CN217820520U - 一种双阶式探针测试结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于测试治具领域，公开了一种双阶式探针测试结构，从下至下依次包括下针板、下载板、上载板和上针板，所述下针板、下载板、上载板和上针板之间通过线性轴承活动连接，所述下针板与下载板的右侧通过螺丝连接，所述上载板和上针板的右侧也通过螺丝连接，所述上载板与螺丝活动连接。本方案通过限定上针板与下针板的垂直高度，通过下针板上的弹簧推力作用，使用两种长度的探针使其有效分离或隔断，可以精确控制治具下压时针板和载板的距离，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需要测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。

Description

一种双阶式探针测试结构

技术领域

本实用新型涉及探针测试技术领域，更具体地说，涉及一种双阶式探针测试结构。

背景技术

测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，对每种单板需制作专用的针床，这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。

当ICT治具上电测试后可以使电路板局部上电后进行数字组件的功能量测。近些年电路板功能越来越强，线路结构越复杂，工作电源越低也越讲究省电功能，当ICT测试治具压合测试到电源阶段，某些数字组件会因线路节点接触到探针后，探针的干扰和杂讯，引发保护功能会导致该类型组件无法得到额定的工作电压二无法进行功能测试以及频率的准确量测。

现在解决问题的方法：人工拔除影响的测试针。

现行方法的弊端：人工拔除影响的测试针，这样做的不利因素是：如果把这些针点一一拔除，会造成对产品的测试零件的覆盖率不足，产生有些零件无法测试对产品良率间接造成影响，另外在插拔探针时候，容易使针套偏移，造成探针无法准确接触测试点，影响测试结果。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种双阶式探针测试结构。

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种双阶式探针测试结构，从下至下依次包括下针板、下载板、上载板和上针板，所述下针板、下载板、上载板和上针板之间通过线性轴承活动连接，所述下针板与下载板的右侧通过螺丝连接，所述下载板与螺丝活动连接，所述上载板和上针板的右侧也通过螺丝连接，所述上载板与螺丝活动连接，所述下针板和上针板上均固定安装有探针，所述下载板和上载板上均开设有与探针适配的贯穿孔，所述探针针尖延伸至贯穿孔内，所述下载板内的探针针尖高度不一致且交替设置为短针和长针，所述上载板上的探针针尖高度一致，所述下针板和上针板之间连接有弹簧，所述上针板的底部与上载板的底部之间的初始距离为16.5mm，所述下针板的顶部与下载板的顶部之间的初始距离为19mm，所述下针板、下载板、上载板和上针板可通过真空吸合设备吸合。

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

本方案通过限定上针板与下针板的垂直高度，通过下针板上的弹簧推力作用，使用两种长度的探针使其有效分离或隔断，可以精确控制治具下压时针板和载板的距离，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需要测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型一次测试状态图；

图3为本实用新型二次测试状态图。

图中标号说明：

1、下针板；2、下载板；3、上载板；4、上针板；5、线性轴承；6、探针；7、弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；

请参阅图1，一种双阶式探针测试结构，从下至下依次包括下针板1、下载板2、上载板3和上针板4，下针板1、下载板2、上载板3和上针板4之间通过线性轴承5活动连接，上下移动时通过线性轴承5定向，下针板1与下载板2的右侧通过螺丝连接，下载板2与螺丝活动连接，上载板3和上针板4的右侧也通过螺丝连接，上载板3与螺丝活动连接，下针板1和上针板4上均固定安装有探针6，下载板2和上载板3上均开设有与探针6适配的贯穿孔，探针6针尖延伸至贯穿孔内，下载板2内的探针6针尖高度不一致且交替设置为短针和长针，上载板3上的探针6针尖高度一致，下针板1和上针板4之间连接有弹簧7，下载板2及下针板1之间具有可以供弹簧7压合的间隙，上针板4的底部与上载板3的底部之间的初始距离为16.5mm，下针板1的顶部与下载板2的顶部之间的初始距离为19mm，下针板1、下载板2、上载板3和上针板4可通过真空吸合设备吸合，其中，下针板1上设置有直径10mm厚度为1.5mm的圆形垫片，此垫片用于真空治具气体流动间隙及预防针板平面有小锡球等垃圾。

具体测试操作步骤如下：

一、将PCB板（待测试板）平放在下载板2上，且对应所需测试的PCB板测试点平面（如图1所示）；

二、用真空吸合设备吸合，治具真空吸合后，所有探针6均接触PCB板，即：下针板1上所有探针6穿透下载板2上与探针6相匹配的贯穿孔与PCB板底部接触、上针板4上的所有探针6穿透上载板3上与探针6相匹配的贯穿孔与PCB板顶部接触；所有探针6接触PCB板并与之进行信号传输，完成一次测试；其中，上针板4上的探针6的行程为4.38mm，下针板1的短探针6的行程为4.38mm、长探针6的行程为8.2mm（如图2所示）；

三、断开真空设备真空吸力，下载板2与下针板1之间弹簧7作用支撑下载板2及其上部结构往上回弹，使治具上升至二段式高度，进行二次测试，此时：下针板1上长探针6穿透下载板2接触PCB板，短探针6此时与PCB板处于脱离状态，脱离距离为1.2mm（如图3所示），从而能够将产生干扰或不需测试的探针脱离，节约成本，提高效率。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (1)

1.一种双阶式探针测试结构，从下至下依次包括下针板（1）、下载板（2）、上载板（3）和上针板（4），其特征在于：所述下针板（1）、下载板（2）、上载板（3）和上针板（4）之间通过线性轴承（5）活动连接，所述下针板（1）与下载板（2）的右侧通过螺丝连接，所述下载板（2）与螺丝活动连接，所述上载板（3）和上针板（4）的右侧也通过螺丝连接，所述上载板（3）与螺丝活动连接，所述下针板（1）和上针板（4）上均固定安装有探针（6），所述下载板（2）和上载板（3）上均开设有与探针（6）适配的贯穿孔，所述探针（6）针尖延伸至贯穿孔内，所述下载板（2）内的探针（6）针尖高度不一致且交替设置为短针和长针，所述上载板（3）上的探针（6）针尖高度一致，所述下针板（1）和上针板（4）之间连接有弹簧（7），所述上针板（4）的底部与上载板（3）的底部之间的初始距离为16.5mm，所述下针板（1）的顶部与下载板（2）的顶部之间的初始距离为19mm，所述下针板（1）、下载板（2）、上载板（3）和上针板（4）可通过真空吸合设备吸合。

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