,操作简单;且不需要借助白纸将试样隔开,多个弹性压件300接触在试样周侧,避免污染试样的中心区域。
一种可能的实施例,点接触结构110上端具有球面,球面的中心位于竖向轴线上,试样400底面可沿球面进行一定范围的旋转活动。可避免试样400底面不平而导致的调平误差。当然,在其他实施例中,点接触结构110上端也可以是锥顶结构。
一种可能的实施例,下底座100上端设有螺纹圆柱120,螺纹圆柱120周壁设有外螺纹,嵌入空间201周壁设有与螺纹圆柱120适配的内螺纹,上压板套200与螺纹圆柱120螺纹连接,点接触结构110凸起于螺纹圆柱120的上端面,通过螺纹连接,使得上压板套200与螺纹圆柱120旋拧可压紧试样400,且可适配不同高度的试样400。当然在其他一些实施例中,下底座100与上压板套200可采用其他形式的可拆卸连接方式,如卡接、插接等。
一种可能的实施例,弹性压件300包括连接部310和与连接部310连接的弹性接触部320,连接部310与上压板套200上端固定连接,弹性接触部320伸入嵌入空间201或嵌入空间201上方,弹性接触部320能相对连接部310弹性变形以与试样400上表面弹性接触,通过弹性接触部320的悬空实现其弹性变形,且弹性接触部320伸入嵌入空间201实现与试样400上表面的接触,实现对试样400的弹性压紧和调平。
参照图3,一种可能的实施例,弹性接触部320相对连接部310朝下弯折设置,使得弹性接触部320能与试样400上表面实现较稳定的弹性接触。
参照图4,另一种可能的实施例,弹性接触部320外端朝上弯曲翘起,弹性接触部320外端具有朝上翘起的翘起部321,弹性接触部320向下弯折且端部朝上弯曲,使得弹性接触部320底部具有一弧面,使得弹性接触部320与试样400上表面接触的位置为弧面,避免弹性接触部320尖角对试样上表面造成压痕或刮痕。
参照图3,一种可能的实施例,上压板套200上端面具有供连接部310嵌入的嵌槽210。以提高弹性压件300的安装精度。
一种可能的实施例,连接部310与嵌槽210内壁设有对应的孔位以通过紧固件连接固定。紧固件可以是铆钉、螺钉、螺栓等紧固件。
优选地,连接部310与嵌槽210的宽度适配,以实现弹性压件300的精确的定位,方便孔位对齐后安装紧固件。
另一种可能的实施例,连接部310与嵌槽210内壁通过焊接连接固定。
弹性压件300可采用带弹性的金属材料或合金材料,也可采用带弹性的高分子材料。整个装置可采用合金材料,也可采用高分子材料。
工作原理:将镶嵌试样400放入上压板套200中,随后旋拧下底座100,下底座100的点接触结构110抵住试样400下表面,试样400的上表面接触到在同一平面的三个弹性压件300,试样400挤压弹性压件300而受到弹性压件300的反作用力,试样400此时会自动倾斜角度使试样上表面与三个弹性压件300所在的表面平行,达到快速调平的目的。随着下底座100不断向上旋合,可将试样400牢牢固定,使得可在试样400上面表面施加力值,进行其他试验。
本实用新型提供的用于显微镜观察的试样调平装置具有以下优点:
1,该调平装置简单易用,只需放入镶嵌试样400旋合下底座100就能实现调平,无需人工工反复调平,工作效率高。
2,该装置可以彻底避免试样中心受到污染,且完全固定试样,调平之后移动不会改变调平状态,可在试样上表面施加力值进行其他试验。
3,该装置配件更换简便,维护成本低。
以上实施例仅用以说明本申请的技术方案而并非对其进行限制,凡未脱离本申请实施例精神和范围的任何修改或者等同替换,其均应涵盖在本申请技术方案的范围内。

Claims (10)

