CN217543162U - 一种电子芯片测试探针台旋转升降机构 - Google Patents
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 49
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 48
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座，所述底座上端面转动连接有一根转动杆与两根螺纹杆，所述转动杆外壁套设有套环，所述套环通过限制机构与转动杆连接，所述底座上方设有两个位于转动杆两侧的探针台，两个所述探针台均通过衔接机构与套环连接。本实用新型通过设置转动杆、螺纹杆、套环、与传动机构，当探针台不与螺母上的限制板固定连接的时候，通过转动杆仅能实现转动功能，当其与螺母上的限制板固定连接的时候，通过螺纹杆与螺母配合能实现起升降功能，旋转与升降功能实现简单，装置整体结构合理，能使装置在实际使用过程中具备一定实用性与便利性。
Description
技术领域
本实用新型涉及探针台技术领域，尤其涉及一种电子芯片测试探针台旋转升降机构。
背景技术
探针台是半导体表征参数测试测量非常常用的设备，广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
探针台在用于对电子芯片测试过程中，需要满足其具体测试过程中的升降与旋转操作，其起到该功能的旋转升降机构是装置中的常见机构，现有技术中的旋转与升降机构常由两部分组成，针对不同的功能需要将探针台拆卸下来并安装在不同的机构上，对于电子芯片的持续测试便利性非常低，在实际的运用过程中实用性非常低。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座，所述底座上端面转动连接有一根转动杆与两根螺纹杆，所述转动杆外壁套设有套环，所述套环通过限制机构与转动杆连接，所述底座上方设有两个位于转动杆两侧的探针台，两个所述探针台均通过衔接机构与套环连接，两根所述螺纹杆外壁均螺纹套设有螺母，所述螺母上下端面均固定有限位板，所述限位板上设有与探针台对应的固定机构，所述底座内部设有腔体，两根所述螺纹杆端部均与腔体内底壁转动连接，所述腔体内设有与转动杆配合的第一驱动电机，所述腔体内还设有与其中一根螺纹杆连接的第二驱动电机，两根所述螺纹杆之间通过传动机构连接。
优选地，所述限制机构多条固定于转动杆外壁的凸条，所述套环内壁设有多个与凸条对应的凹槽，所述转动杆外壁固定有用于支撑套环的支撑环。
优选地，所述衔接机构包括多条固定于套环外壁的衔接杆，所述探针台外壁设有与衔接杆对应的衔接槽，所述探针台端面螺纹连接有延伸至衔接槽内的紧固螺栓，所述衔接杆上设有与紧固螺栓配合的第一连接孔。
优选地，所述固定机构包括螺纹连接在限位板上的固定螺栓，所述探针台上端面设有与固定螺栓配合的第二连接孔。
优选地，所述传动机构包括固定于两根螺纹杆外壁的传动皮带轮，两个所述传动皮带轮之间通过连接皮带连接。
优选地，所述底座上端面固定有两根限制杆，两根所述限制杆均滑动贯穿螺母。
本实用新型的有益效果：
1、通过设置转动杆、螺纹杆、套环、与传动机构，当探针台不与螺母上的限制板固定连接的时候，通过转动杆仅能实现转动功能，当其与螺母上的限制板固定连接的时候，通过螺纹杆与螺母配合能实现起升降功能，旋转与升降功能实现简单，装置整体结构合理，能使装置在实际使用过程中具备一定实用性与便利性。
2、通过设置衔接机构与固定机构，探针台与套环以及螺母之间的连接依靠紧固螺栓、固定螺栓、第一连接孔以及第二连接孔实现，在拆卸安装的时候具备较高的便利性，在实际使用的时候非常便捷，能提高装置的便利性。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构的俯视结构示意图；
图2为图1的A处结构放大示意图；
图3为本实用新型提出的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构的传动机构结构示意图。
图中：1底座、2转动杆、3套环、4螺纹杆、5螺母、6探针台、7衔接杆、8衔接槽、9第一连接孔、10凸条、11凹槽、12限制杆、13限位板、14固定螺栓、15腔体、16第一驱动电机、17第二驱动电机。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
参照图1-3，一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座1，底座1上端面转动连接有一根转动杆2与两根螺纹杆4，转动杆2外壁套设有套环3，套环3通过限制机构与转动杆2连接，限制机构多条固定于转动杆2外壁的凸条10，套环3内壁设有多个与凸条10对应的凹槽11，转动杆2外壁固定有用于支撑套环3的支撑环，套环3在凸条10以及凹槽11的限制下会跟随转动杆2一起转动，还可以相对于转动杆2上下移动且不转动，其中支撑环用于支撑套环3给予其初始高度。
底座1上方设有两个位于转动杆2两侧的探针台6，两个探针台6均通过衔接机构与套环3连接，衔接机构包括多条固定于套环3外壁的衔接杆7，探针台6外壁设有与衔接杆7对应的衔接槽8，探针台6端面螺纹连接有延伸至衔接槽8内的紧固螺栓，衔接杆7上设有与紧固螺栓配合的第一连接孔9，衔接杆7处于衔接槽8中，紧固螺栓末端处于第一连接孔9中，探针台6会实现与套环3的连接。
两根螺纹杆4外壁均螺纹套设有螺母5，螺母5上下端面均固定有限位板13，限位板13上设有与探针台6对应的固定机构，固定机构包括螺纹连接在限位板13上的固定螺栓14，探针台6上端面设有与固定螺栓14配合的第二连接孔，当探针台6上下端面处于两个限位板13之间，且固定螺栓14与第二连接孔螺纹连接上的时候，即可实现与螺母5的连接。
