CN217687159U - 一种光学薄膜加工用的厚度检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括支撑台，所述支撑台的顶端固定有橡胶垫，所述支撑台顶端的两侧均固定有定位结构，所述定位结构包括侧板，所述侧板均固定于支撑台顶端的两侧，所述侧板一侧的顶端固定有横板，且横板的内部设置有预留孔，所述预留孔的内部设置有拉杆，所述支撑台顶部的一端固定有支架，且支架的内部安装有升降机构，所述背板的另一端固定有连接块。本实用新型通过设置有定位结构，定位时，通过向上拉动拉杆，拉杆带动压板上移挤压弹簧，之后将薄膜的一边平铺在压板的下方，缓慢松开拉杆，压板会通过弹簧下移对薄膜进行定位，通过上述方式对薄膜的另一边进行定位，提高了定位时的平整性。

Description

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置

技术领域

本实用新型涉及光学薄膜加工技术领域，特别涉及一种光学薄膜加工用的厚度检测装置。

背景技术

随着国家科技的快速发展，经济水平的不断提高，我国光学薄膜的研究前景不断广阔，光学薄膜是指在光学玻璃、光学塑料、光纤、晶体等各种材料的表面上镀制一层或多层薄膜，光学薄膜是现代光学仪器和光学器件的重要组成部分，在薄膜加工的过程中，为了适用于不同的产品，需要借助厚度检测装置对光学薄膜的厚度进行检测；

目前，厚度检测装置在对薄膜进行检测的过程中，不方便快速对薄膜进行定位，且定位时容易出现褶皱，影响厚度检测的准确性，有改进空间。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型的目的是提供一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，用以解决现有的不方便快速对薄膜进行定位，且定位时容易出现褶皱，影响厚度检测的准确性的缺陷。

(二)实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括支撑台，所述支撑台的顶端固定有橡胶垫，所述支撑台顶端的两侧均固定有定位结构，所述定位结构包括侧板，所述侧板均固定于支撑台顶端的两侧，所述侧板一侧的顶端固定有横板，且横板的内部设置有预留孔，所述预留孔的内部设置有拉杆，所述支撑台顶部的一端固定有支架，且支架的内部安装有升降机构，所述支架的一端设置有背板，且背板的一端固定有卡槽，所述背板的另一端固定有连接块。

优选的，所述拉杆的底端固定有压板，且压板顶端的两侧均固定有弹簧，所述弹簧的顶端与横板的底端固定连接。

优选的，所述压板设置有两个，两个所述压板关于支撑台的垂直中心线呈对称分布。

优选的，所述升降机构包括电机，所述电机安装于支架的顶端，所述支架的内部安装有丝杆，且丝杆的外部设置有丝套，所述支架内部的两侧均设置有滑槽，且滑槽的内部设置有滑条。

优选的，所述滑条的一侧与连接块的一侧固定连接，所述丝套的一端与连接块的一端固定连接。

优选的，所述丝套的内侧壁上设置有内螺纹，所述丝杆的外侧壁上设置有外螺纹，所述丝套和丝杆为螺纹连接。

优选的，所述卡块的外径小于卡槽的内径，所述卡块和卡槽之间相配适。

(三)有益效果

本实用新型提供的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其优点在于：通过设置有定位结构，定位时，通过向上拉动拉杆，拉杆带动压板上移挤压弹簧，之后将薄膜的一边平铺在压板的下方，缓慢松开拉杆，压板会通过弹簧下移对薄膜进行定位，通过上述方式对薄膜的另一边进行定位，提高了定位时的平整性；

通过设置有升降机构，当需要对测厚仪的高度进行调节时，通过启动电机，电机带动丝杆旋转，丝杆会带动丝套进行移动，丝套会通过连接块和背板带动测厚仪升降，同时连接块会带动滑条在滑槽的内部滑动，方便调整测厚仪的高度，提高其功能性；

通过设置有卡块，当需要对测厚仪进行安装时，通过拿取测厚仪，将卡块与卡槽对接，之后向一侧推动卡块将卡块卡进卡槽的内部，方便对测厚仪快速安装，拆解时只需将卡块从卡槽的内部拆出即可，提高了拆装时的便捷性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型的侧视剖面结构示意图；

图3为本实用新型的图2中A处局部剖面放大结构示意图；

图4为本实用新型的测厚仪立体结构示意图。

图中的附图标记说明：

1、支撑台；2、定位结构；201、侧板；202、横板；203、拉杆；204、预留孔；205、弹簧；206、压板；3、支架；4、背板；5、升降机构；501、电机；502、丝杆；503、滑槽；504、丝套；505、滑条；6、测厚仪；7、橡胶垫；8、卡块；9、卡槽；10、连接块。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括支撑台1，支撑台1的顶端固定有橡胶垫7，支撑台1顶端的两侧均固定有定位结构2，支撑台1顶部的一端固定有支架3，且支架3的内部安装有升降机构5，支架3的一端设置有背板4，且背板4的一端固定有卡槽9，卡槽9的内部设置有卡块8，且卡块8的一侧固定有测厚仪6，背板4的另一端固定有连接块10；