1.用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于包括:
下底座(100),上端具有凸起的点接触结构(110),所述点接触结构(110)用于与试样(400)底面点接触;
上压板套(200),具有供试样(400)嵌入的嵌入空间(201),与下底座(100)可拆卸连接;
弹性压件(300),连接于上压板套(200)上端,部分伸入嵌入空间(201)或嵌入空间(201)上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样(400)上表面弹性接触。
2.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述点接触结构(110)上端具有球面,所述球面的中心位于所述竖向轴线上。
3.根据权利要求2所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述下底座(100)上端设有螺纹圆柱(120),所述螺纹圆柱(120)周壁设有外螺纹,所述嵌入空间(201)周壁设有与螺纹圆柱(120)适配的内螺纹,所述上压板套(200)与螺纹圆柱(120)螺纹连接,所述点接触结构(110)凸起于螺纹圆柱(120)的上端面。
4.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性压件(300)包括连接部(310)和与连接部(310)连接的弹性接触部(320),所述连接部(310)与上压板套(200)上端固定连接,所述弹性接触部(320)伸入嵌入空间(201)或嵌入空间(201)上方,所述弹性接触部(320)能相对连接部(310)弹性变形以与试样(400)上表面弹性接触。
5.根据权利要求4所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性接触部(320)相对连接部(310)朝下弯折设置。
6.根据权利要求5所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性接触部(320)外端朝上弯曲翘起。
7.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述上压板套(200)上端面具有供连接部(310)嵌入的嵌槽(210)。
8.根据权利要求7所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)内壁设有对应的孔位以通过紧固件连接固定。
9.根据权利要求7所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)内壁通过焊接连接固定。
10.根据权利要求7至9任一项所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)的宽度适配。
CN202222788974.3U 2022-10-20 2022-10-20 用于显微镜观察的试样调平装置 Active CN218099768U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202222788974.3U CN218099768U (zh) 2022-10-20 2022-10-20 用于显微镜观察的试样调平装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202222788974.3U CN218099768U (zh) 2022-10-20 2022-10-20 用于显微镜观察的试样调平装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN218099768U true CN218099768U (zh) 2022-12-20

Family

ID=84457442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202222788974.3U Active CN218099768U (zh) 2022-10-20 2022-10-20 用于显微镜观察的试样调平装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN218099768U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10739377B2 (en) Numerically controlled rotary probe switching device based on environment-controllable atomic force microscope
WO2018201865A1 (en) Clamping device and microtome having same
KR20160089162A (ko) 푸셔장치
CN218099768U (zh) 用于显微镜观察的试样调平装置
CN202292517U (zh) 可转位弹性压板
CN211292656U (zh) 一种用于纳米压入实验的扫描电镜样品台固定装置
CN208601121U (zh) 自动定位夹紧工装
CN217425653U (zh) 一种霍尔效应测量用带探针的样品台
CN215919745U (zh) 一种圆柱型电极加工用固定工装
CN217560573U (zh) 一种摆动检测装置
CN215339237U (zh) 半导体器件的力学测试工装夹具
CN106932261B (zh) 一种膜片弹簧通用强压模具
CN215115555U (zh) 半导体器件的力学测试工装下压夹具
CN220698061U (zh) 一种手摇维护口盖组件的扩口机构
CN216434216U (zh) 一种阻抗检测治具及阻抗检测装置
CN219590347U (zh) 一种原子力显微镜探针固定结构
CN110609049A (zh) 一种用于纳米压入实验的扫描电镜样品台固定装置
CN216883481U (zh) 一种汽车零部件检具的辅助夹持工装
CN217738874U (zh) 具有斜面补偿功能的混凝土压力机
CN219946065U (zh) 一种搅拌器零件压装装置
CN204614760U (zh) 扫描电镜样品台
CN217466471U (zh) 翻边瓦的翻边焊接强度检测系统
CN213515583U (zh) 一种旋转指纹橡胶头的检测治具
CN218679587U (zh) 一种压触固定式多面测量治具及工件
CN210451597U (zh) 用于大夏扇固定座的通用型铆接夹具

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant