CN217639177U - 一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置 - Google Patents

一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及电子元器件领域,尤其涉及一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置。所述用于测试未搭载基座的水晶片的装置包括:支架;传送带,通过辊轮转动连接在支架内部,所述传送带表面等距固定连接有固定块,所述固定块上表面开设有卡槽;间歇式传动机构,安装在支架一侧,所述间歇式传动机构输出端与辊轮固定连接;气缸。本实用新型提供一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置,将需要测试的裸水晶片放置在卡槽中,间歇式传动机构可使传送带进行间歇式运动;随后可通过调节滑板的位置来调节第二测试探针的位置,使测试探针的位置对准测试点,从而对不同型号的水晶片进行检测,气缸带动固定杆下降,使探针接触测试点进行测试。

Description

一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置
技术领域
本实用新型涉及电子元器件领域,尤其涉及一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置。
背景技术
石英晶体是一种利用水晶具有稳定压电效应的特性而设计的一种电子元器件,其核心为石英晶片,而基座作为搭载石英晶片的载体即保护了石英晶片又决定了最终元器件成品的外形型号;在最终元器件生产过程中,主要分为三个阶段,即:准备阶段、半成品阶段、成品阶段,搭载基座则为半成品的标志,石英晶片未搭载基座之前需要首先赋予电极,赋予电极才会产生压电频率;为了使成品更加稳定可靠,赋予电极后的初始频率应当控制在一个适当的范围,而为了确认和监控此初始频率则需要对赋予电极还未搭载基座的水晶片进行测试,而随着成品外形越来越小型化,石英晶片的尺寸也随之越来越小型化,此项测试难度也越来越大,传统的测试手法已经不能满足小型化的需要,现有的测试头电路板一般需要连接多个型号的测试探针组,不便于对多种型号的水晶片进行测试。
因此,有必要提供一种新的用于测试未搭载基座的水晶片的装置解决上述技术问题。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种既能固定小型晶片,还能兼顾多种尺寸的型号,且简便易操作、制作成本不高的用于测试未搭载基座的水晶片的装置。
本实用新型提供的用于测试未搭载基座的水晶片的装置包括:
支架;
传送带,通过辊轮转动连接在支架内部,所述传送带表面等距固定连接有固定块,所述固定块上表面开设有卡槽;
间歇式传动机构,安装在支架一侧,所述间歇式传动机构输出端与辊轮固定连接;
气缸,对称固定安装在支架顶部,两个所述气缸之间固定连接有固定杆,所述固定杆底部固定连接有检测机构;间歇式传动机构可是传送带进行间歇式运动,检测机构可对不同型号的水晶片进行测试。
优选的,所述间歇式传动机构包括:
第一连接杆,通过轴承转动连接在支架一侧,所述第一连接杆一端固定连接有第一转盘,所述第一转盘一侧等距开设有第一滑槽,所述第一连接杆穿过支架的一端与辊轮固定连接;
第二连接杆,通过轴承转动连接在支架一侧靠近第一连接杆的位置,所述第二连接杆一端固定连接有第二转盘,所述第二转盘底部固定连接有第三连接杆;
滑块,固定连接在第三连接杆远离第二转盘的一端,所述滑块与第一滑槽滑动连接;
电机,固定安装在支架内部靠近传送带的位置,所述电机输出端穿过支架与第二连接杆固定连接;驱动电机进而使第二连接杆带动第二转盘转动,第三连接杆带动滑块在第一滑槽内滑动,使第一转盘带动传送带进行间歇式运动。
优选的,所述滑块呈圆柱形设置;增加滑动稳定性。
优选的,所述电机为一种减速电机;为第二连接杆的转动提供足够的动力。
优选的,所述检测机构包括:
连接柱,固定安装在固定杆底部,所述固定杆底部固定安装有固定壳;
测试头电路板,固定安装在固定壳内壁的一侧;
第一测试探针,固定安装在固定壳内部靠近测试头电路板的位置,所述固定壳两侧开设有第二滑槽,所述第二滑槽内壁的一侧等距开设有突出槽,所述第二滑槽与突出槽相连通;
滑板,滑动连接在第二滑槽内部,所述滑板一侧固定安装有第二测试探针,所述第一测试探针与第二测试探针均与测试头电路板电性连接,所述滑板顶部等距固定连接有限位柱,所述限位柱外侧套设有弹簧;
滑动壳,滑动连接在突出槽内部,所述弹簧顶部与滑动壳固定连接,所述弹簧底部与滑板固定连接,所述滑动壳顶部对应限位柱的位置开设有通孔,所述限位柱与通孔滑动连接;根据水晶片的型号,对滑动壳施加按压力,随后拖动滑动壳带动第二测试探针进行移动,在弹簧恢复力的作用下使滑动壳滑动入突出槽内,从而第二测试探针的位置进行固定,进而实现对不同型号的水晶片进行测试。
优选的,所述突出槽靠近第二滑槽的位置开设有倒圆角;便于滑动壳滑入突出槽。
优选的,所述滑动壳顶部开设有防滑纹;方便使用者按压滑动壳。
优选的,所述支架底部四角处固定连接有脚座;可使装置处于水平放置。