底座1内部设有腔体15，两根螺纹杆4端部均与腔体15内底壁转动连接，腔体15内设有与转动杆2配合的第一驱动电机16，腔体15内还设有与其中一根螺纹杆4连接的第二驱动电机17，两根螺纹杆4之间通过传动机构连接，传动机构包括固定于两根螺纹杆4外壁的传动皮带轮，两个传动皮带轮之间通过连接皮带连接，关闭第一驱动电机16并启动第二驱动电机17，第二驱动电机17可以直接带动其中一根螺纹杆4转动，在传动皮带轮与连接皮带的作用下还可以带动另外一根螺纹杆4转动。
底座1上端面固定有两根限制杆12，两根限制杆12均滑动贯穿螺母5，限制杆12是为了限制螺母5的，避免螺母5跟随螺纹杆4一起转动，从而实现升降操作。
本实用新型使用时，正常状态下，探针台6不与螺母5连接，此时启动第一驱动电机16，第一驱动电机16可以直接带动转动杆2转动，转动杆2转动的时候其外壁套设的套环3可以跟随转动杆2转动，从而通过衔接杆7带动与其连接的探针台6实现转动功能；
当探针台6上下端面处于两个限位板13之间，且固定螺栓14与第二连接孔螺纹连接上的时候，关闭第一驱动电机16并启动第二驱动电机17，第二驱动电机17可以直接带动其中一根螺纹杆4转动，在传动皮带轮与连接皮带的作用下还可以带动另外一根螺纹杆4转动，此时探针台6、衔接杆7与套环3为一体，可以跟随螺母5相对于螺纹杆4完成上升操作，此时的套环3处于转动杆2外壁上升滑动；
探针台6与套环3之间的连接依靠衔接杆7，衔接杆7处于衔接槽8中依靠紧固螺栓实现连接，拆卸掉紧固螺栓后即可解除衔接杆7与探针台6的连接，从而实现对探针台6的拆卸。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上端面转动连接有一根转动杆(2)与两根螺纹杆(4)，所述转动杆(2)外壁套设有套环(3)，所述套环(3)通过限制机构与转动杆(2)连接，所述底座(1)上方设有两个位于转动杆(2)两侧的探针台(6)，两个所述探针台(6)均通过衔接机构与套环(3)连接，两根所述螺纹杆(4)外壁均螺纹套设有螺母(5)，所述螺母(5)上下端面均固定有限位板(13)，所述限位板(13)上设有与探针台(6)对应的固定机构，所述底座(1)内部设有腔体(15)，两根所述螺纹杆(4)端部均与腔体(15)内底壁转动连接，所述腔体(15)内设有与转动杆(2)配合的第一驱动电机(16)，所述腔体(15)内还设有与其中一根螺纹杆(4)连接的第二驱动电机(17)，两根所述螺纹杆(4)之间通过传动机构连接。
2.根据权利要求1所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述限制机构多条固定于转动杆(2)外壁的凸条(10)，所述套环(3)内壁设有多个与凸条(10)对应的凹槽(11)，所述转动杆(2)外壁固定有用于支撑套环(3)的支撑环。
3.根据权利要求2所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述衔接机构包括多条固定于套环(3)外壁的衔接杆(7)，所述探针台(6)外壁设有与衔接杆(7)对应的衔接槽(8)，所述探针台(6)端面螺纹连接有延伸至衔接槽(8)内的紧固螺栓，所述衔接杆(7)上设有与紧固螺栓配合的第一连接孔(9)。
4.根据权利要求3所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述固定机构包括螺纹连接在限位板(13)上的固定螺栓(14)，所述探针台(6)上端面设有与固定螺栓(14)配合的第二连接孔。
5.根据权利要求4所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述传动机构包括固定于两根螺纹杆(4)外壁的传动皮带轮，两个所述传动皮带轮之间通过连接皮带连接。
6.根据权利要求5所述的一种电子芯片测试探针台旋转升降机构，其特征在于，所述底座(1)上端面固定有两根限制杆(12)，两根所述限制杆(12)均滑动贯穿螺母(5)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202220301166.7U CN217543162U (zh) | 2022-02-15 | 2022-02-15 | 一种电子芯片测试探针台旋转升降机构 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202220301166.7U CN217543162U (zh) | 2022-02-15 | 2022-02-15 | 一种电子芯片测试探针台旋转升降机构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN217543162U true CN217543162U (zh) | 2022-10-04 |
Family
ID=83425493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202220301166.7U Expired - Fee Related CN217543162U (zh) | 2022-02-15 | 2022-02-15 | 一种电子芯片测试探针台旋转升降机构 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN217543162U (zh) |
-
2022
- 2022-02-15 CN CN202220301166.7U patent/CN217543162U/zh not_active Expired - Fee Related
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