CN112362999A - 电子器件加速度承受力实验设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供电子器件加速度承受力实验设备，包括底板，所述底板的上端固定有监测摄像头，所述底板的前端固定有玻璃管，所述玻璃管的表面固定有加速电磁铁，所述玻璃管的左端固定有进入管，所述玻璃管的右端固定有脱离管，所述进入管和脱离管的表面套接有堵塞装置，所述玻璃管的内表面滑动连接有测试装置，本发明中通过各个单独设置的固定柱能贴合在不同形状的电子器件表面，从而固定不同形状和大小的电子器件，电磁层能通过固定柱的挤压包裹在电子器件表面，不接触电子器件的位置电磁层相互挤压在一起，能避免电子器件受到外部电磁的影响，避免外部干扰造成的检测问题。

Description

电子器件加速度承受力实验设备

技术领域

本发明涉及电子测试领域，尤其涉及电子器件加速度承受力实验设备。

背景技术

电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用，常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称，电子器件加速度承受力实验设备即对电子元器件进行加速度检测。

但是由于现有的实验设备在使用时无法对不同形状和大小的电子元器件进行固定，导致可测试的元器件种类少，影响元器件在特种情况下的正常使用。

发明内容

本发明的目的在于提供电子器件加速度承受力实验设备，以解决上述技术问题。

本发明为解决上述技术问题，采用以下技术方案来实现：电子器件加速度承受力实验设备，包括底板，所述底板的上端固定有监测摄像头，所述底板的前端固定有玻璃管，所述玻璃管的表面固定有加速电磁铁，所述玻璃管的左端固定有进入管，所述玻璃管的右端固定有脱离管，所述进入管和脱离管的表面套接有堵塞装置，所述玻璃管的内表面滑动连接有测试装置，所述测试装置包括固定装置，所述固定装置的下端固定有配重块，所述配重块的中间在固定装置的下端位置处固定有检测装置，所述固定装置的左端和右端固定有扭转装置，所述扭转装置的左端固定有转动装置，所述转动装置的左端固定有磁板，所述固定装置包括转动盘，所述转动盘的右端通过螺杆固定有调节腔，所述调节腔的内表面滑动连接有挤压板，所述调节腔的右端固定有气缸，所述气缸的右端套接有固定柱，所述固定柱的右端固定有电磁层，所述扭转装置包括固定板，所述固定板的右端固定有限位柱，所述限位柱的外部在固定板的右端位置处固定有扭转弹簧。

优选的，所述气缸的内部设置有高压气体，所述气缸与调节腔内部连通，所述调节腔共设置有两个且右侧调节腔与移动装置连接。

优选的，所述限位柱共设置有两个，两个所述限位柱的一端固定有橡胶垫且相离。

优选的，所述转动装置包括外圈，所述外圈的内表面转动连接有滚珠，所述滚珠的内表面转动连接有内圈，所述外圈的外表面绞接有转动轮。

优选的，所述内圈的内表面通过连接板固定在固定板表面。

优选的，所述转动轮与玻璃管的内表面轮廓贴合。

优选的，所述检测装置包括测试盒，所述测试盒的前端转动连接有档位调节钮，所述档位调节钮的右端固定有状态灯，所述测试盒的上端通过线路固定有电极圈，所述电极圈包括圈体，所述圈体的内表面套接有弹性柱，所述弹性柱的表面套接有限位弹簧，所述弹性柱的一端固定有挤压圈。

优选的，所述测试盒的内部设置有万用表电路板，所述电极圈与万用表电路板电性连接。

优选的，所述挤压圈的内表面卡接有电子元器件引脚。

优选的，所述堵塞装置包括拉动块，所述拉动块的右端固定有塞管，所述塞管的右端套接有弹性杆，所述弹性杆的右端固定有磁铁。

本发明的有益效果是：

1.本发明中通过各个单独设置的固定柱能贴合在不同形状的电子器件表面，从而固定不同形状和大小的电子器件，电磁层能通过固定柱的挤压包裹在电子器件表面，不接触电子器件的位置电磁层相互挤压在一起，能避免电子器件受到外部电磁的影响，避免外部干扰造成的检测问题。

