CN217541769U - 一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，包括机箱，所述机箱的中部安装有拍摄X轴，所述机箱位于拍摄X轴一侧安装有第一CCD组件、第二CCD组件和对射线激光单轴检测机构；所述机箱位于拍摄X轴一端安装有第一X轴模组，机箱位于第一X轴模组处安装有上料盘模组；所述机箱位于拍摄X轴另一端安装有第二X轴模组，且机箱位于第二X轴模组处安装有下料盘模组。本实用新型，通过治具外型对产品轮廓的检测，吸真空是对放置OK的产品进行于治具的贴合，固定产品状态，以便非接触测量工具的检测，避免人力压合一些形变NG产品，由于人力使得产品强制于治具贴合造成检测误判的风险，同时也能满足对产品轮廓度的检测判断。

Description

一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置

技术领域

本实用新型涉及测量设备技术领域，具体是一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置。

背景技术

常规的检测治具主要由限位滑动块、产品定位柱、治具整体、产品放置区和限位滑动轴等组成这种常见的检测治具，将产品放置在产品放置区，通过放置状态来检测产品的轮廓度是否OK/NG，由于人力使得产品强制于治具贴合，造成误判。通过限位块来滑过产品看是否卡主或者是否有接触到的声音来判断OK/NG，这种通过限位滑块来检测产品高度，可能会造成产品表面挤压、划伤等外观不良。

一些工厂产线是通过限位块来滑过产品看是否卡住或者是否有接触到的声音来判断OK/NG，这样造成：1.一些形变NG产品，由于人力使得产品强制于治具贴合，造成误判；2.通过限位滑块来检测产品高度，可能会造成产品表面挤压、划伤等外观不良。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，包括机箱，所述机箱的中部安装有拍摄X轴，所述机箱位于拍摄X轴一侧安装有第一CCD组件、第二CCD组件和对射线激光单轴检测机构；所述机箱位于拍摄X轴一端安装有第一X轴模组，机箱位于第一X轴模组处安装有上料盘模组；所述机箱位于拍摄X轴另一端安装有第二X轴模组，且机箱位于第二X轴模组处安装有下料盘模组；所述机箱位于第二X轴模组处安装有顶料组件和废料盒。

优选的，所述拍摄X轴包括直线模组、定位组件、治具组合件和平面检测治具，所述直线模组上安装有定位组件和治具组合件，所述治具组合件上安装有平面检测治具。

优选的，所述平面检测治具共设置有四个。

优选的，所述平面检测治具中部设置有产品放置区，且平面检测治具位于产品放置区外侧设置有定位柱，所述平面检测治具位于产品放置区处开设有抽真空的通孔。

优选的，所述第一X轴模组和第二X轴模组包括料盘拆分组、收料架和取盘机构，所述取盘机构包括导轨以及在导轨上滑动的升降机构，所述料盘拆分组和收料架位于导轨两端。

优选的，所述第一X轴模组和第一X轴模组均包括滑台直线模组和取料机构，所述取料机构滑动安装在滑台直线模组上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过治具外型对产品轮廓的检测，吸真空是对放置OK的产品进行于治具的贴合，固定产品状态，以便非接触测量工具的检测，避免人力压合一些形变NG产品，由于人力使得产品强制于治具贴合造成检测误判的风险，同时也能满足对产品轮廓度的检测判断；

平面检测治具共设置有四个，分为左右两个工位交替进行检测，整个主体安放在设备平台上，设备配合非接触测量工具进行产品检测，达到检测产品高度的要求，解决由限位滑块来检测产品高度，可能会造成产品表面挤压、划伤等外观不良，同时也能极大提升产能。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型第一X轴模组和拍摄X轴的结构示意图；

图3为本实用新型拍摄X轴处的结构示意图；

图4是本实用新型拍摄X轴处另一侧的结构示意图；

图5为本实用新型定位组件、治具组合件和平面检测治具的结构示意图；

图6是本实用新型平面检测治具的结构示意图。

图中：1、机箱；2、第一CCD组件；3、第二CCD组件；4、对射线激光单轴检测机构；5、顶料组件；6、废料盒；7、上料盘模组；8、第一X轴模组；9、拍摄X轴；10、第二X轴模组；11、下料盘模组；901、定位组件；902、治具组合件；903、平面检测治具；9031、定位柱；9032、产品放置区。

具体实施方式

为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-6，本实用新型实施例中，一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，包括机箱1，所述机箱1的中部安装有拍摄X轴9，所述机箱1位于拍摄X轴9一侧安装有第一CCD组件2、第二CCD组件3和对射线激光单轴检测机构4；所述机箱1位于拍摄X轴9一端安装有第一X轴模组8，机箱1位于第一X轴模组8处安装有上料盘模组7；所述机箱1位于拍摄X轴9另一端安装有第二X轴模组10，且机箱1位于第二X轴模组10处安装有下料盘模组11；所述机箱1位于第二X轴模组10处安装有顶料组件5和废料盒6；所述拍摄X轴9包括直线模组、定位组件901、治具组合件902和平面检测治具903，所述直线模组上安装有定位组件901和治具组合件902，所述治具组合件902上安装有平面检测治具903；所述平面检测治具903共设置有四个；所述平面检测治具903中部设置有产品放置区9032，且平面检测治具903位于产品放置区9032外侧设置有定位柱9031，所述平面检测治具903位于产品放置区9032处开设有抽真空的通孔(配合抽真空设备使用)；所述第一X轴模组8和第二X轴模组10包括料盘拆分组、收料架和取盘机构，所述取盘机构包括导轨以及在导轨上滑动的升降机构，所述料盘拆分组和收料架位于导轨两端；所述第一X轴模组8和第一X轴模组8均包括滑台直线模组和取料机构，所述取料机构滑动安装在滑台直线模组上；通过治具外型对产品轮廓的检测，吸真空是对放置OK的产品进行于治具的贴合，固定产品状态，以便非接触测量工具的检测，避免人力压合一些形变NG产品，由于人力使得产品强制于治具贴合造成检测误判的风险，同时也能满足对产品轮廓度的检测判断；平面检测治具903共设置有四个，分为左右两个工位交替进行检测，整个主体安放在设备平台上，设备配合非接触测量工具进行产品检测，达到检测产品高度的要求，解决由限位滑块来检测产品高度，可能会造成产品表面挤压、划伤等外观不良，同时也能极大提升产能。

本实用新型的工作原理是：通过治具外型对产品轮廓的检测，吸真空是对放置OK的产品进行于治具的贴合，固定产品状态，以便非接触测量工具的检测，避免人力压合一些形变NG产品，由于人力使得产品强制于治具贴合造成检测误判的风险，同时也能满足对产品轮廓度的检测判断；

平面检测治具903共设置有四个，分为左右两个工位交替进行检测，整个主体安放在设备平台上，设备配合非接触测量工具进行产品检测，达到检测产品高度的要求，解决由限位滑块来检测产品高度，可能会造成产品表面挤压、划伤等外观不良，同时也能极大提升产能。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，包括机箱(1)，其特征在于：所述机箱(1)的中部安装有拍摄X轴(9)，所述机箱(1)位于拍摄X轴(9)一侧安装有第一CCD组件(2)、第二CCD组件(3)和对射线激光单轴检测机构(4)；所述机箱(1)位于拍摄X轴(9)一端安装有第一X轴模组(8)，机箱(1)位于第一X轴模组(8)处安装有上料盘模组(7)；所述机箱(1)位于拍摄X轴(9)另一端安装有第二X轴模组(10)，且机箱(1)位于第二X轴模组(10)处安装有下料盘模组(11)；所述机箱(1)位于第二X轴模组(10)处安装有顶料组件(5)和废料盒(6)。

2.根据权利要求1所述的一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，其特征在于：所述拍摄X轴(9)包括直线模组、定位组件(901)、治具组合件(902)和平面检测治具(903)，所述直线模组上安装有定位组件(901)和治具组合件(902)，所述治具组合件(902)上安装有平面检测治具(903)。

3.根据权利要求2所述的一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，其特征在于：所述平面检测治具(903)共设置有四个。

4.根据权利要求2或3所述的一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，其特征在于：所述平面检测治具(903)中部设置有产品放置区(9032)，且平面检测治具(903)位于产品放置区(9032)外侧设置有定位柱(9031)，所述平面检测治具(903)位于产品放置区(9032)处开设有抽真空的通孔。

5.根据权利要求1所述的一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，其特征在于：所述第一X轴模组(8)和第二X轴模组(10)包括料盘拆分组、收料架和取盘机构，所述取盘机构包括导轨以及在导轨上滑动的升降机构，所述料盘拆分组和收料架位于导轨两端。

6.根据权利要求1所述的一种通过治具与非接触测量工具配合的测量装置，其特征在于：所述第一X轴模组(8)和第一X轴模组(8)均包括滑台直线模组和取料机构，所述取料机构滑动安装在滑台直线模组上。

Images