定位结构2包括侧板201，侧板201均固定于支撑台1顶端的两侧，侧板201一侧的顶端固定有横板202，且横板202的内部设置有预留孔204，预留孔204的内部设置有拉杆203，拉杆203的底端固定有压板206，且压板206顶端的两侧均固定有弹簧205，弹簧205的顶端与横板202的底端固定连接，压板206设置有两个，两个压板206关于支撑台1的垂直中心线呈对称分布，提高了定位时的平整性；

具体地，如图1和图2所示，使用该结构时，首先，定位时，通过向上拉动拉杆203，拉杆203带动压板206上移挤压弹簧205，之后将薄膜的一边平铺在压板206的下方，缓慢松开拉杆203，压板206会通过弹簧205下移对薄膜进行定位，通过上述方式对薄膜的另一边进行定位，提高了定位时的平整性；

升降机构5包括电机501，电机501安装于支架3的顶端，支架3的内部安装有丝杆502，且丝杆502的外部设置有丝套504，支架3内部的两侧均设置有滑槽503，且滑槽503的内部设置有滑条505，滑条505的一侧与连接块10的一侧固定连接，丝套504的一端与连接块10的一端固定连接，丝套504的内侧壁上设置有内螺纹，丝杆502的外侧壁上设置有外螺纹，丝套504和丝杆502为螺纹连接，方便调整测厚仪6的高度；

具体地，如图1、图2和图4所示，使用该结构时，首先，当需要对测厚仪6的高度进行调节时，通过启动电机501，电机501带动丝杆502旋转，丝杆502会带动丝套504进行移动，丝套504会通过连接块10和背板4带动测厚仪6升降，同时连接块10会带动滑条505在滑槽503的内部滑动，方便调整测厚仪6的高度，提高其功能性；

卡槽9的内部设置有卡块8，且卡块8的一侧固定有测厚仪6，卡块8的外径小于卡槽9的内径，卡块8和卡槽9之间相配适，提高了拆装时的便捷性；

具体地，如图3和图4所示，使用该结构时，首先，当需要对测厚仪6进行安装时，通过拿取测厚仪6，将卡块8与卡槽9对接，之后向一侧推动卡块8将卡块8卡进卡槽9的内部，方便对测厚仪6快速安装，拆解时只需将卡块8从卡槽9的内部拆出即可，提高了拆装时的便捷性。

工作原理：使用时，该光学薄膜加工用的厚度检测装置外接电源，首先，定位时，通过向上拉动拉杆203，拉杆203带动压板206上移挤压弹簧205，之后将薄膜的一边平铺在压板206的下方，缓慢松开拉杆203，压板206会通过弹簧205下移对薄膜进行定位，通过上述方式对薄膜的另一边进行定位，其次，当需要对测厚仪6的高度进行调节时，通过启动电机501，电机501带动丝杆502旋转，丝杆502会带动丝套504进行移动，丝套504会通过连接块10和背板4带动测厚仪6升降，同时连接块10会带动滑条505在滑槽503的内部滑动，测厚仪6会对薄膜的厚度进行检测，最终完成厚度检测装置的使用工作。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)的顶端固定有橡胶垫(7)，所述支撑台(1)顶端的两侧均固定有定位结构(2)，所述定位结构(2)包括侧板(201)，所述侧板(201)均固定于支撑台(1)顶端的两侧，所述侧板(201)一侧的顶端固定有横板(202)，且横板(202)的内部设置有预留孔(204)，所述预留孔(204)的内部设置有拉杆(203)，所述支撑台(1)顶部的一端固定有支架(3)，且支架(3)的内部安装有升降机构(5)，所述支架(3)的一端设置有背板(4)，且背板(4)的一端固定有卡槽(9)，所述卡槽(9)的内部设置有卡块(8)，且卡块(8)的一侧固定有测厚仪(6)，所述背板(4)的另一端固定有连接块(10)。

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述拉杆(203)的底端固定有压板(206)，且压板(206)顶端的两侧均固定有弹簧(205)，所述弹簧(205)的顶端与横板(202)的底端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述压板(206)设置有两个，两个所述压板(206)关于支撑台(1)的垂直中心线呈对称分布。

4.根据权利要求1所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述升降机构(5)包括电机(501)，所述电机(501)安装于支架(3)的顶端，所述支架(3)的内部安装有丝杆(502)，且丝杆(502)的外部设置有丝套(504)，所述支架(3)内部的两侧均设置有滑槽(503)，且滑槽(503)的内部设置有滑条(505)。

5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述滑条(505)的一侧与连接块(10)的一侧固定连接，所述丝套(504)的一端与连接块(10)的一端固定连接。

6.根据权利要求4所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述丝套(504)的内侧壁上设置有内螺纹，所述丝杆(502)的外侧壁上设置有外螺纹，所述丝套(504)和丝杆(502)为螺纹连接。

7.根据权利要求1所述的一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，其特征在于：所述卡块(8)的外径小于卡槽(9)的内径，所述卡块(8)和卡槽(9)之间相配适。

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