2.本发明中通过配重块能改变固定装置的重心位置，在转动装置发生翻转时，配重块将固定装置向下拉，则固定装置带动内圈转动，转动的内圈使固定装置转动，则配重块始终保持在固定装置下端，能有效减少固定装置的晃动，使固定装置内部固定的电子器件更加稳定，同时固定装置通过扭转装置与转动装置连接，则扭转弹簧能减轻转动装置移动过程中产生的振动，保证固定装置的稳定。

3.本发明中通过档位调节钮来根据不同的电子器件进行不同的测试，数据正常的电子器件则状态灯亮起，亮起的状态灯能减低观察难度，在电子器件损坏时能及时的观察到，电极圈能很好的固定在不同长度和粗细的电子器件电极表面，从而给不同的电子器件进行测试。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明测试装置的结构示意图；

图3为本发明固定装置的结构示意图；

图4为本发明扭转装置的结构示意图；

图5为本发明转动装置的结构示意图；

图6为本发明测试装置的结构示意图；

图7为本发明电极圈的结构示意图；

图8为本发明堵塞装置的结构示意图；

附图标记：1、堵塞装置；2、底板；3、进入管；4、加速电磁铁；5、玻璃管；6、脱离管；7、测试装置；8、监测摄像头；71、转动装置；72、磁板；73、扭转装置；74、配重块；75、检测装置；76、固定装置；761、转动盘；762、挤压板；763、调节腔；764、电磁层；765、固定柱；766、气缸；731、固定板；732、扭转弹簧；733、限位柱；711、内圈；712、外圈；713、滚珠；714、转动轮；751、档位调节钮；752、状态灯；753、电极圈；754、测试盒；7531、弹性柱；7532、限位弹簧；7533、挤压圈；7534、圈体；11、弹性杆；12、磁铁；13、塞管；14、拉动块。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例和附图，进一步阐述本发明，但下述实施例仅仅为本发明的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本发明的保护范围。

下面结合附图描述本发明的具体实施例。

实施例1

如图1-4所示，电子器件加速度承受力实验设备，包括底板2，底板2的上端固定有监测摄像头8，底板2的前端固定有玻璃管5，玻璃管5的表面固定有加速电磁铁4，玻璃管5的左端固定有进入管3，玻璃管5的右端固定有脱离管6，进入管3和脱离管6的表面套接有堵塞装置1，玻璃管5的内表面滑动连接有测试装置7，测试装置7包括固定装置76，固定装置76的下端固定有配重块74，配重块74的中间在固定装置76的下端位置处固定有检测装置75，固定装置76的左端和右端固定有扭转装置73，扭转装置73的左端固定有转动装置71，转动装置71的左端固定有磁板72，固定装置76包括转动盘761，转动盘761的右端通过螺杆固定有调节腔763，调节腔763的内表面滑动连接有挤压板762，调节腔763的右端固定有气缸766，气缸766的右端套接有固定柱765，固定柱765的右端固定有电磁层764，扭转装置73包括固定板731，固定板731的右端固定有限位柱733，限位柱733的外部在固定板731的右端位置处固定有扭转弹簧732。

将需要进行检测的电子器件放置在电磁层764的中间，将电器器件的引脚与检测装置75连接，随后控制右侧调节腔763表面的移动装置，使右侧调节腔763向左移动，调节腔763移动带动表面的气缸766移动，气缸766移动带动表面的固定柱765移动，固定柱765移动带动电磁层764移动，电磁层764挤压到电器器件的表面，固定柱765无法继续向前移动，但是气缸766继续向前移动，则固定柱765进入气缸766内部，挤压气缸766内部的气体，当电磁层764相互接触时，则电磁层764将电子器件包裹在内部，避免电子器件受到外部电磁的影响，转动转动盘761，转动盘761转动通过表面的螺杆带动挤压板762在调节腔763内部移动，由于调节腔763与气缸766内部连通，则挤压板762挤压调节腔763内部的气体，使固定柱765更加稳定的挤压在电子器件表面，固定电子器件后的测试装置7放入进入管3内部，将堵塞装置1放回，并拉动弹性杆11使弹性杆11表面的磁铁12与塞管13表面齐平，接入加速电磁铁124的电源，加速电磁铁124产生磁场带动磁板72移动，则加速电磁铁124在玻璃管5内部快速移动，当移动到弯管时，由于前后进入弯管的时间不同，则两个限位柱733的相对位置改变，使测试装置7形变，避免在弯管内部移动时速度降低，同时电子器件与检测装置75电性连接，则检测装置75表面的状态灯752亮起，加大加速电磁铁124表面的电流，则测试装置7在玻璃管5内部转动速度加快，监测摄像头8监测测试装置7的移动速度和状态灯752，从而根据F＝ma算出电子器件表面承受的压力，测试完成后，当测试装置7距离脱离管6远时，推动弹性杆11，则弹性杆11在玻璃管5内部移动，弹性杆11移动带动表面的磁铁12移动，磁铁12与磁板72相互吸附，反向拉动弹性杆11即可将测试装置7从玻璃管5内部拉出，通过各个单独设置的固定柱765能贴合在不同形状的电子器件表面，从而固定不同形状和大小的电子器件，电磁层764能通过固定柱765的挤压包裹在电子器件表面，不接触电子器件的位置电磁层764相互挤压在一起，能避免电子器件受到外部电磁的影响，避免外部干扰造成的检测问题。