与相关技术相比较,本实用新型提供的用于测试未搭载基座的水晶片的装置具有如下有益效果:
本实用新型提供一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置,将需要测试的裸水晶片放置在卡槽中,间歇式传动机构可使传送带进行间歇式运动;随后可通过调节滑板的位置来调节第二测试探针的位置,使测试探针的位置对准测试点,从而对不同型号的水晶片进行检测,气缸带动固定杆下降,使探针接触测试点进行测试。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为图1中B处的放大图;
图3为本实用新型的局部结构示意图之一;
图4为图1中A处的放大图;
图5为本实用新型的局部结构示意图之二。
图中标号:1、支架;2、传送带;3、固定块;4、卡槽;5、间歇式传动机构;51、第一连接杆;52、第一转盘;53、第一滑槽;54、第二连接杆;55、第二转盘;56、第三连接杆;57、滑块;58、电机;6、气缸;7、固定杆;8、检测机构;81、连接柱;82、固定壳;83、测试头电路板;84、第一测试探针;85、第二滑槽;86、突出槽;87、滑板;88、第二测试探针;89、限位柱;810、弹簧;811、滑动壳;9、脚座。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
以下结合具体实施例对本实用新型的具体实现进行详细描述。
请参阅图1至图5,本实用新型实施例提供的一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置,所述用于测试未搭载基座的水晶片的装置包括:
支架1;
传送带2,通过辊轮转动连接在支架1内部,所述传送带2表面等距固定连接有固定块3,所述固定块3上表面开设有卡槽4;
间歇式传动机构5,安装在支架1一侧,所述间歇式传动机构5输出端与辊轮固定连接;
气缸6,对称固定安装在支架1顶部,两个所述气缸6之间固定连接有固定杆7,所述固定杆7底部固定连接有检测机构8。
需要说明的是:间歇式传动机构5可是传送带2进行间歇式运动,检测机构8可对不同型号的水晶片进行测试。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述间歇式传动机构5包括:
第一连接杆51,通过轴承转动连接在支架1一侧,所述第一连接杆51一端固定连接有第一转盘52,所述第一转盘52一侧等距开设有第一滑槽53,所述第一连接杆51穿过支架1的一端与辊轮固定连接;
第二连接杆54,通过轴承转动连接在支架1一侧靠近第一连接杆51的位置,所述第二连接杆54一端固定连接有第二转盘55,所述第二转盘55底部固定连接有第三连接杆56;
滑块57,固定连接在第三连接杆56远离第二转盘55的一端,所述滑块57与第一滑槽53滑动连接;
电机58,固定安装在支架1内部靠近传送带2的位置,所述电机58输出端穿过支架1与第二连接杆54固定连接;
需要说明的是:驱动电机58,电机58带动第二连接杆54转动,第二连接杆54带动第二转盘55转动,使第三连接杆56带动滑块57在第一滑槽53内滑动,进而使第一转盘52带动第一连接杆51进行转动,从而实现传送带2的间歇式运动。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述滑块57呈圆柱形设置;
需要说明的是:增加滑动稳定性。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述电机58为一种减速电机;
需要说明的是:为第二连接杆54的转动提供足够的动力。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述检测机构8包括:
连接柱81,固定安装在固定杆7底部,所述固定杆7底部固定安装有固定壳82;
测试头电路板83,固定安装在固定壳82内壁的一侧;
第一测试探针84,固定安装在固定壳82内部靠近测试头电路板83的位置,所述固定壳82两侧开设有第二滑槽85,所述第二滑槽85内壁的一侧等距开设有突出槽86,所述第二滑槽85与突出槽86相连通;
滑板87,滑动连接在第二滑槽85内部,所述滑板87一侧固定安装有第二测试探针88,所述第一测试探针84与第二测试探针88均与测试头电路板83电性连接,所述滑板87顶部等距固定连接有限位柱89,所述限位柱89外侧套设有弹簧810;
滑动壳811,滑动连接在突出槽86内部,所述弹簧810顶部与滑动壳811固定连接,所述弹簧810底部与滑板87固定连接,所述滑动壳811顶部对应限位柱89的位置开设有通孔,所述限位柱89与通孔滑动连接;
需要说明的是:根据水晶片的型号,对滑动壳811施加按压力,使滑动壳811滑人第二滑槽85内部,随后拖动滑动壳811,使滑板87带动第二测试探针88进行移动,当移动到合适的位置后即可撤去施加在滑动壳811上的按压力,随后在弹簧810恢复力的作用下使滑动壳811滑动入突出槽86内,从而使滑板87对第二测试探针88的位置进行固定,进而实现对不同型号的水晶片进行测试。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述突出槽86靠近第二滑槽85的位置开设有倒圆角;