实施例2

如图1-5所示，电子器件加速度承受力实验设备，包括底板2，底板2的上端固定有监测摄像头8，底板2的前端固定有玻璃管5，玻璃管5的表面固定有加速电磁铁4，玻璃管5的左端固定有进入管3，玻璃管5的右端固定有脱离管6，进入管3和脱离管6的表面套接有堵塞装置1，玻璃管5的内表面滑动连接有测试装置7，测试装置7包括固定装置76，固定装置76的下端固定有配重块74，配重块74的中间在固定装置76的下端位置处固定有检测装置75，固定装置76的左端和右端固定有扭转装置73，扭转装置73的左端固定有转动装置71，转动装置71的左端固定有磁板72，转动装置71包括外圈712，外圈712的内表面转动连接有滚珠713，滚珠713的内表面转动连接有内圈711，外圈712的外表面绞接有转动轮714。

测试装置7在玻璃管5内部移动时，转动轮714与玻璃管5内部接触，磁板72被加速电磁铁124推动向前移动，则转动轮714转动在玻璃管5内部移动，当转动装置71在玻璃管5内部移动时，由于加速电磁铁124采用间断式设置，则推力不连续，转动装置71在玻璃管5内部发生翻滚，内圈711内表面通过扭转装置73固定在固定装置76表面，同时固定装置76的下端固定有配重块74，则转动装置71在玻璃管5内发生翻滚时，配重块74将固定装置76向下挤压，固定装置76通过扭转装置73带动内圈711转动，内圈711通过滚珠713相对于外圈712转动，则固定装置76的位置不改变，通过配重块74能改变固定装置76的重心位置，在转动装置71发生翻转时，配重块74将固定装置76向下拉，则固定装置76带动内圈711转动，转动的内圈711使固定装置76转动，则配重块74始终保持在固定装置76下端，能有效减少固定装置76的晃动，使固定装置76内部固定的电子器件更加稳定，同时固定装置76通过扭转装置73与转动装置71连接，则扭转弹簧732能减轻转动装置71移动过程中产生的振动，保证固定装置76的稳定。

实施例3

如图1-8所示，电子器件加速度承受力实验设备，包括底板2，底板2的上端固定有监测摄像头8，底板2的前端固定有玻璃管5，玻璃管5的表面固定有加速电磁铁4，玻璃管5的左端固定有进入管3，玻璃管5的右端固定有脱离管6，进入管3和脱离管6的表面套接有堵塞装置1，玻璃管5的内表面滑动连接有测试装置7，测试装置7包括固定装置76，固定装置76的下端固定有配重块74，配重块74的中间在固定装置76的下端位置处固定有检测装置75，固定装置76的左端和右端固定有扭转装置73，扭转装置73的左端固定有转动装置71，转动装置71的左端固定有磁板72，检测装置75包括测试盒754，测试盒754的前端转动连接有档位调节钮751，档位调节钮751的右端固定有状态灯752，测试盒754的上端通过线路固定有电极圈753，电极圈753包括圈体7534，圈体7534的内表面套接有弹性柱7531，弹性柱7531的表面套接有限位弹簧7532，弹性柱7531的一端固定有挤压圈7533。

在电子器件固定在固定装置76前转动档位调节钮751，根据电子器件的类型选择不同的测试项目，随后将电极圈753对准电子器件表面的电极，移动电极圈753则电子器件表面的电极进入圈体7534内部，电极挤压挤压圈7533，挤压圈7533受到挤压移动，挤压圈7533移动带动弹性柱7531移动，弹性柱7531移动挤压限位弹簧7532，则挤压圈7533通过限位弹簧7532挤压在电子器件表面的电极上，然后将电子器件固定在固定装置76内部，测试盒754内部的万用表电路板检测电子器件的数据与现有数据进行比较，电子器件数据在正常范围内时状态灯752亮起，则从玻璃管5外能看到亮起的状态灯752，监测摄像头8根据测试装置7在玻璃管5内的移动速度和状态灯752的亮起时间来计算电子器件受到的承受力，输入外部计算机进行分析，通过档位调节钮751来根据不同的电子器件进行不同的测试，数据正常的电子器件则状态灯752亮起，亮起的状态灯752能减低观察难度，在电子器件损坏时能及时的观察到，电极圈753能很好的固定在不同长度和粗细的电子器件电极表面，从而给不同的电子器件进行测试。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本发明的优选例，并不用来限制本发明，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (10)

1.电子器件加速度承受力实验设备，包括底板(2)，其特征在于：所述底板(2)的上端固定有监测摄像头(8)，所述底板(2)的前端固定有玻璃管(5)，所述玻璃管(5)的表面固定有加速电磁铁(4)，所述玻璃管(5)的左端固定有进入管(3)，所述玻璃管(5)的右端固定有脱离管(6)，所述进入管(3)和脱离管(6)的表面套接有堵塞装置(1)，所述玻璃管(5)的内表面滑动连接有测试装置(7)，所述测试装置(7)包括固定装置(76)，所述固定装置(76)的下端固定有配重块(74)，所述配重块(74)的中间在固定装置(76)的下端位置处固定有检测装置(75)，所述固定装置(76)的左端和右端固定有扭转装置(73)，所述扭转装置(73)的左端固定有转动装置(71)，所述转动装置(71)的左端固定有磁板(72)，所述固定装置(76)包括转动盘(761)，所述转动盘(761)的右端通过螺杆固定有调节腔(763)，所述调节腔(763)的内表面滑动连接有挤压板(762)，所述调节腔(763)的右端固定有气缸(766)，所述气缸(766)的右端套接有固定柱(765)，所述固定柱(765)的右端固定有电磁层(764)，所述扭转装置(73)包括固定板(731)，所述固定板(731)的右端固定有限位柱(733)，所述限位柱(733)的外部在固定板(731)的右端位置处固定有扭转弹簧(732)。

2.根据权利要求1所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述气缸(766)的内部设置有高压气体，所述气缸(766)与调节腔(763)内部连通，所述调节腔(763)共设置有两个且右侧调节腔(763)与移动装置连接。

3.根据权利要求2所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述限位柱(733)共设置有两个，两个所述限位柱(733)的一端固定有橡胶垫且相离。

4.根据权利要求1所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述转动装置(71)包括外圈(712)，所述外圈(712)的内表面转动连接有滚珠(713)，所述滚珠(713)的内表面转动连接有内圈(711)，所述外圈(712)的外表面绞接有转动轮(714)。

5.根据权利要求4所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述内圈(711)的内表面通过连接板固定在固定板(731)表面。

6.根据权利要求5所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述转动轮(714)与玻璃管(5)的内表面轮廓贴合。

7.根据权利要求1所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述检测装置(75)包括测试盒(754)，所述测试盒(754)的前端转动连接有档位调节钮(751)，所述档位调节钮(751)的右端固定有状态灯(752)，所述测试盒(754)的上端通过线路固定有电极圈(753)，所述电极圈(753)包括圈体(7534)，所述圈体(7534)的内表面套接有弹性柱(7531)，所述弹性柱(7531)的表面套接有限位弹簧(7532)，所述弹性柱(7531)的一端固定有挤压圈(7533)。

8.根据权利要求7所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述测试盒(754)的内部设置有万用表电路板，所述电极圈(753)与万用表电路板电性连接。

9.根据权利要求8所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述挤压圈(7533)的内表面卡接有电子元器件引脚。

10.根据权利要求1所述的电子器件加速度承受力实验设备，其特征在于：所述堵塞装置(1)包括拉动块(14)，所述拉动块(14)的右端固定有塞管(13)，所述塞管(13)的右端套接有弹性杆(11)，所述弹性杆(11)的右端固定有磁铁(12)。

Images