需要说明的是:便于滑动壳811滑入突出槽86。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述滑动壳811顶部开设有防滑纹;
需要说明的是:方便使用者按压滑动壳811。
在本实用新型的实施例中,请参阅图1至图5,所述支架1底部四角处固定连接有脚座9;
需要说明的是:可通过对脚座9的调节,使装置处于水平放置。
本实用新型提供的用于测试未搭载基座的水晶片的装置的工作原理如下:将需要测试的裸水晶片放置在对应的测试卡槽4中,随后驱动电机58,电机58带动第二连接杆54转动,第二连接杆54带动第二转盘55转动,使第三连接杆56带动滑块57在第一滑槽53内滑动,进而使第一转盘52带动第一连接杆51进行转动,从而实现传送带2的间歇式运动;根据水晶片的型号,对滑动壳811施加按压力,使滑动壳811滑人第二滑槽85内部,随后拖动滑动壳811,使滑板87带动第二测试探针88进行移动,当移动到合适的位置后即可撤去施加在滑动壳811上的按压力,随后在弹簧810恢复力的作用下使滑动壳811滑动入突出槽86内,从而使滑板87对第二测试探针88的位置进行固定,进而实现对不同型号的水晶片进行测试;气缸6可带动固定杆7下降,使探针接触测试点进行测试。
本实用新型中涉及的电路以及控制均为现有技术,在此不进行过多赘述。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,包括:
支架(1);
传送带(2),通过辊轮转动连接在支架(1)内部,所述传送带(2)表面等距固定连接有固定块(3),所述固定块(3)上表面开设有卡槽(4);
间歇式传动机构(5),安装在支架(1)一侧,所述间歇式传动机构(5)输出端与辊轮固定连接;
气缸(6),对称固定安装在支架(1)顶部,两个所述气缸(6)之间固定连接有固定杆(7),所述固定杆(7)底部固定连接有检测机构(8)。
2.根据权利要求1所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述间歇式传动机构(5)包括:
第一连接杆(51),通过轴承转动连接在支架(1)一侧,所述第一连接杆(51)一端固定连接有第一转盘(52),所述第一转盘(52)一侧等距开设有第一滑槽(53),所述第一连接杆(51)穿过支架(1)的一端与辊轮固定连接;
第二连接杆(54),通过轴承转动连接在支架(1)一侧靠近第一连接杆(51)的位置,所述第二连接杆(54)一端固定连接有第二转盘(55),所述第二转盘(55)底部固定连接有第三连接杆(56);
滑块(57),固定连接在第三连接杆(56)远离第二转盘(55)的一端,所述滑块(57)与第一滑槽(53)滑动连接;
电机(58),固定安装在支架(1)内部靠近传送带(2)的位置,所述电机(58)输出端穿过支架(1)与第二连接杆(54)固定连接。
3.根据权利要求2所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述滑块(57)呈圆柱形设置。
4.根据权利要求3所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述电机(58)为一种减速电机。
5.根据权利要求1所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述检测机构(8)包括:
连接柱(81),固定安装在固定杆(7)底部,所述固定杆(7)底部固定安装有固定壳(82);
测试头电路板(83),固定安装在固定壳(82)内壁的一侧;
第一测试探针(84),固定安装在固定壳(82)内部靠近测试头电路板(83)的位置,所述固定壳(82)两侧开设有第二滑槽(85),所述第二滑槽(85)内壁的一侧等距开设有突出槽(86),所述第二滑槽(85)与突出槽(86)相连通;
滑板(87),滑动连接在第二滑槽(85)内部,所述滑板(87)一侧固定安装有第二测试探针(88),所述第一测试探针(84)与第二测试探针(88)均与测试头电路板(83)电性连接,所述滑板(87)顶部等距固定连接有限位柱(89),所述限位柱(89)外侧套设有弹簧(810);
滑动壳(811),滑动连接在突出槽(86)内部,所述弹簧(810)顶部与滑动壳(811)固定连接,所述弹簧(810)底部与滑板(87)固定连接,所述滑动壳(811)顶部对应限位柱(89)的位置开设有通孔,所述限位柱(89)与通孔滑动连接。
6.根据权利要求5所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述突出槽(86)靠近第二滑槽(85)的位置开设有倒圆角。
7.根据权利要求5所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述滑动壳(811)顶部开设有防滑纹。
8.根据权利要求2所述的用于测试未搭载基座的水晶片的装置,其特征在于,所述支架(1)底部四角处固定连接有脚座(9)。
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